JP3171866B2 - パターン入力装置 - Google Patents
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- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V30/00—Character recognition; Recognising digital ink; Document-oriented image-based pattern recognition
- G06V30/10—Character recognition
- G06V30/14—Image acquisition
- G06V30/142—Image acquisition using hand-held instruments; Constructional details of the instruments
- G06V30/1423—Image acquisition using hand-held instruments; Constructional details of the instruments the instrument generating sequences of position coordinates corresponding to handwriting
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Description
【０００１】
【技術分野】本発明は、文字、図形等のパターンを情報
処理装置に入力するパターン入力装置に関する。
処理装置に入力するパターン入力装置に関する。
【０００２】
【背景技術】パターン入力装置としては、紙に描かれた
文字、図形等を読み取るイメージスキャナが知られてい
る。また、同一面内に配置された複数の圧力センサから
なるパネルを有し、このパネルにユーザがペン状の部材
を接触させると同時に移動させたとき、その軌跡を検出
するようにした構成の装置や、液晶パネルを有し、この
液晶パネルにユーザがライトペンを接触させると同時に
移動させたとき、その軌跡を検出するようにした構成の
装置も周知である。
文字、図形等を読み取るイメージスキャナが知られてい
る。また、同一面内に配置された複数の圧力センサから
なるパネルを有し、このパネルにユーザがペン状の部材
を接触させると同時に移動させたとき、その軌跡を検出
するようにした構成の装置や、液晶パネルを有し、この
液晶パネルにユーザがライトペンを接触させると同時に
移動させたとき、その軌跡を検出するようにした構成の
装置も周知である。
【０００３】以上のような従来の装置においては、紙に
文字、図形等を一旦記入したり、ペン状の部材やライト
ペンを使用しなければならず、操作性が悪いという問題
点があった。
文字、図形等を一旦記入したり、ペン状の部材やライト
ペンを使用しなければならず、操作性が悪いという問題
点があった。
【０００４】
【発明の目的】よって、本発明は操作性の向上を図るこ
とができるパターン入力装置を提供することを目的とす
る。
とができるパターン入力装置を提供することを目的とす
る。
【０００５】
【発明の構成】本発明による請求項１記載のパターン入
力装置は、同一の検出面上の座標に対応して配置されか
つ物体が接触したとき検出信号をそれぞれ発生する複数
の接触検出器と、前記複数の接触検出器のうちの互いに
隣接する複数の接触検出器の各々から検出信号が出力さ
れたとき、検出信号を出力した接触検出器の座標を以て
接触領域とし、前記接触領域のほぼ中心に位置する点か
らの距離に応じた重みづけを行って得られる値を前記接
触領域内の各座標と対応させて評価値を生成する手段
と、前記評価値を順次記憶する記憶手段と、前記記憶手
段に記憶された評価値を複数の所定パターンの各々と対
応させて、前記所定パターン毎に前記記憶された評価値
の適合率を計算する手段と、前記適合率に基づいて前記
検出面に前記物体の接触によって描かれたパターンを判
別するパターン判別手段とからなっている。
力装置は、同一の検出面上の座標に対応して配置されか
つ物体が接触したとき検出信号をそれぞれ発生する複数
の接触検出器と、前記複数の接触検出器のうちの互いに
隣接する複数の接触検出器の各々から検出信号が出力さ
れたとき、検出信号を出力した接触検出器の座標を以て
接触領域とし、前記接触領域のほぼ中心に位置する点か
らの距離に応じた重みづけを行って得られる値を前記接
触領域内の各座標と対応させて評価値を生成する手段
と、前記評価値を順次記憶する記憶手段と、前記記憶手
段に記憶された評価値を複数の所定パターンの各々と対
応させて、前記所定パターン毎に前記記憶された評価値
の適合率を計算する手段と、前記適合率に基づいて前記
検出面に前記物体の接触によって描かれたパターンを判
別するパターン判別手段とからなっている。
【０００６】また、本発明の請求項２記載のパターン入
力装置によれば、前記パターン特定手段は、前記記憶手
段に最初に記憶された評価値の座標と、前記所定パター
ンの開始点に対応した座標との位置合わせを行い、対応
する座標同士の評価値を掛け合わせて得られた値の総和
と、前記所定パターンの各座標の評価値の２乗の総和と
の比を計算して前記適合率を求めるものである。
力装置によれば、前記パターン特定手段は、前記記憶手
段に最初に記憶された評価値の座標と、前記所定パター
ンの開始点に対応した座標との位置合わせを行い、対応
する座標同士の評価値を掛け合わせて得られた値の総和
と、前記所定パターンの各座標の評価値の２乗の総和と
の比を計算して前記適合率を求めるものである。
【０００７】
【発明の作用】本発明によるパターン入力装置によれ
ば、物体と検出面との接触領域のほぼ中心からの距離に
応じた重み付けがなされ、得られる適合率によって物体
の描くパターンの判別がなされる。
ば、物体と検出面との接触領域のほぼ中心からの距離に
応じた重み付けがなされ、得られる適合率によって物体
の描くパターンの判別がなされる。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の実施例につき添付図面を参照
して詳細に説明する。図１において、互いに平行な１６
本の第１信号線Ｃ1 〜Ｃ16と、これら１６本の第１信号
線Ｃ1 〜Ｃ16に対して直交する方向に伸長する互いに平
行な１６本の第２信号線Ｌ1 〜Ｌ16とが配置されてい
る。１６本の第１信号線Ｃ1 〜Ｃ16の各々及び１６本の
第２信号線Ｌ1 〜Ｌ16の各々には導電性を有する金属で
形成された１６個のタッチプレートＰが所定の間隔をも
って配置接続されている。
して詳細に説明する。図１において、互いに平行な１６
本の第１信号線Ｃ1 〜Ｃ16と、これら１６本の第１信号
線Ｃ1 〜Ｃ16に対して直交する方向に伸長する互いに平
行な１６本の第２信号線Ｌ1 〜Ｌ16とが配置されてい
る。１６本の第１信号線Ｃ1 〜Ｃ16の各々及び１６本の
第２信号線Ｌ1 〜Ｌ16の各々には導電性を有する金属で
形成された１６個のタッチプレートＰが所定の間隔をも
って配置接続されている。
【０００９】尚、図１において、斜線の入った丸印は、
第１信号線Ｃ1 〜Ｃ16のうちのいずれかに接続されてい
るタッチプレートを表し、白丸印は、第２信号線Ｌ1 〜
Ｌ16のうちのいずれかに接続されているタッチプレート
を表している。この図１に示されているタッチセンサパ
ネルにおいて、ユーザの指が計５１２個のタッチプレー
トＰのうちの互いに隣接する少なくとも２つに同時に接
触すると、人体の５０／６０Ｈｚ電源誘導により第１信
号線Ｃ1 〜Ｃ16のうちの少なくとも１本及び第２信号線
Ｌ1 〜Ｌ16のうちの少なくとも１本に５０Ｈｚ又は６０
Ｈｚの交流電圧が発生する。第１信号線Ｃ1 〜Ｃ16のう
ちの少なくとも１本に発生した交流電圧は、タッチセン
サパネルのＸ方向における指の接触位置を示す信号とし
て出力され、第２信号線Ｌ1 〜Ｌ16のうちの少なくとも
１本に発生した交流電圧は、タッチセンサパネルのＹ方
向における指の接触位置を示す信号として出力される。
第１信号線Ｃ1 〜Ｃ16のうちのいずれかに接続されてい
るタッチプレートを表し、白丸印は、第２信号線Ｌ1 〜
Ｌ16のうちのいずれかに接続されているタッチプレート
を表している。この図１に示されているタッチセンサパ
ネルにおいて、ユーザの指が計５１２個のタッチプレー
トＰのうちの互いに隣接する少なくとも２つに同時に接
触すると、人体の５０／６０Ｈｚ電源誘導により第１信
号線Ｃ1 〜Ｃ16のうちの少なくとも１本及び第２信号線
Ｌ1 〜Ｌ16のうちの少なくとも１本に５０Ｈｚ又は６０
Ｈｚの交流電圧が発生する。第１信号線Ｃ1 〜Ｃ16のう
ちの少なくとも１本に発生した交流電圧は、タッチセン
サパネルのＸ方向における指の接触位置を示す信号とし
て出力され、第２信号線Ｌ1 〜Ｌ16のうちの少なくとも
１本に発生した交流電圧は、タッチセンサパネルのＹ方
向における指の接触位置を示す信号として出力される。
【００１０】図２は、図１に示されているタッチセンサ
パネルに接触すると同時に移動する指の描くパターンを
判別するパターン判別回路の回路ブロック図である。図
２において、第１信号線Ｃ1 〜Ｃ16の各々に導出された
誘導電圧は、セット−リセット形の１６個のフリップフ
ロップFX1 〜FX16の各々のセット入力端子に供給され
る。また、第２信号線Ｌ1 〜Ｌ16の各々に導出された誘
導電圧は、セット−リセット形の１６個のフリップフロ
ップFY1 〜FY16の各々のセット入力端子に供給される。
フリップフロップFX1 〜FX16及びFY1 〜FY16のリセット
入力端子にはマイクロコンピュータ１５からリセット信
号ｆが供給される。
パネルに接触すると同時に移動する指の描くパターンを
判別するパターン判別回路の回路ブロック図である。図
２において、第１信号線Ｃ1 〜Ｃ16の各々に導出された
誘導電圧は、セット−リセット形の１６個のフリップフ
ロップFX1 〜FX16の各々のセット入力端子に供給され
る。また、第２信号線Ｌ1 〜Ｌ16の各々に導出された誘
導電圧は、セット−リセット形の１６個のフリップフロ
ップFY1 〜FY16の各々のセット入力端子に供給される。
フリップフロップFX1 〜FX16及びFY1 〜FY16のリセット
入力端子にはマイクロコンピュータ１５からリセット信
号ｆが供給される。
【００１１】また、フリップフロップFX1 〜FX16及びFY
1〜FY16のセット入力端子と接地間には３２個の抵抗Ｒ1
〜Ｒ32が接続されいる。これら抵抗Ｒ1 〜Ｒ32の抵抗
値は、例えば４．７ＭΩである。フリップフロップFX1
〜FX16Ｑ出力は、信号選択回路１１の入力端子Ａに供給
されている。また、フリップフロップFY1 〜FY16Ｑ出力
は、信号選択回路１１の入力端子Ｂに供給されている。
信号選択回路１１は、制御信号の供給を受けてこの制御
信号が例えば高レベルのときは入力端子Ａに供給されて
いる信号を選択的に出力し、制御信号が例えば低レベル
のときは入力端子Ｂに供給されている信号を選択的に出
力する構成となっている。この信号選択回路１１の出力
は、１６ビットのラッチ回路１２に供給されている。ラ
ッチ回路１２の出力は、マイクロコンピュータ１５のデ
ータ入力ａになっている。また、信号選択回路１１に
は、１ビットラッチ回路１６の出力が制御信号として供
給されている。１ビットラッチ回路１６のデータ入力端
子にはマイクロコンピュータ１５からセレクト信号ｂが
供給される。この１ビットラッチ回路１６のクロック入
力端子にはマイクロコンピュータ１５からラッチパルス
ｃが供給される。ラッチパルスｃは、ディレイ回路１７
によって時間Ｔ1だけ遅延されて１６ビットのラッチ回
路１２のクロック入力端子に供給される。
1〜FY16のセット入力端子と接地間には３２個の抵抗Ｒ1
〜Ｒ32が接続されいる。これら抵抗Ｒ1 〜Ｒ32の抵抗
値は、例えば４．７ＭΩである。フリップフロップFX1
〜FX16Ｑ出力は、信号選択回路１１の入力端子Ａに供給
されている。また、フリップフロップFY1 〜FY16Ｑ出力
は、信号選択回路１１の入力端子Ｂに供給されている。
信号選択回路１１は、制御信号の供給を受けてこの制御
信号が例えば高レベルのときは入力端子Ａに供給されて
いる信号を選択的に出力し、制御信号が例えば低レベル
のときは入力端子Ｂに供給されている信号を選択的に出
力する構成となっている。この信号選択回路１１の出力
は、１６ビットのラッチ回路１２に供給されている。ラ
ッチ回路１２の出力は、マイクロコンピュータ１５のデ
ータ入力ａになっている。また、信号選択回路１１に
は、１ビットラッチ回路１６の出力が制御信号として供
給されている。１ビットラッチ回路１６のデータ入力端
子にはマイクロコンピュータ１５からセレクト信号ｂが
供給される。この１ビットラッチ回路１６のクロック入
力端子にはマイクロコンピュータ１５からラッチパルス
ｃが供給される。ラッチパルスｃは、ディレイ回路１７
によって時間Ｔ1だけ遅延されて１６ビットのラッチ回
路１２のクロック入力端子に供給される。
【００１２】一方、第１信号線Ｃ1 〜Ｃ8 の各々に導出
された誘導電圧は、８入力ＯＲゲート１８に供給され、
第１信号線Ｃ9 〜Ｃ16の各々に導出された誘導電圧は、
８入力ＯＲゲート１９に供給される。また、第２信号線
Ｌ1 〜Ｌ8 の各々に導出された誘導電圧は、８入力ＯＲ
ゲート２１に供給され、第２信号線Ｌ9 〜Ｌ16の各々に
導出された誘導電圧は、８入力ＯＲゲート２２に供給さ
れる。８入力ＯＲゲート１８、１９の各出力は、２入力
ＯＲゲート２３及び２４を介してダイオードＤ、抵抗Ｒ
33及びコンデンサＣからなる時定数回路２５に供給され
る。また、８入力ＯＲゲート２１、２２の各出力は、２
入力ＯＲゲート２７及び２４を介して時定数回路２５に
供給される。
された誘導電圧は、８入力ＯＲゲート１８に供給され、
第１信号線Ｃ9 〜Ｃ16の各々に導出された誘導電圧は、
８入力ＯＲゲート１９に供給される。また、第２信号線
Ｌ1 〜Ｌ8 の各々に導出された誘導電圧は、８入力ＯＲ
ゲート２１に供給され、第２信号線Ｌ9 〜Ｌ16の各々に
導出された誘導電圧は、８入力ＯＲゲート２２に供給さ
れる。８入力ＯＲゲート１８、１９の各出力は、２入力
ＯＲゲート２３及び２４を介してダイオードＤ、抵抗Ｒ
33及びコンデンサＣからなる時定数回路２５に供給され
る。また、８入力ＯＲゲート２１、２２の各出力は、２
入力ＯＲゲート２７及び２４を介して時定数回路２５に
供給される。
【００１３】時定数回路２５の出力は、マイクロコンピ
ュータ１５にレディ信号ｄとして供給されると共にＡＮ
Ｄゲート２８の一方の入力端子に供給され、かつディレ
イ回路２９によって時間Ｔ2 だけ遅延される。ディレイ
回路２９の出力は、インバータ３０を介してＡＮＤゲー
ト２８の他方の入力端子に供給される。ＡＮＤゲート２
８の出力は、マイクロコンピュータ１５にインタラプト
信号ｅとして供給される。
ュータ１５にレディ信号ｄとして供給されると共にＡＮ
Ｄゲート２８の一方の入力端子に供給され、かつディレ
イ回路２９によって時間Ｔ2 だけ遅延される。ディレイ
回路２９の出力は、インバータ３０を介してＡＮＤゲー
ト２８の他方の入力端子に供給される。ＡＮＤゲート２
８の出力は、マイクロコンピュータ１５にインタラプト
信号ｅとして供給される。
【００１４】マイクロコンピュータ１５は、プロセッ
サ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、入出力ポート等からなり、データ
入力ａをＲＯＭに予め格納されているプログラムに従っ
て処理してタッチセンサパネルに接触した状態で移動す
るユーザの指の描くパターンに対応する文字または図形
を判別する。以上の構成における各部の動作を図３に示
すタイムチャート並びに図４乃至図７に示すフローチャ
ートを参照して説明する。図３（ａ）は、第１及び第２
信号線Ｃ1 〜Ｃ16及びＬ1 〜Ｌ16に導出される誘導電圧
の波形図、同図（ｂ）は、フリップフロップFX1 〜FX16
及びFY1 〜FY16のＱ出力の波形図、同図（ｃ）は、ＯＲ
ゲート２４の出力の波形図、同図（ｄ）は、時定数回路
２５から出力されるレディ信号ｄの出力の波形図、同図
（ｅ）は、ディレイ回路２９の出力の波形図、同図
（ｆ）は、インバータ３０の出力の波形図、同図（ｇ）
は、ＡＮＤゲート２８から出力されるインタラプト信号
ｅの波形図、同図（ｈ）は、セレクト信号ｂの波形図、
同図（ｉ）は、ラッチパルスｃの波形図、同図（ｊ）
は、ラッチ回路１６の出力の波形図、同図（ｋ）は、デ
ィレイ回路１７の出力の波形図、同図（ｌ）は、信号選
択回路１１の出力の波形図、同図（ｍ）は、ラッチ回路
１２の出力の波形図である。
サ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、入出力ポート等からなり、データ
入力ａをＲＯＭに予め格納されているプログラムに従っ
て処理してタッチセンサパネルに接触した状態で移動す
るユーザの指の描くパターンに対応する文字または図形
を判別する。以上の構成における各部の動作を図３に示
すタイムチャート並びに図４乃至図７に示すフローチャ
ートを参照して説明する。図３（ａ）は、第１及び第２
信号線Ｃ1 〜Ｃ16及びＬ1 〜Ｌ16に導出される誘導電圧
の波形図、同図（ｂ）は、フリップフロップFX1 〜FX16
及びFY1 〜FY16のＱ出力の波形図、同図（ｃ）は、ＯＲ
ゲート２４の出力の波形図、同図（ｄ）は、時定数回路
２５から出力されるレディ信号ｄの出力の波形図、同図
（ｅ）は、ディレイ回路２９の出力の波形図、同図
（ｆ）は、インバータ３０の出力の波形図、同図（ｇ）
は、ＡＮＤゲート２８から出力されるインタラプト信号
ｅの波形図、同図（ｈ）は、セレクト信号ｂの波形図、
同図（ｉ）は、ラッチパルスｃの波形図、同図（ｊ）
は、ラッチ回路１６の出力の波形図、同図（ｋ）は、デ
ィレイ回路１７の出力の波形図、同図（ｌ）は、信号選
択回路１１の出力の波形図、同図（ｍ）は、ラッチ回路
１２の出力の波形図である。
【００１５】時刻ｔ1 において、ユーザの指が図１のタ
ッチセンサパネルにおける丸印αで囲まれた部分に接触
すると、人体の５０／６０Ｈｚ電源誘導により第１信号
線Ｃ1 〜Ｃ16のうちのＣ12〜Ｃ14及び第２信号線Ｌ1 〜
Ｌ16のうちのＬ11〜Ｌ13に５０Ｈｚ又は６０Ｈｚの交流
電圧が発生する。この交流電圧の正の半サイクルにおい
て、フリップフロップFX12〜FX14及びフリップフロップ
FY11〜FY13の各々のセット入力端子の電圧がスレショー
ルドレベルＶth以上となってこれらフリップフロップFX
12〜FX14及びフリップフロップFY11〜FY13がセット状態
となり、Ｑ出力が高レベルとなる。また、それと同時に
２入力ＯＲゲート２４の出力が高レベルになる。２入力
ＯＲゲート２４の出力が高レベルになると、時定数回路
２５の出力は、ほぼ瞬時に高レベルになり、タッチセン
サパネルにユーザの指が接触していることを示す高レベ
ルのレディ信号ｄがマイクロコンピュータ１５に供給さ
れる。２入力ＯＲゲート２４の出力が低レベルになる
と、時定数回路２５の出力は、コンデンサＣ及び抵抗Ｒ
32によって定まる時定数に応じた時間に亘って徐々に低
レベルに変化する。
ッチセンサパネルにおける丸印αで囲まれた部分に接触
すると、人体の５０／６０Ｈｚ電源誘導により第１信号
線Ｃ1 〜Ｃ16のうちのＣ12〜Ｃ14及び第２信号線Ｌ1 〜
Ｌ16のうちのＬ11〜Ｌ13に５０Ｈｚ又は６０Ｈｚの交流
電圧が発生する。この交流電圧の正の半サイクルにおい
て、フリップフロップFX12〜FX14及びフリップフロップ
FY11〜FY13の各々のセット入力端子の電圧がスレショー
ルドレベルＶth以上となってこれらフリップフロップFX
12〜FX14及びフリップフロップFY11〜FY13がセット状態
となり、Ｑ出力が高レベルとなる。また、それと同時に
２入力ＯＲゲート２４の出力が高レベルになる。２入力
ＯＲゲート２４の出力が高レベルになると、時定数回路
２５の出力は、ほぼ瞬時に高レベルになり、タッチセン
サパネルにユーザの指が接触していることを示す高レベ
ルのレディ信号ｄがマイクロコンピュータ１５に供給さ
れる。２入力ＯＲゲート２４の出力が低レベルになる
と、時定数回路２５の出力は、コンデンサＣ及び抵抗Ｒ
32によって定まる時定数に応じた時間に亘って徐々に低
レベルに変化する。
【００１６】レディ信号ｄは、ディレイ回路２９によっ
て時間Ｔ2 だけ遅延されたのちインバータ３０を介して
ＡＮＤゲート２８の他方の入力端子に供給され、ＡＮＤ
ゲート２８の一方の入力端子にそのまま供給されている
レディ信号ｄとの論理積がとられる。そうすると、ＡＮ
Ｄゲート２８からレディ信号ｄの立ち上がりに同期して
時間幅Ｔ2 のパルスが出力され、インタラプト信号ｅと
してマイクロコンピュータ１５に供給される。
て時間Ｔ2 だけ遅延されたのちインバータ３０を介して
ＡＮＤゲート２８の他方の入力端子に供給され、ＡＮＤ
ゲート２８の一方の入力端子にそのまま供給されている
レディ信号ｄとの論理積がとられる。そうすると、ＡＮ
Ｄゲート２８からレディ信号ｄの立ち上がりに同期して
時間幅Ｔ2 のパルスが出力され、インタラプト信号ｅと
してマイクロコンピュータ１５に供給される。
【００１７】そうすると、マイクロコンピュータ１５に
おいて、図３及び図４に示すサブルーチンの実行が開始
される。すなわち、インタラプト信号ｅに応答してプロ
セッサは、先頭フラグをオンにし、タッチフラグをオフ
にして初期設定をなす（ステップＳ１）。次いで、プロ
セッサは、レディ信号ｄを取り込む動作を行い（ステッ
プＳ２）、レディ信号ｄが存在するか否かを判定する
（ステップＳ３）。ステップＳ３において、レディ信号
ｄが存在しないと判定されたときは、プロセッサは後述
するステップＳ１２に移行する。ステップＳ３におい
て、レディ信号ｄが存在すると判定されたときは、プロ
セッサはタッチフラグをセットし（ステップＳ４）、デ
ータ読取処理ルーチンを実行する（ステップＳ５）。
おいて、図３及び図４に示すサブルーチンの実行が開始
される。すなわち、インタラプト信号ｅに応答してプロ
セッサは、先頭フラグをオンにし、タッチフラグをオフ
にして初期設定をなす（ステップＳ１）。次いで、プロ
セッサは、レディ信号ｄを取り込む動作を行い（ステッ
プＳ２）、レディ信号ｄが存在するか否かを判定する
（ステップＳ３）。ステップＳ３において、レディ信号
ｄが存在しないと判定されたときは、プロセッサは後述
するステップＳ１２に移行する。ステップＳ３におい
て、レディ信号ｄが存在すると判定されたときは、プロ
セッサはタッチフラグをセットし（ステップＳ４）、デ
ータ読取処理ルーチンを実行する（ステップＳ５）。
【００１８】データ読取処理ルーチンにおいては、図６
及び図７に示すようにプロセッサは高レベルのセレクト
信号ｂ及びラッチパルスｃを送出する（ステップＳ３
１）。このステップＳ３１によってラッチパルスｃが出
力された時（時刻ｔ2 ）、１ビットラッチ回路１６に高
レベルのセレクト信号ｂが保持され、信号選択回路１１
に高レベルの制御信号が供給されて信号選択回路１１か
ら１６ビットのラッチ回路１２にフリップフロップFX1
〜FX16のＱ出力が選択的に供給されるようになる。ま
た、ラッチパルスｃは、ディレイ回路１７によって時間
Ｔ1 だけ遅延されて１６ビットのラッチ回路１２のクロ
ック入力端子に供給されるので、時刻ｔ2 から時間Ｔ1
後の時点においてフリップフロップFX1 〜FX16のＱ出力
が１６ビットのラッチ回路１２に保持されてＸ方向にお
ける指の接触位置を表すデータを形成するビットとして
マイクロコンピュータ１５に供給される。
及び図７に示すようにプロセッサは高レベルのセレクト
信号ｂ及びラッチパルスｃを送出する（ステップＳ３
１）。このステップＳ３１によってラッチパルスｃが出
力された時（時刻ｔ2 ）、１ビットラッチ回路１６に高
レベルのセレクト信号ｂが保持され、信号選択回路１１
に高レベルの制御信号が供給されて信号選択回路１１か
ら１６ビットのラッチ回路１２にフリップフロップFX1
〜FX16のＱ出力が選択的に供給されるようになる。ま
た、ラッチパルスｃは、ディレイ回路１７によって時間
Ｔ1 だけ遅延されて１６ビットのラッチ回路１２のクロ
ック入力端子に供給されるので、時刻ｔ2 から時間Ｔ1
後の時点においてフリップフロップFX1 〜FX16のＱ出力
が１６ビットのラッチ回路１２に保持されてＸ方向にお
ける指の接触位置を表すデータを形成するビットとして
マイクロコンピュータ１５に供給される。
【００１９】マイクロコンピュータ１５のプロセッサ
は、ステップＳ３１の実行後、Ｘ方向における指の接触
位置を表すデータを取り込み（ステップＳ３２）、取り
込んだデータに連続して“１”（高レベル）になってい
る複数のビットが存在するか否かを判定する（ステップ
Ｓ３３）。ステップＳ３３において、上記複数のビット
が存在しないと判定されたときは、プロセッサは後述す
るステップＳ６６に移行する。ステップＳ３３におい
て、上記複数のビットが存在すると判定されたときは、
プロセッサは変数Ｓを上記複数のビットの最下位ビット
を表す値に設定し、変数Ｅを上記複数のビットの最上位
ビットを表す値に設定し、変数Ｋを（Ｅ−Ｓ＋１）に設
定する（ステップＳ３４）。
は、ステップＳ３１の実行後、Ｘ方向における指の接触
位置を表すデータを取り込み（ステップＳ３２）、取り
込んだデータに連続して“１”（高レベル）になってい
る複数のビットが存在するか否かを判定する（ステップ
Ｓ３３）。ステップＳ３３において、上記複数のビット
が存在しないと判定されたときは、プロセッサは後述す
るステップＳ６６に移行する。ステップＳ３３におい
て、上記複数のビットが存在すると判定されたときは、
プロセッサは変数Ｓを上記複数のビットの最下位ビット
を表す値に設定し、変数Ｅを上記複数のビットの最上位
ビットを表す値に設定し、変数Ｋを（Ｅ−Ｓ＋１）に設
定する（ステップＳ３４）。
【００２０】ステップＳ３４の実行後、プロセッサは変
数Ｋが２〜６の各々に等しいか否かを順次判定する（ス
テップＳ３５〜Ｓ３９）。ここで、Ｘ方向における指の
接触位置を表すデータを形成する１６個のビットの各々
に対応する位置の評価値をそれぞれＸ［１］〜Ｘ［１
６］とする。ステップＳ３５〜Ｓ３９において、変数Ｋ
が２に等しいと判定されたときは、プロセッサはＸ
［Ｓ］を４に設定し、Ｘ［Ｓ＋１］を４に設定する（ス
テップＳ４０）。変数Ｋが３に等しいと判定されたとき
は、プロセッサはＸ［Ｓ］及びＸ［Ｓ＋２］を４に設定
し、Ｘ［Ｓ＋１］を８に設定する（ステップＳ４１）。
変数Ｋが４に等しいと判定されたときは、プロセッサは
Ｘ［Ｓ］及びＸ［Ｓ＋３］を２に設定し、Ｘ［Ｓ＋１］
及びＸ［Ｓ＋２］を４に設定する（ステップＳ４２）。
変数Ｋが５に等しいと判定されたときは、プロセッサは
Ｘ［Ｓ］及びＸ［Ｓ＋４］を２に設定し、Ｘ［Ｓ＋１］
及びＸ［Ｓ＋３］を４に設定し、Ｘ［Ｓ＋２］を８に設
定する（ステップＳ４３）。変数Ｋが６に等しいと判定
されたときは、プロセッサはＸ［Ｓ］及びＸ［Ｓ＋５］
を１に設定し、Ｘ［Ｓ＋１］及びＸ［Ｓ＋４］を２に設
定し、Ｘ［Ｓ＋２］及びＸ［Ｓ＋３］を４に設定する
（ステップＳ４４）。
数Ｋが２〜６の各々に等しいか否かを順次判定する（ス
テップＳ３５〜Ｓ３９）。ここで、Ｘ方向における指の
接触位置を表すデータを形成する１６個のビットの各々
に対応する位置の評価値をそれぞれＸ［１］〜Ｘ［１
６］とする。ステップＳ３５〜Ｓ３９において、変数Ｋ
が２に等しいと判定されたときは、プロセッサはＸ
［Ｓ］を４に設定し、Ｘ［Ｓ＋１］を４に設定する（ス
テップＳ４０）。変数Ｋが３に等しいと判定されたとき
は、プロセッサはＸ［Ｓ］及びＸ［Ｓ＋２］を４に設定
し、Ｘ［Ｓ＋１］を８に設定する（ステップＳ４１）。
変数Ｋが４に等しいと判定されたときは、プロセッサは
Ｘ［Ｓ］及びＸ［Ｓ＋３］を２に設定し、Ｘ［Ｓ＋１］
及びＸ［Ｓ＋２］を４に設定する（ステップＳ４２）。
変数Ｋが５に等しいと判定されたときは、プロセッサは
Ｘ［Ｓ］及びＸ［Ｓ＋４］を２に設定し、Ｘ［Ｓ＋１］
及びＸ［Ｓ＋３］を４に設定し、Ｘ［Ｓ＋２］を８に設
定する（ステップＳ４３）。変数Ｋが６に等しいと判定
されたときは、プロセッサはＸ［Ｓ］及びＸ［Ｓ＋５］
を１に設定し、Ｘ［Ｓ＋１］及びＸ［Ｓ＋４］を２に設
定し、Ｘ［Ｓ＋２］及びＸ［Ｓ＋３］を４に設定する
（ステップＳ４４）。
【００２１】変数Ｋが２〜６のいずれにも等しくないと
判定されたとき又はステップＳ４０〜Ｓ４４のうちのい
ずれかの実行後、プロセッサは低レベルのセレクト信号
ｂ及びラッチパルスｃを送出する（ステップＳ４５）。
ステップＳ４５によってラッチパルスｃが出力された時
（時刻ｔ3 ）、１ビットラッチ回路１６に低レベルのセ
レクト信号ｂが保持され、信号選択回路１１に低レベル
の制御信号が供給されて信号選択回路１１から１６ビッ
トのラッチ回路１２にフリップフロップFY1 〜FY16のＱ
出力が選択的に供給されるようになる。また、ラッチパ
ルスｃは、ディレイ回路１７によって時間Ｔ1 だけ遅延
されて１６ビットのラッチ回路１２のクロック入力端子
に供給されるので、時刻ｔ3 から時間Ｔ1 後の時点にお
いてフリップフロップFY1 〜FY16のＱ出力が１６ビット
のラッチ回路１２に保持されてＹ方向における指の接触
位置を表すデータを形成するビットとしてマイクロコン
ピュータ１５に供給される。
判定されたとき又はステップＳ４０〜Ｓ４４のうちのい
ずれかの実行後、プロセッサは低レベルのセレクト信号
ｂ及びラッチパルスｃを送出する（ステップＳ４５）。
ステップＳ４５によってラッチパルスｃが出力された時
（時刻ｔ3 ）、１ビットラッチ回路１６に低レベルのセ
レクト信号ｂが保持され、信号選択回路１１に低レベル
の制御信号が供給されて信号選択回路１１から１６ビッ
トのラッチ回路１２にフリップフロップFY1 〜FY16のＱ
出力が選択的に供給されるようになる。また、ラッチパ
ルスｃは、ディレイ回路１７によって時間Ｔ1 だけ遅延
されて１６ビットのラッチ回路１２のクロック入力端子
に供給されるので、時刻ｔ3 から時間Ｔ1 後の時点にお
いてフリップフロップFY1 〜FY16のＱ出力が１６ビット
のラッチ回路１２に保持されてＹ方向における指の接触
位置を表すデータを形成するビットとしてマイクロコン
ピュータ１５に供給される。
【００２２】マイクロコンピュータ１５のプロセッサ
は、ステップＳ４５の実行後、Ｙ方向における指の接触
位置を表すデータを取り込み（ステップＳ４６）、取り
込んだデータに連続して“１”（高レベル）になってい
る複数のビットが存在するか否かを判定する（ステップ
Ｓ４７）。ステップＳ４７において、上記複数のビット
が存在しないと判定されたときは、プロセッサは後述す
るステップＳ６６に移行する。ステップＳ４７におい
て、上記複数のビットが存在すると判定されたときは、
プロセッサは変数Ｓを上記複数のビットの最下位ビット
を表す値に設定し、変数Ｅを上記複数のビットの最上位
ビットを表す値に設定し、変数Ｋを（Ｅ−Ｓ＋１）に設
定する（ステップＳ４８）。
は、ステップＳ４５の実行後、Ｙ方向における指の接触
位置を表すデータを取り込み（ステップＳ４６）、取り
込んだデータに連続して“１”（高レベル）になってい
る複数のビットが存在するか否かを判定する（ステップ
Ｓ４７）。ステップＳ４７において、上記複数のビット
が存在しないと判定されたときは、プロセッサは後述す
るステップＳ６６に移行する。ステップＳ４７におい
て、上記複数のビットが存在すると判定されたときは、
プロセッサは変数Ｓを上記複数のビットの最下位ビット
を表す値に設定し、変数Ｅを上記複数のビットの最上位
ビットを表す値に設定し、変数Ｋを（Ｅ−Ｓ＋１）に設
定する（ステップＳ４８）。
【００２３】ステップＳ４８の実行後、プロセッサは変
数Ｋが２〜６の各々に等しいか否かを順次判定する（ス
テップＳ４９〜Ｓ５３）。ここで、Ｙ方向における指の
接触位置を表すデータを形成する１６個のビットの各々
に対応する位置の評価値をそれぞれＹ［１］〜Ｙ［１
６］とする。ステップＳ４９〜Ｓ５３において、変数Ｋ
が２に等しいと判定されたときは、プロセッサはＹ
［Ｓ］を４に設定し、Ｙ［Ｓ＋１］を４に設定する（ス
テップＳ５４）。変数Ｋが３に等しいと判定されたとき
は、プロセッサはＹ［Ｓ］及びＹ［Ｓ＋２］を４に設定
し、Ｙ［Ｓ＋１］を８に設定する（ステップＳ５５）。
変数Ｋが４に等しいと判定されたときは、プロセッサは
Ｙ［Ｓ］及びＹ［Ｓ＋３］を２に設定し、Ｙ［Ｓ＋１］
及びＹ［Ｓ＋２］を４に設定する（ステップＳ５６）。
変数Ｋが５に等しいと判定されたときは、プロセッサは
Ｙ［Ｓ］及びＹ［Ｓ＋４］を２に設定し、Ｙ［Ｓ＋１］
及びＹ［Ｓ＋３］を４に設定し、Ｙ［Ｓ＋２］を８に設
定する（ステップＳ５７）。変数Ｋが６に等しいと判定
されたときは、プロセッサはＹ［Ｓ］及びＹ［Ｓ＋５］
を１に設定し、Ｙ［Ｓ＋１］及びＹ［Ｓ＋４］を２に設
定し、Ｙ［Ｓ＋２］及びＹ［Ｓ＋３］を４に設定する
（ステップＳ５８）。
数Ｋが２〜６の各々に等しいか否かを順次判定する（ス
テップＳ４９〜Ｓ５３）。ここで、Ｙ方向における指の
接触位置を表すデータを形成する１６個のビットの各々
に対応する位置の評価値をそれぞれＹ［１］〜Ｙ［１
６］とする。ステップＳ４９〜Ｓ５３において、変数Ｋ
が２に等しいと判定されたときは、プロセッサはＹ
［Ｓ］を４に設定し、Ｙ［Ｓ＋１］を４に設定する（ス
テップＳ５４）。変数Ｋが３に等しいと判定されたとき
は、プロセッサはＹ［Ｓ］及びＹ［Ｓ＋２］を４に設定
し、Ｙ［Ｓ＋１］を８に設定する（ステップＳ５５）。
変数Ｋが４に等しいと判定されたときは、プロセッサは
Ｙ［Ｓ］及びＹ［Ｓ＋３］を２に設定し、Ｙ［Ｓ＋１］
及びＹ［Ｓ＋２］を４に設定する（ステップＳ５６）。
変数Ｋが５に等しいと判定されたときは、プロセッサは
Ｙ［Ｓ］及びＹ［Ｓ＋４］を２に設定し、Ｙ［Ｓ＋１］
及びＹ［Ｓ＋３］を４に設定し、Ｙ［Ｓ＋２］を８に設
定する（ステップＳ５７）。変数Ｋが６に等しいと判定
されたときは、プロセッサはＹ［Ｓ］及びＹ［Ｓ＋５］
を１に設定し、Ｙ［Ｓ＋１］及びＹ［Ｓ＋４］を２に設
定し、Ｙ［Ｓ＋２］及びＹ［Ｓ＋３］を４に設定する
（ステップＳ５８）。
【００２４】変数Ｋが２〜６のいずれにも等しくないと
判定されたとき又はステップＳ５４〜Ｓ５８のうちのい
ずれかの実行後、プロセッサはＮ及びＭを１に設定し
（ステップＳ５９）、Ｎが１６より大であるか否かを判
定する（ステップＳ６０）。ステップＳ６０においてＮ
が１６より大であると判定されたときは、プロセッサは
リセット信号ｆを送出し（ステップＳ６６）、データ読
取処理ルーチンの実行を終了する。ステップＳ６０にお
いてＮが１６より大でないと判定されたときは、プロセ
ッサはＭが１６より大であるか否かを判定する（ステッ
プＳ６１）。ステップＳ６１おいてＭが１６より大でな
いと判定されたときは、プロセッサはデータ［Ｎ］
［Ｍ］をＸ［Ｎ］×Ｙ［Ｍ］とする（ステップＳ６
２）。
判定されたとき又はステップＳ５４〜Ｓ５８のうちのい
ずれかの実行後、プロセッサはＮ及びＭを１に設定し
（ステップＳ５９）、Ｎが１６より大であるか否かを判
定する（ステップＳ６０）。ステップＳ６０においてＮ
が１６より大であると判定されたときは、プロセッサは
リセット信号ｆを送出し（ステップＳ６６）、データ読
取処理ルーチンの実行を終了する。ステップＳ６０にお
いてＮが１６より大でないと判定されたときは、プロセ
ッサはＭが１６より大であるか否かを判定する（ステッ
プＳ６１）。ステップＳ６１おいてＭが１６より大でな
いと判定されたときは、プロセッサはデータ［Ｎ］
［Ｍ］をＸ［Ｎ］×Ｙ［Ｍ］とする（ステップＳ６
２）。
【００２５】尚、データ［Ｎ］［Ｍ］は、図１に示すタ
ッチセンサパネル上の各位置の総合評価値である。ステ
ップＳ６２の実行後、プロセッサはＭに１を加算し（ス
テップＳ６３）、ステップＳ６１に移行する。ステップ
Ｓ６１おいてＭが１６より大であると判定されたとき
は、プロセッサはＭを１に設定し（ステップＳ６４）、
Ｎに１を加算し（ステップＳ６５）、ステップＳ６０に
移行する。
ッチセンサパネル上の各位置の総合評価値である。ステ
ップＳ６２の実行後、プロセッサはＭに１を加算し（ス
テップＳ６３）、ステップＳ６１に移行する。ステップ
Ｓ６１おいてＭが１６より大であると判定されたとき
は、プロセッサはＭを１に設定し（ステップＳ６４）、
Ｎに１を加算し（ステップＳ６５）、ステップＳ６０に
移行する。
【００２６】以上のデータ読取処理ルーチンによって、
例えば第１信号線Ｃ12〜Ｃ14及び第２信号線Ｌ11〜Ｌ13
に交流電圧が発生した場合には、Ｘ［１２］＝４、Ｘ
［１３］＝８、Ｘ［１４］＝４となり、また、Ｙ［１
１］＝４、Ｙ［１２］＝８、Ｙ［１３］＝４となるの
で、図８に示すような総合評価値による接触分布が得ら
れる。
例えば第１信号線Ｃ12〜Ｃ14及び第２信号線Ｌ11〜Ｌ13
に交流電圧が発生した場合には、Ｘ［１２］＝４、Ｘ
［１３］＝８、Ｘ［１４］＝４となり、また、Ｙ［１
１］＝４、Ｙ［１２］＝８、Ｙ［１３］＝４となるの
で、図８に示すような総合評価値による接触分布が得ら
れる。
【００２７】ステップＳ５の実行後、プロセッサはデー
タ読取処理ルーチンによって得られたタッチセンサパネ
ル上の各位置の総合評価値を示すデータをＲＡＭの所定
領域に転送する。そして、総合評価値が既に記憶されて
いる場合には既に記憶されている値と新たに得られた値
のうちの大なる一方を記憶する（ステップＳ６）。この
のち、プロセッサは先頭フラグがオンか否かを判定する
（ステップＳ７）。ステップＳ７において先頭フラグが
オンであると判定されたときは、プロセッサは計数値
(a) に１を加算し（ステップＳ８）、接触面の中心位置
を先頭位置としてＲＡＭに記憶する（ステップＳ９）。
ステップＳ７において先頭フラグがオンでないと判定さ
れたときは、プロセッサは接触面の中心位置の今回値と
前回値との差をＲＡＭに記憶する（ステップＳ１０）。
ステップＳ９又はＳ１０の実行後、プロセッサは先頭フ
ラグをオフにし（ステップＳ１２）、ステップＳ２に移
行する。
タ読取処理ルーチンによって得られたタッチセンサパネ
ル上の各位置の総合評価値を示すデータをＲＡＭの所定
領域に転送する。そして、総合評価値が既に記憶されて
いる場合には既に記憶されている値と新たに得られた値
のうちの大なる一方を記憶する（ステップＳ６）。この
のち、プロセッサは先頭フラグがオンか否かを判定する
（ステップＳ７）。ステップＳ７において先頭フラグが
オンであると判定されたときは、プロセッサは計数値
(a) に１を加算し（ステップＳ８）、接触面の中心位置
を先頭位置としてＲＡＭに記憶する（ステップＳ９）。
ステップＳ７において先頭フラグがオンでないと判定さ
れたときは、プロセッサは接触面の中心位置の今回値と
前回値との差をＲＡＭに記憶する（ステップＳ１０）。
ステップＳ９又はＳ１０の実行後、プロセッサは先頭フ
ラグをオフにし（ステップＳ１２）、ステップＳ２に移
行する。
【００２８】ステップＳ８によってカウントアップする
計数値(a) は、文字の要素数をあらわす値であり、例え
ば“は”の要素数は３である。また、ステップＳ９又は
Ｓ１０において、接触面の中心位置は、（接触面の一端
の位置に対応する値＋接触面の他端の位置に対応する
値）／２という式によって得られる値の小数点以下を切
り捨てて得られる値に対応する位置である。すなわち、
例えば第１信号線Ｃ12〜Ｃ14及び第２信号線Ｌ11〜Ｌ13
に交流電圧が発生した場合には、Ｘ方向における接触面
の中心位置は、（１２＋１４）／２＝１３からＣ13に対
応する位置であり、Ｙ方向における接触面の中心位置
は、（１１＋１３）／２＝１２からＬ12に対応する位置
となる。
計数値(a) は、文字の要素数をあらわす値であり、例え
ば“は”の要素数は３である。また、ステップＳ９又は
Ｓ１０において、接触面の中心位置は、（接触面の一端
の位置に対応する値＋接触面の他端の位置に対応する
値）／２という式によって得られる値の小数点以下を切
り捨てて得られる値に対応する位置である。すなわち、
例えば第１信号線Ｃ12〜Ｃ14及び第２信号線Ｌ11〜Ｌ13
に交流電圧が発生した場合には、Ｘ方向における接触面
の中心位置は、（１２＋１４）／２＝１３からＣ13に対
応する位置であり、Ｙ方向における接触面の中心位置
は、（１１＋１３）／２＝１２からＬ12に対応する位置
となる。
【００２９】ステップＳ３においてレディ信号ｄが存在
しないと判定されたときは、プロセッサは計数値(b) に
１を加算し（ステップＳ１２）、計数値(b) がＡより大
であるか否かを判定する（ステップＳ１３）。ステップ
Ｓ１３において計数値(b) がＡより大でないと判定され
たときは、プロセッサは計数値(b) がＢより大であるか
否かを判定する（ステップＳ１４）。ステップＳ１４に
おいて計数値(b) がＢより大であると判定されたとき
は、プロセッサは先頭フラグをオンにし（ステップＳ１
５）、ステップＳ２に移行する。ステップＳ１４におい
て計数値(b) がＢより大でないと判定されたときは、プ
ロセッサは直ちにステップＳ２に移行する。また、ステ
ップＳ１３において計数値(b) がＡより大であると判定
されたときは、プロセッサはタッチフラグがオンである
か否かを判定する（ステップＳ１６）。
しないと判定されたときは、プロセッサは計数値(b) に
１を加算し（ステップＳ１２）、計数値(b) がＡより大
であるか否かを判定する（ステップＳ１３）。ステップ
Ｓ１３において計数値(b) がＡより大でないと判定され
たときは、プロセッサは計数値(b) がＢより大であるか
否かを判定する（ステップＳ１４）。ステップＳ１４に
おいて計数値(b) がＢより大であると判定されたとき
は、プロセッサは先頭フラグをオンにし（ステップＳ１
５）、ステップＳ２に移行する。ステップＳ１４におい
て計数値(b) がＢより大でないと判定されたときは、プ
ロセッサは直ちにステップＳ２に移行する。また、ステ
ップＳ１３において計数値(b) がＡより大であると判定
されたときは、プロセッサはタッチフラグがオンである
か否かを判定する（ステップＳ１６）。
【００３０】ステップＳ１２によってカウントアップす
る計数値(b) は、ユーザの指がタッチセンサパネルに接
触している時間を表す値であり、ステップＳ１３及びＳ
１４においては(b) ＞Ａであれば長時間指入力がなく一
文字の入力が終了したとみなし、Ａ＞(b) ＞Ｂであれば
一文字の中での要素間の移動があったとみなし、Ｂ＞
(b) であれば一瞬指が離れた場合でも継続して指が接触
しているとみなしているのである。
る計数値(b) は、ユーザの指がタッチセンサパネルに接
触している時間を表す値であり、ステップＳ１３及びＳ
１４においては(b) ＞Ａであれば長時間指入力がなく一
文字の入力が終了したとみなし、Ａ＞(b) ＞Ｂであれば
一文字の中での要素間の移動があったとみなし、Ｂ＞
(b) であれば一瞬指が離れた場合でも継続して指が接触
しているとみなしているのである。
【００３１】以上のステップＳ１〜Ｓ１５によって図９
に示すような指の接触位置の中心の軌跡のパターン及び
図１０に示すような総合評価値による接触分布がＲＡＭ
に記憶される。ステップＳ１６においてタッチフラグが
オンでないと判定されたときは、プロセッサはステップ
Ｓ１に移行する直前に実行していたルーチンの実行を再
開する。ステップＳ１６においてタッチフラグがオンで
あると判定されたときは、プロセッサはＲＡＭ内のアド
レスを示すポインタと称される数値を初期設定して入力
パターンの最初の要素が記憶されているアドレスに対応
する値にし（ステップＳ１７）、ＲＯＭに予め記憶され
ている全ての基準パターンの各々の先頭位置をポインタ
によって示されているアドレスに記憶されている入力パ
ターンの先頭位置に合わせたときの基準パターンの終了
位置及び移動方向を計算し（ステップＳ１８）、ＲＯＭ
に予め記憶されている全ての基準パターンのうちのステ
ップＳ１８によって計算して得られた終了位置が入力パ
ターンの終了位置に一致するパターンを選択して第１候
補パターン群を形成し（ステップＳ１９）、ＲＯＭに予
め記憶されている全ての基準パターンのうちのステップ
Ｓ１８によって計算して得られた移動方向が入力パター
ンの移動方向に一致するパターンを選択して第２候補パ
ターン群を形成する（ステップＳ２０）。こののち、プ
ロセッサは第１候補パターン群及び第２候補パターン群
の双方に属する基準パターンを選択して第３候補パター
ン群を形成し、第３候補パターン群の各々について入力
パターンとのデータの重ね合わせ行って適合率を計算す
る（ステップＳ２１）。
に示すような指の接触位置の中心の軌跡のパターン及び
図１０に示すような総合評価値による接触分布がＲＡＭ
に記憶される。ステップＳ１６においてタッチフラグが
オンでないと判定されたときは、プロセッサはステップ
Ｓ１に移行する直前に実行していたルーチンの実行を再
開する。ステップＳ１６においてタッチフラグがオンで
あると判定されたときは、プロセッサはＲＡＭ内のアド
レスを示すポインタと称される数値を初期設定して入力
パターンの最初の要素が記憶されているアドレスに対応
する値にし（ステップＳ１７）、ＲＯＭに予め記憶され
ている全ての基準パターンの各々の先頭位置をポインタ
によって示されているアドレスに記憶されている入力パ
ターンの先頭位置に合わせたときの基準パターンの終了
位置及び移動方向を計算し（ステップＳ１８）、ＲＯＭ
に予め記憶されている全ての基準パターンのうちのステ
ップＳ１８によって計算して得られた終了位置が入力パ
ターンの終了位置に一致するパターンを選択して第１候
補パターン群を形成し（ステップＳ１９）、ＲＯＭに予
め記憶されている全ての基準パターンのうちのステップ
Ｓ１８によって計算して得られた移動方向が入力パター
ンの移動方向に一致するパターンを選択して第２候補パ
ターン群を形成する（ステップＳ２０）。こののち、プ
ロセッサは第１候補パターン群及び第２候補パターン群
の双方に属する基準パターンを選択して第３候補パター
ン群を形成し、第３候補パターン群の各々について入力
パターンとのデータの重ね合わせ行って適合率を計算す
る（ステップＳ２１）。
【００３２】ステップＳ２１において、入力パターンと
基準パターンとの適合率は、両パターンの先頭位置の位
置合わせを行った後に対応する位置同士の評価値を掛け
合わせて得られた値の総和と基準パターンの各位置の評
価値の２乗の総和との比である。すなわち、例えば
“は”という文字の左の部分の入力パターンとして図１
１（ａ）に示すような指の接触位置の中心の軌跡のパタ
ーンが得られた場合、この入力パターンと図１１（ｂ）
に示すような基準パターンとの適合率は、〇印の評価値
を８とすれば、８×８×６／８×８×９＝６７％であ
る。尚、図１１において破線は、対応する位置を示して
いる。
基準パターンとの適合率は、両パターンの先頭位置の位
置合わせを行った後に対応する位置同士の評価値を掛け
合わせて得られた値の総和と基準パターンの各位置の評
価値の２乗の総和との比である。すなわち、例えば
“は”という文字の左の部分の入力パターンとして図１
１（ａ）に示すような指の接触位置の中心の軌跡のパタ
ーンが得られた場合、この入力パターンと図１１（ｂ）
に示すような基準パターンとの適合率は、〇印の評価値
を８とすれば、８×８×６／８×８×９＝６７％であ
る。尚、図１１において破線は、対応する位置を示して
いる。
【００３３】また、接触分布を加味した場合、すなわち
例えば“は”という文字の左の部分の入力パターンとし
て図１２（ａ）に示すような接触分布が得られた場合、
この入力パターンと図１２（ｂ）に示すような基準パタ
ーンとの適合率は、〇印の評価値を８とし、△印の評価
値を４とすれば、８９％となる。従って、接触分布を加
味した方が判定率が向上するのである。尚、図１２にお
いて破線、一点鎖線及び二点鎖線は、対応する位置を示
している。
例えば“は”という文字の左の部分の入力パターンとし
て図１２（ａ）に示すような接触分布が得られた場合、
この入力パターンと図１２（ｂ）に示すような基準パタ
ーンとの適合率は、〇印の評価値を８とし、△印の評価
値を４とすれば、８９％となる。従って、接触分布を加
味した方が判定率が向上するのである。尚、図１２にお
いて破線、一点鎖線及び二点鎖線は、対応する位置を示
している。
【００３４】ステップＳ２１の実行後、プロセッサは計
数値(a) によって入力パターンの各要素全てについての
基準パターンとの適合率の計算が終了したか否かを判定
する（ステップＳ２２）。ステップＳ２２において入力
パターンの各要素全てについての基準パターンとの適合
率の計算が終了したと判定されたときは、プロセッサは
第３候補パターン群のうちの適合率の最も高いものを選
択して入力パターンを特定し（ステップＳ２３）、ステ
ップＳ１に移行する直前に実行していたルーチンの実行
を再開する。ステップＳ２２において入力パターンの各
要素全てについての基準パターンとの適合率の計算が終
了してないと判定されたときは、プロセッサは入力パタ
ーンの次の要素についての処理をなすべくＲＡＭ内のア
ドレスを示すポインタと称される値を入力パターンの次
の要素に関するデータが記憶されているアドレスを示す
値に変化させ（ステップＳ２４）、ステップＳ１８に移
行する。
数値(a) によって入力パターンの各要素全てについての
基準パターンとの適合率の計算が終了したか否かを判定
する（ステップＳ２２）。ステップＳ２２において入力
パターンの各要素全てについての基準パターンとの適合
率の計算が終了したと判定されたときは、プロセッサは
第３候補パターン群のうちの適合率の最も高いものを選
択して入力パターンを特定し（ステップＳ２３）、ステ
ップＳ１に移行する直前に実行していたルーチンの実行
を再開する。ステップＳ２２において入力パターンの各
要素全てについての基準パターンとの適合率の計算が終
了してないと判定されたときは、プロセッサは入力パタ
ーンの次の要素についての処理をなすべくＲＡＭ内のア
ドレスを示すポインタと称される値を入力パターンの次
の要素に関するデータが記憶されているアドレスを示す
値に変化させ（ステップＳ２４）、ステップＳ１８に移
行する。
【００３５】図１３は、タッチセンサパネルの他の例を
示す図である。同図において、１６本の第１信号線Ｃ1
〜Ｃ16及び１６本の第２信号線Ｌ1 〜Ｌ16は、図１と同
様に配置されている。しかしながら、本例においては１
６本の第１信号線Ｃ1 〜Ｃ16の各々及び１６本の第２信
号線Ｌ1 〜Ｌ16の各々に接続されているタッチプレート
Ｐの形状は、半円形であり、第１信号線Ｃ1 〜Ｃ16の各
々に接続されているタッチプレートＰの直線部分と第２
信号線Ｌ1 〜Ｌ16の各々に接続されているタッチプレー
トＰの直線部分とが互いに対向するようにタッチプレー
トＰの配置がなされている。かかる構成においても図１
と同様の作用が働く。
示す図である。同図において、１６本の第１信号線Ｃ1
〜Ｃ16及び１６本の第２信号線Ｌ1 〜Ｌ16は、図１と同
様に配置されている。しかしながら、本例においては１
６本の第１信号線Ｃ1 〜Ｃ16の各々及び１６本の第２信
号線Ｌ1 〜Ｌ16の各々に接続されているタッチプレート
Ｐの形状は、半円形であり、第１信号線Ｃ1 〜Ｃ16の各
々に接続されているタッチプレートＰの直線部分と第２
信号線Ｌ1 〜Ｌ16の各々に接続されているタッチプレー
トＰの直線部分とが互いに対向するようにタッチプレー
トＰの配置がなされている。かかる構成においても図１
と同様の作用が働く。
【００３６】尚、上記実施例においてはタッチセンサパ
ネルは、電源誘導による方式のタッチセンサパネルであ
るとしたが、スキャン方式のタッチセンサパネルを使用
することもでき、その場合には第１及び第２信号線のう
ちの一方にダイナミックエンコーダのドライブ出力を供
給し、第１及び第２信号線のうちの他方に導出される信
号をダイナミックエンコーダのセンサ入力とし、ダイナ
ミックエンコーダのセンサ出力をマイクロコンピュータ
１５に供給すればよい。
ネルは、電源誘導による方式のタッチセンサパネルであ
るとしたが、スキャン方式のタッチセンサパネルを使用
することもでき、その場合には第１及び第２信号線のう
ちの一方にダイナミックエンコーダのドライブ出力を供
給し、第１及び第２信号線のうちの他方に導出される信
号をダイナミックエンコーダのセンサ入力とし、ダイナ
ミックエンコーダのセンサ出力をマイクロコンピュータ
１５に供給すればよい。
【００３７】
【発明の効果】以上詳述した如く本発明によるパターン
入力装置によれば、検出面の面積が比較的小さい場合で
も、ペン等の器具を使用せずにパターン入力が可能とな
り、操作性を良くすることができるのである。
入力装置によれば、検出面の面積が比較的小さい場合で
も、ペン等の器具を使用せずにパターン入力が可能とな
り、操作性を良くすることができるのである。
【００３８】また、本発明による他のパターン入力装置
によれば、物体と検出面との接触面のほぼ中心からの距
離に応じた重み付けがなされるので、例えば物体の描く
入力パターンと基準パターンとの適合率の計算の精度を
高くすることができ、物体の描くパターンの判別をより
正確になすことができるのである。
によれば、物体と検出面との接触面のほぼ中心からの距
離に応じた重み付けがなされるので、例えば物体の描く
入力パターンと基準パターンとの適合率の計算の精度を
高くすることができ、物体の描くパターンの判別をより
正確になすことができるのである。
【図１】本発明の実施例を示す回路図である。
【図２】本発明の実施例を示す回路ブロック図である。
【図３】図１及び図２に示す装置の各部の動作を示す波
形図である。
形図である。
【図４】図１及び図２に示す装置の動作を示すフロ―図
である。
である。
【図５】図１及び図２に示す装置の動作を示すフロ―図
である。
である。
【図６】図１及び図２に示す装置の動作を示すフロ―図
である。
である。
【図７】図１及び図２に示す装置の動作を示すフロ―図
である。
である。
【図８】接触分布を示す図である。
【図９】指の接触位置の中心の軌跡のパターンを示す図
である。
である。
【図１０】接触分布図を示す図である。
【図１１】入力パターンと基準パターンとの適合率の計
算方法を示す図である。
算方法を示す図である。
【図１２】入力パターンと基準パターンとの適合率の計
算方法を示す図である。
算方法を示す図である。
【図１３】他の実施例を示す回路図である。
Ｐ……タッチプレート Ｃ1 〜Ｃ16……第１信
号線 Ｌ1 〜Ｌ16……第２信号線 １５……マイクロコン
ピュータ
号線 Ｌ1 〜Ｌ16……第２信号線 １５……マイクロコン
ピュータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G06F 3/03 380 H03K 17/96
Claims (2)
- 【請求項１】 同一の検出面上の座標に対応して配置さ
れかつ物体が接触したとき検出信号をそれぞれ発生する
複数の接触検出器と、 前記複数の接触検出器のうちの互いに隣接する複数の接
触検出器の各々から検出信号が出力されたとき、検出信
号を出力した接触検出器の座標を以て接触領域とし、前
記接触領域のほぼ中心に位置する点からの距離に応じた
重みづけを行って得られる値を前記接触領域内の各座標
と対応させて評価値を生成する手段と、 前記評価値を順次記憶する記憶手段と、 前記記憶手段に記憶された評価値を複数の所定パターン
の各々と対応させて、前記所定パターン毎に前記記憶さ
れた評価値の適合率を計算する手段と、 前記適合率に基づいて前記検出面に前記物体の接触によ
って描かれた パターンを判別するパターン判別手段と、 からなるパターン入力装置。 - 【請求項２】 前記パターン特定手段は、 前記記憶手段に最初に記憶された評価値の座標と、前記
所定パターンの開始点に対応した座標との位置合わせを
行い、対応する座標同士の評価値を掛け合わせて得られ
た値の総和と、前記所定パターンの各座標の評価値の２
乗の総和との比を計算して前記適合率を求めることを特
徴とする請求項１記載のパターン入力装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4326391A JP3171866B2 (ja) | 1991-03-08 | 1991-03-08 | パターン入力装置 |
| US07/802,035 US5239140A (en) | 1991-03-08 | 1991-12-03 | Pattern input apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4326391A JP3171866B2 (ja) | 1991-03-08 | 1991-03-08 | パターン入力装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04280312A JPH04280312A (ja) | 1992-10-06 |
| JP3171866B2 true JP3171866B2 (ja) | 2001-06-04 |
Family
ID=12658962
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4326391A Expired - Fee Related JP3171866B2 (ja) | 1991-03-08 | 1991-03-08 | パターン入力装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5239140A (ja) |
| JP (1) | JP3171866B2 (ja) |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US6239389B1 (en) | 1992-06-08 | 2001-05-29 | Synaptics, Inc. | Object position detection system and method |
| US5889236A (en) | 1992-06-08 | 1999-03-30 | Synaptics Incorporated | Pressure sensitive scrollbar feature |
| US5861583A (en) | 1992-06-08 | 1999-01-19 | Synaptics, Incorporated | Object position detector |
| US6028271A (en) | 1992-06-08 | 2000-02-22 | Synaptics, Inc. | Object position detector with edge motion feature and gesture recognition |
| US5880411A (en) | 1992-06-08 | 1999-03-09 | Synaptics, Incorporated | Object position detector with edge motion feature and gesture recognition |
| EP0574213B1 (en) | 1992-06-08 | 1999-03-24 | Synaptics, Inc. | Object position detector |
| US6380929B1 (en) | 1996-09-20 | 2002-04-30 | Synaptics, Incorporated | Pen drawing computer input device |
| US5854625A (en) | 1996-11-06 | 1998-12-29 | Synaptics, Incorporated | Force sensing touchpad |
| US20050174325A1 (en) * | 2003-12-23 | 2005-08-11 | Authen Tec, Inc. | Electronic device with finger sensor for character entry and associated methods |
| US20060066590A1 (en) * | 2004-09-29 | 2006-03-30 | Masanori Ozawa | Input device |
| US8547114B2 (en) | 2006-11-14 | 2013-10-01 | Cypress Semiconductor Corporation | Capacitance to code converter with sigma-delta modulator |
| WO2009006557A1 (en) * | 2007-07-03 | 2009-01-08 | Cypress Semiconductor Corporation | Method for improving scan time and sensitivity in touch sensitive user interface device |
| US9069405B2 (en) * | 2009-07-28 | 2015-06-30 | Cypress Semiconductor Corporation | Dynamic mode switching for fast touch response |
| US8723827B2 (en) | 2009-07-28 | 2014-05-13 | Cypress Semiconductor Corporation | Predictive touch surface scanning |
| US8723825B2 (en) | 2009-07-28 | 2014-05-13 | Cypress Semiconductor Corporation | Predictive touch surface scanning |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3644671A (en) * | 1968-10-21 | 1972-02-22 | Bunker Ramo | Graphic data entry system |
-
1991
- 1991-03-08 JP JP4326391A patent/JP3171866B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1991-12-03 US US07/802,035 patent/US5239140A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04280312A (ja) | 1992-10-06 |
| US5239140A (en) | 1993-08-24 |
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