JPH04274376A - 酸化物超電導薄膜 - Google Patents
酸化物超電導薄膜Info
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- JPH04274376A JPH04274376A JP3059718A JP5971891A JPH04274376A JP H04274376 A JPH04274376 A JP H04274376A JP 3059718 A JP3059718 A JP 3059718A JP 5971891 A JP5971891 A JP 5971891A JP H04274376 A JPH04274376 A JP H04274376A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、酸化物超電導薄膜に関
する。より詳細には、本発明は、基板上に堆積された複
合酸化物により形成された超電導薄膜であって、超電導
特性、特に臨界電流密度に異方性のない酸化物超電導薄
膜の新規な構成に関する。 【0002】 【従来の技術】Y−Ba−Cu−O系、Bi−Sr−C
a−Cu−O系およびTl−Ba−Ca−Cu−O系の
各酸化物超電導体は、特にその臨界温度が著しく高いこ
とから、実用化に有利な酸化物超電導材料であると考え
られている。ここで、これらの酸化物超電導体をジョセ
フソン素子、超電導トランジスタ等の電子デバイスに応
用するためには、所定の特性を有する酸化物超電導薄膜
として提供する必要がある。 【0003】酸化物超電導体は、その超電導特性に異方
性があることが知られている。すなわち、酸化物超電導
体は、一般に、その結晶のc軸に垂直な方向の超電導臨
界電流密度が大きい。従って、酸化物超電導体を薄膜と
して合成した場合、基板の成膜面に対して結晶のc軸が
直角に配向したc軸配向膜は、成膜面に平行な方向によ
り大きい超電導電流を安定して流すことができる。また
、基板の成膜面に対して結晶のc軸が平行に配向したc
軸配向膜は、成膜面に直角な方向により大きい超電導電
流を流すことができる。 【0004】また、酸化物超電導体は、臨界電流密度だ
けでなく、コヒーレンス長にも異方性がある。即ち、酸
化物超電導薄膜において、結晶のa軸方向のコヒーレン
ス長はc軸方向のコヒーレンス長よりも長く、c軸方向
のコヒーレンス長が数Å程度であるのに対して、a軸方
向のコヒーレンス長は10数Åある。 【0005】従って、酸化物超電導薄膜は、用途に応じ
て、薄膜の配向性を成膜時に適切に制御する必要がある
。尚、酸化物超電導薄膜の成膜法として代表的なスパッ
タリング法、蒸着法、レーザアブレーション法等の方法
では、成膜時の基板温度等の制御により、薄膜の配向性
を制御できることが知られている。 【0006】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ような超電導電流の伝播方向が事実上定められている超
電導薄膜ではそれを使用した素子または回路の構造が限
定されてしまう。また、集積回路等のように、電流の伝
播方向が必ずしも一定していない用途には、実質的に使
用することができない。 【0007】そこで、本発明は、上記従来技術の問題点
を解決し、超電導電流の伝播方向を限定せずに使用する
ことができる新規な酸化物超電導薄膜を提供することを
その目的としている。 【0008】 【課題を解決するための手段】即ち、本発明に従うと、
基板上に堆積された酸化物により形成された超電導薄膜
であって、結晶のc軸が該基板の成膜面に対して直角に
なるように配向した第1の酸化物超電導体層と、結晶の
c軸が該基板の成膜面に対して平行になるように配向し
た第2の酸化物超電導体層とを備え、且つ、該第1およ
び第2の酸化物超電導体層が積層して形成されているこ
とを特徴とする酸化物超電導薄膜が提供される。 【0009】 【作用】本発明に係る酸化物超電導薄膜は、結晶のc軸
が基板に直角に配向した第1酸化物超電導体層と、結晶
のc軸が基板に平行に配向した第2酸化物超電導体層と
を積層して形成されていることをその主要な特徴として
いる。 【0010】尚、説明の便宜のために、以下の記述にお
いては、結晶のc軸が基板に直角に配向した薄膜を ”
縦配向膜” と記載し、結晶のc軸が基板に平行に配向
した薄膜を ”横配向膜” と記載する。 【0011】前述のように、縦配向膜は、基板の成膜面
に平行に大きな超電導電流を流すことができる。また、
横配向膜は、基板に直角に、より大きな超電導電流を流
すことができる。従って、縦配向膜と横配向膜とを積層
して構成された本発明に係る酸化物超電導薄膜は、各配
向膜が超電導特性を補完し合って、全体として異方性の
無い超電導薄膜となる。 【0012】ここで、本発明に従う酸化物超電導薄膜に
は、縦配向膜と横配向膜とを各々1層ずつ互いに積層す
る構成から、非常に薄い縦配向膜と横配向膜とを交互に
複数積層して所望の厚さの酸化物超電導薄膜を形成する
構成まで、種々の構成が含まれる。 【0013】本発明の好ましい一態様に従うと、各々の
厚さが 100〜500 Åである複数の縦配向膜およ
び横配向膜を、交互に積層して形成された酸化物超電導
薄膜が提供される。 【0014】ここで、縦配向膜および横配向膜の各々の
厚さが上記範囲よりも薄い場合は、各配向膜が隣接する
他の配向膜の影響を受け、各配向膜の固有の結晶性が劣
化する。また、各配向膜の厚さが上記範囲よりも厚い場
合は、各配向膜の特性の独自性が強くなり過ぎ、特に、
基板の成膜面に対して直角方向の超電導電流路が形成さ
れ難くなる。このため、各配向膜が特性を補完し合って
異方性が解消するという効果が得られなくなる。尚、各
配向膜を積層して得られる酸化物超電導薄膜全体の膜厚
は、2000Å以上とすることが好ましい。 【0015】以上のような構成の本発明に係る酸化物超
電導薄膜の材料としては、特にY−Ba−Cu−O系酸
化物超電導体、Bi−Sr−Ca−Cu−O系酸化物超
電導体等を好ましいものとして例示することができる。 【0016】これ等の酸化物超電導体は、成長時の基板
温度を適切に設定することにより、その結晶の配向性を
制御することができる。即ち、具体的には成膜方法や使
用材料により異なるが、成膜時の基板温度を 640〜
700 ℃程度と、より高く設定することにより縦配向
膜を成膜することができる。また、成膜時の基板温度を
600〜680 ℃程度と、より低く設定することに
より、結晶のa軸が基板の成膜面に直角に配向した横配
向膜を成膜することができる。 【0017】また上述のような酸化物超電導材料の薄膜
は、MgO、SrTiO3 、LaAlO3 、LaG
aO3 、YSZ等の酸化物単結晶基板上に好ましく成
膜することができる。 【0018】以下、実施例を挙げて、本発明をより具体
的に説明するが、以下の開示は本発明の一実施例に過ぎ
ず、本発明の技術的範囲を何ら限定するものではない。 【0019】 【実施例】図1は、本発明に係る酸化物超電導薄膜の具
体的な構成例を示す図である。 【0020】同図に示すように、この酸化物超電導薄膜
は、基板1上に交互に堆積された各々15層の縦配向膜
21 〜215および横配向膜31 〜315により構
成されている。基板1は、MgO単結晶の(100)基
板であり、各配向膜21 〜215、31 〜315は
、各々 100Åの厚さである。従って、酸化物超電導
薄膜全体の厚さは、約3000Åである。 【0021】上述のような構造の酸化物超電導薄膜を、
RFマグネトロンスパッタリング法により作製した。 尚、酸化物超電導材料としては、Y1Ba2Cu3 O
7−X を使用した試料と、Bi2Sr2Ca2Cu3
Ox を使用した試料とをそれぞれを作製した。 【0022】Y1Ba2Cu3 O7−X を使用した
酸化物超電導薄膜の場合はY:Ba:Cuの原子比が1
:2:2.6 であるY−Ba−Cu複合酸化物焼結体
をターゲットとして使用した。また、結晶のc軸が基板
に直角に配向した縦配向膜の成膜は基板温度を 640
℃に設定して行い、結晶のc軸が基板に平行に配向した
横配向膜の成膜は基板温度を600 ℃に設定して行っ
た。その他の成膜条件は下記の表1に示す通りである。 【0023】 【表1】 【0024】一方、Bi2Sr2Ca2Cu3
Ox を使用した酸化物超電導薄膜の場合は、Bi:S
r:Ca:Cuの原子比が2:2:2:2.6 である
Bi−Sr−Ca−Cu複合酸化物焼結体をターゲット
として使用した。縦配向の酸化物超電導体層は、基板温
度700 ℃で堆積させることで形成し、横配向の酸化
物超電導体層は、基板温度680 ℃で堆積させること
で形成した。尚、他の成膜条件は、表1に示したY1B
a2Cu3 O7−X の場合と同じにした。 【0025】上記本発明の酸化物超電導薄膜の超電導特
性と、従来のc軸配向の酸化物超電導薄膜およびa軸配
向の酸化物超電導薄膜の超電導特性とを測定して比較し
た。結果を以下の表2および表3に示す。 【0026】 【表2】 【0027】 【表3】 【0028】上記のように、本発明の酸化物超電導薄膜
は、従来の薄膜と異なり、臨界電流密度Jc に異方性
が少ない。 【0029】 【発明の効果】本発明の酸化物超電導薄膜は、臨界電流
密度をはじめとする超電導特性に異方性がなく、実用性
に優れている。従って、特にジョセフソン素子等の電子
デバイスを作製するのに有効である。
する。より詳細には、本発明は、基板上に堆積された複
合酸化物により形成された超電導薄膜であって、超電導
特性、特に臨界電流密度に異方性のない酸化物超電導薄
膜の新規な構成に関する。 【0002】 【従来の技術】Y−Ba−Cu−O系、Bi−Sr−C
a−Cu−O系およびTl−Ba−Ca−Cu−O系の
各酸化物超電導体は、特にその臨界温度が著しく高いこ
とから、実用化に有利な酸化物超電導材料であると考え
られている。ここで、これらの酸化物超電導体をジョセ
フソン素子、超電導トランジスタ等の電子デバイスに応
用するためには、所定の特性を有する酸化物超電導薄膜
として提供する必要がある。 【0003】酸化物超電導体は、その超電導特性に異方
性があることが知られている。すなわち、酸化物超電導
体は、一般に、その結晶のc軸に垂直な方向の超電導臨
界電流密度が大きい。従って、酸化物超電導体を薄膜と
して合成した場合、基板の成膜面に対して結晶のc軸が
直角に配向したc軸配向膜は、成膜面に平行な方向によ
り大きい超電導電流を安定して流すことができる。また
、基板の成膜面に対して結晶のc軸が平行に配向したc
軸配向膜は、成膜面に直角な方向により大きい超電導電
流を流すことができる。 【0004】また、酸化物超電導体は、臨界電流密度だ
けでなく、コヒーレンス長にも異方性がある。即ち、酸
化物超電導薄膜において、結晶のa軸方向のコヒーレン
ス長はc軸方向のコヒーレンス長よりも長く、c軸方向
のコヒーレンス長が数Å程度であるのに対して、a軸方
向のコヒーレンス長は10数Åある。 【0005】従って、酸化物超電導薄膜は、用途に応じ
て、薄膜の配向性を成膜時に適切に制御する必要がある
。尚、酸化物超電導薄膜の成膜法として代表的なスパッ
タリング法、蒸着法、レーザアブレーション法等の方法
では、成膜時の基板温度等の制御により、薄膜の配向性
を制御できることが知られている。 【0006】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ような超電導電流の伝播方向が事実上定められている超
電導薄膜ではそれを使用した素子または回路の構造が限
定されてしまう。また、集積回路等のように、電流の伝
播方向が必ずしも一定していない用途には、実質的に使
用することができない。 【0007】そこで、本発明は、上記従来技術の問題点
を解決し、超電導電流の伝播方向を限定せずに使用する
ことができる新規な酸化物超電導薄膜を提供することを
その目的としている。 【0008】 【課題を解決するための手段】即ち、本発明に従うと、
基板上に堆積された酸化物により形成された超電導薄膜
であって、結晶のc軸が該基板の成膜面に対して直角に
なるように配向した第1の酸化物超電導体層と、結晶の
c軸が該基板の成膜面に対して平行になるように配向し
た第2の酸化物超電導体層とを備え、且つ、該第1およ
び第2の酸化物超電導体層が積層して形成されているこ
とを特徴とする酸化物超電導薄膜が提供される。 【0009】 【作用】本発明に係る酸化物超電導薄膜は、結晶のc軸
が基板に直角に配向した第1酸化物超電導体層と、結晶
のc軸が基板に平行に配向した第2酸化物超電導体層と
を積層して形成されていることをその主要な特徴として
いる。 【0010】尚、説明の便宜のために、以下の記述にお
いては、結晶のc軸が基板に直角に配向した薄膜を ”
縦配向膜” と記載し、結晶のc軸が基板に平行に配向
した薄膜を ”横配向膜” と記載する。 【0011】前述のように、縦配向膜は、基板の成膜面
に平行に大きな超電導電流を流すことができる。また、
横配向膜は、基板に直角に、より大きな超電導電流を流
すことができる。従って、縦配向膜と横配向膜とを積層
して構成された本発明に係る酸化物超電導薄膜は、各配
向膜が超電導特性を補完し合って、全体として異方性の
無い超電導薄膜となる。 【0012】ここで、本発明に従う酸化物超電導薄膜に
は、縦配向膜と横配向膜とを各々1層ずつ互いに積層す
る構成から、非常に薄い縦配向膜と横配向膜とを交互に
複数積層して所望の厚さの酸化物超電導薄膜を形成する
構成まで、種々の構成が含まれる。 【0013】本発明の好ましい一態様に従うと、各々の
厚さが 100〜500 Åである複数の縦配向膜およ
び横配向膜を、交互に積層して形成された酸化物超電導
薄膜が提供される。 【0014】ここで、縦配向膜および横配向膜の各々の
厚さが上記範囲よりも薄い場合は、各配向膜が隣接する
他の配向膜の影響を受け、各配向膜の固有の結晶性が劣
化する。また、各配向膜の厚さが上記範囲よりも厚い場
合は、各配向膜の特性の独自性が強くなり過ぎ、特に、
基板の成膜面に対して直角方向の超電導電流路が形成さ
れ難くなる。このため、各配向膜が特性を補完し合って
異方性が解消するという効果が得られなくなる。尚、各
配向膜を積層して得られる酸化物超電導薄膜全体の膜厚
は、2000Å以上とすることが好ましい。 【0015】以上のような構成の本発明に係る酸化物超
電導薄膜の材料としては、特にY−Ba−Cu−O系酸
化物超電導体、Bi−Sr−Ca−Cu−O系酸化物超
電導体等を好ましいものとして例示することができる。 【0016】これ等の酸化物超電導体は、成長時の基板
温度を適切に設定することにより、その結晶の配向性を
制御することができる。即ち、具体的には成膜方法や使
用材料により異なるが、成膜時の基板温度を 640〜
700 ℃程度と、より高く設定することにより縦配向
膜を成膜することができる。また、成膜時の基板温度を
600〜680 ℃程度と、より低く設定することに
より、結晶のa軸が基板の成膜面に直角に配向した横配
向膜を成膜することができる。 【0017】また上述のような酸化物超電導材料の薄膜
は、MgO、SrTiO3 、LaAlO3 、LaG
aO3 、YSZ等の酸化物単結晶基板上に好ましく成
膜することができる。 【0018】以下、実施例を挙げて、本発明をより具体
的に説明するが、以下の開示は本発明の一実施例に過ぎ
ず、本発明の技術的範囲を何ら限定するものではない。 【0019】 【実施例】図1は、本発明に係る酸化物超電導薄膜の具
体的な構成例を示す図である。 【0020】同図に示すように、この酸化物超電導薄膜
は、基板1上に交互に堆積された各々15層の縦配向膜
21 〜215および横配向膜31 〜315により構
成されている。基板1は、MgO単結晶の(100)基
板であり、各配向膜21 〜215、31 〜315は
、各々 100Åの厚さである。従って、酸化物超電導
薄膜全体の厚さは、約3000Åである。 【0021】上述のような構造の酸化物超電導薄膜を、
RFマグネトロンスパッタリング法により作製した。 尚、酸化物超電導材料としては、Y1Ba2Cu3 O
7−X を使用した試料と、Bi2Sr2Ca2Cu3
Ox を使用した試料とをそれぞれを作製した。 【0022】Y1Ba2Cu3 O7−X を使用した
酸化物超電導薄膜の場合はY:Ba:Cuの原子比が1
:2:2.6 であるY−Ba−Cu複合酸化物焼結体
をターゲットとして使用した。また、結晶のc軸が基板
に直角に配向した縦配向膜の成膜は基板温度を 640
℃に設定して行い、結晶のc軸が基板に平行に配向した
横配向膜の成膜は基板温度を600 ℃に設定して行っ
た。その他の成膜条件は下記の表1に示す通りである。 【0023】 【表1】 【0024】一方、Bi2Sr2Ca2Cu3
Ox を使用した酸化物超電導薄膜の場合は、Bi:S
r:Ca:Cuの原子比が2:2:2:2.6 である
Bi−Sr−Ca−Cu複合酸化物焼結体をターゲット
として使用した。縦配向の酸化物超電導体層は、基板温
度700 ℃で堆積させることで形成し、横配向の酸化
物超電導体層は、基板温度680 ℃で堆積させること
で形成した。尚、他の成膜条件は、表1に示したY1B
a2Cu3 O7−X の場合と同じにした。 【0025】上記本発明の酸化物超電導薄膜の超電導特
性と、従来のc軸配向の酸化物超電導薄膜およびa軸配
向の酸化物超電導薄膜の超電導特性とを測定して比較し
た。結果を以下の表2および表3に示す。 【0026】 【表2】 【0027】 【表3】 【0028】上記のように、本発明の酸化物超電導薄膜
は、従来の薄膜と異なり、臨界電流密度Jc に異方性
が少ない。 【0029】 【発明の効果】本発明の酸化物超電導薄膜は、臨界電流
密度をはじめとする超電導特性に異方性がなく、実用性
に優れている。従って、特にジョセフソン素子等の電子
デバイスを作製するのに有効である。
【図1】本発明の酸化物超電導薄膜の断面の概念図であ
る。
る。
1 基板、 21 〜215 縦配向膜、
31 〜315 横配向膜
31 〜315 横配向膜
Claims (1)
- 【請求項1】基板上に堆積された酸化物により形成され
た超電導薄膜であって、結晶のc軸が該基板の成膜面に
対して直角になるように配向した第1の酸化物超電導体
層と、結晶のc軸が該基板の成膜面に対して平行になる
ように配向した第2の酸化物超電導体層とを備え、且つ
、該第1および第2の酸化物超電導体層が積層して形成
されていることを特徴とする酸化物超電導薄膜。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3059718A JPH04274376A (ja) | 1991-03-01 | 1991-03-01 | 酸化物超電導薄膜 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3059718A JPH04274376A (ja) | 1991-03-01 | 1991-03-01 | 酸化物超電導薄膜 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04274376A true JPH04274376A (ja) | 1992-09-30 |
Family
ID=13121265
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3059718A Withdrawn JPH04274376A (ja) | 1991-03-01 | 1991-03-01 | 酸化物超電導薄膜 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04274376A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005079350A (ja) * | 2003-08-29 | 2005-03-24 | Japan Science & Technology Agency | 高臨界電流超電導素子 |
-
1991
- 1991-03-01 JP JP3059718A patent/JPH04274376A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005079350A (ja) * | 2003-08-29 | 2005-03-24 | Japan Science & Technology Agency | 高臨界電流超電導素子 |
JP4571789B2 (ja) * | 2003-08-29 | 2010-10-27 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 高臨界電流超電導素子 |
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