JPH0429232B2 - - Google Patents
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- JPH0429232B2 JPH0429232B2 JP57231328A JP23132882A JPH0429232B2 JP H0429232 B2 JPH0429232 B2 JP H0429232B2 JP 57231328 A JP57231328 A JP 57231328A JP 23132882 A JP23132882 A JP 23132882A JP H0429232 B2 JPH0429232 B2 JP H0429232B2
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- JP
- Japan
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- layer
- optical thyristor
- negative resistance
- thyristor
- resistance element
- Prior art date
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Links
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- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 9
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 5
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 6
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
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- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/08—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
- H01L31/10—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors characterised by potential barriers, e.g. phototransistors
- H01L31/101—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
- H01L31/111—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by at least three potential barriers, e.g. photothyristors
- H01L31/1113—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by at least three potential barriers, e.g. photothyristors the device being a photothyristor
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、過電圧保護回路を含む光サイリスタ
に関する。
に関する。
一般に、光サイリスタは点孤時の耐量を考え、
トリガ光の供給法やゲート構造に工夫がされてい
る。このため、点孤がゲート電極からおこる場合
は、初期点孤面積及びその広がり方が正常で定格
内の使用では素子が破壊することはない。
トリガ光の供給法やゲート構造に工夫がされてい
る。このため、点孤がゲート電極からおこる場合
は、初期点孤面積及びその広がり方が正常で定格
内の使用では素子が破壊することはない。
しかし、過電圧を受けて光サイリスタがブレー
クオーバする場合は、点孤個所を特定できないの
で、初期点孤面積及びその広がり方によつては回
路条件との関連で電気的に破壊することがある。
クオーバする場合は、点孤個所を特定できないの
で、初期点孤面積及びその広がり方によつては回
路条件との関連で電気的に破壊することがある。
一方、電気回路にあつては、回路側で一応の過
電圧対策をしているものの、予想外の条件により
危険な過電圧の発生が十分考えられるので、光サ
イリスタなどの主要素子は予想外の過電圧にも破
壊しないような対策が必要である。
電圧対策をしているものの、予想外の条件により
危険な過電圧の発生が十分考えられるので、光サ
イリスタなどの主要素子は予想外の過電圧にも破
壊しないような対策が必要である。
このため、本発明では任意の増幅ゲート電極と
アノード電極の間に光サイリスタのブレークオー
バ電圧よりも低い電圧でブレークオーバする負性
抵抗素子を内蔵させて過電圧破壊を防止できるよ
うにしている。第1図にその一実施例を示す。
PE層2、NB層3、PB層4、NE層5から成る光サ
イリスタエレメント1の増幅ゲート電極6と
pnpnの四層構造からなる半導体スイツチ、例え
ばブレーク・オーバダイオード(BOD)7のカ
ゾード電極8を接続し、BOD7のアノード電極
9を、数10Ωの電流制限抵抗10を介してサイリ
スタエレメントのアノード電極11に接続してい
る。
アノード電極の間に光サイリスタのブレークオー
バ電圧よりも低い電圧でブレークオーバする負性
抵抗素子を内蔵させて過電圧破壊を防止できるよ
うにしている。第1図にその一実施例を示す。
PE層2、NB層3、PB層4、NE層5から成る光サ
イリスタエレメント1の増幅ゲート電極6と
pnpnの四層構造からなる半導体スイツチ、例え
ばブレーク・オーバダイオード(BOD)7のカ
ゾード電極8を接続し、BOD7のアノード電極
9を、数10Ωの電流制限抵抗10を介してサイリ
スタエレメントのアノード電極11に接続してい
る。
このような回路構成において、BOD7がサイ
リスタ耐圧より多少低い電圧でブレークオーバ動
作を開始するようにBOD電圧を設定すると、過
電圧が光サイリスタに印加されたとき、光サイリ
スタがブレークオーバする前にBODがオンし、
その負荷電流が矢印20の様に電流制限抵抗10
を介してサイリスタのゲート電極6に流入する。
サイリスタはこのゲート電流によつて正常点孤
し、破壊しない。また制限抵抗10はゲートに過
大な電流が流入することを抑制する働きをする。
負性抵抗素子7は、光サイリスタ耐圧により低い
電圧で放電する放電ギヤツプを持つ真空管でもよ
い。
リスタ耐圧より多少低い電圧でブレークオーバ動
作を開始するようにBOD電圧を設定すると、過
電圧が光サイリスタに印加されたとき、光サイリ
スタがブレークオーバする前にBODがオンし、
その負荷電流が矢印20の様に電流制限抵抗10
を介してサイリスタのゲート電極6に流入する。
サイリスタはこのゲート電流によつて正常点孤
し、破壊しない。また制限抵抗10はゲートに過
大な電流が流入することを抑制する働きをする。
負性抵抗素子7は、光サイリスタ耐圧により低い
電圧で放電する放電ギヤツプを持つ真空管でもよ
い。
第2図は具体的実施例である。光サイリスタエ
レメント1と受光部13に光信号を伝達するため
のケース内ライトガイド14とアノード側銅電極
11とカソード側銅電極112とアノード側銅電
極11に半田付け又はろう付けされた四層構造の
負性抵抗素子7とセラミツクケース15から成
り、電流制限抵抗10は外付けとなつている。
レメント1と受光部13に光信号を伝達するため
のケース内ライトガイド14とアノード側銅電極
11とカソード側銅電極112とアノード側銅電
極11に半田付け又はろう付けされた四層構造の
負性抵抗素子7とセラミツクケース15から成
り、電流制限抵抗10は外付けとなつている。
第3図は電流制限抵抗10をセラミツクケース
15の中に入れると共に、負性抵抗素子7をサイ
リスタチツプ1上に取着した変形例である。
15の中に入れると共に、負性抵抗素子7をサイ
リスタチツプ1上に取着した変形例である。
第4図は光サイリスタ1と四層構造の負性抵抗
素子7を同一シリコン板に集積した変形例であ
る。この場合負性抵抗素子の耐圧を光サイリスタ
の耐圧より低くするために、負性抵抗素子7の
NE層51の幅を光サイリスタ1のNE層5の幅よ
り大きくしている。そして負性抵抗素子のカソー
ド電極8と、光サイリスタの補助カソード電極す
なわち増幅ゲート電極6の間に電流制限抵抗10
を挿入している。この抵抗は、配線抵抗のような
小さな抵抗であつてもよい。
素子7を同一シリコン板に集積した変形例であ
る。この場合負性抵抗素子の耐圧を光サイリスタ
の耐圧より低くするために、負性抵抗素子7の
NE層51の幅を光サイリスタ1のNE層5の幅よ
り大きくしている。そして負性抵抗素子のカソー
ド電極8と、光サイリスタの補助カソード電極す
なわち増幅ゲート電極6の間に電流制限抵抗10
を挿入している。この抵抗は、配線抵抗のような
小さな抵抗であつてもよい。
負性抵抗素子および抵抗は、必らずしもケース
内に設ける必要はなく、ケースに引出し端子を設
けておき、個々のサイリスタ動作・使用条件に応
じて最適の素子と抵抗を選択して接続することが
可能である。
内に設ける必要はなく、ケースに引出し端子を設
けておき、個々のサイリスタ動作・使用条件に応
じて最適の素子と抵抗を選択して接続することが
可能である。
以上説明したとおり、本発明によれば、増幅ゲ
ートを持つ光サイリスタの特性に鑑み、過電圧が
加わつたとき負性抵抗を介して上記任意の増幅ゲ
ートに電流を流し込み、サイリスタを全面におい
て点孤させるようにしたので、負性抵抗として小
容量のものを用いつつ、サイリスタの不時の破壊
を確実に防止することができる。
ートを持つ光サイリスタの特性に鑑み、過電圧が
加わつたとき負性抵抗を介して上記任意の増幅ゲ
ートに電流を流し込み、サイリスタを全面におい
て点孤させるようにしたので、負性抵抗として小
容量のものを用いつつ、サイリスタの不時の破壊
を確実に防止することができる。
第1図は本発明の基本構成図、第2図、第3図
および第4図は本発明のそれぞれ異なる実施例を
示す断面図である。 1……光サイリスタエレメント、2……PE層、
3……NB層、4……PB層、5……NE層、6……
補助カソード電極すなわち増幅ゲート電極、7…
…負性抵抗素子、10……電流制限用抵抗、11
……光サイリスタアノード電極、12,121…
…光サイリスタカソード電極、13……光サイリ
スタ受光部、14……ケース内ライトガイド、1
5……セラミツクケース。
および第4図は本発明のそれぞれ異なる実施例を
示す断面図である。 1……光サイリスタエレメント、2……PE層、
3……NB層、4……PB層、5……NE層、6……
補助カソード電極すなわち増幅ゲート電極、7…
…負性抵抗素子、10……電流制限用抵抗、11
……光サイリスタアノード電極、12,121…
…光サイリスタカソード電極、13……光サイリ
スタ受光部、14……ケース内ライトガイド、1
5……セラミツクケース。
Claims (1)
- 1 連続したpnpn四層の半導体基板を備え、外
側n層の基板表面上に凹形の受光部を有し、この
受光部の周辺に形成されかつこの受光部で受光し
た光により形成された光電流により点孤して導通
電流を形成する前段部とさらにこの導通電流を後
段部への増幅ゲート電流として供給するように構
成された増幅ゲート電極が少なくとも一段、前記
前段部の周辺の半導体基板表面上に設けられると
共に、任意の増幅ゲート電極を別個の負性抵抗素
子と抵抗を介してアノード電位部と接続した光サ
イリスタにおいて、前記負性抵抗素子を連続した
pnpn四層で構成し、光サイリスタの前記半導体
基板と同一基板内に集積させると共に四層の内
pnp層を光サイリスタのpnp層と共通としさらに
nエミツター層を前記光サイリスタのnエミツタ
ー層の接合深さより深くしたことを特徴とする光
サイリスタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23132882A JPS59124160A (ja) | 1982-12-29 | 1982-12-29 | 光サイリスタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23132882A JPS59124160A (ja) | 1982-12-29 | 1982-12-29 | 光サイリスタ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59124160A JPS59124160A (ja) | 1984-07-18 |
JPH0429232B2 true JPH0429232B2 (ja) | 1992-05-18 |
Family
ID=16921907
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23132882A Granted JPS59124160A (ja) | 1982-12-29 | 1982-12-29 | 光サイリスタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59124160A (ja) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5076970A (ja) * | 1973-10-01 | 1975-06-24 | ||
JPS5183784A (ja) * | 1974-12-10 | 1976-07-22 | Siemens Ag | |
JPS5193678A (ja) * | 1975-02-14 | 1976-08-17 | ||
JPS5596684A (en) * | 1979-01-19 | 1980-07-23 | Hitachi Ltd | Light drive semiconductor controlled rectifier |
JPS5718358A (en) * | 1980-07-08 | 1982-01-30 | Hitachi Ltd | Photodriven type thyristor |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54172671U (ja) * | 1978-05-24 | 1979-12-06 | ||
JPS5692483U (ja) * | 1979-12-18 | 1981-07-23 |
-
1982
- 1982-12-29 JP JP23132882A patent/JPS59124160A/ja active Granted
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5076970A (ja) * | 1973-10-01 | 1975-06-24 | ||
JPS5183784A (ja) * | 1974-12-10 | 1976-07-22 | Siemens Ag | |
JPS5193678A (ja) * | 1975-02-14 | 1976-08-17 | ||
JPS5596684A (en) * | 1979-01-19 | 1980-07-23 | Hitachi Ltd | Light drive semiconductor controlled rectifier |
JPS5718358A (en) * | 1980-07-08 | 1982-01-30 | Hitachi Ltd | Photodriven type thyristor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS59124160A (ja) | 1984-07-18 |
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