JPH04283926A - エッチング処理方法 - Google Patents

エッチング処理方法

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JPH04283926A
JPH04283926A JP4784391A JP4784391A JPH04283926A JP H04283926 A JPH04283926 A JP H04283926A JP 4784391 A JP4784391 A JP 4784391A JP 4784391 A JP4784391 A JP 4784391A JP H04283926 A JPH04283926 A JP H04283926A
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JP
Japan
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temperature
etching
hydrofluoric acid
aqueous solution
acid aqueous
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JP4784391A
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Tadayoshi Yoda
誉田 忠義
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、フッ酸水溶液を使用し
てシリコン酸化膜をエッチングするエッチング処理方法
に関する。
【0002】
【従来の技術】フッ酸水溶液を使用してシリコン酸化膜
をエッチングする場合に、従来は、エッチング時間の調
整あるいはフッ素イオン濃度の調整によってエッチング
精度の向上を図っている。
【0003】ところが、エッチング装置の自動化に伴い
、エッチング時間を調整することは困難になった。また
、フッ素イオン濃度の調整にはかなりの時間を必要とす
るため、フッ素イオン濃度を一定に調整することは非現
実的であり、現状では濃度管理範囲を設けて、その範囲
内に濃度が入ればよいとしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】エッチング時間の調整
が困難であり、また、フッ素イオン濃度を一定に調整す
ることが現実的に困難であるため、十分なエッチング精
度が得られていない。
【0005】本発明の目的は、この欠点を解消すること
にあり、フッ酸水溶液のフッ素イオン濃度が変動しても
十分なエッチング精度が得られるエッチング処理方法を
提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の目的は、フッ酸水
溶液の注入されたエッチング処理槽(1)と、前記のフ
ッ酸水溶液の温度を昇降する温度昇降手段(2)と、前
記のフッ酸水溶液のフッ素イオン濃度を測定するフッ素
イオン濃度計(3)と、前記のフッ酸水溶液の温度を測
定する温度計(4)と、前記のフッ素イオン濃度計(3
)の検出するフッ素イオン濃度に対応して前記のフッ酸
水溶液の温度設定値を出力する温度設定値出力手段(5
)と、この温度設定値出力手段(5)の出力する温度設
定値に応答して前記の温度昇降手段(2)を制御する温
度制御手段(6)からなるエッチング処理装置を有し、
被エッチング物をこのエッチング処理槽(1)に浸漬し
てエッチングする際に、このフッ素イオン濃度計(3)
の濃度値が変化した時、温度設定値出力手段(5)は、
エッチングレートが一定となるように温度設定値を変更
するエッチング処理方法によって達成される。
【0007】
【作用】エッチングレートはエッチング液の温度によっ
ても変化するので、エッチング液であるフッ酸水溶液中
のフッ素イオン濃度が変化しても、その変化に応答して
フッ酸水溶液の温度を変化させればエッチングレートを
一定にすることができる。図2に、1例として、シリコ
ン酸化膜のエッチングレートが一定の600Å/min
 である時のフッ酸水溶液のフッ素イオン濃度と温度と
の関係を示す。
【0008】図1に、エッチング処理装置の原理説明図
を示す。図中、1はエッチング処理槽であり、フッ酸水
溶液が注入されている。2はフッ酸水溶液の温度昇降手
段であり、3はフッ酸水溶液中のフッ素イオン濃度を測
定するフッ素イオン濃度計であり、4はフッ酸水溶液の
温度を測定する温度計である。
【0009】5は温度設定値出力手段であり、エッチン
グレートが一定となるときのフッ素イオン濃度とフッ酸
水溶液温度との関係が入力されており、フッ素イオン濃
度計の出力する濃度に応答してフッ酸水溶液の温度設定
値を出力する。
【0010】6は温度制御手段であり、温度設定値出力
手段5の出力する温度設定値に温度計4の温度、すなわ
ちフッ酸水溶液の温度が一致するように、温度昇降手段
2を制御する。
【0011】
【実施例】以下、図面を参照して、本発明の一実施例に
係るエッチング処理方法を説明する。
【0012】図3にエッチング処理装置の構成図を示す
。図中、図1で示したものと同一のものは同一記号で示
してあり、7はフッ酸水溶液を循環する循環ポンプであ
り、8は循環量を制御する流量制御手段であり、9はフ
ィルタである。
【0013】温度昇降手段2はマイクロコンピュータに
よって制御することができる。図4に示すフローチャー
トを同時に参照してマイクロコンピュータによる制御を
説明する。
【0014】予め、マイクロコンピュータのROM(読
み出し専用メモリ)に、エッチングレートが一定となる
ときのフッ酸水溶液のフッ素イオン濃度と温度との関係
(図2参照)を記憶させておく。フッ素イオン濃度計3
からの濃度信号を入力し、ROMに記憶されているテー
ブルをルックアップしてそのフッ素イオン濃度に対応す
るフッ酸水溶液の温度設定値を読み出す。この温度設定
値と温度計4から入力される温度信号とが一致するよう
に温度昇降手段2に制御信号を出力する。
【0015】図5に、エッチング処理装置のエッチング
レートの変動幅を示す。図中、Aをもって示すグラフは
従来の方法を使用した場合を示し、Bをもって示すグラ
フは本発明に係るエッチング処理装置を使用した場合を
示す。エッチングレートの変動幅が縮小され、エッチン
グ精度が向上している。
【0016】
【発明の効果】以上説明したとおり、本発明に係るエッ
チング処理方法においては、フッ酸水溶液のフッ素イオ
ン濃度が変化しても、フッ酸水溶液の温度を調整してエ
ッチングレートが一定になるように制御しているので、
フッ酸水溶液のフッ素イオン濃度に濃度管理範囲が設け
られていても、エッチング精度を向上することができる
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るエッチング処理方法の原理説明図
である。
【図2】エッチングレートが一定になるときのフッ酸水
溶液のフッ素イオン濃度と温度との関係を示すグラフで
ある。
【図3】本発明に係るエッチング処理方法の構成図であ
る。
【図4】コンピュータ制御のフローチャートである。
【図5】エッチングレートの変動幅を示すグラフである
【符号の説明】
1    エッチング処理槽 2    温度昇降手段 3    フッ素イオン濃度計 4    温度計 5    温度設定値出力手段 6    温度制御手段

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  フッ酸水溶液の注入されたエッチング
    処理槽(1)と、前記フッ酸水溶液の温度を昇降する温
    度昇降手段(2)と、前記フッ酸水溶液のフッ素イオン
    濃度を測定するフッ素イオン濃度計(3)と、前記フッ
    酸水溶液の温度を測定する温度計(4)と、前記フッ素
    イオン濃度計(3)の検出するフッ素イオン濃度に対応
    して前記フッ酸水溶液の温度設定値を出力する温度設定
    値出力手段(5)と、該温度設定値出力手段(5)の出
    力する温度設定値に応答して前記温度昇降手段(2)を
    制御する温度制御手段(6)からなるエッチング処理装
    置を有し、被エッチング物を該エッチング処理槽(1)
    に浸漬してエッチングする際に、該フッ素イオン濃度計
    (3)の濃度値が変化した時、温度設定値出力手段(5
    )は、エッチングレートが一定となるように温度設定値
    を変更することを特徴とするエッチング処理方法。
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