JPH04283603A - 光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用いた光学的測定装置 - Google Patents
光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用いた光学的測定装置Info
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- JPH04283603A JPH04283603A JP3046972A JP4697291A JPH04283603A JP H04283603 A JPH04283603 A JP H04283603A JP 3046972 A JP3046972 A JP 3046972A JP 4697291 A JP4697291 A JP 4697291A JP H04283603 A JPH04283603 A JP H04283603A
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- Japan
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- light
- light source
- frequency
- laser diode
- infrared
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- Pending
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
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- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、0.78μm〜1.3
μmの近赤外で発振するレ−ザダイオ−ドを光源に使用
した変位計や測長器などの光学的測定装置に関し、特に
装置のアライメントなどの使い易さや安全性を向上させ
るものである。
μmの近赤外で発振するレ−ザダイオ−ドを光源に使用
した変位計や測長器などの光学的測定装置に関し、特に
装置のアライメントなどの使い易さや安全性を向上させ
るものである。
【0002】
【従来の技術】変位計や測長器などの光学的測定装置の
光源としては、従来、He−Neレ−ザが使用されてい
たが、近年になって、0.78μm〜1.3μmの近赤
外で発振するレ−ザダイオ−ドを光源に使用した変位計
や測長器などの光学的測定装置が商品化されてきた。こ
の近赤外レ−ザダイオ−ドを光源に使用した装置とする
と、小型で安価な装置にできるという利点がある。
光源としては、従来、He−Neレ−ザが使用されてい
たが、近年になって、0.78μm〜1.3μmの近赤
外で発振するレ−ザダイオ−ドを光源に使用した変位計
や測長器などの光学的測定装置が商品化されてきた。こ
の近赤外レ−ザダイオ−ドを光源に使用した装置とする
と、小型で安価な装置にできるという利点がある。
【0003】図2は光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを使
用した光学的測定装置の一例を示す構成図であり、変位
計を示すものである。図2において、周波数安定化レ−
ザ光源1から出射された光は、ハ−フミラ−2で2つに
分岐される。一方の光(参照光)は、ハ−フミラ−2で
反射され、1/8波長板3を通って、参照用コ−ナ−キ
ュ−ブ4に入射される。入射光は、参照用コ−ナ−キュ
−ブ4で反射され、再び1/8波長板3を通って、ハ−
フミラ−2に入射する。この参照光は、1/8波長板3
を2回通るため、s偏光成分とp偏光成分には90゜の
位相差がある。他方の光(測定光)は、ハ−フミラ−2
を通過して、測定用コ−ナ−キュ−ブ5へ入射される。 入射光は測定用コ−ナ−キュ−ブ5で反射され、再びハ
−フミラ−2へ入射する。この測定光は、s偏光成分と
p偏光成分には位相差がない。両入射光はハ−フミラ−
2で干渉して、偏光ビ−ムスプリッタ6に入射する。干
渉光は偏光ビ−ムスプリッタ6でs偏光成分とp偏光成
分に分離され、光検出器7には、干渉信号のcos成分
が、光検出器8には干渉信号のsin成分がそれぞれ検
出され、検出した2つの信号を位相測定器9で電気的処
理して干渉位相を演算し、干渉位相の変化を積算するこ
とにより、測定用コ−ナ−キュ−ブ5の変位Lmを求め
ることができる。
用した光学的測定装置の一例を示す構成図であり、変位
計を示すものである。図2において、周波数安定化レ−
ザ光源1から出射された光は、ハ−フミラ−2で2つに
分岐される。一方の光(参照光)は、ハ−フミラ−2で
反射され、1/8波長板3を通って、参照用コ−ナ−キ
ュ−ブ4に入射される。入射光は、参照用コ−ナ−キュ
−ブ4で反射され、再び1/8波長板3を通って、ハ−
フミラ−2に入射する。この参照光は、1/8波長板3
を2回通るため、s偏光成分とp偏光成分には90゜の
位相差がある。他方の光(測定光)は、ハ−フミラ−2
を通過して、測定用コ−ナ−キュ−ブ5へ入射される。 入射光は測定用コ−ナ−キュ−ブ5で反射され、再びハ
−フミラ−2へ入射する。この測定光は、s偏光成分と
p偏光成分には位相差がない。両入射光はハ−フミラ−
2で干渉して、偏光ビ−ムスプリッタ6に入射する。干
渉光は偏光ビ−ムスプリッタ6でs偏光成分とp偏光成
分に分離され、光検出器7には、干渉信号のcos成分
が、光検出器8には干渉信号のsin成分がそれぞれ検
出され、検出した2つの信号を位相測定器9で電気的処
理して干渉位相を演算し、干渉位相の変化を積算するこ
とにより、測定用コ−ナ−キュ−ブ5の変位Lmを求め
ることができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術に示す光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用いた光
学的測定装置において、周波数安定化レ−ザ光源1から
出射される光は、波長が0.78μm〜1.3μmであ
るため、目で確認することができない。したがって、ア
ライメントが大変で使い勝手が悪く。また、安全上の問
題もあるなどの課題があった。
来技術に示す光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用いた光
学的測定装置において、周波数安定化レ−ザ光源1から
出射される光は、波長が0.78μm〜1.3μmであ
るため、目で確認することができない。したがって、ア
ライメントが大変で使い勝手が悪く。また、安全上の問
題もあるなどの課題があった。
【0005】本発明は上記従来技術の課題を踏まえて成
されたものであり、光源部に第2高調波発生器を設け、
信号光である近赤外光と同一光路上に第2高調波発生器
で発生させた可視光を重畳させて、ガイド光としての機
能を持たせることにより、使い易さや安全性を向上でき
る光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用いた光学的測定装
置を提供することを目的としたものである。
されたものであり、光源部に第2高調波発生器を設け、
信号光である近赤外光と同一光路上に第2高調波発生器
で発生させた可視光を重畳させて、ガイド光としての機
能を持たせることにより、使い易さや安全性を向上でき
る光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用いた光学的測定装
置を提供することを目的としたものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明の構成は、光源に0.78μm〜1.3μmの
近赤外で発振するレ−ザダイオ−ドを使用した周波数安
定化レ−ザ光源を備え、この周波数安定化レ−ザ光源の
出射光を干渉計で2つに分岐して参照用と測定用の2つ
の反射鏡に入射させ、両反射鏡の反射光の位相差から測
定対象までの距離や変位を求めるようにした光学的測定
装置において、前記光源部に第2高調波発生器を設け、
前記周波数安定化レ−ザ光源からの出射光である近赤外
光と同一光路上に前記第2高調波発生器で発生した可視
光をガイド光として重畳させる構成としたことを特徴と
するものである。
の本発明の構成は、光源に0.78μm〜1.3μmの
近赤外で発振するレ−ザダイオ−ドを使用した周波数安
定化レ−ザ光源を備え、この周波数安定化レ−ザ光源の
出射光を干渉計で2つに分岐して参照用と測定用の2つ
の反射鏡に入射させ、両反射鏡の反射光の位相差から測
定対象までの距離や変位を求めるようにした光学的測定
装置において、前記光源部に第2高調波発生器を設け、
前記周波数安定化レ−ザ光源からの出射光である近赤外
光と同一光路上に前記第2高調波発生器で発生した可視
光をガイド光として重畳させる構成としたことを特徴と
するものである。
【0007】
【作用】本発明によれば、光源部に第2高調波発生器を
設けることにより、可視光のガイド光を重畳することが
できる。したがって、アライメントなどの使い易さを改
善でき、安全な装置にできる。
設けることにより、可視光のガイド光を重畳することが
できる。したがって、アライメントなどの使い易さを改
善でき、安全な装置にできる。
【0008】
【実施例】以下、本発明を図面に基づいて説明する。図
1は本発明の近赤外レ−ザダイオ−ドを光源に用いた光
学的測定装置の一実施例を示す構成図であり、マイケル
ソン干渉計を用いたレ−ザ変位計に応用したものである
。なお、図1において図2と同一要素には同一符号を付
して重複する説明は省略する。図1において、10は可
視光を発生する第2高調波発生器(Second Ha
rmonic Generator 、以下、単にSH
Gという)であり、周波数安定化レ−ザ光源1から出射
される近赤外光と同一光路上にSHG10で発生した可
視光を重畳してガイド光としての機能を持たせている。 11,12は光検出器7,8の前段に配置された干渉フ
ィルタであり、コヒ−レントノイズとならないように可
視光をカットするものである。
1は本発明の近赤外レ−ザダイオ−ドを光源に用いた光
学的測定装置の一実施例を示す構成図であり、マイケル
ソン干渉計を用いたレ−ザ変位計に応用したものである
。なお、図1において図2と同一要素には同一符号を付
して重複する説明は省略する。図1において、10は可
視光を発生する第2高調波発生器(Second Ha
rmonic Generator 、以下、単にSH
Gという)であり、周波数安定化レ−ザ光源1から出射
される近赤外光と同一光路上にSHG10で発生した可
視光を重畳してガイド光としての機能を持たせている。 11,12は光検出器7,8の前段に配置された干渉フ
ィルタであり、コヒ−レントノイズとならないように可
視光をカットするものである。
【0009】このような構成において、周波数安定化レ
−ザ光源1から出射された信号光である近赤外光は、S
HG10に入射され、可視光に重畳されて出射される。 ここで、信号光が0.78μmとすると、可視光は0.
39μmで青色光である。SHG10から出射された信
号光と可視光の重畳された光は、ハ−フミラ−2で2つ
に分岐される。一方の光(参照光)は、ハ−フミラ−2
で反射され、1/8波長板3を通して、参照用のコ−ナ
−キュ−ブ4へ入射される。入射光は参照用のコ−ナ−
キュ−ブ4で反射され、再び1/8波長板3を通してハ
−フミラ−2に入射される。この参照用のコ−ナ−キュ
−ブ4からの光は、1/8波長板3を2回通るため、s
偏光成分とp偏光成分には90゜の位相差がある。他方
の光(測定光)は、ハ−フミラ−2を通過して、測定用
コ−ナ−キュ−ブ5へ入射される。入射光は測定用コ−
ナ−キュ−ブ5で反射され、再びハ−フミラ−2へ入射
する。この測定光はs偏光成分とp偏光成分には位相差
がない。両入射光はハ−フミラ−2で干渉して、偏光ビ
−ムスプリッタ6に入射する。干渉光は偏光ビ−ムスプ
リッタ6でs偏光成分とp偏光成分に分離され、光検出
器7には、干渉フィルタ11でコヒ−レントノイズとな
らないように可視光をカットされた干渉信号のcos成
分が、光検出器8には同様に干渉フィルタ12でコヒ−
レントノイズとならないように可視光をカットされた干
渉信号のsin成分がそれぞれ検出され、検出した2つ
の信号を位相測定器9で電気的処理して干渉位相を演算
し、干渉位相の変化を積算することにより、測定用コ−
ナ−キュ−ブ5の変位Lmを求めることができる。
−ザ光源1から出射された信号光である近赤外光は、S
HG10に入射され、可視光に重畳されて出射される。 ここで、信号光が0.78μmとすると、可視光は0.
39μmで青色光である。SHG10から出射された信
号光と可視光の重畳された光は、ハ−フミラ−2で2つ
に分岐される。一方の光(参照光)は、ハ−フミラ−2
で反射され、1/8波長板3を通して、参照用のコ−ナ
−キュ−ブ4へ入射される。入射光は参照用のコ−ナ−
キュ−ブ4で反射され、再び1/8波長板3を通してハ
−フミラ−2に入射される。この参照用のコ−ナ−キュ
−ブ4からの光は、1/8波長板3を2回通るため、s
偏光成分とp偏光成分には90゜の位相差がある。他方
の光(測定光)は、ハ−フミラ−2を通過して、測定用
コ−ナ−キュ−ブ5へ入射される。入射光は測定用コ−
ナ−キュ−ブ5で反射され、再びハ−フミラ−2へ入射
する。この測定光はs偏光成分とp偏光成分には位相差
がない。両入射光はハ−フミラ−2で干渉して、偏光ビ
−ムスプリッタ6に入射する。干渉光は偏光ビ−ムスプ
リッタ6でs偏光成分とp偏光成分に分離され、光検出
器7には、干渉フィルタ11でコヒ−レントノイズとな
らないように可視光をカットされた干渉信号のcos成
分が、光検出器8には同様に干渉フィルタ12でコヒ−
レントノイズとならないように可視光をカットされた干
渉信号のsin成分がそれぞれ検出され、検出した2つ
の信号を位相測定器9で電気的処理して干渉位相を演算
し、干渉位相の変化を積算することにより、測定用コ−
ナ−キュ−ブ5の変位Lmを求めることができる。
【0010】したがって、光源部にSHG10を設け、
信号光である近赤外光と同一光路上にSHG10で発生
させた可視光を重畳させて、ガイド光としての機能を持
たせることにより、使い易さや安全性を向上できる
信号光である近赤外光と同一光路上にSHG10で発生
させた可視光を重畳させて、ガイド光としての機能を持
たせることにより、使い易さや安全性を向上できる
【0
011】なお、上記実施例では、マイケルソン干渉計を
用いた変位計を示したが、これに限るものではなく。干
渉計の方式は、フィゾ−型やマッハツェンダ型などでも
良く。また、測長器や面精度測定器や表面粗さ計などの
光学的測定装置に応用しても良く、同様の効果を期待で
きる。
011】なお、上記実施例では、マイケルソン干渉計を
用いた変位計を示したが、これに限るものではなく。干
渉計の方式は、フィゾ−型やマッハツェンダ型などでも
良く。また、測長器や面精度測定器や表面粗さ計などの
光学的測定装置に応用しても良く、同様の効果を期待で
きる。
【0012】
【発明の効果】以上、実施例と共に具体的に説明したよ
うに、本発明によれば、光源に近赤外レ−ザダイオ−ド
を用いた光学的測定装置の使い易さや安全性を向上でき
る。
うに、本発明によれば、光源に近赤外レ−ザダイオ−ド
を用いた光学的測定装置の使い易さや安全性を向上でき
る。
【図1】本発明の光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用い
た光学的測定装置の一実施例を示す構成図である。
た光学的測定装置の一実施例を示す構成図である。
【図2】従来の光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用いた
光学的測定装置の一例を示す構成図である。
光学的測定装置の一例を示す構成図である。
1 周波数安定化レ−ザ光源
2 ハ−フミラ−
3 1/8波長板
4 参照用コ−ナ−キュ−ブ
5 測定用コ−ナ−キュ−ブ
6 偏光ビ−ムスプリッタ
7,8 光検出器
9 位相測定器
10 第2高調波発生器
11,12 干渉フィルタ
Claims (1)
- 【請求項1】 光源に0.78μm〜1.3μmの近
赤外で発振するレ−ザダイオ−ドを使用した周波数安定
化レ−ザ光源を備え、この周波数安定化レ−ザ光源の出
射光を干渉計で2つに分岐して参照用と測定用の2つの
反射鏡に入射させ、両反射鏡の反射光の位相差から測定
対象までの距離や変位を求めるようにした光学的測定装
置において、前記光源部に第2高調波発生器を設け、前
記周波数安定化レ−ザ光源からの出射光である近赤外光
と同一光路上に前記第2高調波発生器で発生した可視光
をガイド光として重畳させる構成としたことを特徴とす
る光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用いた光学的測定装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3046972A JPH04283603A (ja) | 1991-03-12 | 1991-03-12 | 光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用いた光学的測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3046972A JPH04283603A (ja) | 1991-03-12 | 1991-03-12 | 光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用いた光学的測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04283603A true JPH04283603A (ja) | 1992-10-08 |
Family
ID=12762166
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3046972A Pending JPH04283603A (ja) | 1991-03-12 | 1991-03-12 | 光源に近赤外レ−ザダイオ−ドを用いた光学的測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04283603A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0908710A2 (en) * | 1997-09-26 | 1999-04-14 | Japan Science and Technology Corporation | Apparatus and method for measuring characteristics of light |
JP2010038880A (ja) * | 2008-08-08 | 2010-02-18 | Toshiba Corp | レーザ超音波検査装置およびレーザ超音波検査方法 |
US11648624B2 (en) | 2019-08-29 | 2023-05-16 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Laser processing apparatus and optical adjustment method |
-
1991
- 1991-03-12 JP JP3046972A patent/JPH04283603A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0908710A2 (en) * | 1997-09-26 | 1999-04-14 | Japan Science and Technology Corporation | Apparatus and method for measuring characteristics of light |
EP0908710A3 (en) * | 1997-09-26 | 2000-05-17 | Japan Science and Technology Corporation | Apparatus and method for measuring characteristics of light |
JP2010038880A (ja) * | 2008-08-08 | 2010-02-18 | Toshiba Corp | レーザ超音波検査装置およびレーザ超音波検査方法 |
US11648624B2 (en) | 2019-08-29 | 2023-05-16 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Laser processing apparatus and optical adjustment method |
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