JPH04305173A - 発光ダイオードのチェック回路 - Google Patents
発光ダイオードのチェック回路Info
- Publication number
- JPH04305173A JPH04305173A JP3069645A JP6964591A JPH04305173A JP H04305173 A JPH04305173 A JP H04305173A JP 3069645 A JP3069645 A JP 3069645A JP 6964591 A JP6964591 A JP 6964591A JP H04305173 A JPH04305173 A JP H04305173A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light emitting
- voltage drop
- value
- diode
- emitting diodes
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- Pending
Links
- 101000746134 Homo sapiens DNA endonuclease RBBP8 Proteins 0.000 description 9
- 101000969031 Homo sapiens Nuclear protein 1 Proteins 0.000 description 9
- 102100021133 Nuclear protein 1 Human genes 0.000 description 9
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 description 2
- 108091036429 KCNQ1OT1 Proteins 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は発光ダイオードのチェッ
ク回路に関し、特に一般電子機器における保守・運用状
態等を表示する複数の発光ダイオードの正常性のチェッ
ク回路に関する。
ク回路に関し、特に一般電子機器における保守・運用状
態等を表示する複数の発光ダイオードの正常性のチェッ
ク回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の発光ダイオードの正常性確認は、
装置の電源を入れた時や装置の自己診断時に、複数の発
光ダイオードを一斉に点灯させるか、グループに分けて
順々に点灯させることにより、保守員がそれを目視でチ
ェックしていた。
装置の電源を入れた時や装置の自己診断時に、複数の発
光ダイオードを一斉に点灯させるか、グループに分けて
順々に点灯させることにより、保守員がそれを目視でチ
ェックしていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この従来の発光ダイオ
ード正常性チェックの方法では、電源を入れた時や自己
診断起動，あるいは発光ダイオード試験キー起動により
、全部又は一部の発光ダイオードを点灯し、保守者の目
視で正常性の確認を行なっていたため、保守者がいなけ
れば発光ダイオードの正常性確認ができず、このため自
動試験ができなかった。また、人間の目視で正常性確認
を行なうため、チェックの見落としやチェックミスが起
こりやすい、という問題があった。
ード正常性チェックの方法では、電源を入れた時や自己
診断起動，あるいは発光ダイオード試験キー起動により
、全部又は一部の発光ダイオードを点灯し、保守者の目
視で正常性の確認を行なっていたため、保守者がいなけ
れば発光ダイオードの正常性確認ができず、このため自
動試験ができなかった。また、人間の目視で正常性確認
を行なうため、チェックの見落としやチェックミスが起
こりやすい、という問題があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の発光ダイオード
のチェック回路は、一斉に点灯するための駆動制御を受
けた複数の発光ダイオードのそれぞれの電圧降下の最大
値を測定する最大値測定手段と、前記電圧降下の最小値
を測定する最小値測定手段と、前記最大値測定手段によ
り測定された前記電圧降下の最大値とあらかじめ設定さ
れた第１の基準値とを比較し前記電圧降下の最大値がこ
の第１の基準値を超える場合は切断している発光ダイオ
ードがあることを示す第１の障害情報を送出し、前記最
小値測定手段により測定された前記電圧降下の最小値と
あらかじめ設定された第２の基準値とを比較し前記電圧
降下の最小値がこの第２の基準値より低い場合は短絡し
ている発光ダイオードがあることを示す第２の障害情報
を送出する障害判定手段とを備えている。
のチェック回路は、一斉に点灯するための駆動制御を受
けた複数の発光ダイオードのそれぞれの電圧降下の最大
値を測定する最大値測定手段と、前記電圧降下の最小値
を測定する最小値測定手段と、前記最大値測定手段によ
り測定された前記電圧降下の最大値とあらかじめ設定さ
れた第１の基準値とを比較し前記電圧降下の最大値がこ
の第１の基準値を超える場合は切断している発光ダイオ
ードがあることを示す第１の障害情報を送出し、前記最
小値測定手段により測定された前記電圧降下の最小値と
あらかじめ設定された第２の基準値とを比較し前記電圧
降下の最小値がこの第２の基準値より低い場合は短絡し
ている発光ダイオードがあることを示す第２の障害情報
を送出する障害判定手段とを備えている。
【０００５】また、上記構成において、前記最小値測定
手段が、それぞれのアノードを共通に電源に接続された
前記複数の発光ダイオードのそれぞれのカソードに、そ
れぞれのアノードを接続し、それぞれのカソードを共通
に接続した複数のダイオードからなる第１のダイオード
オア回路を有し、この第１のダイオードオア回路の共通
に接続したカソードに、前記複数の発光ダイオードの前
記電源の電圧からそれぞれの電圧降下分を引いた電圧の
最大値に対応する値を前記電圧降下の最小値に対応する
値として出力し、前記最大値測定手段が、前記複数の発
光ダイオードのそれぞれの前記カソードにそれぞれのカ
ソードを接続し、それぞれのアノードを共通に接続した
複数のダイオードからなる第２のダイオードオア回路を
有し、この第２のダイオードオア回路の共通に接続した
アノードに、前記複数の発光ダイオードの前記電源の電
圧からそれぞれの電圧降下分を引いた電圧の最小値に対
応する値を前記電圧降下の最大値に対応する値として出
力する構成、さらに、前記障害判定手段が、前記第１及
び第２の障害情報のいずれか一方あるいは両方が設定さ
れたことを示す第３の障害情報を出力する第３のオア回
路と、前記第１，第２及び第３の障害情報のそれぞれを
保持し送出する保持回路とを有する構成としてもよい。
手段が、それぞれのアノードを共通に電源に接続された
前記複数の発光ダイオードのそれぞれのカソードに、そ
れぞれのアノードを接続し、それぞれのカソードを共通
に接続した複数のダイオードからなる第１のダイオード
オア回路を有し、この第１のダイオードオア回路の共通
に接続したカソードに、前記複数の発光ダイオードの前
記電源の電圧からそれぞれの電圧降下分を引いた電圧の
最大値に対応する値を前記電圧降下の最小値に対応する
値として出力し、前記最大値測定手段が、前記複数の発
光ダイオードのそれぞれの前記カソードにそれぞれのカ
ソードを接続し、それぞれのアノードを共通に接続した
複数のダイオードからなる第２のダイオードオア回路を
有し、この第２のダイオードオア回路の共通に接続した
アノードに、前記複数の発光ダイオードの前記電源の電
圧からそれぞれの電圧降下分を引いた電圧の最小値に対
応する値を前記電圧降下の最大値に対応する値として出
力する構成、さらに、前記障害判定手段が、前記第１及
び第２の障害情報のいずれか一方あるいは両方が設定さ
れたことを示す第３の障害情報を出力する第３のオア回
路と、前記第１，第２及び第３の障害情報のそれぞれを
保持し送出する保持回路とを有する構成としてもよい。
【０００６】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明する
。
。
【０００７】図１は本発明の一実施例の回路図である。
通常発光ダイオードＬＥＤ０〜ＬＥＤｎは各々個別に制
御されるが、発光ダイオード試験用リードＴＳＴＮにＬ
ｏｗレベル信号が与えられると、発光ダイオードＬＥＤ
０〜ＬＥＤｎが一斉に点灯する。この時の各発光ダイオ
ードＬＥＤ０〜ＬＥＤｎにおける電圧降下を基準レベル
と比較するため、各発光ダイオードＬＥＤ０〜ＬＥＤｎ
と各抵抗器Ｒ００〜Ｒ０ｎとのそれぞれの接続点に各ダ
イオードＤ００〜Ｄ０ｎのアノードをそれぞれ接続し、
このダイオードＤ００〜Ｄ０ｎのカソードを共通に接続
し、抵抗器Ｒ２，Ｒ３を通してコンパレータＣＯＭ０の
非反転入力端子（＋）へ接続している。また同様に、各
発光ダイオードＬＥＤ０〜ＬＥＤｎと各抵抗器Ｒ００〜
Ｒ０ｎとのそれぞれの接続点に各ダイオードＤ１０〜Ｄ
１ｎのカソードをそれぞれ接続し、このダイオードＤ１
０〜Ｄ１ｎのアノードを共通に接続し、抵抗器Ｒ４，Ｒ
５を通してコンパレータＣＯＭ１の反転入力端子（−）
へ接続している。コンパレータＣＯＭ０の非反転入力端
子（＋）へ接続されるダイオードＤ００〜Ｄ０ｎは、す
べてカソード側になっているので、発光ダイオードＬＥ
Ｄ０〜ＬＥＤｎと抵抗器Ｒ００〜Ｒ０ｎとのそれぞれの
接続点の最も高い電位が、コンパレータＣＯＭ０の入力
端子に現われる。これは発光ダイオードＬＥＤ０〜ＬＥ
Ｄｎが短絡のような故障を検出するためのものである。 同様に、コンパレータＣＯＭ１の反転入力端子（−）へ
接続されるダイオードＤ１０〜Ｄ１ｎはすべてアノード
側ゆえ、発光ダイオードＬＥＤ０〜ＬＥＤｎと抵抗器Ｒ
００〜Ｒ０ｎとのそれぞれの接続点の最も低い電位が、
コンパレータＣＯＭ１の入力端子に現われる。これは発
光ダイオードＬＥＤ０〜ＬＥＤｎが切断し、導通がない
ような故障を検出するためのものである。
御されるが、発光ダイオード試験用リードＴＳＴＮにＬ
ｏｗレベル信号が与えられると、発光ダイオードＬＥＤ
０〜ＬＥＤｎが一斉に点灯する。この時の各発光ダイオ
ードＬＥＤ０〜ＬＥＤｎにおける電圧降下を基準レベル
と比較するため、各発光ダイオードＬＥＤ０〜ＬＥＤｎ
と各抵抗器Ｒ００〜Ｒ０ｎとのそれぞれの接続点に各ダ
イオードＤ００〜Ｄ０ｎのアノードをそれぞれ接続し、
このダイオードＤ００〜Ｄ０ｎのカソードを共通に接続
し、抵抗器Ｒ２，Ｒ３を通してコンパレータＣＯＭ０の
非反転入力端子（＋）へ接続している。また同様に、各
発光ダイオードＬＥＤ０〜ＬＥＤｎと各抵抗器Ｒ００〜
Ｒ０ｎとのそれぞれの接続点に各ダイオードＤ１０〜Ｄ
１ｎのカソードをそれぞれ接続し、このダイオードＤ１
０〜Ｄ１ｎのアノードを共通に接続し、抵抗器Ｒ４，Ｒ
５を通してコンパレータＣＯＭ１の反転入力端子（−）
へ接続している。コンパレータＣＯＭ０の非反転入力端
子（＋）へ接続されるダイオードＤ００〜Ｄ０ｎは、す
べてカソード側になっているので、発光ダイオードＬＥ
Ｄ０〜ＬＥＤｎと抵抗器Ｒ００〜Ｒ０ｎとのそれぞれの
接続点の最も高い電位が、コンパレータＣＯＭ０の入力
端子に現われる。これは発光ダイオードＬＥＤ０〜ＬＥ
Ｄｎが短絡のような故障を検出するためのものである。 同様に、コンパレータＣＯＭ１の反転入力端子（−）へ
接続されるダイオードＤ１０〜Ｄ１ｎはすべてアノード
側ゆえ、発光ダイオードＬＥＤ０〜ＬＥＤｎと抵抗器Ｒ
００〜Ｒ０ｎとのそれぞれの接続点の最も低い電位が、
コンパレータＣＯＭ１の入力端子に現われる。これは発
光ダイオードＬＥＤ０〜ＬＥＤｎが切断し、導通がない
ような故障を検出するためのものである。
【０００８】一方、コンパレータＣＯＭ０の反転入力端
子（−）には電源電圧＋５ｖを抵抗器Ｒ６，Ｒ７，Ｒ８
で分圧した高位側基準電圧ＶＨ が与えられる。これは
発光ダイオードＬＥＤ０〜ＬＥＤｎの電圧降下のバラツ
キを考慮し、正常状態で起こり得る最高電圧より、少し
高目になるように設定される。同様にコンパレータＣＯ
Ｍ１の非反転入力端子（＋）に低位側基準電圧ＶＬ が
、正常状態で起こり得る最低電圧より少し低目になるよ
うに設定される。
子（−）には電源電圧＋５ｖを抵抗器Ｒ６，Ｒ７，Ｒ８
で分圧した高位側基準電圧ＶＨ が与えられる。これは
発光ダイオードＬＥＤ０〜ＬＥＤｎの電圧降下のバラツ
キを考慮し、正常状態で起こり得る最高電圧より、少し
高目になるように設定される。同様にコンパレータＣＯ
Ｍ１の非反転入力端子（＋）に低位側基準電圧ＶＬ が
、正常状態で起こり得る最低電圧より少し低目になるよ
うに設定される。
【０００９】図２は、発光ダイオードＬＥＤ０〜ＬＥＤ
ｎを点灯させたときのコンパーレータＣＯＭ０，ＣＯＭ
１入力電圧の正常範囲と異常範囲を示したものである。 コンパレータＣＯＭ０の入力電圧が高位側基準電圧ＶＨ
を超えると、発光ダイオードＬＥＤ０〜ＬＥＤｎの中
のいずれか１つ以上の発光ダイオードが短絡モードで故
障していることを表わし、コンパレータＣＯＭ１の入力
電圧が低位側基準電圧ＶＬ より低いときは、発光ダイ
オードＬＥＤ０〜ＬＥＤｎの中のいずれか１つ以上の発
光ダイオードが切断モードで故障していることを表わす
。
ｎを点灯させたときのコンパーレータＣＯＭ０，ＣＯＭ
１入力電圧の正常範囲と異常範囲を示したものである。 コンパレータＣＯＭ０の入力電圧が高位側基準電圧ＶＨ
を超えると、発光ダイオードＬＥＤ０〜ＬＥＤｎの中
のいずれか１つ以上の発光ダイオードが短絡モードで故
障していることを表わし、コンパレータＣＯＭ１の入力
電圧が低位側基準電圧ＶＬ より低いときは、発光ダイ
オードＬＥＤ０〜ＬＥＤｎの中のいずれか１つ以上の発
光ダイオードが切断モードで故障していることを表わす
。
【００１０】コンパレータＣＯＭ０又はＣＯＭ１で発光
ダイオード障害を検出すると、オア回路ＯＲの出力がＨ
レベルになり、この出力信号がＣＨＫ（チェック）信号
の立上りでＤフリップフロップＤＦの出力Ｑ０に現われ
、データが保持される。このＱ０信号をＡＬＭ（アラー
ム表示）信号とし、これがＨレベルであれば発光ダイオ
ードＬＥＤ０〜ＬＥＤｎのいずれかに障害があることを
示す。また、コンパレータＣＯＭ０の出力も同様にＣＨ
Ｋ信号の立上りでＤフリップフロップＤＦの出力Ｑ１に
現われ、データが保持される。この出力をＳＨＴ（短絡
表示）信号とし、これがＨレベルの時は発光ダイオード
ＬＥＤ０〜ＬＥＤｎの中のいずれか１つ以上の発光ダイ
オードに短絡モードの障害があることを示す。同様に、
コンパレータＣＯＭ１の出力がＤフリップフロップＤＦ
の出力Ｑ２に現われ、保持される。これをＣＵＴ（切断
表示）信号とし、Ｈレベルの時は発光ダイオードＬＥＤ
０〜ＬＥＤｎの中の少くても１つ以上の発光ダイオード
に切断モードの障害があることを示す。
ダイオード障害を検出すると、オア回路ＯＲの出力がＨ
レベルになり、この出力信号がＣＨＫ（チェック）信号
の立上りでＤフリップフロップＤＦの出力Ｑ０に現われ
、データが保持される。このＱ０信号をＡＬＭ（アラー
ム表示）信号とし、これがＨレベルであれば発光ダイオ
ードＬＥＤ０〜ＬＥＤｎのいずれかに障害があることを
示す。また、コンパレータＣＯＭ０の出力も同様にＣＨ
Ｋ信号の立上りでＤフリップフロップＤＦの出力Ｑ１に
現われ、データが保持される。この出力をＳＨＴ（短絡
表示）信号とし、これがＨレベルの時は発光ダイオード
ＬＥＤ０〜ＬＥＤｎの中のいずれか１つ以上の発光ダイ
オードに短絡モードの障害があることを示す。同様に、
コンパレータＣＯＭ１の出力がＤフリップフロップＤＦ
の出力Ｑ２に現われ、保持される。これをＣＵＴ（切断
表示）信号とし、Ｈレベルの時は発光ダイオードＬＥＤ
０〜ＬＥＤｎの中の少くても１つ以上の発光ダイオード
に切断モードの障害があることを示す。
【００１１】図３は上記の内容をタイムチャートで表わ
したものである。同図（ａ）は発光ダイオードがすべて
正常に動作している場合を示す。ＣＨＫ信号で障害状態
を読出してもＡＬＭ信号，ＳＨＴ信号，ＣＵＴ信号はＬ
レベルのままである。同図（ｂ）は発光ダイオードの一
部が短絡モードで故障している場合を示し、ＴＳＴＮが
Ｌレベルになった時のコンパレータＣＯＭ０出力がＨレ
ベルなので、ＡＬＭ信号及びＳＨＴ信号がＨレベルにな
る。同図（ｃ）は発光ダイオードの一部が切断モードで
故障している場合を示し、ＴＳＴＮがＬレベルの時のコ
ンパレータＣＯＭ１の出力がＨレベルなのでＡＬＭ信号
及びＣＵＴ信号がＨレベルになる。
したものである。同図（ａ）は発光ダイオードがすべて
正常に動作している場合を示す。ＣＨＫ信号で障害状態
を読出してもＡＬＭ信号，ＳＨＴ信号，ＣＵＴ信号はＬ
レベルのままである。同図（ｂ）は発光ダイオードの一
部が短絡モードで故障している場合を示し、ＴＳＴＮが
Ｌレベルになった時のコンパレータＣＯＭ０出力がＨレ
ベルなので、ＡＬＭ信号及びＳＨＴ信号がＨレベルにな
る。同図（ｃ）は発光ダイオードの一部が切断モードで
故障している場合を示し、ＴＳＴＮがＬレベルの時のコ
ンパレータＣＯＭ１の出力がＨレベルなのでＡＬＭ信号
及びＣＵＴ信号がＨレベルになる。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したように本発明は複数の発光
ダイオードの正常性確認を自動的に、しかも同時に行な
うことができるようにしたので、保守者がいなくても自
動的に発光ダイオードの正常性確認ができるようになり
、さらに人間が目視で１つ１つの発光ダイオードが正し
く点灯することを確認する必要がなくなり、これにより
チェックの見落としやチェック・ミスが防げるという効
果がある。
ダイオードの正常性確認を自動的に、しかも同時に行な
うことができるようにしたので、保守者がいなくても自
動的に発光ダイオードの正常性確認ができるようになり
、さらに人間が目視で１つ１つの発光ダイオードが正し
く点灯することを確認する必要がなくなり、これにより
チェックの見落としやチェック・ミスが防げるという効
果がある。
【図１】本発明の一実施例の回路図である。
【図２】図１の実施例において発光ダイオードＬＥＤを
点灯させた時のコンパレータＣＯＭ０，ＣＯＭ１の入力
電圧の正常範囲と異常範囲を示した図である。
点灯させた時のコンパレータＣＯＭ０，ＣＯＭ１の入力
電圧の正常範囲と異常範囲を示した図である。
【図３】図１の実施例における信号のタイムチャートで
ある。
ある。
ＣＯＭ０，ＣＯＭ１ コンパレータＤ００〜Ｄ１
ｎ，Ｄ１０〜Ｄ１ｎ ダイオードＤＦ Ｄ
フリップフロップ ＬＥＤ０〜ＬＥＤｎ 発光ダイオードＯＲ
オア回路
ｎ，Ｄ１０〜Ｄ１ｎ ダイオードＤＦ Ｄ
フリップフロップ ＬＥＤ０〜ＬＥＤｎ 発光ダイオードＯＲ
オア回路
Claims (3)
- 【請求項１】 一斉に点灯するための駆動制御を受け
た複数の発光ダイオードのそれぞれの電圧降下の最大値
を測定する最大値測定手段と、前記電圧降下の最小値を
測定する最小値測定手段と、前記最大値測定手段により
測定された前記電圧降下の最大値とあらかじめ設定され
た第１の基準値とを比較し前記電圧降下の最大値がこの
第１の基準値を超える場合は切断している発光ダイオー
ドがあることを示す第１の障害情報を送出し、前記最小
値測定手段により測定された前記電圧降下の最小値とあ
らかじめ設定された第２の基準値とを比較し前記電圧降
下の最小値がこの第２の基準値より低い場合は短絡して
いる発光ダイオードがあることを示す第２の障害情報を
送出する障害判定手段とを備えることを特徴とする発光
ダイオードのチェック回路。 - 【請求項２】 前記最小値測定手段が、それぞれのア
ノードを共通に電源に接続された前記複数の発光ダイオ
ードのそれぞれのカソードに、それぞれのアノードを接
続し、それぞれのカソードを共通に接続した複数のダイ
オードからなる第１のダイオードオア回路を有し、この
第１のダイオードオア回路の共通に接続したカソードに
、前記複数の発光ダイオードの前記電源の電圧からそれ
ぞれの電圧降下分を引いた電圧の最大値に対応する値を
前記電圧降下の最小値に対応する値として出力し、前記
最大値測定手段が、前記複数の発光ダイオードのそれぞ
れの前記カソードにそれぞれのカソードを接続し、それ
ぞれのアノードを共通に接続した複数のダイオードから
なる第２のダイオードオア回路を有し、この第２のダイ
オードオア回路の共通に接続したアノードに、前記複数
の発光ダイオードの前記電源の電圧からそれぞれの電圧
降下分を引いた電圧の最小値に対応する値を前記電圧降
下の最大値に対応する値として出力することを特徴とす
る請求項１記載の発光ダイオードのチェック回路。 - 【請求項３】 前記障害判定手段が、前記第１及び第
２の障害情報のいずれか一方あるいは両方が設定された
ことを示す第３の障害情報を出力する第３のオア回路と
、前記第１，第２及び第３の障害情報のそれぞれを保持
し送出する保持回路とを有することを特徴とする請求項
１又は２記載の発光ダイオードのチェック回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3069645A JPH04305173A (ja) | 1991-04-02 | 1991-04-02 | 発光ダイオードのチェック回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3069645A JPH04305173A (ja) | 1991-04-02 | 1991-04-02 | 発光ダイオードのチェック回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04305173A true JPH04305173A (ja) | 1992-10-28 |
Family
ID=13408794
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3069645A Pending JPH04305173A (ja) | 1991-04-02 | 1991-04-02 | 発光ダイオードのチェック回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04305173A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7023232B2 (en) * | 2003-04-03 | 2006-04-04 | Sony Corporation | Image display device, drive circuit device and defect detection method of light-emitting diode |
-
1991
- 1991-04-02 JP JP3069645A patent/JPH04305173A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7023232B2 (en) * | 2003-04-03 | 2006-04-04 | Sony Corporation | Image display device, drive circuit device and defect detection method of light-emitting diode |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20000530 |