JPH04283603A - 光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用いた光学的測定装置 - Google Patents

光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用いた光学的測定装置

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JPH04283603A
JPH04283603A JP3046972A JP4697291A JPH04283603A JP H04283603 A JPH04283603 A JP H04283603A JP 3046972 A JP3046972 A JP 3046972A JP 4697291 A JP4697291 A JP 4697291A JP H04283603 A JPH04283603 A JP H04283603A
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JP
Japan
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light
light source
frequency
laser diode
infrared
Prior art date
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Pending
Application number
JP3046972A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshitsugu Ueda
敏嗣 植田
Katsumi Isozaki
磯崎 克己
Eiji Ogita
英治 荻田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、0.78μm〜1.3
μmの近赤外で発振するレ−ザダイオ−ドを光源に使用
した変位計や測長器などの光学的測定装置に関し、特に
装置のアライメントなどの使い易さや安全性を向上させ
るものである。
【0002】
【従来の技術】変位計や測長器などの光学的測定装置の
光源としては、従来、He−Neレ−ザが使用されてい
たが、近年になって、0.78μm〜1.3μmの近赤
外で発振するレ−ザダイオ−ドを光源に使用した変位計
や測長器などの光学的測定装置が商品化されてきた。こ
の近赤外レ−ザダイオ−ドを光源に使用した装置とする
と、小型で安価な装置にできるという利点がある。
【0003】図2は光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを使
用した光学的測定装置の一例を示す構成図であり、変位
計を示すものである。図2において、周波数安定化レ−
ザ光源1から出射された光は、ハ−フミラ−2で2つに
分岐される。一方の光(参照光)は、ハ−フミラ−2で
反射され、1/8波長板3を通って、参照用コ−ナ−キ
ュ−ブ4に入射される。入射光は、参照用コ−ナ−キュ
−ブ4で反射され、再び1/8波長板3を通って、ハ−
フミラ−2に入射する。この参照光は、1/8波長板3
を2回通るため、s偏光成分とp偏光成分には90゜の
位相差がある。他方の光(測定光)は、ハ−フミラ−2
を通過して、測定用コ−ナ−キュ−ブ5へ入射される。 入射光は測定用コ−ナ−キュ−ブ5で反射され、再びハ
−フミラ−2へ入射する。この測定光は、s偏光成分と
p偏光成分には位相差がない。両入射光はハ−フミラ−
2で干渉して、偏光ビ−ムスプリッタ6に入射する。干
渉光は偏光ビ−ムスプリッタ6でs偏光成分とp偏光成
分に分離され、光検出器7には、干渉信号のcos成分
が、光検出器8には干渉信号のsin成分がそれぞれ検
出され、検出した2つの信号を位相測定器9で電気的処
理して干渉位相を演算し、干渉位相の変化を積算するこ
とにより、測定用コ−ナ−キュ−ブ5の変位Lmを求め
ることができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術に示す光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用いた光
学的測定装置において、周波数安定化レ−ザ光源1から
出射される光は、波長が0.78μm〜1.3μmであ
るため、目で確認することができない。したがって、ア
ライメントが大変で使い勝手が悪く。また、安全上の問
題もあるなどの課題があった。
【0005】本発明は上記従来技術の課題を踏まえて成
されたものであり、光源部に第2高調波発生器を設け、
信号光である近赤外光と同一光路上に第2高調波発生器
で発生させた可視光を重畳させて、ガイド光としての機
能を持たせることにより、使い易さや安全性を向上でき
る光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用いた光学的測定装
置を提供することを目的としたものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明の構成は、光源に0.78μm〜1.3μmの
近赤外で発振するレ−ザダイオ−ドを使用した周波数安
定化レ−ザ光源を備え、この周波数安定化レ−ザ光源の
出射光を干渉計で2つに分岐して参照用と測定用の2つ
の反射鏡に入射させ、両反射鏡の反射光の位相差から測
定対象までの距離や変位を求めるようにした光学的測定
装置において、前記光源部に第2高調波発生器を設け、
前記周波数安定化レ−ザ光源からの出射光である近赤外
光と同一光路上に前記第2高調波発生器で発生した可視
光をガイド光として重畳させる構成としたことを特徴と
するものである。
【0007】
【作用】本発明によれば、光源部に第2高調波発生器を
設けることにより、可視光のガイド光を重畳することが
できる。したがって、アライメントなどの使い易さを改
善でき、安全な装置にできる。
【0008】
【実施例】以下、本発明を図面に基づいて説明する。図
1は本発明の近赤外レ−ザダイオ−ドを光源に用いた光
学的測定装置の一実施例を示す構成図であり、マイケル
ソン干渉計を用いたレ−ザ変位計に応用したものである
。なお、図1において図2と同一要素には同一符号を付
して重複する説明は省略する。図1において、10は可
視光を発生する第2高調波発生器(Second Ha
rmonic Generator 、以下、単にSH
Gという)であり、周波数安定化レ−ザ光源1から出射
される近赤外光と同一光路上にSHG10で発生した可
視光を重畳してガイド光としての機能を持たせている。 11,12は光検出器7,8の前段に配置された干渉フ
ィルタであり、コヒ−レントノイズとならないように可
視光をカットするものである。
【0009】このような構成において、周波数安定化レ
−ザ光源1から出射された信号光である近赤外光は、S
HG10に入射され、可視光に重畳されて出射される。 ここで、信号光が0.78μmとすると、可視光は0.
39μmで青色光である。SHG10から出射された信
号光と可視光の重畳された光は、ハ−フミラ−2で2つ
に分岐される。一方の光(参照光)は、ハ−フミラ−2
で反射され、1/8波長板3を通して、参照用のコ−ナ
−キュ−ブ4へ入射される。入射光は参照用のコ−ナ−
キュ−ブ4で反射され、再び1/8波長板3を通してハ
−フミラ−2に入射される。この参照用のコ−ナ−キュ
−ブ4からの光は、1/8波長板3を2回通るため、s
偏光成分とp偏光成分には90゜の位相差がある。他方
の光(測定光)は、ハ−フミラ−2を通過して、測定用
コ−ナ−キュ−ブ5へ入射される。入射光は測定用コ−
ナ−キュ−ブ5で反射され、再びハ−フミラ−2へ入射
する。この測定光はs偏光成分とp偏光成分には位相差
がない。両入射光はハ−フミラ−2で干渉して、偏光ビ
−ムスプリッタ6に入射する。干渉光は偏光ビ−ムスプ
リッタ6でs偏光成分とp偏光成分に分離され、光検出
器7には、干渉フィルタ11でコヒ−レントノイズとな
らないように可視光をカットされた干渉信号のcos成
分が、光検出器8には同様に干渉フィルタ12でコヒ−
レントノイズとならないように可視光をカットされた干
渉信号のsin成分がそれぞれ検出され、検出した2つ
の信号を位相測定器9で電気的処理して干渉位相を演算
し、干渉位相の変化を積算することにより、測定用コ−
ナ−キュ−ブ5の変位Lmを求めることができる。
【0010】したがって、光源部にSHG10を設け、
信号光である近赤外光と同一光路上にSHG10で発生
させた可視光を重畳させて、ガイド光としての機能を持
たせることにより、使い易さや安全性を向上できる
【0
011】なお、上記実施例では、マイケルソン干渉計を
用いた変位計を示したが、これに限るものではなく。干
渉計の方式は、フィゾ−型やマッハツェンダ型などでも
良く。また、測長器や面精度測定器や表面粗さ計などの
光学的測定装置に応用しても良く、同様の効果を期待で
きる。
【0012】
【発明の効果】以上、実施例と共に具体的に説明したよ
うに、本発明によれば、光源に近赤外レ−ザダイオ−ド
を用いた光学的測定装置の使い易さや安全性を向上でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用い
た光学的測定装置の一実施例を示す構成図である。
【図2】従来の光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用いた
光学的測定装置の一例を示す構成図である。
【符号の説明】
1  周波数安定化レ−ザ光源 2  ハ−フミラ− 3  1/8波長板 4  参照用コ−ナ−キュ−ブ 5  測定用コ−ナ−キュ−ブ 6  偏光ビ−ムスプリッタ 7,8  光検出器 9  位相測定器 10  第2高調波発生器 11,12  干渉フィルタ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  光源に0.78μm〜1.3μmの近
    赤外で発振するレ−ザダイオ−ドを使用した周波数安定
    化レ−ザ光源を備え、この周波数安定化レ−ザ光源の出
    射光を干渉計で2つに分岐して参照用と測定用の2つの
    反射鏡に入射させ、両反射鏡の反射光の位相差から測定
    対象までの距離や変位を求めるようにした光学的測定装
    置において、前記光源部に第2高調波発生器を設け、前
    記周波数安定化レ−ザ光源からの出射光である近赤外光
    と同一光路上に前記第2高調波発生器で発生した可視光
    をガイド光として重畳させる構成としたことを特徴とす
    る光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用いた光学的測定装
    置。
JP3046972A 1991-03-12 1991-03-12 光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用いた光学的測定装置 Pending JPH04283603A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0908710A2 (en) * 1997-09-26 1999-04-14 Japan Science and Technology Corporation Apparatus and method for measuring characteristics of light
JP2010038880A (ja) * 2008-08-08 2010-02-18 Toshiba Corp レーザ超音波検査装置およびレーザ超音波検査方法
US11648624B2 (en) 2019-08-29 2023-05-16 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Laser processing apparatus and optical adjustment method

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0908710A2 (en) * 1997-09-26 1999-04-14 Japan Science and Technology Corporation Apparatus and method for measuring characteristics of light
EP0908710A3 (en) * 1997-09-26 2000-05-17 Japan Science and Technology Corporation Apparatus and method for measuring characteristics of light
JP2010038880A (ja) * 2008-08-08 2010-02-18 Toshiba Corp レーザ超音波検査装置およびレーザ超音波検査方法
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