JPH04306540A - プラズマ源およびそれを用いたイオンビーム源 - Google Patents

プラズマ源およびそれを用いたイオンビーム源

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JPH04306540A
JPH04306540A JP6998991A JP6998991A JPH04306540A JP H04306540 A JPH04306540 A JP H04306540A JP 6998991 A JP6998991 A JP 6998991A JP 6998991 A JP6998991 A JP 6998991A JP H04306540 A JPH04306540 A JP H04306540A
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JP
Japan
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plasma
electrode
vapor
discharge electrode
ion beam
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JP6998991A
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Ryoji Nishio
西尾良司
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、金属などを電子ビーム
加熱によって蒸発させ放電手段によってプラズマを効果
的に発生させる様にしたプラズマ源、及び、このプラズ
マ源を用いてイオンビームを取り出す様にしたイオンビ
ーム源に関する
【0002】
【従来の技術】従来の金属イオンを得る方法の一つは、
ジャーナルオブバキュームサイエンスアンドテクノロジ
ー、A6(1),(1988年)第9−12頁( J.
Vac.Sci.Technol.A6(1),Jan
 /Feb (1988)PP9−12)において論じ
られているように、抵抗加熱るつぼによって生成した金
属蒸気に、電離用電子ビームを蒸気の周囲より蒸気進行
方向に垂直に照射して金属イオンを得るものである。
【0003】また、他の方法は、アプライドフィジック
スレター47巻1985年第358頁(App1.Ph
ys.Lett.,47,358,1985)に記載さ
れている金属蒸気アーク法がある。これは、大電流アー
ク放電によりカソード材料である金属の蒸発と電離を一
度に生じさせる方法である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】前記の抵抗加熱るつぼ
+電子ビームによる電離法には下記の問題点がある。 (1)抵抗加熱るつぼは、るつぼ全体を一様に加熱する
ので、るつぼ内壁は全て溶融した材料と接触する。この
ため、化学的に活性な材料はるつぼと反応してしまい、
るつぼの健全性を損なう事なく蒸発を維持する事ができ
ない。 (2)抵抗加熱るつぼの健全性維持のため、るつぼの温
度は高くできない。従って、タングステンやモリブデン
などの高融点材料の効率的な蒸発ができない。 (3)るつぼより発生した金属蒸気は、膨張のため密度
が低くなりながら上方に移動する。このとき、電子ビー
ムと蒸気が衝突する確率は蒸気密度に比例する。従って
、上記方法では、電離は密度が低下した蒸気に電子ビー
ムのシャワーを浴びせることによって行われるので、充
分な電離のためには大電流の電子ビームが必要になり、
電離効率が悪い。 (4)電子ビームのシャワーを蒸気に浴びせかけるため
には、フィラメント、グリッドなどの電極が必要になる
が、金属蒸気を発生させるとこれらの電極に金属蒸気が
付着するために、電気的絶縁が低下する。また蒸気の付
着によって、グリッドの目詰まりが生じたりする。これ
らを防ぐためには、これらのフィラメントやグリッドは
複雑な構造を取る必要がある。
【0005】他方、前記の金属蒸気真空アーク法には下
記の問題点がある。 (1)カソードが蒸発する事によって金属蒸気を得る方
法であるので、カソードの寿命が短く、長時間の連続運
転に向かない。 (2)蒸発材料をカソード形状に加工する必要があるた
め、コストが高い。
【0006】本発明の1目的は、上記問題点を解決し、
さらに、従来より1桁以上高いイオン電流(〜数十A)
を広い面積(数百cm2 )にわたって均一に得るイオ
ンビーム源を提供することにある。本発明の他の目的は
、該イオンビーム源に用いるに適するプラズマ源を提供
するにある。
【0007】
【問題を解決するための手段】本発明のプラズマ源は、
特許請求の範囲の請求項1ないし4に夫々記載の構成を
有する。本発明のイオンビーム源は特許請求の範囲の請
求項5ないし8に夫々記載の構成を有する。
【0008】
【作用】  電子ビームで照射される蒸発部では蒸気の
熱電離、および該電子ビームとその二次電子による蒸気
の電子衝突電離によってプラズマが生じ、また材料の蒸
発面から熱電子が出る。蒸発部を囲む形の放電電極に正
電位が印加されているのでプラズマ中の電子は該放電電
極へ引かれて加速され、最も密度の高い蒸発部領域の蒸
気と高い確率で衝突して蒸気を更に電離させる。放電電
極にはプラズマ中から電子が流入するのでプラズマ中の
電子の量が不足し、これは蒸発面からの熱電子により補
充される。この熱電子は、発生時には蒸発温度に対応す
るマックスウエル分布を持っているが、放電電極の正電
位によって高められたプラズマの空間電位によって加速
されて高エネルギー成分が多くなり、且つ熱電子は蒸発
面から蒸気中に向って発生するが故に蒸気密度の最も高
い領域に突入するので、効率良く蒸気を電離する。以上
の様な作用で、蒸発部を囲む放電電極内に高密度のプラ
ズマが発生する。
【0009】放電電極に印加される正電位に高周波を重
畳するか、又は蒸発部にミリ波、マイクロ波、レーザー
等のビームを照射すれば、電子は振動しながら放電電極
に向って飛ぶから電子の動く距離が多くなり、蒸気と衝
突する確率がより高くなるので、より効率良く蒸気の電
離を生ぜしめることができる。また、放電電極の内面(
プラズマに面する面)に多数のフィン又は突起を設けて
電極面積を増大させれば、放電電流は大きくなり、より
効率良く蒸気の電離が生じる。
【0010】プラズマ中のイオンは放電電極の正電位で
はね返される。放電電位にイオン取り出し口を設ければ
、そこから効率良くイオンが流出する。放電電極に印加
した正電位によって電子温度が高くなりプラズマからの
熱拡散によるイオン流出が促進される効果も働き、イオ
ンはプラズマ中より上記取出口を通って放電電極の外部
に取り出すことができる。
【0011】プラズマ中の電子とイオンは、プラズマ中
に電界が強制的に与えられると、夫夫シースを形成して
その電界を中和する働きがある。従って、放電電極を蒸
発部を囲む形になし、それに正電位を印加することによ
り、プラズマ中の電子とイオンは放電電極内に均質に広
がり、該電極全面にシースを作って、与えられた電界を
中和しようとする。よって、この放電電極に設けたイオ
ン取り出し口を広い面積の口にしても、プラズマ密度が
均一なので、均質に広がったイオンビームが該取り出し
口から得られる。
【0012】
【実施例】図2は、本発明の実施例に用いる放電電極の
一部破断外観図である。この放電電極10は内部が空洞
になった四角形の箱型を成し、上部にイオンビームの出
口となる取り出し口11が設けられている。このイオン
取り出し口の形状は図示した四角形である必要はなく、
丸型や三角でも自由に設定できる。この形状は、イオン
ビームの使途に応じて決めれば良く、本発明においては
何等制限事項ではない。この取り出し口11に対向する
下部の所定位置には、るつぼを下部に設置する穴12が
設けられている(図2には図示せず、図1、図3に図示
)。この箱型電極内面には多数のフィン13が設けてあ
り、内面の表面積の大面積化が図られている。このフィ
ンは、フィンである必要性はなく、例えば単なる突起を
多数設けた構造でもよい。また、箱型電極の外形は四角
形の箱型に限らず、他の形状、例えば球殻状のものでも
よい。
【0013】図1は、イオンビーム照射と真空蒸着を行
う装置としての1実施例に係わる構成図である。真空容
器20内部には、蒸発材料(金属)21と、この蒸発材
料21を入れたるつぼ22と、前述の如きイオン取り出
し口11を有するフィン13付き箱型放電電極10と、
蒸発材料21に電子ビームを照射する電子銃23と、蒸
気とイオンビームを被蒸着物25に対して遮断するシャ
ッター24と、被蒸着物25を設置する支持装置26と
、イオン引き出し用グリッド31とが設置されている。 また、基準電位(本実施例ではアース電位)に対して放
電電極10に正電圧を印加する電源27と、この放電電
極電圧に高周波を重畳する高周波電源28と、イオン引
き出し用グリッド31に接続されたイオン引き出し用電
源29と、被蒸着物25へのバイアス用電源30と、グ
リッド31に流れる電流を検出するモニター装置32と
、モニター装置32が検出した電流が最大になるように
電源27,28の印加電圧を制御する電源制御装置33
とが備えられている。るつぽ22は、箱型放電電極10
中の下部に設けた穴12の下に設けられており、アース
電位にされている。るつぼ22と該電極10との間には
電気絶縁物34を設けてある。35は、電子銃23から
るつぼ22中の材料21へ向う電子ビーム36を通すた
めに放電電極10に設けた孔である。
【0014】上記構成の作用、効果について以下説明す
る。
【0015】(1)電子ビーム36は磁場と電場の組み
合わせで高い集光性能が容易に得られるので、電子ビー
ム36を高いエネルギー密度でるつぼ22中の材料21
の局部のみに集中し得る。このように、材料21の局所
加熱と高温加熱が電子ビームによって行われる。それ故
に、るつぼ22として水冷るつぼを用いる事によって、
材料21が高融点材料であってもその蒸発が容易に行え
、また化学的に活性が高い材料であっても、局部溶融状
態にあるから、るつぼ22の健全性を損なう事なく安定
した蒸発が可能になる。また、材料21の供給が容易な
ので、長時間にわたって連続運転が可能である。
【0016】(2)電子ビーム36で材料21を高温に
加熱して蒸発させると、蒸発部では、蒸気の熱電離、或
いは加熱用電子ビームとその二次電子(後方散乱電子、
オージェ電子を含む)による蒸気の電子衝突電離によっ
て、プラズマが発生する。この蒸発部でのプラズマの電
離度は、多くの材料で0.1%から3%の間にある。こ
の蒸発部でのプラズマの電子温度は1eV以下であり、
プラズマ空間電位も1V程度になる。また、材料21の
表面は高温状態になるので、その表面より熱電子放出が
起こる。
【0017】(3)上記の状態で放電電極10に正電圧
を印加すると、プラズマ中の電子が電極10へ引き寄せ
られ、このとき該電子は、電極10の正電位によって加
速されるので、蒸気と衝突したときに蒸気を電離する能
力が増加する。この電子(これは熱電子および蒸気の電
離に因る電子などであるが主として熱電子である)の発
生位置は蒸発部なので、蒸気密度が最も高い蒸発部で電
子と蒸気の衝突による電離が効果的に生じる。
【0018】(4)放電電極10に正電圧を印加すると
、プラズマ中の電子が電極10に流入する。これによっ
て、プラズマ中の電子の量がイオン量と比べて不足する
ようになる。この電子の不足は、るつぼ22中の材料2
1の加熱部からの熱電子放出によって補充される。この
熱電子は、発生時は蒸発温度と同じ温度のマックスウェ
ル分布を持っているが、プラズマの空間電位によって加
速される。プラズマの空間電位は電極10の正電位によ
って、通常の1V程度より数Vに引き上げられているた
め、上記マックスウェル分布が高エネルギー側にシフト
し、熱電子の高エネルギー成分の割合が増えるので、こ
の熱電子は充分に蒸気を電離する能力を有するようにな
る。熱電子は、蒸発面より蒸気中に向かって発生するの
で、蒸気密度が最も高い領域に突入する事になり、効率
よく蒸気を電離する。
【0019】(5)放電電極10に正電圧を印加すると
電子は電極に向かって加速される。これに対して電極1
0に高周波28を重畳する(或いは蒸発部にミリ波ビー
ム、マイクロ波ビーム、レーザビームを照射する)と、
該高周波の電界(又は上記のビームの電界)によって電
子は振動するようになる。電子が蒸発部より電極10に
向かって真っ直ぐに飛んでくるよりも、振動しながら飛
んでくる方が、実際に電子が動く距離が多くなる。つま
り蒸気と衝突して電離させる可能性が飛躍的に高くなる
。これによって、放電電極10に正電位のみを印加した
場合よりも、正電位印加と電子振動を生じさせる放電法
を組み合わせた場合の方が、効率よく蒸気の電離が生じ
る。
【0020】(6)放電電極10に流入する単位面積当
たりの電子電流は、プラズマから熱拡散によって決まっ
た値になる。これは電子飽和電流と呼ばれる。従って、
同じ特性のプラズマに対して放電電流をより大きくする
ためには、放電電極10の面積を大きくすれば良い。従
って、放電電極10の内面(プラズマに面した面)に多
数のフィン13を取り付けて電極面積を増大すると、大
規模な放電が生じ、効率よく蒸気の電離が生じる。
【0021】(7)電離によって発生したイオンは、基
本的には蒸気と同じ方向に進もうとする。しかし、イオ
ンは電気的に正の電荷を持っているため他の電荷とクー
ロン衝突を生じ易く、従って、クーロン衝突を起こさな
い電気的に中性な蒸気と比べると衝突が多くなるので、
蒸気の進行方向と直角方向に進む成分が多くなる。これ
に対して、放電電極10を箱型にして、その内部に蒸発
部がある様にすることにより、放電電極10の正の電位
は、横方向に進むイオンをはね返す。そして、箱型電極
10にイオン取り出し口11を設けると、イオンは余り
損失される事なく効率よくイオン取り出し口11より流
出する。また、さらに放電電極10に印加した正電圧に
よって電子温度が高くなりプラズマからの熱拡散による
イオン流出が促進される効果も発生し、イオンは効率よ
くプラズマ中より外部に引き出す事が可能になる。
【0022】(8)プラズマ中に電界が強制的に与えら
れると、プラズマ中の電子とイオンはそれぞれシースを
形成してその電界を中和する働きがある。従って、放電
電極10を箱型にして蒸発面を取り囲み、この箱型電極
10に正電圧を印加すると、プラズマ中の電子とイオン
は電極10内部に均質に広がり、電極10全面にシース
を作って、与えられた電圧を中和しようとし、その結果
、プラズマ密度は均一化する。従って、箱型電極10に
広い面積のイオン取り出し口11を設置しても、プラズ
マ密度が均一なので、均一に広がったイオンビームが取
り出せる。
【0023】(9)イオン取り出し口11から蒸気と共
に出たイオンは負電位をかけられたイオン引き出し用グ
リッドにより引かれ、シャッタ24が非遮断位置にある
とき、蒸気とイオンは被蒸着物25に向う。
【0024】なお、図1に示した実施例では、イオン取
り出し口11からイオンビームと同時に金属蒸気も取り
出されるが、図3に示すように箱型放電電極10のイオ
ン取り出し口11を蒸気の方向に垂直な方向に取れば、
イオンビームのみを取り出す事もできる。この場合、金
属蒸気は放電電極10の内面に付着する。図3において
、図1と同様、イオン取り出し口11に対向してイオン
ビーム引き出し用グリッド31を設けてある。
【0025】本発明は、金属の代りにセラミックスを電
子ビーム照射で加熱して蒸発させる場合においても、同
様に適用できる。
【0026】
【発明の効果】本発明のプラズマ源は、高い密度のプラ
ズマを簡単な構成で効率良く発生することが可能である
。また、このプラズマ源を用いた本発明のイオンビーム
源は、大電流(〜数十A)、大面積(数百cm2 )の
イオン電流を、数百時間にわたって得ることができる。 従って、半導体製造装置のイオン源、真空蒸着装置のプ
ラズマ源、表面改質装置のイオン源、イオンビーム表面
分析装置のイオン源、イオン加速器のイオン源、高イオ
ン源の初段1価イオン源などに用いると、効率良くしか
も安定したイオンを得る事ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】イオンビーム照射と真空蒸着を行う装置に適用
した本発明の1実施例の構成図、
【図2】本発明の1実施例に用いる放電電極の一部破断
外観図、
【図3】イオン取り出し口の位置を変更する事によりイ
オンビームのみを取り出す事ができる様にした実施例の
放電電極構造を示す図。
【符号の説明】
10:放電電極              11:イ
オン取り出し口12:るつぼ設置穴         
 13:フィン20:真空容器           
   21:蒸発材料22:るつぼ         
       23:電子ビーム36を照射する電子銃 24:蒸気およびイオンビームを遮断するシャッター2
5:被蒸着物              26:支持
装置27:放電電極10に正電圧を印加する電源28:
放電電極電圧に高周波を重畳する高周波電源29:イオ
ン引き出し用電源 30:被蒸着物へのバイアス用電源 31:イオン引き出し用グリッド 32:モニター装置          33:電源制
御装置34:絶縁物                
35:孔36:電子ビーム

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  電子ビーム照射により材料を加熱・蒸
    発させて蒸気を発生させる蒸発源と、該蒸発源を囲む形
    の比較的大面積の放電電極と、該放電電極に前記蒸発源
    の前記材料の蒸発面の電位に対して正電位を印加する電
    源とから成り、前記放電電極内にプラズマを発生させる
    様に構成したことを特徴とするプラズマ源。
  2. 【請求項2】  前記放電電極の内面に多数のフィン又
    は突起を設けた請求項1記載のプラズマ源。
  3. 【請求項3】  前記放電電極に印加する前記正電位に
    高周波を重畳する手段を有する請求項1又は2記載のプ
    ラズマ源。
  4. 【請求項4】  前記材料の蒸発部にミリ波ビーム、マ
    イクロ波ビーム又はレーザビームを照射する手段を有す
    る請求項1又は2記載のプラズマ源。
  5. 【請求項5】  請求項1,2,3又は4記載のプラズ
    マ源を備え、該プラズマ源の前記放電電極には、該放電
    電極内に発生したプラズマからイオンビームを取り出す
    ためのイオンビーム取り出し口を設けたことを特徴とす
    るイオンビーム源。
  6. 【請求項6】  前記イオンビーム取り出し口は蒸気の
    流れの方向に開口している請求項5記載のイオンビーム
    源。
  7. 【請求項7】  前記イオンビーム取り出し口は蒸気の
    流れの方向と直角方向に開口している請求項5記載のイ
    オンビーム源。
  8. 【請求項8】  前記イオンビーム取り出し口の近傍に
    は、イオンビーム引き出し用グリッド電極を設けた請求
    項5,6又は7記載のイオンビーム源。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006115172A1 (ja) * 2005-04-22 2006-11-02 Masanobu Nunogaki 固体イオン源
JP6178526B1 (ja) * 2017-01-17 2017-08-09 イオンラボ株式会社 金属イオン源
WO2020197938A1 (en) * 2019-03-22 2020-10-01 Axcelis Technologies, Inc. Liquid metal ion source

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006115172A1 (ja) * 2005-04-22 2006-11-02 Masanobu Nunogaki 固体イオン源
JP6178526B1 (ja) * 2017-01-17 2017-08-09 イオンラボ株式会社 金属イオン源
WO2020197938A1 (en) * 2019-03-22 2020-10-01 Axcelis Technologies, Inc. Liquid metal ion source
US11170967B2 (en) 2019-03-22 2021-11-09 Axcelis Technologies, Inc. Liquid metal ion source

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