JPH04284610A - Composite laminated component - Google Patents

Composite laminated component

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JPH04284610A
JPH04284610A JP7400091A JP7400091A JPH04284610A JP H04284610 A JPH04284610 A JP H04284610A JP 7400091 A JP7400091 A JP 7400091A JP 7400091 A JP7400091 A JP 7400091A JP H04284610 A JPH04284610 A JP H04284610A
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JP
Japan
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layer
chip body
ceramic
dielectric
magnetic
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JP7400091A
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Japanese (ja)
Inventor
Atsushi Nakano
敦之 中野
Takeshi Nomura
武史 野村
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TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
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Abstract

PURPOSE:To enhance the circuit resistance of the title component by a method wherein an intermediate layer which mixed with a magnetic material which is substantially the same as that for a ceramic magnetic layer with a dielectric material which is substantially the same as that for a ceramic dielectric layer is formed between the ceramic magnetic layer for an inductor chip body and the ceramic dielectric layer for a capacitor chip body. CONSTITUTION:A capacitor chip body 2 constituted by laminating ceramic dielectric layers 21 and internal electrode layers 25 and an inductor chip body 3 constituted by laminating ceramic magnetic layers 31 and internal conductors 35 are united via an intermediate layer 4. Thereby, an LC composite component 1 is formed. At this time, a mixed material which has mixed a dielectric material which is substantially the same as that for the dielectric layers 21 with a magnetic material which is substantially the same as that for the magnetic layers 31 is contained in the intermediate layer 4. An N-Zn ferrite and/or an Ni-Cu-Zn ferrite are contained in the magnetic layers 31. Thereby, the difference in a coefficient of thermal expansion between the magnetic layers and the dielectric layers and a steep change in a composition at their interface are relaxed, and it is possible to restrain the local precipitation of Cu, Zn and the like at their bonding interface.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は、LC複合部品等の複合
積層部品に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to composite laminated parts such as LC composite parts.

【0002】0002

【従来の技術】積層セラミックLC複合部品は、セラミ
ック誘電体層と内部電極層とを積層して構成されるコン
デンサチップ体と、セラミック磁性層と内部導体とを積
層して構成されるインダクタチップ体とを一体的に形成
したものである。
[Prior Art] A multilayer ceramic LC composite component includes a capacitor chip body composed of a laminated ceramic dielectric layer and an internal electrode layer, and an inductor chip body composed of a laminated ceramic magnetic layer and an internal conductor. It is integrally formed with.

【0003】このような複合積層部品は、体積が小さい
こと、堅牢性および信頼性が高いことなどから、各種電
子機器に多用されている。
[0003] Such composite laminated parts are often used in various electronic devices because of their small volume, high robustness, and high reliability.

【0004】これらの部品例えばLC複合部品は、通常
、内部導体用ペースト、磁性層用ペースト、誘電体層用
ペーストおよび内部電極層用ペーストを厚膜技術によっ
て積層一体化した後、焼成し、得られた焼結体表面に外
部電極用ペーストを印刷ないし転写した後、焼成するこ
とにより製造される。この場合、磁性層に用いられる磁
性材料としては、低温焼成が可能であることからNi−
Cu−Znフェライトが一般に用いられている。
These parts, such as LC composite parts, are usually produced by laminating paste for internal conductors, paste for magnetic layers, paste for dielectric layers, and paste for internal electrode layers using thick film technology, and then firing the resulting product. The external electrode paste is printed or transferred onto the surface of the sintered body, and then fired. In this case, the magnetic material used for the magnetic layer is Ni-
Cu-Zn ferrite is commonly used.

【0005】しかし、磁性材料として、Ni−Cu−Z
nフェライトやNi−Znフェライトを用いると、回路
抵抗が予測される値より大幅に低いことが判明した。
However, as a magnetic material, Ni-Cu-Z
It was found that when n-ferrite and Ni-Zn ferrite were used, the circuit resistance was significantly lower than expected.

【0006】本発明者らはこのような現象につき検討を
行なったところ、焼成や外部電極焼き付けの際、インダ
クタチップ体のセラミック磁性層と、コンデンサチップ
体のセラミック誘電体層との接合界面に、CuやCu酸
化物、ZnやZn酸化物等が析出し、電気抵抗の低い層
が形成されており、この結果部品の回路抵抗が大幅に低
下してしまうことが判明した。
[0006] The inventors of the present invention investigated this phenomenon and found that during firing or baking the external electrodes, the bonding interface between the ceramic magnetic layer of the inductor chip body and the ceramic dielectric layer of the capacitor chip body. It was found that Cu, Cu oxide, Zn, Zn oxide, etc. were precipitated to form a layer with low electrical resistance, and as a result, the circuit resistance of the component was significantly reduced.

【0007】このような問題を解決するためには、セラ
ミック磁性層と、セラミック誘電体層との接合界面に、
例えば、非磁性フェライト等の中間層を設け、Cu、Z
n等の析出を防止することが考えられる。そしてこのよ
うな中間層によりこれら析出量は減少するが、接合界面
での局部的な析出を完全には防止できない。このため、
部品の回路抵抗は満足できるほどには向上しない。
[0007] In order to solve such problems, a bonding interface between the ceramic magnetic layer and the ceramic dielectric layer,
For example, an intermediate layer such as non-magnetic ferrite is provided, and Cu, Z
It is possible to prevent the precipitation of n and the like. Although such an intermediate layer reduces the amount of these precipitates, it cannot completely prevent local precipitation at the bonding interface. For this reason,
The circuit resistance of the component is not improved satisfactorily.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、セラ
ミック磁性層と、セラミック誘電体層との接合界面での
Cu、Zn等の局部的な析出を抑制し、回路抵抗が高い
複合積層部品を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to suppress local precipitation of Cu, Zn, etc. at the bonding interface between a ceramic magnetic layer and a ceramic dielectric layer, and to provide a composite laminate component with high circuit resistance. Our goal is to provide the following.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】このような目的は、下記
(1)〜(5)の本発明によって達成される。
[Means for Solving the Problems] Such objects are achieved by the present invention as described in (1) to (5) below.

【0010】(1)  セラミック誘電体層と内部電極
層とを積層して構成されるコンデンサチップ体と、セラ
ミック磁性層と内部導体とを積層して構成されるインダ
クタチップ体とを一体的に有する複合積層部品であって
、前記コンデンサチップ体と、前記インダクタチップ体
との間に、前記セラミック誘電体層と実質的に同一の誘
電体材料と、前記セラミック磁性層と実質的に同一の磁
性材料とを混合した混合材料を含有する中間層が1層以
上設層されており、前記セラミック磁性層には、Ni−
Znフェライトおよび/またはNi−Cu−Znフェラ
イトが含有されいることを特徴とする複合積層部品。
(1) Integrally includes a capacitor chip body composed of a laminated ceramic dielectric layer and an internal electrode layer, and an inductor chip body composed of a laminated ceramic magnetic layer and an internal conductor. A composite laminate component, wherein a dielectric material substantially the same as the ceramic dielectric layer and a magnetic material substantially the same as the ceramic magnetic layer are provided between the capacitor chip body and the inductor chip body. One or more intermediate layers containing a mixed material of Ni-
A composite laminate component containing Zn ferrite and/or Ni-Cu-Zn ferrite.

【0011】(2)  前記中間層の混合材料中の前記
誘電体材料に対する前記磁性材料の重量比が1/9〜9
/1である上記(1)に記載の複合積層部品。
(2) The weight ratio of the magnetic material to the dielectric material in the mixed material of the intermediate layer is 1/9 to 9.
The composite laminate component according to (1) above, which is /1.

【0012】(3)  前記中間層を2層以上有し、前
記中間層の混合材料中の前記誘電体材料に対する前記磁
性材料の重量比が、インダクタチップ体側ほど大である
上記(1)または(2)に記載の複合積層部品。
(3) The above-mentioned (1) or (1) has two or more intermediate layers, and the weight ratio of the magnetic material to the dielectric material in the mixed material of the intermediate layer is larger toward the inductor chip body. 2) The composite laminate component described in 2).

【0013】(4)  前記セラミック誘電体層が酸化
チタン系誘電体を含有する上記(1)ないし(3)のい
ずれかに記載の複合積層部品。
(4) The composite laminate component according to any one of (1) to (3) above, wherein the ceramic dielectric layer contains a titanium oxide dielectric.

【0014】(5)  前記コンデンサチップ体と前記
インダクタチップ体とを同時焼成した上記(1)ないし
(4)のいずれかに記載の複合積層部品。
(5) The composite laminate component according to any one of (1) to (4) above, wherein the capacitor chip body and the inductor chip body are co-fired.

【0015】[0015]

【作用】本発明の複合積層部品は、インダクタチップ体
のセラミック磁性層と、コンデンサチップ体のセラミッ
ク誘電体層との間に、セラミック磁性層と実質的に同一
の磁性材料と、セラミック誘電体層と実質的に同一の誘
電体材料とを混合した混合材料を含有する中間層を有す
る。
[Operation] The composite laminate component of the present invention has a magnetic material substantially the same as the ceramic magnetic layer and a ceramic dielectric layer between the ceramic magnetic layer of the inductor chip body and the ceramic dielectric layer of the capacitor chip body. and substantially the same dielectric material.

【0016】このような中間層を設層することにより、
セラミック磁性層とセラミック誘電体層間の熱膨脹係数
の違いや界面での組成の急峻な変化が緩和され、界面に
おけるCuやCu酸化物、ZnやZn酸化物等の局部的
な析出を抑制でき、電気抵抗の低い層の形成を防止でき
る。このため、回路抵抗が十分高い複合積層部品が実現
する。
By providing such an intermediate layer,
The difference in thermal expansion coefficient between the ceramic magnetic layer and the ceramic dielectric layer and the steep change in composition at the interface are alleviated, and local precipitation of Cu, Cu oxide, Zn, Zn oxide, etc. at the interface can be suppressed, and electrical Formation of a layer with low resistance can be prevented. Therefore, a composite laminate component with sufficiently high circuit resistance is realized.

【0017】[0017]

【具体的構成】以下、本発明の具体的構成について詳細
に説明する。
[Specific Configuration] The specific configuration of the present invention will be explained in detail below.

【0018】本発明の複合積層部品の好適実施例である
積層セラミックLC複合部品を図1に示す。
FIG. 1 shows a laminated ceramic LC composite component which is a preferred embodiment of the composite laminated component of the present invention.

【0019】図1に示されるLC複合部品1は、セラミ
ック誘電体層21と内部電極層25とを積層して構成さ
れるコンデンサチップ体2と、セラミック磁性層31と
内部導体35とを積層して構成されるインダクタチップ
体3とを中間層4を介して一体化したものであり、表面
に外部電極51を有する。
The LC composite component 1 shown in FIG. 1 includes a capacitor chip body 2 formed by laminating a ceramic dielectric layer 21 and an internal electrode layer 25, and a laminated ceramic magnetic layer 31 and an internal conductor 35. The inductor chip body 3 is integrated with an inductor chip body 3 formed by the above structure via an intermediate layer 4, and has an external electrode 51 on the surface.

【0020】中間層4は、セラミック誘電体層21と実
質的に同一の誘電体材料と、セラミック磁性層31と実
質的に同一の磁性材料とを混合した混合材料を含有する
The intermediate layer 4 contains a mixed material in which a dielectric material substantially the same as that of the ceramic dielectric layer 21 and a magnetic material substantially the same as that of the ceramic magnetic layer 31 are mixed.

【0021】この場合、誘電体材料および磁性材料は、
それぞれ、実質的に同一であればよいが、特に同一であ
ることが好ましい。また、中間層4は、図示例では単層
であるが、2層以上の多層構造とすることが好ましい。
[0021] In this case, the dielectric material and magnetic material are
It is sufficient that they are substantially the same, but it is particularly preferable that they be the same. Further, although the intermediate layer 4 is a single layer in the illustrated example, it is preferable to have a multilayer structure of two or more layers.

【0022】材料が実質的に同一とは、組成が完全に一
致している場合だけではなく、組成が多少異なっている
場合、例えば10モル%以上含有する構成成分を30%
以内の相対比にて含有する場合を包含する。
[0022] The term "substantially the same materials" does not mean that the compositions are completely the same, but also when the compositions are slightly different, for example, if the constituent components containing 10 mol% or more are 30%
This includes cases in which the relative ratio is within the following range.

【0023】例えば、セラミック磁性層31の磁性材料
がNi−Cu−Znフェライトの場合、Niの含有量の
差がNiO換算で3モル%程度以下、Cuの含有量の差
がCuO換算で2モル%程度以下、Znの含有量の差が
ZnO換算で4モル%程度以下であれば実質的に同一で
あり、Ni−Znフェライトの場合、Niの含有量の差
がNiO換算で5モル%程度以下、Znの含有量の差が
ZnO換算で5モル%程度以下であれば実質的に同一で
ある。
For example, when the magnetic material of the ceramic magnetic layer 31 is Ni-Cu-Zn ferrite, the difference in Ni content is about 3 mol % or less in terms of NiO, and the difference in Cu content is 2 mol % in terms of CuO. % or less, and if the difference in Zn content is less than about 4 mol% in terms of ZnO, they are substantially the same, and in the case of Ni-Zn ferrite, the difference in Ni content is about 5 mol% in terms of NiO. Hereinafter, if the difference in Zn content is about 5 mol % or less in terms of ZnO, they are substantially the same.

【0024】この場合、中間層4に用いるNi−Cu−
ZnフェライトやNi−Znフェライトには、Co、M
n等が全体の5wt% 程度以下含有されていてもよく
、さらにCa、Si、Bi、V、Pb等が1wt% 程
度以下含有されていてもよい。
In this case, the Ni-Cu-
Zn ferrite and Ni-Zn ferrite contain Co, M
n, etc. may be contained in an amount of about 5 wt% or less of the total, and Ca, Si, Bi, V, Pb, etc. may be contained in an amount of about 1 wt% or less.

【0025】また、Ni−Znフェライトの場合は、焼
成温度を低下させるため、通常ホウケイ酸ガラス等の各
種ガラスを添加して用いる。
Further, in the case of Ni--Zn ferrite, various glasses such as borosilicate glass are usually added in order to lower the firing temperature.

【0026】また、例えば、セラミック誘電体層21の
誘電体材料が酸化チタン系誘電体の場合、Tiの含有量
の差がTiO2 換算で10wt% 程度以下、そして
さらにCu等を含む場合は、Cu等の含有量の差がCu
O等の各酸化物換算でそれぞれ7wt% 程度以下であ
れば実質的に同一である。
Further, for example, if the dielectric material of the ceramic dielectric layer 21 is a titanium oxide dielectric, the difference in Ti content is about 10 wt% or less in terms of TiO2, and if it further contains Cu, etc. The difference in content of Cu
They are substantially the same if they are each about 7 wt% or less in terms of each oxide such as O.

【0027】この場合、焼成温度を低下させるため、ホ
ウケイ酸ガラス等の各種ガラスを添加してもよい。
In this case, various glasses such as borosilicate glass may be added to lower the firing temperature.

【0028】中間層4の混合材料中の誘電体材料と磁性
材料との含有比には特に制限がないが、誘電体材料の含
有量W1 に対する磁性材料の含有量W2 、すなわち
重量比W2 /W1 は1/9〜9/1が好ましい。
The content ratio of the dielectric material and the magnetic material in the mixed material of the intermediate layer 4 is not particularly limited, but the content ratio of the magnetic material W2 to the content W1 of the dielectric material, that is, the weight ratio W2 /W1 is preferably 1/9 to 9/1.

【0029】前記範囲未満または前記範囲をこえるとC
uやCu酸化物、ZnやZn酸化物等の局部的な析出を
抑制することが困難である。
C below the above range or above the above range
It is difficult to suppress local precipitation of u, Cu oxide, Zn, Zn oxide, etc.

【0030】中間層4の厚さには特に制限はなく、用途
等に応じて適宜選択すればよいが、通常5〜150μm
程度である。
[0030] The thickness of the intermediate layer 4 is not particularly limited and may be selected appropriately depending on the application, etc., but it is usually 5 to 150 μm.
That's about it.

【0031】また、中間層4の積層数には特に制限がな
く、図示例のように単層構造としてもよいが、Cu、Z
n等の析出をより一層減少できる点で、2層以上の多層
構造とし、インダクタチップ体側の層ほどW2 /W1
 が大となるように設層することが好ましい。この場合
、各層のW2 /W1 は、例えば1/9〜9/1の範
囲内で設定すればよく、中間層全体の総重量比W2 /
W1 を5/5程度とすることが好ましい。
Further, there is no particular restriction on the number of laminated layers of the intermediate layer 4, and it may have a single layer structure as shown in the illustrated example, but Cu, Z
In order to further reduce the precipitation of n, etc., a multilayer structure with two or more layers is used, and the layer closer to the inductor chip body has a lower W2/W1.
It is preferable to lay the layers so that the In this case, W2 /W1 of each layer may be set, for example, within the range of 1/9 to 9/1, and the total weight ratio W2 /W1 of the entire intermediate layer
It is preferable that W1 be approximately 5/5.

【0032】多層の場合の積層数には特に制限がなく、
用途等に応じて適宜選択すればよいが、作業性等を考慮
すると、積層数は通常1〜5程度である。なお、中間層
の全厚は前記と同様とすればよく、また、各層の厚さは
、互いに異なっていても同一であってもよい。
[0032] In the case of multiple layers, there is no particular limit to the number of laminated layers;
The number of laminated layers is usually about 1 to 5 when considering workability etc., although it may be selected as appropriate depending on the purpose and the like. Note that the total thickness of the intermediate layer may be the same as described above, and the thickness of each layer may be different or the same.

【0033】本発明のLC複合部品1は、焼成前には、
セラミック磁性層31、中間層4、セラミック誘電体層
21それぞれの界面で組成のある程度の急峻な変化があ
り、それぞれの層を明瞭に区別できるが、焼成ないし外
部電極51の焼き付け等により相互拡散が生じ、焼成後
は、ほぼ連続的ないしなだらかな傾斜のプロファィルを
もった層となる。
[0033] Before firing, the LC composite part 1 of the present invention:
There is a certain degree of steep change in composition at the interface between the ceramic magnetic layer 31, the intermediate layer 4, and the ceramic dielectric layer 21, and each layer can be clearly distinguished, but mutual diffusion may occur due to firing or baking of the external electrode 51, etc. After firing, the layer has a nearly continuous or gently sloped profile.

【0034】インダクタチップ体3のセラミック磁性層
31の材質としては、Ni−Cu−Znフェライトおよ
び/またはNi−Znフェライト、特にNi−Cu−Z
nフェライトを用いる。
The material of the ceramic magnetic layer 31 of the inductor chip body 3 is Ni--Cu--Zn ferrite and/or Ni--Zn ferrite, especially Ni--Cu--Z.
n-ferrite is used.

【0035】本発明で用いるNi−Znフェライトに特
に制限はなく、目的に応じて種々の組成のものを選択す
ればよいが、例えば、NiOの含有量は、10〜25モ
ル%、ZnOの含有量は、15〜40モル%であること
が好ましい。
The Ni-Zn ferrite used in the present invention is not particularly limited and may be selected from various compositions depending on the purpose. For example, the NiO content may be 10 to 25 mol%, the ZnO content may be Preferably, the amount is 15 to 40 mol%.

【0036】また、本発明で用いるNi−Cu−Znフ
ェライトに特に制限はなく、目的に応じて種々の組成の
ものを選択すればよいが、例えば、NiOの含有量は、
15〜25モル%、CuOの含有量は、5〜15モル%
、ZnOの含有量は、20〜30モル%であることが好
ましい。
[0036] Furthermore, the Ni-Cu-Zn ferrite used in the present invention is not particularly limited and may be selected from various compositions depending on the purpose.
15-25 mol%, CuO content is 5-15 mol%
, the content of ZnO is preferably 20 to 30 mol%.

【0037】また、この他、Co、Mn等が全体の5w
t% 程度以下含有されていてもよい。さらにCa、S
i、Bi、V、Pb等が1wt% 程度以下含有されて
いてもよい。
[0037] In addition, Co, Mn, etc. contribute to the total 5w.
The content may be about t% or less. Furthermore, Ca, S
It may contain about 1 wt% or less of i, Bi, V, Pb, etc.

【0038】また、Ni−Znフェライトを用いる場合
、通常、さらにホウケイ酸ガラス等の各種ガラスが含有
される。
Further, when Ni--Zn ferrite is used, various glasses such as borosilicate glass are usually further contained.

【0039】本発明において、内部導体35を構成する
導電材に特に制限はなく、Ag、Pt、Pd、Au、C
u、Niや、例えばAg−Pd合金など、これらを1種
以上含有する合金等から選択すればよいが、インダクタ
として実用的なQを得るためには抵抗率の小さいことが
必要であるので、Ag、Cuおよびこれらを1種以上含
有する合金を用いることが好ましい。
In the present invention, there is no particular restriction on the conductive material constituting the internal conductor 35, and Ag, Pt, Pd, Au, C
The material may be selected from u, Ni, and alloys containing one or more of these, such as Ag-Pd alloys, but in order to obtain a practical Q as an inductor, it is necessary to have a low resistivity. It is preferable to use Ag, Cu, and alloys containing one or more of these.

【0040】LC複合部品1のインダクタチップ体3は
、従来公知の構造とすればよく、外形は通常ほぼ直方体
状の形状とする。  そして図1に示されるように、内
部導体35は磁性層31内にて通常スパイラル状に配置
されて内部巻線を構成し、その両端部は各外部電極51
、51に接続されている。
The inductor chip body 3 of the LC composite component 1 may have a conventionally known structure, and its outer shape is usually approximately rectangular parallelepiped. As shown in FIG. 1, the internal conductor 35 is normally arranged in a spiral shape within the magnetic layer 31 to constitute an internal winding, and both ends of the internal conductor 35 are connected to each external electrode 51.
, 51.

【0041】このような場合、内部導体35の巻線パタ
ーン、すなわち閉磁路形状は種々のパターンとすること
ができ、またその巻数も用途に応じ適宜選択すればよい
。また、インダクタチップ体3の各部寸法等には制限は
なく、用途に応じ適宜選択すればよい。
In such a case, the winding pattern of the internal conductor 35, that is, the shape of the closed magnetic circuit, can be made into various patterns, and the number of turns can be appropriately selected depending on the application. Further, the dimensions of each part of the inductor chip body 3 are not limited, and may be appropriately selected depending on the application.

【0042】なお、内部導体35の厚さは、通常5〜3
0μm 程度、巻線ピッチは通常40〜100μm 程
度、巻数は通常1.5〜50.5ターン程度とされる。 また、磁性層31のベース厚は通常250〜500μm
 程度、内部導体35、35間の磁性層厚は通常10〜
100μm 程度とする。
Note that the thickness of the internal conductor 35 is usually 5 to 3 mm.
The winding pitch is usually about 40 to 100 μm, and the number of turns is usually about 1.5 to 50.5 turns. Further, the base thickness of the magnetic layer 31 is usually 250 to 500 μm.
The thickness of the magnetic layer between the inner conductors 35 and 35 is usually 10~
It should be about 100 μm.

【0043】コンデンサチップ体2のセラミック誘電体
層21には特に制限がなく種々の誘電体材料を用いてよ
いが、焼成温度が低いことから、酸化チタン系誘電体を
用いることが好ましい。また、その他、チタン酸系複合
酸化物、ジルコン酸系複合酸化物、あるいはこれらの混
合物を用いることもできる。  また、焼成温度を低下
させるために、ホウケイ酸ガラス等のガラスを含有させ
てもよい。
The ceramic dielectric layer 21 of the capacitor chip body 2 is not particularly limited and various dielectric materials may be used, but it is preferable to use a titanium oxide dielectric material because of its low firing temperature. In addition, titanate-based composite oxides, zirconate-based composite oxides, or mixtures thereof can also be used. Further, in order to lower the firing temperature, glass such as borosilicate glass may be included.

【0044】具体的には、酸化チタン系としては、必要
に応じNiO、CuO、Mn3 O4、Al2 O3、
MgO、SiO2 等、特にCuOを含むTiO2 等
が、チタン酸系複合酸化物としては、BaTiO3 、
SrTiO3、CaTiO3 、MgTiO3やこれら
の混合物等が、ジルコン酸系複合酸化物としては、Ba
ZrO3 、SrZrO3 、CaZrO3 、MgZ
rO3 やこれらの混合物等が挙げられる。
Specifically, as the titanium oxide type, NiO, CuO, Mn3 O4, Al2 O3,
Examples of titanic acid-based composite oxides include MgO, SiO2, etc., especially TiO2 containing CuO, and BaTiO3,
SrTiO3, CaTiO3, MgTiO3 and mixtures thereof are used as zirconate complex oxides such as Ba
ZrO3, SrZrO3, CaZrO3, MgZ
Examples include rO3 and mixtures thereof.

【0045】本発明において、内部電極層25を構成す
る導電材に特に制限はなく、Ag、Pt、Pd、Au、
Cu、Niや、例えばAg−Pd合金など、これらを1
種以上含有する合金等から選択すればよいが、特にAg
、Ag−Pd合金などのAg合金等が好適である。
In the present invention, the conductive material constituting the internal electrode layer 25 is not particularly limited, and may include Ag, Pt, Pd, Au,
Cu, Ni, Ag-Pd alloy, etc.
It may be selected from alloys containing more than 100% of Ag.
, Ag alloys such as Ag-Pd alloys are suitable.

【0046】LC複合部品1のコンデンサチップ体2は
、従来公知の構造とすればよく、外形は通常ほぼ直方体
状の形状とする。そして図1に示されるように、内部電
極層25の一端は外部電極51に接続されている。
The capacitor chip body 2 of the LC composite component 1 may have a conventionally known structure, and its outer shape is usually approximately rectangular parallelepiped. As shown in FIG. 1, one end of the internal electrode layer 25 is connected to the external electrode 51.

【0047】コンデンサチップ体2の各部寸法等には特
に制限はなく、用途等に応じ適宜選択すればよい。
There are no particular restrictions on the dimensions of each part of the capacitor chip body 2, and they may be selected as appropriate depending on the intended use.

【0048】なお、誘電体層21の積層数は目的に応じ
て定めればよいが、通常1〜100程度である。また、
誘電体層21の一層あたりの厚さは、通常20〜150
μm程度であり、内部電極層25の一層あたりの厚さは
、通常5〜30μm 程度である。
The number of dielectric layers 21 to be laminated may be determined depending on the purpose, but is usually about 1 to 100. Also,
The thickness of each layer of the dielectric layer 21 is usually 20 to 150 mm.
The thickness of each layer of the internal electrode layer 25 is usually about 5 to 30 μm.

【0049】本発明のLC複合部品1の外部電極51を
構成する導電材に特に制限はなく、例えば、Ag、Pt
、Pd、Au、Cu、NiやAg−Pd合金などのこれ
らを1種以上含有する合金等から選択すればよいが、特
にAg、Ag−Pd合金などのAg合金等が好適である
。また、外部電極51の形状や寸法等には特に制限がな
く、目的や用途等に応じて適宜決定すればよいが、厚さ
は、通常100〜2500μm 程度である。
There is no particular restriction on the conductive material constituting the external electrode 51 of the LC composite component 1 of the present invention; for example, Ag, Pt
, Pd, Au, Cu, Ni, and alloys containing one or more of these, such as Ag-Pd alloys, and Ag alloys such as Ag and Ag-Pd alloys are particularly suitable. Further, the shape and dimensions of the external electrode 51 are not particularly limited and may be appropriately determined depending on the purpose and use, but the thickness is usually about 100 to 2500 μm.

【0050】本発明のLC複合部品1の寸法には特に制
限がなく、目的や用途等に応じて適宜選択すればよいが
、通常(2.0〜10.0mm)×(1.2〜15.0
mm)×(1.2〜5.0mm)程度である。
The dimensions of the LC composite component 1 of the present invention are not particularly limited and may be selected appropriately depending on the purpose and use, but are usually (2.0 to 10.0 mm) x (1.2 to 15 mm). .0
mm)×(1.2 to 5.0 mm).

【0051】また、本発明の複合積層部品は、前述した
LC複合部品に限定されるものではなく、前述した構成
を一部に有するものであれば、この他各種の複合積層部
品であってもよい。
Furthermore, the composite laminate component of the present invention is not limited to the above-mentioned LC composite component, but may be various other composite laminate components as long as it partially has the above-described configuration. good.

【0052】本発明のLC複合部品1等の複合積層部品
は、ペーストを用いた通常の印刷法やシート法により製
造することができる。
[0052] Composite laminate parts such as the LC composite part 1 of the present invention can be manufactured by a conventional printing method using paste or a sheet method.

【0053】セラミック磁性層用ペーストは、次のよう
にして作製する。
The ceramic magnetic layer paste is prepared as follows.

【0054】まず、フェライトの原料粉末、例えばNi
O、ZnO、CuO、Fe2 O3 等の各種粉末を、
所定量ボールミル等により湿式混合する。用いる原料粉
末の粒径は0.1〜10μm 程度とする。
First, raw material powder of ferrite, for example, Ni
Various powders such as O, ZnO, CuO, Fe2 O3, etc.
Wet mix a predetermined amount using a ball mill, etc. The particle size of the raw material powder used is approximately 0.1 to 10 μm.

【0055】こうして湿式混合したものを、通常スプレ
ードライヤーにより乾燥し、その後仮焼する。  これ
を通常は、ボールミルで粉体粒径0.01〜0.5μm
 程度の粒径となるまで湿式粉砕し、スプレードライヤ
ーにより乾燥する。
[0055] The wet-mixed mixture is usually dried using a spray dryer, and then calcined. This is usually processed using a ball mill with a powder particle size of 0.01 to 0.5 μm.
Wet-pulverize until the particle size reaches a certain level, and dry with a spray dryer.

【0056】得られたフェライト粉末を、エチルセルロ
ース等のバインダと、テルピネオール、ブチルカルビト
ール等の溶剤と混練してペースト化する。
The obtained ferrite powder is kneaded with a binder such as ethyl cellulose and a solvent such as terpineol or butyl carbitol to form a paste.

【0057】なお、磁性層用ペースト中には、必要に応
じて各種ガラスや酸化物を含有させることができる。
[0057] The paste for the magnetic layer may contain various glasses and oxides, if necessary.

【0058】セラミック誘電体層用ペーストの構成に特
に制限はなく、上記したようなセラミック誘電体層の組
成に応じて各種誘電体材料あるいは焼成により誘電体と
なる原料粉末を選択し、各種バインダおよび溶剤と混練
して調製すればよい。
There is no particular restriction on the composition of the paste for the ceramic dielectric layer, and various dielectric materials or raw material powders that become a dielectric by firing are selected depending on the composition of the ceramic dielectric layer as described above, and various binders and powders are selected. It can be prepared by kneading it with a solvent.

【0059】原料粉末としては、通常、酸化チタン系お
よびチタン酸系複合酸化物等を構成する酸化物を用いれ
ばよく、対応する酸化物誘電体の組成に応じ、Ti、B
a、Sr、Ca、Zr等の酸化物を用いればよい。
As the raw material powder, oxides constituting titanium oxide-based and titanic acid-based composite oxides may be used. Depending on the composition of the corresponding oxide dielectric, Ti, B or
Oxides of a, Sr, Ca, Zr, etc. may be used.

【0060】またこれらは焼成により酸化物になる化合
物、例えば炭酸塩、硫酸塩、硝酸塩、シュウ酸塩、有機
金属化合物等を用いてもよい。
Compounds that become oxides upon firing, such as carbonates, sulfates, nitrates, oxalates, organometallic compounds, etc., may also be used.

【0061】これらの原料粉末は、通常、平均粒子径0
.1〜5μm 程度のものが用いられる。
These raw material powders usually have an average particle size of 0.
.. A material with a diameter of about 1 to 5 μm is used.

【0062】また、必要に応じ、各種ガラスが含有され
ていてもよい。
[0062] Furthermore, various types of glasses may be contained as necessary.

【0063】中間層用ペーストは、前記セラミック磁性
層用ペーストと同様にしてフェライト粉末を製造し、前
記セラミック誘電体層用ペーストと同様、所望の組成に
応じて各種誘電体材料あるいは焼成により誘電体となる
原料粉末を選択し、これらと、各種バインダと、各種溶
剤とを混練して調整すればよい。
For the paste for the intermediate layer, ferrite powder is produced in the same manner as the paste for the ceramic magnetic layer, and similarly to the paste for the ceramic dielectric layer, various dielectric materials or dielectric materials are prepared by firing according to the desired composition. What is necessary is to select raw material powders and knead them with various binders and various solvents to adjust.

【0064】この場合、前述したとおり、セラミック磁
性層用ペーストに用いたフェライト粉末と実質的に同一
組成、特に同一組成のフェライト粉末と、セラミック誘
電体層用ペーストに用いた原料粉末を焼成したものと焼
成により実質的に同一組成、特に同一組成になる原料粉
末とを用いて所望の混合比に調整する。
In this case, as described above, a ferrite powder having substantially the same composition as the ferrite powder used in the paste for the ceramic magnetic layer, especially a ferrite powder having the same composition, and a raw material powder used in the paste for the ceramic dielectric layer are fired. and a raw material powder that has substantially the same composition, especially the same composition, by firing, and adjusts it to a desired mixing ratio.

【0065】用いるフェライトの原料粉末、誘電体の原
料粉末、さらにはフェライト粉末等の粒径などの諸条件
は前記と同様にすればよい。
Conditions such as the ferrite raw material powder, the dielectric raw material powder, and the particle size of the ferrite powder may be the same as described above.

【0066】また、焼結助剤等として、必要に応じて各
種ガラスや酸化物を含有させてもよい。
[0066] Furthermore, various glasses and oxides may be included as sintering aids and the like, if necessary.

【0067】内部導体用ペースト、内部電極層用ペース
ト、および外部電極用ペーストは、それぞれ、上記した
各種導電性金属、合金、あるいは焼成後に上記した導電
材となる各種酸化物、有機金属化合物、レジネート等と
、上記した各種バインダおよび溶剤とを混練して作製す
る。
The internal conductor paste, the internal electrode layer paste, and the external electrode paste are each made of the various conductive metals and alloys described above, or various oxides, organometallic compounds, and resinates that become the conductive materials described above after firing. etc., and the above-mentioned various binders and solvents are kneaded.

【0068】上記した各ペースト中のバインダおよび溶
剤の含有量に特に制限はなく、通常の含有量、例えば、
バインダは1〜5wt% 程度、溶剤は10〜50wt
% 程度とすればよい。また、各ペースト中には、必要
に応じて各種分散剤、可塑剤、誘電体、絶縁体等から選
択される添加物が含有されていてもよい。これらの総含
有量は、10wt% 以下であることが好ましい。
[0068] There is no particular restriction on the content of the binder and solvent in each of the pastes described above, and the content may be a normal content, for example,
Binder is about 1-5wt%, solvent is about 10-50wt
It may be about %. Further, each paste may contain additives selected from various dispersants, plasticizers, dielectrics, insulators, etc., as necessary. The total content of these is preferably 10 wt% or less.

【0069】LC複合部品1を製造するに際しては、例
えば、まず、磁性層用ペーストおよび内部導体用ペース
トを、PET等の基板上に積層印刷し、次いで、磁性層
用ペースト上に中間層用ペーストを印刷し、さらに、中
間層用ペースト上に誘電体層用ペーストおよび内部電極
層用ペーストを積層印刷してグリーンチップを形成する
。次に、所定形状に切断した後、基板から剥離する。
When manufacturing the LC composite component 1, for example, first, a paste for the magnetic layer and a paste for the internal conductor are laminated and printed on a substrate such as PET, and then a paste for the intermediate layer is printed on the paste for the magnetic layer. A green chip is formed by printing a dielectric layer paste and an internal electrode layer paste on the intermediate layer paste. Next, after cutting into a predetermined shape, it is peeled off from the substrate.

【0070】なお、磁性層用ペーストや誘電体層用ペー
ストを用いてグリーンシートを形成し、この上に内部導
体用ペーストや内部電極層用ペーストを印刷した後、こ
れらと中間層用ペーストを用いて形成したグリーンシー
トとを積層してグリーンチップを形成してもよい。
Note that after forming a green sheet using the paste for the magnetic layer and the paste for the dielectric layer, and printing the paste for the internal conductor and the paste for the internal electrode layer on this, the paste for the intermediate layer and the paste for the intermediate layer are used. A green chip may be formed by laminating green sheets formed by using the same method.

【0071】次いで、外部電極用ペーストをグリーンチ
ップに印刷ないし転写し、磁性層用ペースト、内部導体
用ペースト中間層用ペースト、誘電体層用ペースト、内
部電極層用ペーストおよび外部電極用ペーストを同時焼
成する。
Next, the external electrode paste is printed or transferred onto the green chip, and the magnetic layer paste, internal conductor paste, intermediate layer paste, dielectric layer paste, internal electrode layer paste, and external electrode paste are simultaneously applied. Fire.

【0072】また、先にチップ体を焼成し、その後に外
部電極用ペーストを印刷して焼成することもできる。
[0072] Alternatively, the chip body may be fired first, and then the paste for external electrodes may be printed and fired.

【0073】焼成温度は、800〜930℃、特に85
0〜900℃とすることが好ましい。また、焼成時間は
、0.05〜5時間、特に0.1〜3時間とすることが
好ましい。焼成は、通常、空気中で行なう。
[0073] The firing temperature is 800 to 930°C, especially 85°C.
It is preferable to set it as 0-900 degreeC. Further, the firing time is preferably 0.05 to 5 hours, particularly 0.1 to 3 hours. Firing is usually performed in air.

【0074】なお、LC複合部品以外の複合積層部品の
場合も前記のとおり作製すればよい。
Note that composite laminated parts other than LC composite parts may also be manufactured as described above.

【0075】このようにして製造されたLC複合部品等
の本発明の複合積層部品は、外部電極に半田付等を行な
うことにより、プリント基板上等に実装され、各種電子
機器等に使用される。
The composite laminated component of the present invention, such as the LC composite component manufactured in this way, can be mounted on a printed circuit board by soldering the external electrodes, etc., and used in various electronic devices. .

【0076】[0076]

【実施例】以下、本発明の具体的実施例を挙げ、本発明
をさらに詳細に説明する。
[Examples] Hereinafter, the present invention will be explained in more detail by giving specific examples of the present invention.

【0077】[LC複合部品の作製]下記の各ペースト
を調製した。 (磁性層用ペースト)粒径0.1〜3.0μm 程度の
NiO(17モル%)、CuO(9モル%)、ZnO(
25モル%)およびFe2 O3 (49モル%)の粉
体を用い、これらをボールミルを用いて湿式混合し、つ
いで、この湿式混合物をスプレードライヤーにより乾燥
し、750℃にて仮焼し、顆粒として、これをボールミ
ルにて粉砕したのちスプレードライヤーで乾燥し、平均
粒径0.1μm のNi−Cu−Znフェライト原料粉
末とした。
[Preparation of LC composite parts] The following pastes were prepared. (Magnetic layer paste) NiO (17 mol%), CuO (9 mol%), ZnO (
25 mol%) and Fe2O3 (49 mol%) powders were wet mixed using a ball mill, and then this wet mixture was dried with a spray dryer, calcined at 750°C, and made into granules. This was ground in a ball mill and then dried in a spray dryer to obtain Ni--Cu--Zn ferrite raw material powder with an average particle size of 0.1 μm.

【0078】次いで、この原料粉末100重量部に対し
、エチルセルロース3.84重量部およびテルピネオー
ル78重量部を加え、三本ロールにて混練し、ペースト
とした。
Next, 3.84 parts by weight of ethyl cellulose and 78 parts by weight of terpineol were added to 100 parts by weight of this raw material powder, and the mixture was kneaded with a triple roll to form a paste.

【0079】(内部導体用ペースト)平均粒径0.8μ
m のAg100重量部に対し、エチルセルロース2.
5重量部およびテルピネオール40重量部を加え、三本
ロールにて混練し、ペーストとした。
(Paste for internal conductor) Average particle size 0.8μ
2.m of ethyl cellulose per 100 parts by weight of Ag.
5 parts by weight and 40 parts by weight of terpineol were added and kneaded using three rolls to form a paste.

【0080】(誘電体層用ペースト)平均粒径0.7μ
mのTiO2 (92モル%)、平均粒径0.05μm
のCuO(4モル%)および平均粒径0.5μmのNi
O(4モル%)を用いた。この誘電体粉末100重量部
に対し、エチルセルロース3.5重量部、テルピネオー
ル40重量部を加え、3本ロールにて混練してペースト
とした。
(Paste for dielectric layer) Average particle size 0.7μ
m TiO2 (92 mol%), average particle size 0.05 μm
of CuO (4 mol%) and Ni with an average particle size of 0.5 μm
O (4 mol%) was used. To 100 parts by weight of this dielectric powder, 3.5 parts by weight of ethyl cellulose and 40 parts by weight of terpineol were added and kneaded using three rolls to form a paste.

【0081】(内部電極層用ペースト)平均粒径0.8
μmのAg100重量部に対し、エチルセルロース2.
5重量部、テルピネオール40重量部を加え、三本ロー
ルにて混練し、ペーストとした。
(Paste for internal electrode layer) Average particle size 0.8
For every 100 parts by weight of μm Ag, 2.
5 parts by weight and 40 parts by weight of terpineol were added and kneaded using three rolls to form a paste.

【0082】(中間層用ペースト)磁性層用ペーストに
用いたNi−Cu−Znフェライト原料粉末100重量
部および誘電体層用ペーストに用いた誘電体粉末100
重量部に対し、エチルセルロース3.5重量部、テルピ
ネオール40重量部を加え、三本ロールにて混練し、ペ
ーストとした。
(Paste for intermediate layer) 100 parts by weight of Ni-Cu-Zn ferrite raw material powder used in the paste for the magnetic layer and 100 parts by weight of the dielectric powder used in the paste for the dielectric layer.
To the weight part, 3.5 parts by weight of ethyl cellulose and 40 parts by weight of terpineol were added and kneaded with a three-roll mill to form a paste.

【0083】(外部電極用ペースト)平均粒径1.2μ
mのAg100重量部に対し、エチルセルロース3.0
重量部、ガラスフリット7重量部、テルピネオール40
重量部を加え三本ロールにて混練し、ペーストとした。
(External electrode paste) Average particle size 1.2μ
3.0 parts by weight of ethyl cellulose per 100 parts by weight of Ag
Parts by weight, 7 parts by weight of glass frit, 40 parts by weight of terpineol
Parts by weight were added and kneaded using three rolls to form a paste.

【0084】このようにして作製された磁性層用ペース
トと内部導体用ペーストとを印刷積層し、次いで中間層
用ペーストを印刷し、さらに誘電体層用ペーストと、内
部電極層用ペーストとを印刷積層してグリーンチップと
した。
The paste for the magnetic layer and the paste for the internal conductor produced in this way are printed and laminated, then the paste for the intermediate layer is printed, and then the paste for the dielectric layer and the paste for the internal electrode layer are printed. They were laminated to form a green chip.

【0085】次に、空気中にて、890℃で2時間焼成
した。
[0085] Next, it was fired in air at 890°C for 2 hours.

【0086】焼成後、外部電極用ペーストを印刷し、そ
の後空気中にて600℃で30分間焼成して外部電極を
焼き付けた。
After baking, a paste for external electrodes was printed, and then baked in air at 600° C. for 30 minutes to bake the external electrodes.

【0087】このようにして5.0mm×5.0mm×
3.0mmの図1に示されるLCフィルター複合部品サ
ンプルNo. 1を作製した。
[0087] In this way, 5.0 mm x 5.0 mm x
LC filter composite part sample No. 3.0 mm shown in FIG. 1 was produced.

【0088】中間層の厚さは50μmとした。[0088] The thickness of the intermediate layer was 50 μm.

【0089】層間の磁性層の厚さは40μm、内部巻線
(内部導体)の厚さは15μm、その線巾は300μm
、巻回数は25ターンとした。
The thickness of the interlayer magnetic layer is 40 μm, the thickness of the internal winding (internal conductor) is 15 μm, and the wire width is 300 μm.
, the number of turns was 25 turns.

【0090】層間の誘電体層の厚さは100μm、誘電
体層の積層数は5層とし、内部電極層の厚さは15μm
とした。
The thickness of the interlayer dielectric layer is 100 μm, the number of laminated dielectric layers is 5, and the thickness of the internal electrode layer is 15 μm.
And so.

【0091】外部電極の厚さは800μmとした。[0091] The thickness of the external electrode was 800 μm.

【0092】またサンプルNo. 1の単層の中間層を
3層にしたほかは同様にしてサンプルNo. 2を作製
した。
[0092] Also, sample No. Sample No. 1 was prepared in the same manner except that the single-layer intermediate layer in No. 1 was changed to three layers. 2 was produced.

【0093】サンプルNo. 2の3層の中間層のうち
磁性層側の中間層には、誘電体粉末の含有量をW1 、
Ni−Cu−Znフェライト原料粉末の含有量をW2 
としたとき、重量比W2 /W1 が7/3、中央の中
間層には、サンプルNo. 1と同様、W2 /W1 
が5/5、誘電体層側の中間層には、W2 /W1 が
3/7となるように配合したペーストを用いた。また、
3層の厚さは、それぞれ20μmとし、中間層の全厚を
60μmとした。
Sample No. Of the three intermediate layers in 2, the intermediate layer on the magnetic layer side has a dielectric powder content of W1,
The content of Ni-Cu-Zn ferrite raw material powder is W2
When the weight ratio W2 /W1 is 7/3, sample No. Similar to 1, W2 /W1
A paste was used in which the ratio of W2 /W1 was 5/5 and the ratio of W2 /W1 was 3/7 for the intermediate layer on the dielectric layer side. Also,
The thickness of each of the three layers was 20 μm, and the total thickness of the intermediate layer was 60 μm.

【0094】また、比較用サンプルとして、中間層を設
層しないほかはNo.1と同様のサンプルNo. 3と
、Ni−Cu−Znフェライト原料粉末および誘電体粉
末を非磁性Znフェライトの原料粉末にかえた中間層を
設層したほかはNo. 1と同様のサンプルNo. 4
とを作製した。
[0094] As a comparison sample, No. 1 was used except that no intermediate layer was provided. Sample No. 1 similar to 1. No. 3 except that an intermediate layer was provided in which the Ni-Cu-Zn ferrite raw material powder and dielectric powder were replaced with non-magnetic Zn ferrite raw material powder. Sample No. 1 similar to 1. 4
and were created.

【0095】得られた各サンプルについてX線線分析を
行ない、コンデンサチップ体と、インダクタチップ体と
の接合部の近傍のFe、Ni、ZnおよびCuの含有濃
度分布を求めた。
[0095] X-ray analysis was performed on each sample obtained to determine the concentration distribution of Fe, Ni, Zn, and Cu in the vicinity of the joint between the capacitor chip body and the inductor chip body.

【0096】サンプルNo. 1の各元素の含有濃度が
示されるグラフを図2、サンプルNo. 2の各元素の
含有濃度が示されるグラフを図3、サンプルNo. 3
の各元素の含有濃度が示されるグラフを図4に示す。
Sample No. FIG. 2 shows a graph showing the concentration of each element in Sample No. 1. FIG. 3 shows a graph showing the concentration of each element in Sample No. 2. 3
FIG. 4 shows a graph showing the concentration of each element.

【0097】図4のグラフから、比較用サンプルNo.
 3は、コンデンサチップ体(誘電体層)とインダクタ
チップ体(磁性層)間において、ZnおよびCuのピー
クがあり、ZnやZn酸化物、CuやCu酸化物の局部
的な析出があることを確認できる。
From the graph of FIG. 4, comparison sample No.
3 indicates that there are peaks of Zn and Cu between the capacitor chip body (dielectric layer) and the inductor chip body (magnetic layer), and that there is local precipitation of Zn, Zn oxide, Cu, and Cu oxide. You can check it.

【0098】これに対し、本発明のサンプルNo. 1
およびNo. 2は、インダクタチップ体とコンデンサ
チップ体間において、ZnおよびCuのピークがみられ
るが、No. 3に比べて高さが低く、しかも中間層の
ほぼ全域に渡るブロード状のピークであり、No. 3
のような局部的な析出がないことを確認できる。
In contrast, sample No. of the present invention. 1
and no. In No. 2, peaks of Zn and Cu are seen between the inductor chip body and the capacitor chip body; It is lower in height than No. 3, and has a broad peak that covers almost the entire area of the middle layer. 3
It can be confirmed that there is no local precipitation such as.

【0099】次に、各サンプルの回路抵抗IRを測定し
た。結果は表1に示されるとおりである。
Next, the circuit resistance IR of each sample was measured. The results are shown in Table 1.

【0100】[0100]

【表1】[Table 1]

【0101】表1に示される結果から本発明の効果が明
らかである。
The effects of the present invention are clear from the results shown in Table 1.

【0102】なお、このほか、サンプルNo. 1やN
o. 2のNi−Cu−ZnフェライトをNi−Znフ
ェライトにかえ、ガラスフリットを添加してペーストを
作製し、さらに、サンプルNo. 1やNo. 2のT
iO2 およびCuOをTiO2 のみにかえ、ガラス
フリットを添加してペーストを作製し、これらのペース
トを用いて各種サンプルを作製したところ同等の結果が
得られた。
[0102] In addition, sample No. 1 or N
o. A paste was prepared by replacing the Ni-Cu-Zn ferrite in Sample No. 2 with Ni-Zn ferrite and adding glass frit. 1 or No. 2 T
When iO2 and CuO were replaced with only TiO2 and a glass frit was added to prepare pastes, various samples were prepared using these pastes, and similar results were obtained.

【0103】また、LCフィルター複合部分以外に、L
Cトラップ等の複合積層部品を作製したところ同等の結
果が得られた。
[0103] In addition to the LC filter composite part, the L
Similar results were obtained when composite laminated parts such as C-traps were manufactured.

【0104】[0104]

【発明の効果】本発明の複合積層部品は、インダクタチ
ップ体とコンデンサチップ体との界面での局部的なCu
やCu酸化物、ZnやZn酸化物の析出がほとんどない
。このため、部品の回路抵抗が高い。
Effects of the Invention The composite laminate component of the present invention has a structure in which localized Cu is removed at the interface between the inductor chip body and the capacitor chip body.
There is almost no precipitation of Zn, Cu oxide, Zn or Zn oxide. Therefore, the circuit resistance of the components is high.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

【図1】本発明の複合積層部品の好適実施例であるLC
複合部品の一部を切欠いて示す斜視図である。
FIG. 1: LC, which is a preferred embodiment of the composite laminate component of the present invention.
FIG. 2 is a perspective view showing a part of the composite component cut away.

【図2】本発明の複合積層部品のX線線分析による各元
素の濃度分布が示されるグラフである。
FIG. 2 is a graph showing the concentration distribution of each element according to X-ray analysis of the composite laminate component of the present invention.

【図3】本発明の複合積層部品のX線線分析による各元
素の濃度分布が示されるグラフである。
FIG. 3 is a graph showing the concentration distribution of each element according to X-ray analysis of the composite laminate component of the present invention.

【図4】従来の複合積層部品のX線線分析による各元素
の濃度分布が示されるグラフである。
FIG. 4 is a graph showing the concentration distribution of each element according to X-ray analysis of a conventional composite laminate component.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1  LC複合部品 2  コンデンサチップ体 21  セラミック誘電体層 25  内部電極層 3  インダクタチップ体 31  セラミック磁性層 35  内部導体 4  中間層 51  外部電極 1 LC composite parts 2 Capacitor chip body 21 Ceramic dielectric layer 25 Internal electrode layer 3 Inductor chip body 31 Ceramic magnetic layer 35 Internal conductor 4 Middle class 51 External electrode

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】  セラミック誘電体層と内部電極層とを
積層して構成されるコンデンサチップ体と、セラミック
磁性層と内部導体とを積層して構成されるインダクタチ
ップ体とを一体的に有する複合積層部品であって、前記
コンデンサチップ体と、前記インダクタチップ体との間
に、前記セラミック誘電体層と実質的に同一の誘電体材
料と、前記セラミック磁性層と実質的に同一の磁性材料
とを混合した混合材料を含有する中間層が1層以上設層
されており、前記セラミック磁性層には、Ni−Znフ
ェライトおよび/またはNi−Cu−Znフェライトが
含有されいることを特徴とする複合積層部品。
1. A composite body integrally comprising a capacitor chip body formed by laminating a ceramic dielectric layer and an internal electrode layer, and an inductor chip body formed by laminating a ceramic magnetic layer and an internal conductor. The multilayer component includes a dielectric material substantially the same as the ceramic dielectric layer and a magnetic material substantially the same as the ceramic magnetic layer between the capacitor chip body and the inductor chip body. A composite material characterized in that one or more intermediate layers containing a mixed material are formed, and the ceramic magnetic layer contains Ni-Zn ferrite and/or Ni-Cu-Zn ferrite. Laminated parts.
【請求項2】  前記中間層の混合材料中の前記誘電体
材料に対する前記磁性材料の重量比が1/9〜9/1で
ある請求項1に記載の複合積層部品。
2. The composite laminate component according to claim 1, wherein the weight ratio of the magnetic material to the dielectric material in the mixed material of the intermediate layer is 1/9 to 9/1.
【請求項3】  前記中間層を2層以上有し、前記中間
層の混合材料中の前記誘電体材料に対する前記磁性材料
の重量比が、インダクタチップ体側ほど大である請求項
1または2に記載の複合積層部品。
3. The inductor according to claim 1, wherein the intermediate layer has two or more layers, and the weight ratio of the magnetic material to the dielectric material in the mixed material of the intermediate layer is larger toward the inductor chip body. composite laminate parts.
【請求項4】  前記セラミック誘電体層が酸化チタン
系誘電体を含有する請求項1ないし3のいずれかに記載
の複合積層部品。
4. The composite laminate component according to claim 1, wherein the ceramic dielectric layer contains a titanium oxide dielectric.
【請求項5】  前記コンデンサチップ体と前記インダ
クタチップ体とを同時焼成した請求項1ないし4のいず
れかに記載の複合積層部品。
5. The composite laminate component according to claim 1, wherein the capacitor chip body and the inductor chip body are co-fired.
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