JPH04313010A - 厚さ測定方法およびその装置 - Google Patents

厚さ測定方法およびその装置

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JPH04313010A
JPH04313010A JP10355091A JP10355091A JPH04313010A JP H04313010 A JPH04313010 A JP H04313010A JP 10355091 A JP10355091 A JP 10355091A JP 10355091 A JP10355091 A JP 10355091A JP H04313010 A JPH04313010 A JP H04313010A
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文夫 森田
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徹 高村
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、レンズなどの被測定
物の厚さを超音波を利用して測定する厚さ測定方法およ
びその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、レンズなどの被測定物において
は、マイクロメータなどの機械的な測定装置で厚さを測
定すると、被測定物の表面に傷を付けるため、最近では
超音波を利用して被測定物の厚さを非接触状態で測定す
る方法が検討されている。この一例として、従来では、
発信部と受信部を有する1個の超音波素子を基準となる
テーブルの上方に一定間隔で固定し、これらの間の距離
を予め測定しておき、この状態で超音波素子の発信部か
ら発信した超音波がテーブルの上面で反射して受信部で
受信されるまでの時間を測定し、次に、テーブル上に被
測定物を載置して、発信部から発信した超音波が被測定
物で反射して受信部で受信されるまでの時間を測定する
ことにより、両者の時間差から被測定物の厚さを算出す
る方法が考えられている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た厚さ測定方法では、以下のような問題がある。すなわ
ち、超音波素子が1個であるから被測定物の片面測定と
なり、このため両面が曲面であるレンズなどの被測定物
では、テーブル上に載置した際に基準面の位置が明確に
ならないため厚さを測定することができない。また、超
音波は空気中を伝わる速度が温度によって変動するため
、測定毎に温度補正をしなければ正確な測定値が得られ
ない。さらに、超音波素子の発信部から発信される超音
波は徐々に振幅が大きくなるため、発信時と受信時にお
ける超音波の同一箇所を正確に捕らえることが難しく、
計測時間が不正確となり、測定誤差が生じる。この発明
の目的は、被測定物の両面が曲面であっても、正確に厚
さ測定ができ、かつ温度変化に応じた補正も正確にでき
る厚さ測定方法を提供するとともに、超音波の発信時か
ら受信時までの計測時間を正確に捕らえることができ、
極めて精度の高い測定ができる厚さ測定装置を提供する
ことである。
【0004】
【課題を解決するための手段】この発明の厚さ測定方法
は、発信部および受信部を有する一対の超音波素子をそ
の中心線を一致させて所定間隔に対向配置し、一方の超
音波素子の発信部から発信した超音波が他方の超音波素
子の受信部で受信されるまでの時間を測定し、この状態
で一対の超音波素子間に基準物体を配置して、各発信部
から発信した超音波が基準物体の表裏面でそれぞれ反射
して各受信部に受信されるまでの各時間を測定する基準
値設定工程と、再度、一方の超音波素子の発信部から発
信した超音波が他方の超音波素子の受信部で受信される
までの時間を測定し、この状態で一対の超音波素子間に
被測定物を配置して、各発信部から発信した超音波が被
測定物の表裏面でそれぞれ反射されて各受信部で受信さ
れるまでの各時間を測定する測定工程と、基準値設定工
程と測定工程とでそれぞれ測定された各測定値および基
準物体の厚さデータを演算部で演算処理して被測定物の
厚さを算出するデータ処理工程とからなることを特徴と
する。また、この発明の厚さ測定装置は、発信部および
受信部をそれぞれ有し、その中心線が一致して所定間隔
で対向配置され、かつこれらの間に基準物体もしくは被
測定物が配置される一対の超音波素子と、これら一対の
超音波素子の各発信部から発信する超音波の振幅が次第
に大きくなって一定振幅となるようにするための駆動信
号を複数発の発信パルスに基づいて出力するとともに、
この超音波の振幅が急変する特定点における発信パルス
をスタート信号として出力する一対の発信回路部と、一
対の超音波素子の各受信部で受信した超音波の波形を処
理してその振幅が急変する特定点における整形パルスを
ストップ信号として出力する一対の受信回路部と、各発
信回路部からのスタート信号と各受信回路部からのスト
ップ信号とが入力するまでの時間を超音波の発信周波数
のn倍の周波数をもつクロックでカウントして検出する
一対のカウンタ部と、一対の超音波素子間に基準物体も
しくは被測定物が配置されていない状態で各カウンタ部
で検出された時間、および一対の超音波素子間に基準物
体もしくは被測定物が配置されているそれぞれの状態で
各カウンタ部で検出された時間、並びに基準物体の厚さ
データを演算処理することにより被測定物の厚さを算出
する演算部とを備えたことを特徴とする。
【0005】
【作用】この発明によれば、発信部および受信部を有す
る一対の超音波素子をその中心線を一致させて所定間隔
で対向配置し、これら一対の超音波素子間に被測定物を
配置して厚さを測定するので、レンズなどのように両面
が曲面に形成された被測定物であっても、基準面を明確
にする必要がないため、簡単かつ正確に測定することが
できる。また、この発明の厚さ測定方法によれば、基準
値設定工程で一方の超音波素子の発信部から発信した超
音波が他方の超音波素子の受信部で受信されるまでの時
間を測定し、測定工程で再度一方の超音波素子の発信部
から発信した超音波が他方の超音波素子の受信部で受信
されるまでの時間を測定するので、基準値設定工程と測
定工程とで超音波の速度が温度変化によって変動しても
両者の測定値により温度補正ができ、被測定物の厚さを
正確に測定することが可能となり、しかも基準値設定工
程で一度基準値を設定すれば、測定工程のみを繰り返す
だけで、被測定物を順次測定することができる。さらに
、この発明の厚さ測定装置によれば、超音波素子の発信
部から発信する超音波の振幅が急変する特定点における
発信パルスをスタート信号として発信回路部からカウン
タ部に出力するとともに、超音波素子の受信部で受信し
た超音波の波形を受信回路部で処理してその振幅が急変
する特定点における整形パルスをストップ信号として受
信回路部からカウンタ部に出力するので、発信時と受信
時における超音波の同一箇所を正確に捕らえることがで
き、計測時間を正確に決めることができる。しかも、カ
ウンタ部では発信回路部からのスタート信号と受信回路
部からのストップ信号とが入力するまでの時間を超音波
の発信周波数のn倍の周波数をもつクロックでカウント
するので、極めて精度の高い厚さ測定が可能となる。
【0006】
【実施例】以下、図1〜図4を参照して、この発明の一
実施例を説明する。図1は厚さ測定装置を示す。この図
において、1は基台である。この基台1上の左側には支
持柱2が立設されている。この支持柱2には縦長の取付
部材3が上下の適宜位置に固定されている。この取付部
材3の右側面の中間にはテーブル4が水平に固定されて
おり、上端部には上支持部材5が上下方向に移動可能に
固定されているとともに、下端部には下支持部材6が固
定されている。テーブル4は基準物体7または被測定物
8を所定位置に載置するためのものであり、その中心部
に貫通孔9が上下に貫通して設けられている。また、上
支持部材5の上部側と下支持部材6の下部側にはそれぞ
れ回路基板10がビス11により取り付けられている。 これら上下の各回路基板10にはそれぞれ第1、第2の
超音波素子12、13がテーブル4を挾んで対向して設
けられている。すなわち、各超音波素子12、13はそ
れぞれ発信部と受信部を内蔵し、その各中心線がテーブ
ル4の貫通孔9の中心と一致して設けられている。この
場合、各超音波素子12、13の対向する先端部にはそ
れぞれ超音波をガイドする超音波ノズル14が各支持部
材5、6の挿通孔5a、6aを通り抜けて突出して設け
られている。なお、各回路基板10は図示ない制御装置
に電気的に接続されている。
【0007】図2は上述した厚さ測定装置の回路構成を
示す。この厚さ測定装置は、対向する第1、第2の超音
波素子12、13毎にそれぞれ発信回路部20、21、
受信回路部22、23、カウンタ部24、25、および
切替スイッチ26、27を備え、これらをCPU(中央
演算処理装置)28で制御する構成となっている。CP
U28は装置全般の制御および測定データの演算処理な
どを行うものであり、操作スイッチ部29から測定開始
信号および基準物体7の厚さデータが与えられ、測定開
始信号に基づいて第1、第2の切替スイッチ26、27
を同時もしくは選択的に閉成し、各発信回路部20、2
1の両者もしくはいずれかに発信開始を指示する。第1
、第2の発信回路部20、21は、CPU28からの指
令に基づいて各超音波素子12、13の発信部から発信
する超音波の振幅が図3に示すように次第に大きくなっ
て一定振幅となるようにするための駆動信号を複数発(
図3では6発)の発信パルスに基づいて出力するととも
に、超音波の振幅が急に大きくなる特定点Aにおける発
信パルスをスタート信号として各カウンタ部24、25
に出力する。すなわち、超音波は図3に示す発信パルス
に基づく駆動信号に応じて次第に振幅が大きくなり、発
信パルスの2〜4発目で急に大きくなって安定する。 この急に大きくなって安定する箇所が特定点Aとなる。 この特定点Aは超音波素子によって異なるが、この実施
例の超音波素子12、13では発信パルスの3発目が特
定点Aとなる。この場合、第1の発信回路20は、一対
の超音波素子12、13の間に基準物体7または被測定
物8が配置されていない状態では第2の超音波素子13
側のカウンタ25にスタート信号を出力し、一対の超音
波素子12、13の間に基準物体7または被測定物8が
配置されている状態では第1の超音波素子12側のカウ
ンタ24にスタート信号を出力する。同様に、第2の発
信回路21は、一対の超音波素子12、13の間に基準
物体7または被測定物8が配置されていない状態では第
1の超音波素子12側のカウンタ24にスタート信号を
出力し、一対の超音波素子12、13の間に基準物体7
または被測定物8が配置されている状態では第1の超音
波素子12側のカウンタ25にスタート信号を出力する
。第1、第2の受信回路部22、23は、それぞれ各超
音波素子12、13の各受信部で受信した超音波の波形
を整形処理するとともに、受信した超音波の振幅が急に
大きくなる特定点Bと対応する整形パルスをストップ信
号として各カウンタ部24、25に出力する。すなわち
、受信した超音波は発信した超音波と同じであるから、
整形パルスの3発目で急に大きくなって安定する。 この3発目が特定点Bとなる。第1、第2のカウンタ部
24、25は各発信回路部20、21からのスタート信
号と各受信回路部22、23からのストップ信号とが入
力するまでの時間を超音波の発信周波数(例えば400
KHz)のn倍(例えば50倍)の周波数(例えば20
MHz)のクロックでカウントし、このカウント値(以
下、測定値という)をCPU28に出力する。なお、C
PU28は、各カウンタ部24、25から与えられた測
定値、および操作スイッチ部29で入力された基準物体
7の厚さデータを演算処理して被測定物8の厚さを算出
し、この算出結果を表示部30に表示するとともに、パ
ーソナルコンピュータなどの外部機器31との間でデー
タの授受を行う。
【0008】次に、図4(a)〜図4(d)を参照して
、厚さ測定方法を説明する。まず、図4(a)に示すよ
うに、一定間隔で上下に対向配置された第1、第2の超
音波素子12、13間に何も配置しない状態、つまりテ
ーブル4上に基準物体7や被測定物8を載置しない状態
で、第1の超音波素子12の発信部から発信した超音波
が第2の超音波素子13の受信部に受信されるまでの時
間TR(または第2の超音波素子13の発信部から発信
した超音波が第1の超音波素子12の受信部に受信され
るまでの時間TR)を測定する。この場合には、まず、
操作スイッチ部29を操作してCPU28に測定開始指
令を与えると、CPU28が例えば第1の切替スイッチ
26を閉成した後、第1の発信回路部20に発信開始を
指示する。すると、第1の発信回路部20は、6発の発
信パルスに基づいて駆動信号を出力し、第1の超音波素
子12の発信部から400KHzの超音波を発信させる
とともに、特定点Aと対応する3発目の発信パルスをス
タート信号として出力して第2のカウンタ部25でのカ
ウントを開始させる。そして、第1の超音波素子12の
発信部から発信した超音波が第2の超音波素子13の受
信部で受信されると、この受信された超音波の波形が第
2の受信回路部23で整形処理され、この受信回路部2
3が特定点Bと対応する3発目の整形パルスをストップ
信号として出力して第2のカウンタ部25でのカウント
を停止させる。このとき、第2のカウンタ部25では、
スタート信号が入力した時点からストップ信号が入力す
る時点までの時間TRを発信周波数の約50倍の周波数
(20MHz)のクロックでカウントし、その測定値を
CPU28に出力する。
【0009】この後、速やかにテーブル4上に基準物体
7を載置する。つまり図4(b)に示すように、一対の
超音波素子12、13間に基準物体7(厚さtR)を配
置する。この状態で、各超音波素子12、13の各発信
部から発信した超音波が基準物体7の表裏面でそれぞれ
反射されて各超音波素子12、13の各受信部で受信さ
れるまでの各時間(2×TR1、2×TR2)を測定す
る。 この場合には、まず、操作スイッチ部29で基準物体7
の厚さtRをCPU28に入力した後、操作スイッチ部
29から測定開始指示をCPU28に与える。すると、
CPU28は第1、第2の発信回路部20、21にそれ
ぞれ発信開始指示を与えるので、各発信回路部20、2
1は上述と同様に第1、第2の超音波素子12、13の
各発信部から超音波を発信させるとともに、スタート信
号を第1、第2のカウンタ部24、25に出力して各カ
ウンタ部24、25でのカウントを開始させる。そして
、各発信部から発信した超音波が基準物体7の表裏面で
反射されて各超音波素子12、13の各受信部で受信さ
れると、上述と同様に各受信回路部22、23からスト
ップ信号が各カウンタ部24、25に与えられる。この
とき、各カウンタ部24、25では、スタート信号が入
力した時点からストップ信号が入力する時点までの各時
間(2×TR1、2×TR2)を発信周波数の約50倍
の周波数(20MHz)のクロックでカウントし、その
測定値をCPU28に出力する。これにより基準値設定
工程が終了する。なお、この基準値設定工程は、一度設
定すれば、第1、第2の超音波素子12、13の間隔を
変えない限り、設定し直す必要はない。
【0010】基準値を設定した後は、被測定物8の厚さ
tSを測定するのであるが、この場合には、まず、上述
と同様に、再度、テーブル4上に何も載置しない状態、
つまり図4(c)に示すように、一定間隔で対向配置さ
れた各超音波素子12、13間に何も配置しない状態で
、第1の超音波素子12の発信部から発信した超音波が
第2の超音波素子13の受信部に受信されるまでの時間
TSを第2のカウンタ部25でカウントし、その測定値
をCPU28に出力する。この後、速やかにテーブル4
上に被測定物8を載置する。つまり図4(d)に示すよ
うに、各超音波素子12、13間に被測定物8を配置す
る。この状態で、上述と同様に、各超音波素子12、1
3の各発信部から発信した超音波が被測定物8の表裏面
でそれぞれ反射されて各超音波素子12、13の各受信
部で受信されるまでの各時間(2×TS1、2×TS2
)を各カウンタ部24、25でカウントし、その測定値
をCPU28に出力する。これにより測定工程が終了す
る。
【0011】測定工程が終了すると、基準値設定工程と
測定工程とでそれぞれ測定された各測定値(TR、2×
TR1、2×TR2、TS、2×TS1、2×TS2)
および基準物体7の厚さtRをCPU28で演算処理し
て被測定物8の厚さtSを算出し、この算出結果を表示
部30に表示するとともに、外部機器31に与え、この
外部機器31との間でデータの授受を行う。これにより
データ処理工程が終了する。この場合、被測定物8の厚
さtSは以下の式によってCPU28の演算処理で算出
される。 すなわち、基準値設定工程と測定工程とで、一対の超音
波素子12、13の間隔が一定であるから、V1×TR
=V2×TS  …………(1)ただし、V1は基準値
設定工程における超音波の速度、V2は測定工程におけ
る超音波の速度であり、V1=tR/(TR−TR1−
TR2)  …………(2)V2=tS/(TS−TS
1−TS2)  …………(3)となる。これら式(2
)と式(3)を式(1)に代入すると、
【数1】 となり、これを整理すると、
【数2】 となり、これにより被測定物8の厚さtSが求められる
【0012】このように、上述した厚さ測定方法では、
基準値設定工程で第1の超音波素子12の発信部から発
信した超音波が第2の超音波素子13の受信部で受信さ
れるまでの時間TRを測定し、測定工程で再度第1の超
音波素子12の発信部から発信した超音波が第2の超音
波素子13の受信部で受信されるまでの時間TSを測定
することにより、基準値設定工程と測定工程とで超音波
の速度が温度変化によって変動しても、両者の測定値に
より温度補正することができ、このため温度変化に左右
されずに被測定物8の厚さtSを正確に測定することが
できる。しかも、基準値設定工程で一度基準値を設定す
れば、第1、第2の超音波素子12、13の間隔を変え
ない限り、設定し直す必要がないため、測定工程のみを
繰り返すだけで、順次被測定物8を正確に測定すること
ができ、能率よく測定作業を行うことができる。
【0013】また、上述した厚さ測定装置では、発信部
および受信部を有する第1、第2の超音波素子12、1
3をその中心線を一致させて所定間隔で対向配置したの
で、レンズなどのように両面が曲面に形成された被測定
物8であっても、従来のように被測定物の基準面を明確
にする必要がないため、各超音波素子12、13間に配
置するだけで容易に被測定物8の厚さを測定することが
できる。この場合、被測定物8はピン玉程度以上の曲率
半径をもつレンズであれば充分に測定することができる
【0014】さらに、この厚さ測定装置では、各発信回
路部20、21の6発の発信パルスに基づく駆動信号に
より各超音波素子12、13の各発信部から発信する超
音波の振幅が次第に大きくなるとともに、この振幅が急
に大きくなって安定する特定点Aと対応する3発目の発
信パルスを各カウンタ部24、25でカウントを開始す
るスタート信号として各発信回路部20、21から出力
し、また各超音波素子12、13の各受信部で受信され
た超音波を各受信回路部22、23で波形整形処理して
、受信した超音波の振幅が急に大きくなって安定する特
定点Bと対応する3発目の受信パルスを各カウンタ部2
4、25でのカウントを停止させるストップ信号として
各受信回路部22、23から出力するので、基準値設定
工程および測定工程で発信時と受信時における超音波の
同一箇所を正確に捕らえることができ、計測時間を正確
に決めることができる。しかも、各カウンタ部25は、
発信回路部20、21からのスタート信号と受信回路部
22、23からのストップ信号とが入力するまでの計測
時間を発信周波数のn倍の周波数のクロックでカウント
するので、極めて精度の高い厚さ測定ができる。例えば
、超音波素子12、13の各発信部から発信される超音
波の発信周波数が400KHzであれば、超音波の発信
時から受信時までの計測時間を発信周波数の50倍の周
波数をもつクロック、例えば20MHzのクロックでカ
ウントすると、約16μmの分解能を得ることができ、
非常に精度の高い測定が可能になる。
【0015】
【発明の効果】この発明によれば、発信部および受信部
を有する一対の超音波素子をその中心線を一致させて所
定間隔で対向配置し、これら一対の超音波素子間に被測
定物を配置して厚さを測定するので、レンズなどのよう
に両面が曲面に形成された被測定物であっても、基準面
を明確にする必要がないため、簡単かつ正確に測定する
ことができる。また、この発明の厚さ測定方法によれば
、基準値設定工程で一方の超音波素子の発信部から発信
した超音波が他方の超音波素子の受信部で受信されるま
での時間を測定し、測定工程で再度一方の超音波素子の
発信部から発信した超音波が他方の超音波素子の受信部
で受信されるまでの時間を測定するので、基準値設定工
程と測定工程とで超音波の速度が温度変化によって変動
しても両者の測定値により温度補正ができ、温度変化に
左右されずに被測定物の厚さを正確に測定することがで
き、しかも基準値設定工程で一度基準値を設定すれば、
測定工程のみを繰り返すだけで、順次被測定物を正確に
測定することができ、能率よく測定作業を行うことがで
きる。さらに、この発明の厚さ測定装置によれば、超音
波素子の発信部から発信する超音波の振幅が急変する特
定点における発信パルスをスタート信号として発信回路
部からカウンタ部に出力するとともに、超音波素子の受
信部で受信した受信超音波の波形を受信回路で処理して
振幅が急変する特定点における整形パルスをストップ信
号として受信回路部からカウンタ部に出力するので、発
信時と受信時における超音波の同一箇所を正確に捕らえ
ることができ、計測時間を正確に決めることができる。 しかも、カウンタ部では発信回路部のスタート信号と受
信回路部のストップ信号とが入力するまでの時間を発信
周波数のn倍の周波数をもつクロックでカウントするの
で、極めて精度の高い厚さ測定ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】厚さ測定装置の概略側面図。
【図2】厚さ測定装置の回路構成を示すブロック図。
【図3】発信側と受信側とにおける各超音波の波形と各
パルスとのタイミング図。
【図4】厚さ測定方法を示す工程図。
【符号の説明】
7  基準物体 8  被測定物 12、13  超音波素子 20、21  発信回路部 22、23  受信回路部 24、25  カウンタ部 28  CPU A、B  特定点

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  発信部および受信部を有する一対の超
    音波素子をその中心線を一致させて所定間隔で対向配置
    し、前記一方の超音波素子の発信部から発信した超音波
    が前記他方の超音波素子の受信部で受信されるまでの時
    間を測定するとともに、この状態で前記一対の超音波素
    子間に基準物体を配置して、前記各発信部から発信した
    超音波が前記基準物体の表裏面でそれぞれ反射されて各
    受信部で受信されるまでの各時間を測定する基準値設定
    工程と、再度、前記一方の超音波素子の発信部から発信
    した超音波が前記他方の超音波素子の受信部で受信され
    るまでの時間を測定するとともに、この状態で前記一対
    の超音波素子間に被測定物を配置して、前記各発信部か
    ら発信した超音波が前記被測定物の表裏面でそれぞれ反
    射されて各受信部で受信されるまでの各時間を測定する
    測定工程と、前記基準値設定工程と前記測定工程とでそ
    れぞれ測定された各測定値および前記基準物体の厚さデ
    ータを演算部で演算処理することにより前記被測定物の
    厚さを算出するデータ処理工程と、からなる厚さ測定方
    法。
  2. 【請求項2】  発信部および受信部をそれぞれ有し、
    その中心線が一致して所定間隔で対向配置され、かつこ
    れらの間に基準物体もしくは被測定物が配置される一対
    の超音波素子と、前記一対の超音波素子と対応して設け
    られ、前記各発信部から発信する超音波の振幅が次第に
    大きくなって一定振幅となるようにするための駆動信号
    を複数発の発信パルスに基づいて出力するとともに、前
    記超音波の振幅が急変する特定点における前記発信パル
    スをスタート信号として出力する一対の発信回路部と、
    前記一対の超音波素子と対応して設けられ、前記各受信
    部で受信した超音波の波形を処理してその振幅が急変す
    る特定点における整形パルスをストップ信号として出力
    する一対の受信回路部と、前記一対の超音波素子と対応
    して設けられ、前記各発信回路部からのスタート信号と
    前記各受信回路部からのストップ信号とが入力するまで
    の時間を超音波の発信周波数のn倍の周波数をもつクロ
    ックでカウントして検出する一対のカウンタ部と、前記
    一対の超音波素子間に前記基準物体もしくは前記被測定
    物が配置されていない状態で前記各カウンタ部で検出さ
    れた時間、および前記一対の超音波素子間に前記基準物
    体もしくは前記被測定物が配置されているそれぞれの状
    態で前記各カウンタ部で検出された時間、並びに前記基
    準物体の厚さデータを演算処理することにより前記被測
    定物の厚さを算出する演算部と、を備えたことを特徴と
    する厚さ測定装置。
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