JPH04280312A - パターン入力装置 - Google Patents
パターン入力装置Info
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- JPH04280312A JPH04280312A JP3043263A JP4326391A JPH04280312A JP H04280312 A JPH04280312 A JP H04280312A JP 3043263 A JP3043263 A JP 3043263A JP 4326391 A JP4326391 A JP 4326391A JP H04280312 A JPH04280312 A JP H04280312A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 43
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V30/00—Character recognition; Recognising digital ink; Document-oriented image-based pattern recognition
- G06V30/10—Character recognition
- G06V30/14—Image acquisition
- G06V30/142—Image acquisition using hand-held instruments; Constructional details of the instruments
- G06V30/1423—Image acquisition using hand-held instruments; Constructional details of the instruments the instrument generating sequences of position coordinates corresponding to handwriting
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- Electronic Switches (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【技術分野】本発明は、文字、図形等のパターンを情報
処理装置に入力するパターン入力装置に関する。
処理装置に入力するパターン入力装置に関する。
【０００２】
【背景技術】パターン入力装置としては、紙に描かれた
文字、図形等を読み取るイメージスキャナが知られてい
る。また、同一面内に配置された複数の圧力センサから
なるパネルを有し、このパネルにユーザがペン状の部材
を接触させると同時に移動させたとき、その軌跡を検出
するようにした構成の装置や、液晶パネルを有し、この
液晶パネルにユーザがライトペンを接触させると同時に
移動させたとき、その軌跡を検出するようにした構成の
装置も周知である。
文字、図形等を読み取るイメージスキャナが知られてい
る。また、同一面内に配置された複数の圧力センサから
なるパネルを有し、このパネルにユーザがペン状の部材
を接触させると同時に移動させたとき、その軌跡を検出
するようにした構成の装置や、液晶パネルを有し、この
液晶パネルにユーザがライトペンを接触させると同時に
移動させたとき、その軌跡を検出するようにした構成の
装置も周知である。
【０００３】以上のような従来の装置においては、紙に
文字、図形等を一旦記入したり、ペン状の部材やライト
ペンを使用しなければならず、操作性が悪いという問題
点があった。
文字、図形等を一旦記入したり、ペン状の部材やライト
ペンを使用しなければならず、操作性が悪いという問題
点があった。
【０００４】
【発明の目的】よって、本発明は操作性の向上を図るこ
とができるパターン入力装置を提供することを目的とす
る。
とができるパターン入力装置を提供することを目的とす
る。
【０００５】
【発明の構成】本発明によるパターン入力装置は、同一
の検出面上に配置されかつ物体が接触したとき検出信号
をそれぞれ発生する複数の接触検出手段と、前記複数の
接触検出手段のうちの互いに隣接する少なくとも２つの
各々から検出信号が出力されたとき前記検出面上におい
て前記少なくとも２つのほぼ中心に位置する点の軌跡又
は移動ベクトル量により前記検出面に接触すると同時に
移動する物体の描くパターンを判別するパターン判別手
段とからなっている。
の検出面上に配置されかつ物体が接触したとき検出信号
をそれぞれ発生する複数の接触検出手段と、前記複数の
接触検出手段のうちの互いに隣接する少なくとも２つの
各々から検出信号が出力されたとき前記検出面上におい
て前記少なくとも２つのほぼ中心に位置する点の軌跡又
は移動ベクトル量により前記検出面に接触すると同時に
移動する物体の描くパターンを判別するパターン判別手
段とからなっている。
【０００６】また、本発明による他のパターン入力装置
は、同一の検出面上に配置されかつ物体が接触したとき
検出信号をそれぞれ発生する複数の接触検出手段と、前
記複数の接触検出手段のうちの互いに隣接する少なくと
も２つの各々から検出信号が出力されたとき前記検出面
上において前記少なくとも２つのほぼ中心に位置する点
からの前記少なくとも２つの各々の距離に応じた重みづ
けを行って得られる評価関数によって前記検出面に接触
すると同時に移動する物体の描くパターンを判別するパ
ターン判別手段とからなっている。
は、同一の検出面上に配置されかつ物体が接触したとき
検出信号をそれぞれ発生する複数の接触検出手段と、前
記複数の接触検出手段のうちの互いに隣接する少なくと
も２つの各々から検出信号が出力されたとき前記検出面
上において前記少なくとも２つのほぼ中心に位置する点
からの前記少なくとも２つの各々の距離に応じた重みづ
けを行って得られる評価関数によって前記検出面に接触
すると同時に移動する物体の描くパターンを判別するパ
ターン判別手段とからなっている。
【０００７】
【発明の作用】本発明によるパターン入力装置によれば
、物体と検出面との接触面のほぼ中心に位置する点の軌
跡又は移動ベクトル量により物体の描くパターンの判別
がなされる。また、本発明による他のパターン入力装置
によれば、物体と検出面との接触面のほぼ中心からの距
離に応じた重み付けがなされ、得られる評価関数によっ
て物体の描くパターンの判別がなされる。
、物体と検出面との接触面のほぼ中心に位置する点の軌
跡又は移動ベクトル量により物体の描くパターンの判別
がなされる。また、本発明による他のパターン入力装置
によれば、物体と検出面との接触面のほぼ中心からの距
離に応じた重み付けがなされ、得られる評価関数によっ
て物体の描くパターンの判別がなされる。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の実施例につき添付図面を参照
して詳細に説明する。図１において、互いに平行な１６
本の第１信号線Ｃ１ 〜Ｃ１６と、これら１６本の第１
信号線Ｃ１ 〜Ｃ１６に対して直交する方向に伸長する
互いに平行な１６本の第２信号線Ｌ１ 〜Ｌ１６とが配
置されている。１６本の第１信号線Ｃ１ 〜Ｃ１６の各
々及び１６本の第２信号線Ｌ１ 〜Ｌ１６の各々には導
電性を有する金属で形成された１６個のタッチプレート
Ｐが所定の間隔をもって配置接続されている。
して詳細に説明する。図１において、互いに平行な１６
本の第１信号線Ｃ１ 〜Ｃ１６と、これら１６本の第１
信号線Ｃ１ 〜Ｃ１６に対して直交する方向に伸長する
互いに平行な１６本の第２信号線Ｌ１ 〜Ｌ１６とが配
置されている。１６本の第１信号線Ｃ１ 〜Ｃ１６の各
々及び１６本の第２信号線Ｌ１ 〜Ｌ１６の各々には導
電性を有する金属で形成された１６個のタッチプレート
Ｐが所定の間隔をもって配置接続されている。
【０００９】尚、図１において、白丸印は、第１信号線
Ｃ１ 〜Ｃ１６のうちのいずれかに接続されているタッ
チプレートを表し、斜線の入った丸印は、第２信号線Ｌ
１ 〜Ｌ１６のうちのいずれかに接続されているタッチ
プレートを表している。この図１に示されているタッチ
センサパネルにおいて、ユーザの指が計５１２個のタッ
チプレートＰのうちの互いに隣接する少なくとも２つに
同時に接触すると、人体の５０／６０Ｈｚ電源誘導によ
り第１信号線Ｃ１ 〜Ｃ１６のうちの少なくとも１本及
び第２信号線Ｌ１ 〜Ｌ１６のうちの少なくとも１本に
５０Ｈｚ又は６０Ｈｚの交流電圧が発生する。第１信号
線Ｃ１ 〜Ｃ１６のうちの少なくとも１本に発生した交
流電圧は、タッチセンサパネルのＸ方向における指の接
触位置を示す信号として出力され、第２信号線Ｌ１ 〜
Ｌ１６のうちの少なくとも１本に発生した交流電圧は、
タッチセンサパネルのＹ方向における指の接触位置を示
す信号として出力される。
Ｃ１ 〜Ｃ１６のうちのいずれかに接続されているタッ
チプレートを表し、斜線の入った丸印は、第２信号線Ｌ
１ 〜Ｌ１６のうちのいずれかに接続されているタッチ
プレートを表している。この図１に示されているタッチ
センサパネルにおいて、ユーザの指が計５１２個のタッ
チプレートＰのうちの互いに隣接する少なくとも２つに
同時に接触すると、人体の５０／６０Ｈｚ電源誘導によ
り第１信号線Ｃ１ 〜Ｃ１６のうちの少なくとも１本及
び第２信号線Ｌ１ 〜Ｌ１６のうちの少なくとも１本に
５０Ｈｚ又は６０Ｈｚの交流電圧が発生する。第１信号
線Ｃ１ 〜Ｃ１６のうちの少なくとも１本に発生した交
流電圧は、タッチセンサパネルのＸ方向における指の接
触位置を示す信号として出力され、第２信号線Ｌ１ 〜
Ｌ１６のうちの少なくとも１本に発生した交流電圧は、
タッチセンサパネルのＹ方向における指の接触位置を示
す信号として出力される。
【００１０】図２は、図１に示されているタッチセンサ
パネルに接触すると同時に移動する指の描くパターンを
判別するパターン判別回路の回路ブロック図である。図
２において、第１信号線Ｃ１ 〜Ｃ１６の各々に導出さ
れた誘導電圧は、セット−リセット形の１６個のフリッ
プフロップＦＸ１ 〜ＦＸ１６の各々のセット入力端子
に供給される。また、第２信号線Ｌ１ 〜Ｌ１６の各々
に導出された誘導電圧は、セット−リセット形の１６個
のフリップフロップＦＹ１ 〜ＦＹ１６の各々のセット
入力端子に供給される。 フリップフロップＦＸ１ 〜ＦＸ１６及びＦＹ１ 〜Ｆ
Ｙ１６のリセット入力端子にはマイクロコンピュータ１
５からリセット信号ｆが供給される。
パネルに接触すると同時に移動する指の描くパターンを
判別するパターン判別回路の回路ブロック図である。図
２において、第１信号線Ｃ１ 〜Ｃ１６の各々に導出さ
れた誘導電圧は、セット−リセット形の１６個のフリッ
プフロップＦＸ１ 〜ＦＸ１６の各々のセット入力端子
に供給される。また、第２信号線Ｌ１ 〜Ｌ１６の各々
に導出された誘導電圧は、セット−リセット形の１６個
のフリップフロップＦＹ１ 〜ＦＹ１６の各々のセット
入力端子に供給される。 フリップフロップＦＸ１ 〜ＦＸ１６及びＦＹ１ 〜Ｆ
Ｙ１６のリセット入力端子にはマイクロコンピュータ１
５からリセット信号ｆが供給される。
【００１１】また、フリップフロップＦＸ１ 〜ＦＸ１
６及びＦＹ１〜ＦＹ１６のセット入力端子と接地間には
３２個の抵抗Ｒ１ 〜Ｒ３２が接続されいる。これら抵
抗Ｒ１ 〜Ｒ３２の抵抗値は、例えば４．７ＭΩである
。フリップフロップＦＸ１ 〜ＦＸ１６Ｑ出力は、信号
選択回路１１の入力端子Ａに供給されている。また、フ
リップフロップＦＹ１ 〜ＦＹ１６Ｑ出力は、信号選択
回路１１の入力端子Ｂに供給されている。 信号選択回路１１は、制御信号の供給を受けてこの制御
信号が例えば高レベルのときは入力端子Ａに供給されて
いる信号を選択的に出力し、制御信号が例えば低レベル
のときは入力端子Ｂに供給されている信号を選択的に出
力する構成となっている。この信号選択回路１１の出力
は、１６ビットのラッチ回路１２に供給されている。ラ
ッチ回路１２の出力は、マイクロコンピュータ１５のデ
ータ入力ａになっている。また、信号選択回路１１には
、１ビットラッチ回路１６の出力が制御信号として供給
されている。１ビットラッチ回路１６のデータ入力端子
にはマイクロコンピュータ１５からセレクト信号ｂが供
給される。この１ビットラッチ回路１６のクロック入力
端子にはマイクロコンピュータ１５からラッチパルスｃ
が供給される。ラッチパルスｃは、ディレイ回路１７に
よって時間Ｔ１だけ遅延されて１６ビットのラッチ回路
１２のクロック入力端子に供給される。
６及びＦＹ１〜ＦＹ１６のセット入力端子と接地間には
３２個の抵抗Ｒ１ 〜Ｒ３２が接続されいる。これら抵
抗Ｒ１ 〜Ｒ３２の抵抗値は、例えば４．７ＭΩである
。フリップフロップＦＸ１ 〜ＦＸ１６Ｑ出力は、信号
選択回路１１の入力端子Ａに供給されている。また、フ
リップフロップＦＹ１ 〜ＦＹ１６Ｑ出力は、信号選択
回路１１の入力端子Ｂに供給されている。 信号選択回路１１は、制御信号の供給を受けてこの制御
信号が例えば高レベルのときは入力端子Ａに供給されて
いる信号を選択的に出力し、制御信号が例えば低レベル
のときは入力端子Ｂに供給されている信号を選択的に出
力する構成となっている。この信号選択回路１１の出力
は、１６ビットのラッチ回路１２に供給されている。ラ
ッチ回路１２の出力は、マイクロコンピュータ１５のデ
ータ入力ａになっている。また、信号選択回路１１には
、１ビットラッチ回路１６の出力が制御信号として供給
されている。１ビットラッチ回路１６のデータ入力端子
にはマイクロコンピュータ１５からセレクト信号ｂが供
給される。この１ビットラッチ回路１６のクロック入力
端子にはマイクロコンピュータ１５からラッチパルスｃ
が供給される。ラッチパルスｃは、ディレイ回路１７に
よって時間Ｔ１だけ遅延されて１６ビットのラッチ回路
１２のクロック入力端子に供給される。
【００１２】一方、第１信号線Ｃ１ 〜Ｃ８ の各々に
導出された誘導電圧は、８入力ＯＲゲート１８に供給さ
れ、第１信号線Ｃ９ 〜Ｃ１６の各々に導出された誘導
電圧は、８入力ＯＲゲート１９に供給される。また、第
２信号線Ｌ１ 〜Ｌ８ の各々に導出された誘導電圧は
、８入力ＯＲゲート２１に供給され、第２信号線Ｌ９
〜Ｌ１６の各々に導出された誘導電圧は、８入力ＯＲゲ
ート２２に供給される。８入力ＯＲゲート１８、１９の
各出力は、２入力ＯＲゲート２３及び２４を介してダイ
オードＤ、抵抗Ｒ３３及びコンデンサＣからなる時定数
回路２５に供給される。また、８入力ＯＲゲート２１、
２２の各出力は、２入力ＯＲゲート２７及び２４を介し
て時定数回路２５に供給される。
導出された誘導電圧は、８入力ＯＲゲート１８に供給さ
れ、第１信号線Ｃ９ 〜Ｃ１６の各々に導出された誘導
電圧は、８入力ＯＲゲート１９に供給される。また、第
２信号線Ｌ１ 〜Ｌ８ の各々に導出された誘導電圧は
、８入力ＯＲゲート２１に供給され、第２信号線Ｌ９
〜Ｌ１６の各々に導出された誘導電圧は、８入力ＯＲゲ
ート２２に供給される。８入力ＯＲゲート１８、１９の
各出力は、２入力ＯＲゲート２３及び２４を介してダイ
オードＤ、抵抗Ｒ３３及びコンデンサＣからなる時定数
回路２５に供給される。また、８入力ＯＲゲート２１、
２２の各出力は、２入力ＯＲゲート２７及び２４を介し
て時定数回路２５に供給される。
【００１３】時定数回路２５の出力は、マイクロコンピ
ュータ１５にレディ信号ｄとして供給されると共にＡＮ
Ｄゲート２８の一方の入力端子に供給され、かつディレ
イ回路２９によって時間Ｔ２ だけ遅延される。ディレ
イ回路２９の出力は、インバータ３０を介してＡＮＤゲ
ート２８の他方の入力端子に供給される。ＡＮＤゲート
２８の出力は、マイクロコンピュータ１５にインタラプ
ト信号ｅとして供給される。
ュータ１５にレディ信号ｄとして供給されると共にＡＮ
Ｄゲート２８の一方の入力端子に供給され、かつディレ
イ回路２９によって時間Ｔ２ だけ遅延される。ディレ
イ回路２９の出力は、インバータ３０を介してＡＮＤゲ
ート２８の他方の入力端子に供給される。ＡＮＤゲート
２８の出力は、マイクロコンピュータ１５にインタラプ
ト信号ｅとして供給される。
【００１４】マイクロコンピュータ１５は、プロセッサ
、ＲＯＭ、ＲＡＭ、入出力ポート等からなり、データ入
力ａをＲＯＭに予め格納されているプログラムに従って
処理してタッチセンサパネルに接触した状態で移動する
ユーザの指の描くパターンに対応する文字または図形を
判別する。以上の構成における各部の動作を図３に示す
タイムチャート並びに図４乃至図７に示すフローチャー
トを参照して説明する。図３（ａ）は、第１及び第２信
号線Ｃ１ 〜Ｃ１６及びＬ１ 〜Ｌ１６に導出される誘
導電圧の波形図、同図（ｂ）は、フリップフロップＦＸ
１ 〜ＦＸ１６及びＦＹ１ 〜ＦＹ１６のＱ出力の波形
図、同図（ｃ）は、ＯＲゲート２４の出力の波形図、同
図（ｄ）は、時定数回路２５から出力されるレディ信号
ｄの出力の波形図、同図（ｅ）は、ディレイ回路２９の
出力の波形図、同図（ｆ）は、インバータ３０の出力の
波形図、同図（ｇ）は、ＡＮＤゲート２８から出力され
るインタラプト信号ｅの波形図、同図（ｈ）は、セレク
ト信号ｂの波形図、同図（ｉ）は、ラッチパルスｃの波
形図、同図（ｊ）は、ラッチ回路１６の出力の波形図、
同図（ｋ）は、ディレイ回路１７の出力の波形図、同図
（ｌ）は、信号選択回路１１の出力の波形図、同図（ｍ
）は、ラッチ回路１２の出力の波形図である。
、ＲＯＭ、ＲＡＭ、入出力ポート等からなり、データ入
力ａをＲＯＭに予め格納されているプログラムに従って
処理してタッチセンサパネルに接触した状態で移動する
ユーザの指の描くパターンに対応する文字または図形を
判別する。以上の構成における各部の動作を図３に示す
タイムチャート並びに図４乃至図７に示すフローチャー
トを参照して説明する。図３（ａ）は、第１及び第２信
号線Ｃ１ 〜Ｃ１６及びＬ１ 〜Ｌ１６に導出される誘
導電圧の波形図、同図（ｂ）は、フリップフロップＦＸ
１ 〜ＦＸ１６及びＦＹ１ 〜ＦＹ１６のＱ出力の波形
図、同図（ｃ）は、ＯＲゲート２４の出力の波形図、同
図（ｄ）は、時定数回路２５から出力されるレディ信号
ｄの出力の波形図、同図（ｅ）は、ディレイ回路２９の
出力の波形図、同図（ｆ）は、インバータ３０の出力の
波形図、同図（ｇ）は、ＡＮＤゲート２８から出力され
るインタラプト信号ｅの波形図、同図（ｈ）は、セレク
ト信号ｂの波形図、同図（ｉ）は、ラッチパルスｃの波
形図、同図（ｊ）は、ラッチ回路１６の出力の波形図、
同図（ｋ）は、ディレイ回路１７の出力の波形図、同図
（ｌ）は、信号選択回路１１の出力の波形図、同図（ｍ
）は、ラッチ回路１２の出力の波形図である。
【００１５】時刻ｔ１ において、ユーザの指が図１の
タッチセンサパネルにおける丸印αで囲まれた部分に接
触すると、人体の５０／６０Ｈｚ電源誘導により第１信
号線Ｃ１ 〜Ｃ１６のうちのＣ１２〜Ｃ１４及び第２信
号線Ｌ１ 〜Ｌ１６のうちのＬ１１〜Ｌ１３に５０Ｈｚ
又は６０Ｈｚの交流電圧が発生する。この交流電圧の正
の半サイクルにおいて、フリップフロップＦＸ１２〜Ｆ
Ｘ１４及びフリップフロップＦＹ１１〜ＦＹ１３の各々
のセット入力端子の電圧がスレショールドレベルＶｔｈ
以上となってこれらフリップフロップＦＸ１２〜ＦＸ１
４及びフリップフロップＦＹ１１〜ＦＹ１３がセット状
態となり、Ｑ出力が高レベルとなる。また、それと同時
に２入力ＯＲゲート２４の出力が高レベルになる。２入
力ＯＲゲート２４の出力が高レベルになると、時定数回
路２５の出力は、ほぼ瞬時に高レベルになり、タッチセ
ンサパネルにユーザの指が接触していることを示す高レ
ベルのレディ信号ｄがマイクロコンピュータ１５に供給
される。２入力ＯＲゲート２４の出力が低レベルになる
と、時定数回路２５の出力は、コンデンサＣ及び抵抗Ｒ
３２によって定まる時定数に応じた時間に亘って徐々に
低レベルに変化する。
タッチセンサパネルにおける丸印αで囲まれた部分に接
触すると、人体の５０／６０Ｈｚ電源誘導により第１信
号線Ｃ１ 〜Ｃ１６のうちのＣ１２〜Ｃ１４及び第２信
号線Ｌ１ 〜Ｌ１６のうちのＬ１１〜Ｌ１３に５０Ｈｚ
又は６０Ｈｚの交流電圧が発生する。この交流電圧の正
の半サイクルにおいて、フリップフロップＦＸ１２〜Ｆ
Ｘ１４及びフリップフロップＦＹ１１〜ＦＹ１３の各々
のセット入力端子の電圧がスレショールドレベルＶｔｈ
以上となってこれらフリップフロップＦＸ１２〜ＦＸ１
４及びフリップフロップＦＹ１１〜ＦＹ１３がセット状
態となり、Ｑ出力が高レベルとなる。また、それと同時
に２入力ＯＲゲート２４の出力が高レベルになる。２入
力ＯＲゲート２４の出力が高レベルになると、時定数回
路２５の出力は、ほぼ瞬時に高レベルになり、タッチセ
ンサパネルにユーザの指が接触していることを示す高レ
ベルのレディ信号ｄがマイクロコンピュータ１５に供給
される。２入力ＯＲゲート２４の出力が低レベルになる
と、時定数回路２５の出力は、コンデンサＣ及び抵抗Ｒ
３２によって定まる時定数に応じた時間に亘って徐々に
低レベルに変化する。
【００１６】レディ信号ｄは、ディレイ回路２９によっ
て時間Ｔ２ だけ遅延されたのちインバータ３０を介し
てＡＮＤゲート２８の他方の入力端子に供給され、ＡＮ
Ｄゲート２８の一方の入力端子にそのまま供給されてい
るレディ信号ｄとの論理積がとられる。そうすると、Ａ
ＮＤゲート２８からレディ信号ｄの立ち上がりに同期し
て時間幅Ｔ２ のパルスが出力され、インタラプト信号
ｅとしてマイクロコンピュータ１５に供給される。
て時間Ｔ２ だけ遅延されたのちインバータ３０を介し
てＡＮＤゲート２８の他方の入力端子に供給され、ＡＮ
Ｄゲート２８の一方の入力端子にそのまま供給されてい
るレディ信号ｄとの論理積がとられる。そうすると、Ａ
ＮＤゲート２８からレディ信号ｄの立ち上がりに同期し
て時間幅Ｔ２ のパルスが出力され、インタラプト信号
ｅとしてマイクロコンピュータ１５に供給される。
【００１７】そうすると、マイクロコンピュータ１５に
おいて、図３及び図４に示すサブルーチンの実行が開始
される。すなわち、インタラプト信号ｅに応答してプロ
セッサは、先頭フラグをオンにし、タッチフラグをオフ
にして初期設定をなす（ステップＳ１）。次いで、プロ
セッサは、レディ信号ｄを取り込む動作を行い（ステッ
プＳ２）、レディ信号ｄが存在するか否かを判定する（
ステップＳ３）。ステップＳ３において、レディ信号ｄ
が存在しないと判定されたときは、プロセッサは後述す
るステップＳ１２に移行する。ステップＳ３において、
レディ信号ｄが存在すると判定されたときは、プロセッ
サはタッチフラグをセットし（ステップＳ４）、データ
読取処理ルーチンを実行する（ステップＳ５）。
おいて、図３及び図４に示すサブルーチンの実行が開始
される。すなわち、インタラプト信号ｅに応答してプロ
セッサは、先頭フラグをオンにし、タッチフラグをオフ
にして初期設定をなす（ステップＳ１）。次いで、プロ
セッサは、レディ信号ｄを取り込む動作を行い（ステッ
プＳ２）、レディ信号ｄが存在するか否かを判定する（
ステップＳ３）。ステップＳ３において、レディ信号ｄ
が存在しないと判定されたときは、プロセッサは後述す
るステップＳ１２に移行する。ステップＳ３において、
レディ信号ｄが存在すると判定されたときは、プロセッ
サはタッチフラグをセットし（ステップＳ４）、データ
読取処理ルーチンを実行する（ステップＳ５）。
【００１８】データ読取処理ルーチンにおいては、図６
及び図７に示すようにプロセッサは高レベルのセレクト
信号ｂ及びラッチパルスｃを送出する（ステップＳ３１
）。このステップＳ３１によってラッチパルスｃが出力
された時（時刻ｔ２ ）、１ビットラッチ回路１６に高
レベルのセレクト信号ｂが保持され、信号選択回路１１
に高レベルの制御信号が供給されて信号選択回路１１か
ら１６ビットのラッチ回路１２にフリップフロップＦＸ
１ 〜ＦＸ１６のＱ出力が選択的に供給されるようにな
る。また、ラッチパルスｃは、ディレイ回路１７によっ
て時間Ｔ１ だけ遅延されて１６ビットのラッチ回路１
２のクロック入力端子に供給されるので、時刻ｔ２ か
ら時間Ｔ１ 後の時点においてフリップフロップＦＸ１
〜ＦＸ１６のＱ出力が１６ビットのラッチ回路１２に
保持されてＸ方向における指の接触位置を表すデータを
形成するビットとしてマイクロコンピュータ１５に供給
される。
及び図７に示すようにプロセッサは高レベルのセレクト
信号ｂ及びラッチパルスｃを送出する（ステップＳ３１
）。このステップＳ３１によってラッチパルスｃが出力
された時（時刻ｔ２ ）、１ビットラッチ回路１６に高
レベルのセレクト信号ｂが保持され、信号選択回路１１
に高レベルの制御信号が供給されて信号選択回路１１か
ら１６ビットのラッチ回路１２にフリップフロップＦＸ
１ 〜ＦＸ１６のＱ出力が選択的に供給されるようにな
る。また、ラッチパルスｃは、ディレイ回路１７によっ
て時間Ｔ１ だけ遅延されて１６ビットのラッチ回路１
２のクロック入力端子に供給されるので、時刻ｔ２ か
ら時間Ｔ１ 後の時点においてフリップフロップＦＸ１
〜ＦＸ１６のＱ出力が１６ビットのラッチ回路１２に
保持されてＸ方向における指の接触位置を表すデータを
形成するビットとしてマイクロコンピュータ１５に供給
される。
【００１９】マイクロコンピュータ１５のプロセッサは
、ステップＳ３１の実行後、Ｘ方向における指の接触位
置を表すデータを取り込み（ステップＳ３２）、取り込
んだデータに連続して“１”（高レベル）になっている
複数のビットが存在するか否かを判定する（ステップＳ
３３）。ステップＳ３３において、上記複数のビットが
存在しないと判定されたときは、プロセッサは後述する
ステップＳ６６に移行する。ステップＳ３３において、
上記複数のビットが存在すると判定されたときは、プロ
セッサは変数Ｓを上記複数のビットの最下位ビットを表
す値に設定し、変数Ｅを上記複数のビットの最上位ビッ
トを表す値に設定し、変数Ｋを（Ｅ−Ｓ＋１）に設定す
る（ステップＳ３４）。
、ステップＳ３１の実行後、Ｘ方向における指の接触位
置を表すデータを取り込み（ステップＳ３２）、取り込
んだデータに連続して“１”（高レベル）になっている
複数のビットが存在するか否かを判定する（ステップＳ
３３）。ステップＳ３３において、上記複数のビットが
存在しないと判定されたときは、プロセッサは後述する
ステップＳ６６に移行する。ステップＳ３３において、
上記複数のビットが存在すると判定されたときは、プロ
セッサは変数Ｓを上記複数のビットの最下位ビットを表
す値に設定し、変数Ｅを上記複数のビットの最上位ビッ
トを表す値に設定し、変数Ｋを（Ｅ−Ｓ＋１）に設定す
る（ステップＳ３４）。
【００２０】ステップＳ３４の実行後、プロセッサは変
数Ｋが２〜６の各々に等しいか否かを順次判定する（ス
テップＳ３５〜Ｓ３９）。ここで、Ｘ方向における指の
接触位置を表すデータを形成する１６個のビットの各々
に対応する位置の評価値をそれぞれＸ［１］〜Ｘ［１６
］とする。ステップＳ３５〜Ｓ３９において、変数Ｋが
２に等しいと判定されたときは、プロセッサはＸ［Ｓ］
を４に設定し、Ｘ［Ｓ＋１］を４に設定する（ステップ
Ｓ４０）。変数Ｋが３に等しいと判定されたときは、プ
ロセッサはＸ［Ｓ］及びＸ［Ｓ＋２］を４に設定し、Ｘ
［Ｓ＋１］を８に設定する（ステップＳ４１）。 変数Ｋが４に等しいと判定されたときは、プロセッサは
Ｘ［Ｓ］及びＸ［Ｓ＋３］を２に設定し、Ｘ［Ｓ＋１］
及びＸ［Ｓ＋２］を４に設定する（ステップＳ４２）。 変数Ｋが５に等しいと判定されたときは、プロセッサは
Ｘ［Ｓ］及びＸ［Ｓ＋４］を２に設定し、Ｘ［Ｓ＋１］
及びＸ［Ｓ＋３］を４に設定し、Ｘ［Ｓ＋２］を８に設
定する（ステップＳ４３）。変数Ｋが６に等しいと判定
されたときは、プロセッサはＸ［Ｓ］及びＸ［Ｓ＋５］
を１に設定し、Ｘ［Ｓ＋１］及びＸ［Ｓ＋４］を２に設
定し、Ｘ［Ｓ＋２］及びＸ［Ｓ＋３］を４に設定する（
ステップＳ４４）。
数Ｋが２〜６の各々に等しいか否かを順次判定する（ス
テップＳ３５〜Ｓ３９）。ここで、Ｘ方向における指の
接触位置を表すデータを形成する１６個のビットの各々
に対応する位置の評価値をそれぞれＸ［１］〜Ｘ［１６
］とする。ステップＳ３５〜Ｓ３９において、変数Ｋが
２に等しいと判定されたときは、プロセッサはＸ［Ｓ］
を４に設定し、Ｘ［Ｓ＋１］を４に設定する（ステップ
Ｓ４０）。変数Ｋが３に等しいと判定されたときは、プ
ロセッサはＸ［Ｓ］及びＸ［Ｓ＋２］を４に設定し、Ｘ
［Ｓ＋１］を８に設定する（ステップＳ４１）。 変数Ｋが４に等しいと判定されたときは、プロセッサは
Ｘ［Ｓ］及びＸ［Ｓ＋３］を２に設定し、Ｘ［Ｓ＋１］
及びＸ［Ｓ＋２］を４に設定する（ステップＳ４２）。 変数Ｋが５に等しいと判定されたときは、プロセッサは
Ｘ［Ｓ］及びＸ［Ｓ＋４］を２に設定し、Ｘ［Ｓ＋１］
及びＸ［Ｓ＋３］を４に設定し、Ｘ［Ｓ＋２］を８に設
定する（ステップＳ４３）。変数Ｋが６に等しいと判定
されたときは、プロセッサはＸ［Ｓ］及びＸ［Ｓ＋５］
を１に設定し、Ｘ［Ｓ＋１］及びＸ［Ｓ＋４］を２に設
定し、Ｘ［Ｓ＋２］及びＸ［Ｓ＋３］を４に設定する（
ステップＳ４４）。
【００２１】変数Ｋが２〜６のいずれにも等しくないと
判定されたとき又はステップＳ４０〜Ｓ４４のうちのい
ずれかの実行後、プロセッサは低レベルのセレクト信号
ｂ及びラッチパルスｃを送出する（ステップＳ４５）。 ステップＳ４５によってラッチパルスｃが出力された時
（時刻ｔ３ ）、１ビットラッチ回路１６に低レベルの
セレクト信号ｂが保持され、信号選択回路１１に低レベ
ルの制御信号が供給されて信号選択回路１１から１６ビ
ットのラッチ回路１２にフリップフロップＦＹ１ 〜Ｆ
Ｙ１６のＱ出力が選択的に供給されるようになる。また
、ラッチパルスｃは、ディレイ回路１７によって時間Ｔ
１ だけ遅延されて１６ビットのラッチ回路１２のクロ
ック入力端子に供給されるので、時刻ｔ３ から時間Ｔ
１ 後の時点においてフリップフロップＦＹ１ 〜ＦＹ
１６のＱ出力が１６ビットのラッチ回路１２に保持され
てＹ方向における指の接触位置を表すデータを形成する
ビットとしてマイクロコンピュータ１５に供給される。
判定されたとき又はステップＳ４０〜Ｓ４４のうちのい
ずれかの実行後、プロセッサは低レベルのセレクト信号
ｂ及びラッチパルスｃを送出する（ステップＳ４５）。 ステップＳ４５によってラッチパルスｃが出力された時
（時刻ｔ３ ）、１ビットラッチ回路１６に低レベルの
セレクト信号ｂが保持され、信号選択回路１１に低レベ
ルの制御信号が供給されて信号選択回路１１から１６ビ
ットのラッチ回路１２にフリップフロップＦＹ１ 〜Ｆ
Ｙ１６のＱ出力が選択的に供給されるようになる。また
、ラッチパルスｃは、ディレイ回路１７によって時間Ｔ
１ だけ遅延されて１６ビットのラッチ回路１２のクロ
ック入力端子に供給されるので、時刻ｔ３ から時間Ｔ
１ 後の時点においてフリップフロップＦＹ１ 〜ＦＹ
１６のＱ出力が１６ビットのラッチ回路１２に保持され
てＹ方向における指の接触位置を表すデータを形成する
ビットとしてマイクロコンピュータ１５に供給される。
【００２２】マイクロコンピュータ１５のプロセッサは
、ステップＳ４５の実行後、Ｙ方向における指の接触位
置を表すデータを取り込み（ステップＳ４６）、取り込
んだデータに連続して“１”（高レベル）になっている
複数のビットが存在するか否かを判定する（ステップＳ
４７）。ステップＳ４７において、上記複数のビットが
存在しないと判定されたときは、プロセッサは後述する
ステップＳ６６に移行する。ステップＳ４７において、
上記複数のビットが存在すると判定されたときは、プロ
セッサは変数Ｓを上記複数のビットの最下位ビットを表
す値に設定し、変数Ｅを上記複数のビットの最上位ビッ
トを表す値に設定し、変数Ｋを（Ｅ−Ｓ＋１）に設定す
る（ステップＳ４８）。
、ステップＳ４５の実行後、Ｙ方向における指の接触位
置を表すデータを取り込み（ステップＳ４６）、取り込
んだデータに連続して“１”（高レベル）になっている
複数のビットが存在するか否かを判定する（ステップＳ
４７）。ステップＳ４７において、上記複数のビットが
存在しないと判定されたときは、プロセッサは後述する
ステップＳ６６に移行する。ステップＳ４７において、
上記複数のビットが存在すると判定されたときは、プロ
セッサは変数Ｓを上記複数のビットの最下位ビットを表
す値に設定し、変数Ｅを上記複数のビットの最上位ビッ
トを表す値に設定し、変数Ｋを（Ｅ−Ｓ＋１）に設定す
る（ステップＳ４８）。
【００２３】ステップＳ４８の実行後、プロセッサは変
数Ｋが２〜６の各々に等しいか否かを順次判定する（ス
テップＳ４９〜Ｓ５３）。ここで、Ｙ方向における指の
接触位置を表すデータを形成する１６個のビットの各々
に対応する位置の評価値をそれぞれＹ［１］〜Ｙ［１６
］とする。ステップＳ４９〜Ｓ５３において、変数Ｋが
２に等しいと判定されたときは、プロセッサはＹ［Ｓ］
を４に設定し、Ｙ［Ｓ＋１］を４に設定する（ステップ
Ｓ５４）。変数Ｋが３に等しいと判定されたときは、プ
ロセッサはＹ［Ｓ］及びＹ［Ｓ＋２］を４に設定し、Ｙ
［Ｓ＋１］を８に設定する（ステップＳ５５）。 変数Ｋが４に等しいと判定されたときは、プロセッサは
Ｙ［Ｓ］及びＹ［Ｓ＋３］を２に設定し、Ｙ［Ｓ＋１］
及びＹ［Ｓ＋２］を４に設定する（ステップＳ５６）。 変数Ｋが５に等しいと判定されたときは、プロセッサは
Ｙ［Ｓ］及びＹ［Ｓ＋４］を２に設定し、Ｙ［Ｓ＋１］
及びＹ［Ｓ＋３］を４に設定し、Ｙ［Ｓ＋２］を８に設
定する（ステップＳ５７）。変数Ｋが６に等しいと判定
されたときは、プロセッサはＹ［Ｓ］及びＹ［Ｓ＋５］
を１に設定し、Ｙ［Ｓ＋１］及びＹ［Ｓ＋４］を２に設
定し、Ｙ［Ｓ＋２］及びＹ［Ｓ＋３］を４に設定する（
ステップＳ５８）。
数Ｋが２〜６の各々に等しいか否かを順次判定する（ス
テップＳ４９〜Ｓ５３）。ここで、Ｙ方向における指の
接触位置を表すデータを形成する１６個のビットの各々
に対応する位置の評価値をそれぞれＹ［１］〜Ｙ［１６
］とする。ステップＳ４９〜Ｓ５３において、変数Ｋが
２に等しいと判定されたときは、プロセッサはＹ［Ｓ］
を４に設定し、Ｙ［Ｓ＋１］を４に設定する（ステップ
Ｓ５４）。変数Ｋが３に等しいと判定されたときは、プ
ロセッサはＹ［Ｓ］及びＹ［Ｓ＋２］を４に設定し、Ｙ
［Ｓ＋１］を８に設定する（ステップＳ５５）。 変数Ｋが４に等しいと判定されたときは、プロセッサは
Ｙ［Ｓ］及びＹ［Ｓ＋３］を２に設定し、Ｙ［Ｓ＋１］
及びＹ［Ｓ＋２］を４に設定する（ステップＳ５６）。 変数Ｋが５に等しいと判定されたときは、プロセッサは
Ｙ［Ｓ］及びＹ［Ｓ＋４］を２に設定し、Ｙ［Ｓ＋１］
及びＹ［Ｓ＋３］を４に設定し、Ｙ［Ｓ＋２］を８に設
定する（ステップＳ５７）。変数Ｋが６に等しいと判定
されたときは、プロセッサはＹ［Ｓ］及びＹ［Ｓ＋５］
を１に設定し、Ｙ［Ｓ＋１］及びＹ［Ｓ＋４］を２に設
定し、Ｙ［Ｓ＋２］及びＹ［Ｓ＋３］を４に設定する（
ステップＳ５８）。
【００２４】変数Ｋが２〜６のいずれにも等しくないと
判定されたとき又はステップＳ５４〜Ｓ５８のうちのい
ずれかの実行後、プロセッサはＮ及びＭを１に設定し（
ステップＳ５９）、Ｎが１６より大であるか否かを判定
する（ステップＳ６０）。ステップＳ６０においてＮが
１６より大であると判定されたときは、プロセッサはリ
セット信号ｆを送出し（ステップＳ６６）、データ読取
処理ルーチンの実行を終了する。ステップＳ６０におい
てＮが１６より大でないと判定されたときは、プロセッ
サはＭが１６より大であるか否かを判定する（ステップ
Ｓ６１）。ステップＳ６１おいてＭが１６より大でない
と判定されたときは、プロセッサはデータ［Ｎ］［Ｍ］
をＸ［Ｎ］×Ｙ［Ｍ］とする（ステップＳ６２）。
判定されたとき又はステップＳ５４〜Ｓ５８のうちのい
ずれかの実行後、プロセッサはＮ及びＭを１に設定し（
ステップＳ５９）、Ｎが１６より大であるか否かを判定
する（ステップＳ６０）。ステップＳ６０においてＮが
１６より大であると判定されたときは、プロセッサはリ
セット信号ｆを送出し（ステップＳ６６）、データ読取
処理ルーチンの実行を終了する。ステップＳ６０におい
てＮが１６より大でないと判定されたときは、プロセッ
サはＭが１６より大であるか否かを判定する（ステップ
Ｓ６１）。ステップＳ６１おいてＭが１６より大でない
と判定されたときは、プロセッサはデータ［Ｎ］［Ｍ］
をＸ［Ｎ］×Ｙ［Ｍ］とする（ステップＳ６２）。
【００２５】尚、データ［Ｎ］［Ｍ］は、図１に示すタ
ッチセンサパネル上の各位置の総合評価値である。ステ
ップＳ６２の実行後、プロセッサはＭに１を加算し（ス
テップＳ６３）、ステップＳ６１に移行する。ステップ
Ｓ６１おいてＭが１６より大であると判定されたときは
、プロセッサはＭを１に設定し（ステップＳ６４）、Ｎ
に１を加算し（ステップＳ６５）、ステップＳ６０に移
行する。
ッチセンサパネル上の各位置の総合評価値である。ステ
ップＳ６２の実行後、プロセッサはＭに１を加算し（ス
テップＳ６３）、ステップＳ６１に移行する。ステップ
Ｓ６１おいてＭが１６より大であると判定されたときは
、プロセッサはＭを１に設定し（ステップＳ６４）、Ｎ
に１を加算し（ステップＳ６５）、ステップＳ６０に移
行する。
【００２６】以上のデータ読取処理ルーチンによって、
例えば第１信号線Ｃ１２〜Ｃ１４及び第２信号線Ｌ１１
〜Ｌ１３に交流電圧が発生した場合には、Ｘ［１２］＝
４、Ｘ［１３］＝８、Ｘ［１４］＝４となり、また、Ｙ
［１１］＝４、Ｙ［１２］＝８、Ｙ［１３］＝４となる
ので、図８に示すような総合評価値による接触分布が得
られる。
例えば第１信号線Ｃ１２〜Ｃ１４及び第２信号線Ｌ１１
〜Ｌ１３に交流電圧が発生した場合には、Ｘ［１２］＝
４、Ｘ［１３］＝８、Ｘ［１４］＝４となり、また、Ｙ
［１１］＝４、Ｙ［１２］＝８、Ｙ［１３］＝４となる
ので、図８に示すような総合評価値による接触分布が得
られる。
【００２７】ステップＳ５の実行後、プロセッサはデー
タ読取処理ルーチンによって得られたタッチセンサパネ
ル上の各位置の総合評価値を示すデータをＲＡＭの所定
領域に転送する。そして、総合評価値が既に記憶されて
いる場合には既に記憶されている値と新たに得られた値
のうちの大なる一方を記憶する（ステップＳ６）。この
のち、プロセッサは先頭フラグがオンか否かを判定する
（ステップＳ７）。ステップＳ７において先頭フラグが
オンであると判定されたときは、プロセッサは計数値（
ａ） に１を加算し（ステップＳ８）、接触面の中心位
置を先頭位置としてＲＡＭに記憶する（ステップＳ９）
。 ステップＳ７において先頭フラグがオンでないと判定さ
れたときは、プロセッサは接触面の中心位置の今回値と
前回値との差をＲＡＭに記憶する（ステップＳ１０）。 ステップＳ９又はＳ１０の実行後、プロセッサは先頭フ
ラグをオフにし（ステップＳ１２）、ステップＳ２に移
行する。
タ読取処理ルーチンによって得られたタッチセンサパネ
ル上の各位置の総合評価値を示すデータをＲＡＭの所定
領域に転送する。そして、総合評価値が既に記憶されて
いる場合には既に記憶されている値と新たに得られた値
のうちの大なる一方を記憶する（ステップＳ６）。この
のち、プロセッサは先頭フラグがオンか否かを判定する
（ステップＳ７）。ステップＳ７において先頭フラグが
オンであると判定されたときは、プロセッサは計数値（
ａ） に１を加算し（ステップＳ８）、接触面の中心位
置を先頭位置としてＲＡＭに記憶する（ステップＳ９）
。 ステップＳ７において先頭フラグがオンでないと判定さ
れたときは、プロセッサは接触面の中心位置の今回値と
前回値との差をＲＡＭに記憶する（ステップＳ１０）。 ステップＳ９又はＳ１０の実行後、プロセッサは先頭フ
ラグをオフにし（ステップＳ１２）、ステップＳ２に移
行する。
【００２８】ステップＳ８によってカウントアップする
計数値（ａ） は、文字の要素数をあらわす値であり、
例えば“は”の要素数は３である。また、ステップＳ９
又はＳ１０において、接触面の中心位置は、（接触面の
一端の位置に対応する値＋接触面の他端の位置に対応す
る値）／２という式によって得られる値の小数点以下を
切り捨てて得られる値に対応する位置である。すなわち
、例えば第１信号線Ｃ１２〜Ｃ１４及び第２信号線Ｌ１
１〜Ｌ１３に交流電圧が発生した場合には、Ｘ方向にお
ける接触面の中心位置は、（１２＋１４）／２＝１３か
らＣ１３に対応する位置であり、Ｙ方向における接触面
の中心位置は、（１１＋１３）／２＝１２からＬ１２に
対応する位置となる。
計数値（ａ） は、文字の要素数をあらわす値であり、
例えば“は”の要素数は３である。また、ステップＳ９
又はＳ１０において、接触面の中心位置は、（接触面の
一端の位置に対応する値＋接触面の他端の位置に対応す
る値）／２という式によって得られる値の小数点以下を
切り捨てて得られる値に対応する位置である。すなわち
、例えば第１信号線Ｃ１２〜Ｃ１４及び第２信号線Ｌ１
１〜Ｌ１３に交流電圧が発生した場合には、Ｘ方向にお
ける接触面の中心位置は、（１２＋１４）／２＝１３か
らＣ１３に対応する位置であり、Ｙ方向における接触面
の中心位置は、（１１＋１３）／２＝１２からＬ１２に
対応する位置となる。
【００２９】ステップＳ３においてレディ信号ｄが存在
しないと判定されたときは、プロセッサは計数値（ｂ）
に１を加算し（ステップＳ１２）、計数値（ｂ） が
Ａより大であるか否かを判定する（ステップＳ１３）。 ステップＳ１３において計数値（ｂ） がＡより大でな
いと判定されたときは、プロセッサは計数値（ｂ） が
Ｂより大であるか否かを判定する（ステップＳ１４）。 ステップＳ１４において計数値（ｂ） がＢより大であ
ると判定されたときは、プロセッサは先頭フラグをオン
にし（ステップＳ１５）、ステップＳ２に移行する。ス
テップＳ１４において計数値（ｂ） がＢより大でない
と判定されたときは、プロセッサは直ちにステップＳ２
に移行する。また、ステップＳ１３において計数値（ｂ
） がＡより大であると判定されたときは、プロセッサ
はタッチフラグがオンであるか否かを判定する（ステッ
プＳ１６）。
しないと判定されたときは、プロセッサは計数値（ｂ）
に１を加算し（ステップＳ１２）、計数値（ｂ） が
Ａより大であるか否かを判定する（ステップＳ１３）。 ステップＳ１３において計数値（ｂ） がＡより大でな
いと判定されたときは、プロセッサは計数値（ｂ） が
Ｂより大であるか否かを判定する（ステップＳ１４）。 ステップＳ１４において計数値（ｂ） がＢより大であ
ると判定されたときは、プロセッサは先頭フラグをオン
にし（ステップＳ１５）、ステップＳ２に移行する。ス
テップＳ１４において計数値（ｂ） がＢより大でない
と判定されたときは、プロセッサは直ちにステップＳ２
に移行する。また、ステップＳ１３において計数値（ｂ
） がＡより大であると判定されたときは、プロセッサ
はタッチフラグがオンであるか否かを判定する（ステッ
プＳ１６）。
【００３０】ステップＳ１２によってカウントアップす
る計数値（ｂ） は、ユーザの指がタッチセンサパネル
に接触している時間を表す値であり、ステップＳ１３及
びＳ１４においては（ｂ） ＞Ａであれば長時間指入力
がなく一文字の入力が終了したとみなし、Ａ＞（ｂ）
＞Ｂであれば一文字の中での要素間の移動があったとみ
なし、Ｂ＞（ｂ） であれば一瞬指が離れた場合でも継
続して指が接触しているとみなしているのである。
る計数値（ｂ） は、ユーザの指がタッチセンサパネル
に接触している時間を表す値であり、ステップＳ１３及
びＳ１４においては（ｂ） ＞Ａであれば長時間指入力
がなく一文字の入力が終了したとみなし、Ａ＞（ｂ）
＞Ｂであれば一文字の中での要素間の移動があったとみ
なし、Ｂ＞（ｂ） であれば一瞬指が離れた場合でも継
続して指が接触しているとみなしているのである。
【００３１】以上のステップＳ１〜Ｓ１５によって図９
に示すような指の接触位置の中心の軌跡のパターン及び
図１０に示すような総合評価値による接触分布がＲＡＭ
に記憶される。ステップＳ１６においてタッチフラグが
オンでないと判定されたときは、プロセッサはステップ
Ｓ１に移行する直前に実行していたルーチンの実行を再
開する。ステップＳ１６においてタッチフラグがオンで
あると判定されたときは、プロセッサはＲＡＭ内のアド
レスを示すポインタと称される数値を初期設定して入力
パターンの最初の要素が記憶されているアドレスに対応
する値にし（ステップＳ１７）、ＲＯＭに予め記憶され
ている全ての基準パターンの各々の先頭位置をポインタ
によって示されているアドレスに記憶されている入力パ
ターンの先頭位置に合わせたときの基準パターンの終了
位置及び移動方向を計算し（ステップＳ１８）、ＲＯＭ
に予め記憶されている全ての基準パターンのうちのステ
ップＳ１８によって計算して得られた終了位置が入力パ
ターンの終了位置に一致するパターンを選択して第１候
補パターン群を形成し（ステップＳ１９）、ＲＯＭに予
め記憶されている全ての基準パターンのうちのステップ
Ｓ１８によって計算して得られた移動方向が入力パター
ンの移動方向に一致するパターンを選択して第２候補パ
ターン群を形成する（ステップＳ２０）。こののち、プ
ロセッサは第１候補パターン群及び第２候補パターン群
の双方に属する基準パターンを選択して第３候補パター
ン群を形成し、第３候補パターン群の各々について入力
パターンとのデータの重ね合わせ行って適合率を計算す
る（ステップＳ２１）。
に示すような指の接触位置の中心の軌跡のパターン及び
図１０に示すような総合評価値による接触分布がＲＡＭ
に記憶される。ステップＳ１６においてタッチフラグが
オンでないと判定されたときは、プロセッサはステップ
Ｓ１に移行する直前に実行していたルーチンの実行を再
開する。ステップＳ１６においてタッチフラグがオンで
あると判定されたときは、プロセッサはＲＡＭ内のアド
レスを示すポインタと称される数値を初期設定して入力
パターンの最初の要素が記憶されているアドレスに対応
する値にし（ステップＳ１７）、ＲＯＭに予め記憶され
ている全ての基準パターンの各々の先頭位置をポインタ
によって示されているアドレスに記憶されている入力パ
ターンの先頭位置に合わせたときの基準パターンの終了
位置及び移動方向を計算し（ステップＳ１８）、ＲＯＭ
に予め記憶されている全ての基準パターンのうちのステ
ップＳ１８によって計算して得られた終了位置が入力パ
ターンの終了位置に一致するパターンを選択して第１候
補パターン群を形成し（ステップＳ１９）、ＲＯＭに予
め記憶されている全ての基準パターンのうちのステップ
Ｓ１８によって計算して得られた移動方向が入力パター
ンの移動方向に一致するパターンを選択して第２候補パ
ターン群を形成する（ステップＳ２０）。こののち、プ
ロセッサは第１候補パターン群及び第２候補パターン群
の双方に属する基準パターンを選択して第３候補パター
ン群を形成し、第３候補パターン群の各々について入力
パターンとのデータの重ね合わせ行って適合率を計算す
る（ステップＳ２１）。
【００３２】ステップＳ２１において、入力パターンと
基準パターンとの適合率は、両パターンの先頭位置の位
置合わせを行った後に対応する位置同士の評価値を掛け
合わせて得られた値の総和と基準パターンの各位置の評
価値の２乗の総和との比である。すなわち、例えば“は
”という文字の左の部分の入力パターンとして図１１（
ａ）に示すような指の接触位置の中心の軌跡のパターン
が得られた場合、この入力パターンと図１１（ｂ）に示
すような基準パターンとの適合率は、〇印の評価値を８
とすれば、８×８×６／８×８×９＝６７％である。尚
、図１１において破線は、対応する位置を示している。
基準パターンとの適合率は、両パターンの先頭位置の位
置合わせを行った後に対応する位置同士の評価値を掛け
合わせて得られた値の総和と基準パターンの各位置の評
価値の２乗の総和との比である。すなわち、例えば“は
”という文字の左の部分の入力パターンとして図１１（
ａ）に示すような指の接触位置の中心の軌跡のパターン
が得られた場合、この入力パターンと図１１（ｂ）に示
すような基準パターンとの適合率は、〇印の評価値を８
とすれば、８×８×６／８×８×９＝６７％である。尚
、図１１において破線は、対応する位置を示している。
【００３３】また、接触分布を加味した場合、すなわち
例えば“は”という文字の左の部分の入力パターンとし
て図１２（ａ）に示すような接触分布が得られた場合、
この入力パターンと図１２（ｂ）に示すような基準パタ
ーンとの適合率は、〇印の評価値を８とし、△印の評価
値を４とすれば、８９％となる。従って、接触分布を加
味した方が判定率が向上するのである。尚、図１２にお
いて破線、一点鎖線及び二点鎖線は、対応する位置を示
している。
例えば“は”という文字の左の部分の入力パターンとし
て図１２（ａ）に示すような接触分布が得られた場合、
この入力パターンと図１２（ｂ）に示すような基準パタ
ーンとの適合率は、〇印の評価値を８とし、△印の評価
値を４とすれば、８９％となる。従って、接触分布を加
味した方が判定率が向上するのである。尚、図１２にお
いて破線、一点鎖線及び二点鎖線は、対応する位置を示
している。
【００３４】ステップＳ２１の実行後、プロセッサは計
数値（ａ） によって入力パターンの各要素全てについ
ての基準パターンとの適合率の計算が終了したか否かを
判定する（ステップＳ２２）。ステップＳ２２において
入力パターンの各要素全てについての基準パターンとの
適合率の計算が終了したと判定されたときは、プロセッ
サは第３候補パターン群のうちの適合率の最も高いもの
を選択して入力パターンを特定し（ステップＳ２３）、
ステップＳ１に移行する直前に実行していたルーチンの
実行を再開する。ステップＳ２２において入力パターン
の各要素全てについての基準パターンとの適合率の計算
が終了してないと判定されたときは、プロセッサは入力
パターンの次の要素についての処理をなすべくＲＡＭ内
のアドレスを示すポインタと称される値を入力パターン
の次の要素に関するデータが記憶されているアドレスを
示す値に変化させ（ステップＳ２４）、ステップＳ１８
に移行する。
数値（ａ） によって入力パターンの各要素全てについ
ての基準パターンとの適合率の計算が終了したか否かを
判定する（ステップＳ２２）。ステップＳ２２において
入力パターンの各要素全てについての基準パターンとの
適合率の計算が終了したと判定されたときは、プロセッ
サは第３候補パターン群のうちの適合率の最も高いもの
を選択して入力パターンを特定し（ステップＳ２３）、
ステップＳ１に移行する直前に実行していたルーチンの
実行を再開する。ステップＳ２２において入力パターン
の各要素全てについての基準パターンとの適合率の計算
が終了してないと判定されたときは、プロセッサは入力
パターンの次の要素についての処理をなすべくＲＡＭ内
のアドレスを示すポインタと称される値を入力パターン
の次の要素に関するデータが記憶されているアドレスを
示す値に変化させ（ステップＳ２４）、ステップＳ１８
に移行する。
【００３５】図１３は、タッチセンサパネルの他の例を
示す図である。同図において、１６本の第１信号線Ｃ１
〜Ｃ１６及び１６本の第２信号線Ｌ１ 〜Ｌ１６は、
図１と同様に配置されている。しかしながら、本例にお
いては１６本の第１信号線Ｃ１ 〜Ｃ１６の各々及び１
６本の第２信号線Ｌ１ 〜Ｌ１６の各々に接続されてい
るタッチプレートＰの形状は、半円形であり、第１信号
線Ｃ１ 〜Ｃ１６の各々に接続されているタッチプレー
トＰの直線部分と第２信号線Ｌ１ 〜Ｌ１６の各々に接
続されているタッチプレートＰの直線部分とが互いに対
向するようにタッチプレートＰの配置がなされている。 かかる構成においても図１と同様の作用が働く。
示す図である。同図において、１６本の第１信号線Ｃ１
〜Ｃ１６及び１６本の第２信号線Ｌ１ 〜Ｌ１６は、
図１と同様に配置されている。しかしながら、本例にお
いては１６本の第１信号線Ｃ１ 〜Ｃ１６の各々及び１
６本の第２信号線Ｌ１ 〜Ｌ１６の各々に接続されてい
るタッチプレートＰの形状は、半円形であり、第１信号
線Ｃ１ 〜Ｃ１６の各々に接続されているタッチプレー
トＰの直線部分と第２信号線Ｌ１ 〜Ｌ１６の各々に接
続されているタッチプレートＰの直線部分とが互いに対
向するようにタッチプレートＰの配置がなされている。 かかる構成においても図１と同様の作用が働く。
【００３６】尚、上記実施例においてはタッチセンサパ
ネルは、電源誘導による方式のタッチセンサパネルであ
るとしたが、スキャン方式のタッチセンサパネルを使用
することもでき、その場合には第１及び第２信号線のう
ちの一方にダイナミックエンコーダのドライブ出力を供
給し、第１及び第２信号線のうちの他方に導出される信
号をダイナミックエンコーダのセンサ入力とし、ダイナ
ミックエンコーダのセンサ出力をマイクロコンピュータ
１５に供給すればよい。
ネルは、電源誘導による方式のタッチセンサパネルであ
るとしたが、スキャン方式のタッチセンサパネルを使用
することもでき、その場合には第１及び第２信号線のう
ちの一方にダイナミックエンコーダのドライブ出力を供
給し、第１及び第２信号線のうちの他方に導出される信
号をダイナミックエンコーダのセンサ入力とし、ダイナ
ミックエンコーダのセンサ出力をマイクロコンピュータ
１５に供給すればよい。
【００３７】
【発明の効果】以上詳述した如く本発明によるパターン
入力装置によれば、物体と検出面との接触面のほぼ中心
に位置する点の軌跡又は移動ベクトル量により物体の描
くパターンの判別がなされるので、接触面の面積に対し
て検出面の面積を比較的小さくすることができ、機器の
小型化を図ることができるのである。また、検出面の面
積が比較的小さい場合でも、ペン等の器具を使用せずに
パターン入力が可能となり、操作性を良くすることがで
きるのである。
入力装置によれば、物体と検出面との接触面のほぼ中心
に位置する点の軌跡又は移動ベクトル量により物体の描
くパターンの判別がなされるので、接触面の面積に対し
て検出面の面積を比較的小さくすることができ、機器の
小型化を図ることができるのである。また、検出面の面
積が比較的小さい場合でも、ペン等の器具を使用せずに
パターン入力が可能となり、操作性を良くすることがで
きるのである。
【００３８】また、本発明による他のパターン入力装置
によれば、物体と検出面との接触面のほぼ中心からの距
離に応じた重み付けがなされるので、例えば物体の描く
入力パターンと基準パターンとの適合率の計算の精度を
高くすることができ、物体の描くパターンの判別をより
正確になすことができるのである。
によれば、物体と検出面との接触面のほぼ中心からの距
離に応じた重み付けがなされるので、例えば物体の描く
入力パターンと基準パターンとの適合率の計算の精度を
高くすることができ、物体の描くパターンの判別をより
正確になすことができるのである。
【図１】本発明の実施例を示す回路図である。
【図２】本発明の実施例を示す回路ブロック図である。
【図３】図１及び図２に示す装置の各部の動作を示す波
形図である。
形図である。
【図４】図１及び図２に示す装置の動作を示すフロ―図
である。
である。
【図５】図１及び図２に示す装置の動作を示すフロ―図
である。
である。
【図６】図１及び図２に示す装置の動作を示すフロ―図
である。
である。
【図７】図１及び図２に示す装置の動作を示すフロ―図
である。
である。
【図８】接触分布を示す図である。
【図９】指の接触位置の中心の軌跡のパターンを示す図
である。
である。
【図１０】接触分布図を示す図である。
【図１１】入力パターンと基準パターンとの適合率の計
算方法を示す図である。
算方法を示す図である。
【図１２】入力パターンと基準パターンとの適合率の計
算方法を示す図である。
算方法を示す図である。
【図１３】他の実施例を示す回路図である。
Ｐ……タッチプレート Ｃ１ 〜Ｃ
１６……第１信号線 Ｌ１ 〜Ｌ１６……第２信号線 １５……マ
イクロコンピュータ
１６……第１信号線 Ｌ１ 〜Ｌ１６……第２信号線 １５……マ
イクロコンピュータ
Claims (2)
- 【請求項１】 同一の検出面上に配置されかつ物体が
接触したとき検出信号をそれぞれ発生する複数の接触検
出手段と、前記複数の接触検出手段のうちの互いに隣接
する少なくとも２つの各々から検出信号が出力されたと
き前記検出面上において前記少なくとも２つのほぼ中心
に位置する点の軌跡又は移動ベクトル量により前記検出
面に接触すると同時に移動する物体の描くパターンを判
別するパターン判別手段とからなるパターン入力装置。 - 【請求項２】 同一の検出面上に配置されかつ物体が
接触したとき検出信号をそれぞれ発生する複数の接触検
出手段と、前記複数の接触検出手段のうちの互いに隣接
する少なくとも２つの各々から検出信号が出力されたと
き前記検出面上において前記少なくとも２つのほぼ中心
に位置する点からの前記少なくとも２つの各々の距離に
応じた重みづけを行って得られる評価関数によって前記
検出面に接触すると同時に移動する物体の描くパターン
を判別するパターン判別手段とからなるパターン入力装
置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4326391A JP3171866B2 (ja) | 1991-03-08 | 1991-03-08 | パターン入力装置 |
| US07/802,035 US5239140A (en) | 1991-03-08 | 1991-12-03 | Pattern input apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4326391A JP3171866B2 (ja) | 1991-03-08 | 1991-03-08 | パターン入力装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04280312A true JPH04280312A (ja) | 1992-10-06 |
| JP3171866B2 JP3171866B2 (ja) | 2001-06-04 |
Family
ID=12658962
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4326391A Expired - Fee Related JP3171866B2 (ja) | 1991-03-08 | 1991-03-08 | パターン入力装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5239140A (ja) |
| JP (1) | JP3171866B2 (ja) |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6239389B1 (en) | 1992-06-08 | 2001-05-29 | Synaptics, Inc. | Object position detection system and method |
| US5880411A (en) | 1992-06-08 | 1999-03-09 | Synaptics, Incorporated | Object position detector with edge motion feature and gesture recognition |
| US6028271A (en) | 1992-06-08 | 2000-02-22 | Synaptics, Inc. | Object position detector with edge motion feature and gesture recognition |
| DE69324067T2 (de) | 1992-06-08 | 1999-07-15 | Synaptics Inc | Objekt-Positionsdetektor |
| US5861583A (en) | 1992-06-08 | 1999-01-19 | Synaptics, Incorporated | Object position detector |
| US7532205B2 (en) * | 1992-06-08 | 2009-05-12 | Synaptics, Inc. | Object position detector with edge motion feature and gesture recognition |
| US5889236A (en) | 1992-06-08 | 1999-03-30 | Synaptics Incorporated | Pressure sensitive scrollbar feature |
| US6380929B1 (en) | 1996-09-20 | 2002-04-30 | Synaptics, Incorporated | Pen drawing computer input device |
| US5854625A (en) | 1996-11-06 | 1998-12-29 | Synaptics, Incorporated | Force sensing touchpad |
| WO2005064447A2 (en) * | 2003-12-23 | 2005-07-14 | Authentec, Inc. | Electronic device with finger sensor for character entry and associated methods |
| US20060066590A1 (en) * | 2004-09-29 | 2006-03-30 | Masanori Ozawa | Input device |
| US8547114B2 (en) | 2006-11-14 | 2013-10-01 | Cypress Semiconductor Corporation | Capacitance to code converter with sigma-delta modulator |
| WO2009006557A1 (en) * | 2007-07-03 | 2009-01-08 | Cypress Semiconductor Corporation | Method for improving scan time and sensitivity in touch sensitive user interface device |
| US9069405B2 (en) * | 2009-07-28 | 2015-06-30 | Cypress Semiconductor Corporation | Dynamic mode switching for fast touch response |
| US8723825B2 (en) | 2009-07-28 | 2014-05-13 | Cypress Semiconductor Corporation | Predictive touch surface scanning |
| US8723827B2 (en) | 2009-07-28 | 2014-05-13 | Cypress Semiconductor Corporation | Predictive touch surface scanning |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3644671A (en) * | 1968-10-21 | 1972-02-22 | Bunker Ramo | Graphic data entry system |
-
1991
- 1991-03-08 JP JP4326391A patent/JP3171866B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1991-12-03 US US07/802,035 patent/US5239140A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3171866B2 (ja) | 2001-06-04 |
| US5239140A (en) | 1993-08-24 |
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