JPH04295754A - リン酸塩処理溶液中の亜硝酸塩の分析方法 - Google Patents
リン酸塩処理溶液中の亜硝酸塩の分析方法Info
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- JPH04295754A JPH04295754A JP32128291A JP32128291A JPH04295754A JP H04295754 A JPH04295754 A JP H04295754A JP 32128291 A JP32128291 A JP 32128291A JP 32128291 A JP32128291 A JP 32128291A JP H04295754 A JPH04295754 A JP H04295754A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N31/00—Investigating or analysing non-biological materials by the use of the chemical methods specified in the subgroup; Apparatus specially adapted for such methods
- G01N31/16—Investigating or analysing non-biological materials by the use of the chemical methods specified in the subgroup; Apparatus specially adapted for such methods using titration
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、単純及び／又は複合フ
ッ化物を含むリン酸塩処理水溶液浴中の亜硝酸塩の分析
方法並びに、亜硝酸塩を含む補給用濃縮物をリン酸塩処
理溶液浴へ供給する配量装置を制御するために上記方法
を使用する方法に関する。
ッ化物を含むリン酸塩処理水溶液浴中の亜硝酸塩の分析
方法並びに、亜硝酸塩を含む補給用濃縮物をリン酸塩処
理溶液浴へ供給する配量装置を制御するために上記方法
を使用する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】促進作用を有する亜硝酸塩を含むリン酸
塩処理溶液浴によって鋼及びその他の金属に化学的表面
処理を行う際において、亜硝酸塩の分析は非常に重要な
意義がある。その理由は、この浴構成成分を狭い濃度範
囲内に保持することが高品質のリン酸塩皮膜を形成する
ために不可欠であるからである。
塩処理溶液浴によって鋼及びその他の金属に化学的表面
処理を行う際において、亜硝酸塩の分析は非常に重要な
意義がある。その理由は、この浴構成成分を狭い濃度範
囲内に保持することが高品質のリン酸塩皮膜を形成する
ために不可欠であるからである。
【０００３】浴試料中の亜硝酸塩含量を、この浴試料中
に浸漬した酸化還元電極による電位表示法を使用して硫
酸セリウム（ＩＶ）標準溶液にて滴定する方法は周知で
ある。この方法の別形態として、浴試料中の亜硝酸塩を
過剰の硫酸セリウム（ＩＶ）標準溶液と反応させ、残存
した硫酸セリウム（ＩＶ）を硫酸鉄（ＩＩ）標準溶液に
て逆滴定すれば、浴試料中に浸漬した酸化還元電極によ
って得られた電位差滴定曲線上の電位変曲点が滴定終点
に相当する（ヴェー・ラウシュ：「金属のリン酸塩処理
」、オイゲン・エル・ロイツェ書店、サウルガウ／ビュ
ルテンベルク（Ｗ．Ｒａｕｓｃｈ ”Ｄｉｅ Ｐｈｏｓ
ｐｈａｔｉｅｒｕｎｇ ｖｏｎ Ｍｅｔａｌｌｅｎ”，
Ｅｕｇｅｎ Ｌ． Ｌｅｕｚｅ Ｖｅｒｌａｇ，Ｓａ
ｕｌｇａｕ／Ｗｕｅｒｔｔ．）、第２版、１９８８年、
３１０頁）。
に浸漬した酸化還元電極による電位表示法を使用して硫
酸セリウム（ＩＶ）標準溶液にて滴定する方法は周知で
ある。この方法の別形態として、浴試料中の亜硝酸塩を
過剰の硫酸セリウム（ＩＶ）標準溶液と反応させ、残存
した硫酸セリウム（ＩＶ）を硫酸鉄（ＩＩ）標準溶液に
て逆滴定すれば、浴試料中に浸漬した酸化還元電極によ
って得られた電位差滴定曲線上の電位変曲点が滴定終点
に相当する（ヴェー・ラウシュ：「金属のリン酸塩処理
」、オイゲン・エル・ロイツェ書店、サウルガウ／ビュ
ルテンベルク（Ｗ．Ｒａｕｓｃｈ ”Ｄｉｅ Ｐｈｏｓ
ｐｈａｔｉｅｒｕｎｇ ｖｏｎ Ｍｅｔａｌｌｅｎ”，
Ｅｕｇｅｎ Ｌ． Ｌｅｕｚｅ Ｖｅｒｌａｇ，Ｓａ
ｕｌｇａｕ／Ｗｕｅｒｔｔ．）、第２版、１９８８年、
３１０頁）。
【０００４】しかし上記分析方法は、単純及び／又は複
合フッ化物を全く含まないリン酸塩処理溶液を分析する
時にのみ完璧に作動する。フッ化物が存在すると、その
分析測定値は余りにも不正確となる故、上記分析方法は
到底使用に堪えない。
合フッ化物を全く含まないリン酸塩処理溶液を分析する
時にのみ完璧に作動する。フッ化物が存在すると、その
分析測定値は余りにも不正確となる故、上記分析方法は
到底使用に堪えない。
【０００５】リン酸塩処理皮膜の形成を最適化するため
に、単純及び／又は複合フッ化物を含むリン酸塩処理浴
が近来益々多く使われる傾向にある。またリン酸塩処理
工程の自動化を更に進める観点からも、他の重要な浴構
成成分の分析に加えて亜硝酸塩の分析を自動滴定装置に
て行うのが望ましい。
に、単純及び／又は複合フッ化物を含むリン酸塩処理浴
が近来益々多く使われる傾向にある。またリン酸塩処理
工程の自動化を更に進める観点からも、他の重要な浴構
成成分の分析に加えて亜硝酸塩の分析を自動滴定装置に
て行うのが望ましい。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】よって本発明が解決し
ようとする課題は、単純及び／又は複合フッ化物の存在
下においても完璧に作動し且つまたリン酸塩処理工程の
自動化に対応できる、酸性リン酸塩処理水溶液中の亜硝
酸塩の分析方法を提供することである。
ようとする課題は、単純及び／又は複合フッ化物の存在
下においても完璧に作動し且つまたリン酸塩処理工程の
自動化に対応できる、酸性リン酸塩処理水溶液中の亜硝
酸塩の分析方法を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、単純及び／又
は複合フッ化物を含むリン酸塩処理水溶液浴中の亜硝酸
塩の分析方法において、浴試料を硫酸、硝酸及び／又は
過塩素酸にて酸性化し、リン酸塩処理浴中フッ化物含量
の５倍以上のモル比過剰量のアルミニウムイオンの存在
下で、酸化還元電極による電位表示法を使用して硫酸セ
リウム（ＩＶ）法により滴定するように構成した。
は複合フッ化物を含むリン酸塩処理水溶液浴中の亜硝酸
塩の分析方法において、浴試料を硫酸、硝酸及び／又は
過塩素酸にて酸性化し、リン酸塩処理浴中フッ化物含量
の５倍以上のモル比過剰量のアルミニウムイオンの存在
下で、酸化還元電極による電位表示法を使用して硫酸セ
リウム（ＩＶ）法により滴定するように構成した。
【０００８】上記酸性化は、後続する上記滴定操作の際
にリン酸セリウムの沈澱が起こらない程度にまで進めな
ければならない。通常この目的には、浴試料１０ｍｌを
完全脱イオン水約７０ｍｌにて希釈して滴定する場合、
濃硫酸に換算して約１〜５ｇの酸量を加えれば充分であ
る。
にリン酸セリウムの沈澱が起こらない程度にまで進めな
ければならない。通常この目的には、浴試料１０ｍｌを
完全脱イオン水約７０ｍｌにて希釈して滴定する場合、
濃硫酸に換算して約１〜５ｇの酸量を加えれば充分であ
る。
【０００９】上記の、リン酸塩処理浴中フッ化物含量の
５倍以上のモル比過剰量のアルミニウムイオンの存在は
、分析結果の誤差を排除するために必要である。上記過
剰量の上限値についての制限は特にないが、３０倍以上
のモル比過剰量が使用されることは一般にない。通常の
リン酸塩処理溶液では、アルミニウムイオン添加量はリ
ン酸塩処理溶液の１リットル当り８〜４０ｇ又は滴定に
供される浴試料の１０ｍｌ当り８０〜４００ｍｇである
。
５倍以上のモル比過剰量のアルミニウムイオンの存在は
、分析結果の誤差を排除するために必要である。上記過
剰量の上限値についての制限は特にないが、３０倍以上
のモル比過剰量が使用されることは一般にない。通常の
リン酸塩処理溶液では、アルミニウムイオン添加量はリ
ン酸塩処理溶液の１リットル当り８〜４０ｇ又は滴定に
供される浴試料の１０ｍｌ当り８０〜４００ｍｇである
。
【００１０】上記浴試料は、完全脱イオン水にて約５〜
１０倍に希釈した後に滴定を行うのが合理的である。上
記滴定は、電位差滴定曲線上に電位変曲点又は電位ジャ
ンプが出現するまで硫酸セリウム（ＩＶ）標準溶液にて
滴定して行う。勿論、浴試料に一定過剰量の硫酸セリウ
ム（ＩＶ）標準溶液を加えた後、例えば硫酸鉄（ＩＩ）
標準溶液にて上記電位ジャンプが出現するまで逆滴定す
ることもできる。上記直接滴定にて消費された硫酸セリ
ウム（ＩＶ）標準溶液量又は、上記逆滴定において前添
加された硫酸セリウム（ＩＶ）標準溶液量と滴定に消費
された硫酸鉄（ＩＩ）標準溶液量との差から換算された
硫酸セリウム（ＩＶ）標準溶液量は、上記浴試料中に含
まれた亜硝酸塩量の指標となる。１ｍｌの０．０１ｍ硫
酸セリウム（ＩＶ）標準溶液は０．２３ｍｇの亜硝酸根
に相当する。従って１０ｍｌの浴試料を滴定して１ｍｌ
の硫酸セリウム（ＩＶ）標準溶液が消費されたならば、
リン酸塩処理浴１リットル当り２３ｍｇの亜硝酸根が含
まれることになる。
１０倍に希釈した後に滴定を行うのが合理的である。上
記滴定は、電位差滴定曲線上に電位変曲点又は電位ジャ
ンプが出現するまで硫酸セリウム（ＩＶ）標準溶液にて
滴定して行う。勿論、浴試料に一定過剰量の硫酸セリウ
ム（ＩＶ）標準溶液を加えた後、例えば硫酸鉄（ＩＩ）
標準溶液にて上記電位ジャンプが出現するまで逆滴定す
ることもできる。上記直接滴定にて消費された硫酸セリ
ウム（ＩＶ）標準溶液量又は、上記逆滴定において前添
加された硫酸セリウム（ＩＶ）標準溶液量と滴定に消費
された硫酸鉄（ＩＩ）標準溶液量との差から換算された
硫酸セリウム（ＩＶ）標準溶液量は、上記浴試料中に含
まれた亜硝酸塩量の指標となる。１ｍｌの０．０１ｍ硫
酸セリウム（ＩＶ）標準溶液は０．２３ｍｇの亜硝酸根
に相当する。従って１０ｍｌの浴試料を滴定して１ｍｌ
の硫酸セリウム（ＩＶ）標準溶液が消費されたならば、
リン酸塩処理浴１リットル当り２３ｍｇの亜硝酸根が含
まれることになる。
【００１１】上記浴試料は硫酸にて酸性化するのがよい
。
。
【００１２】上記浴試料の滴定時に必要な上記アルミニ
ウムイオンは硫酸アルミニウム１８水塩の形で加えるの
がよい。上述の必要量値を換算すれば、上記浴試料１０
ｍｌにつき約１〜５ｇの上記アルミニウム塩が必要とな
る。
ウムイオンは硫酸アルミニウム１８水塩の形で加えるの
がよい。上述の必要量値を換算すれば、上記浴試料１０
ｍｌにつき約１〜５ｇの上記アルミニウム塩が必要とな
る。
【００１３】滴定の際に白金電極を酸化還元電極とし、
カロメル電極を基準電極として使用するのが特に実用的
である。
カロメル電極を基準電極として使用するのが特に実用的
である。
【００１４】上記の亜硝酸塩分析方法は自動化が可能で
あり、亜硝酸塩を含む補給用濃縮物をリン酸塩処理溶液
浴へ供給する配量装置を制御するためにこの方法を使用
することができる。
あり、亜硝酸塩を含む補給用濃縮物をリン酸塩処理溶液
浴へ供給する配量装置を制御するためにこの方法を使用
することができる。
【００１５】上記分析方法は、亜硝酸塩とフッ化物とを
含むリン酸塩処理溶液に全般的に使用できる。
含むリン酸塩処理溶液に全般的に使用できる。
【００１６】
【実施例】以下本発明の実施例に就き詳細に説明する。
まず亜鉛、マンガン、ニッケル、ナトリウム及びリン酸
根に加えて、 ０．８ｇ／ｌ 単純フッ化物根 及び０．６ｇ／ｌ ヘキサフルオロ珪酸根を含むリン
酸塩処理溶液を建浴した。そしてこの溶液に更に４６ｍ
ｇ／ｌの亜硝酸根に相当する６９ｍｇ／ｌの亜硝酸ナト
リウムを添加した。
根に加えて、 ０．８ｇ／ｌ 単純フッ化物根 及び０．６ｇ／ｌ ヘキサフルオロ珪酸根を含むリン
酸塩処理溶液を建浴した。そしてこの溶液に更に４６ｍ
ｇ／ｌの亜硝酸根に相当する６９ｍｇ／ｌの亜硝酸ナト
リウムを添加した。
【００１７】１０ｍｌの上記浴試料を７０ｍｌの完全脱
イオン水にて希釈した後、この希釈試料液に２ｇの硫酸
アルミニウム１８水塩と、１０ｍｌの２０％硫酸と、５
ｍｌの０．０１ｍ硫酸セリウム（ＩＶ）標準溶液とを加
えた。しかる後この液を０．０１ｍ硫酸鉄（ＩＩ）標準
溶液にて滴定するに当り、液中に浸漬した白金／カロメ
ル一体化測定用電池の起電力を記録計器付き測定装置に
て連続的に記録した。前記電位変曲点に到達する迄に要
した０．０１ｍ硫酸鉄（ＩＩ）標準溶液の量は３．０ｍ
ｌであった。これから上記リン酸塩処理溶液中の亜硝酸
根含量に起因する０．０１ｍ硫酸セリウム（ＩＶ）標準
溶液の消費量は２ｍｌと計算され、この値はリン酸塩処
理溶液１リットル当り４６ｍｇの亜硝酸根含量に相当す
る。即ち、上記の亜硝酸根添加量は上記滴定によって正
確に定量分析された。
イオン水にて希釈した後、この希釈試料液に２ｇの硫酸
アルミニウム１８水塩と、１０ｍｌの２０％硫酸と、５
ｍｌの０．０１ｍ硫酸セリウム（ＩＶ）標準溶液とを加
えた。しかる後この液を０．０１ｍ硫酸鉄（ＩＩ）標準
溶液にて滴定するに当り、液中に浸漬した白金／カロメ
ル一体化測定用電池の起電力を記録計器付き測定装置に
て連続的に記録した。前記電位変曲点に到達する迄に要
した０．０１ｍ硫酸鉄（ＩＩ）標準溶液の量は３．０ｍ
ｌであった。これから上記リン酸塩処理溶液中の亜硝酸
根含量に起因する０．０１ｍ硫酸セリウム（ＩＶ）標準
溶液の消費量は２ｍｌと計算され、この値はリン酸塩処
理溶液１リットル当り４６ｍｇの亜硝酸根含量に相当す
る。即ち、上記の亜硝酸根添加量は上記滴定によって正
確に定量分析された。
【００１８】上記硫酸アルミニウム添加を除けば上記実
施例と全く同一の操作手順に従って比較試験を行った。 過剰に添加した上記硫酸セリウム（ＩＶ）標準溶液を逆
滴定するに要した上記硫酸鉄（ＩＩ）標準溶液量は４．
６ｍｌであった。この値は、亜硝酸根含量に起因する上
記硫酸セリウム（ＩＶ）標準溶液の滴定消費量０．４ｍ
ｌに相当する。この値はリン酸塩処理溶液１リットル当
り９ｍｇの亜硝酸根含量に相当し、従ってこの定量分析
誤差は極端に大きいと云わざるを得ない。
施例と全く同一の操作手順に従って比較試験を行った。 過剰に添加した上記硫酸セリウム（ＩＶ）標準溶液を逆
滴定するに要した上記硫酸鉄（ＩＩ）標準溶液量は４．
６ｍｌであった。この値は、亜硝酸根含量に起因する上
記硫酸セリウム（ＩＶ）標準溶液の滴定消費量０．４ｍ
ｌに相当する。この値はリン酸塩処理溶液１リットル当
り９ｍｇの亜硝酸根含量に相当し、従ってこの定量分析
誤差は極端に大きいと云わざるを得ない。
【００１９】
【発明の効果】本発明の分析方法は上述のような構成で
あるから、単純及び／又は複合フッ化物の存在下におい
ても完璧に作動し、且つまたリン酸塩処理工程の自動化
に対応できる。
あるから、単純及び／又は複合フッ化物の存在下におい
ても完璧に作動し、且つまたリン酸塩処理工程の自動化
に対応できる。
Claims (4)
- 【請求項１】単純及び／又は複合フッ化物を含むリン酸
塩処理水溶液浴中の亜硝酸塩の分析方法において、浴試
料を硫酸、硝酸及び／又は過塩素酸にて酸性化し、リン
酸塩処理浴中フッ化物含量の５倍以上のモル比過剰量の
アルミニウムイオンの存在下で、酸化還元電極による電
位表示法を使用して硫酸セリウム（ＩＶ）法により滴定
することを特徴とする分析方法。 - 【請求項２】上記浴試料を硫酸にて酸性化する請求項１
の分析方法。 - 【請求項３】上記アルミニウムイオンを硫酸アルミニウ
ム１８水塩の形で加える請求項１又は２の分析方法。 - 【請求項４】亜硝酸塩を含む補給用濃縮物をリン酸塩処
理溶液浴へ供給する配量装置を制御するために請求項１
、２又は３の分析方法を使用する方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4040924.4 | 1990-12-20 | ||
| DE19904040924 DE4040924A1 (de) | 1990-12-20 | 1990-12-20 | Nitritbestimmung in phosphatierungsloesungen |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04295754A true JPH04295754A (ja) | 1992-10-20 |
Family
ID=6420874
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32128291A Pending JPH04295754A (ja) | 1990-12-20 | 1991-11-08 | リン酸塩処理溶液中の亜硝酸塩の分析方法 |
Country Status (10)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0492714A1 (ja) |
| JP (1) | JPH04295754A (ja) |
| BR (1) | BR9105372A (ja) |
| CA (1) | CA2058107A1 (ja) |
| CS (1) | CS384791A3 (ja) |
| DE (1) | DE4040924A1 (ja) |
| HU (1) | HUT61404A (ja) |
| MX (1) | MX9102573A (ja) |
| PL (1) | PL292842A1 (ja) |
| PT (1) | PT99875A (ja) |
-
1990
- 1990-12-20 DE DE19904040924 patent/DE4040924A1/de not_active Withdrawn
-
1991
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- 1991-12-12 BR BR9105372A patent/BR9105372A/pt unknown
- 1991-12-16 MX MX9102573A patent/MX9102573A/es unknown
- 1991-12-17 EP EP91203324A patent/EP0492714A1/de not_active Withdrawn
- 1991-12-17 CS CS913847A patent/CS384791A3/cs unknown
- 1991-12-18 PL PL29284291A patent/PL292842A1/xx unknown
- 1991-12-19 PT PT9987591A patent/PT99875A/pt not_active Application Discontinuation
- 1991-12-19 CA CA 2058107 patent/CA2058107A1/en not_active Abandoned
- 1991-12-20 HU HU409191A patent/HUT61404A/hu unknown
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|---|---|
| HU914091D0 (en) | 1992-03-30 |
| DE4040924A1 (de) | 1992-06-25 |
| PL292842A1 (en) | 1992-06-26 |
| HUT61404A (en) | 1992-12-28 |
| BR9105372A (pt) | 1992-08-25 |
| CS384791A3 (en) | 1992-07-15 |
| MX9102573A (es) | 1992-06-01 |
| EP0492714A1 (de) | 1992-07-01 |
| PT99875A (pt) | 1992-12-31 |
| CA2058107A1 (en) | 1992-06-21 |
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