JPH04269609A - トロイダル面の測定方法及び測定装置 - Google Patents

トロイダル面の測定方法及び測定装置

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JPH04269609A
JPH04269609A JP5010491A JP5010491A JPH04269609A JP H04269609 A JPH04269609 A JP H04269609A JP 5010491 A JP5010491 A JP 5010491A JP 5010491 A JP5010491 A JP 5010491A JP H04269609 A JPH04269609 A JP H04269609A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光の干渉作用を用いて曲
面の状態を測定する技術に関し、特に、トロイダル面ま
たはシリンドリカル面のように面内の直交する主径線の
曲率中心が異なる曲面における面形状及び面精度の測定
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】レーザビームプリンタやレーザファクシ
ミリ等に用いられる光走査光学系は、一般にポリゴンミ
ラーの面倒れ補正を行うために、シリンドリカルレンズ
や、トロイダルレンズ等を用いたアナモフィックな光学
系で構成される。なお、シリンドリカル面は、トロイダ
ル面において一方の曲率半径が無限大の場合と考えるこ
とができるので、本明細書においてトロイダル面という
場合は、特に区別しない限りシリンドリカル面も含むも
のとする。
【0003】これらのレンズは、感光体上の形成ドット
の高密度化や均一化の要求から、0.1μm程度の面精
度が必要とされる。こうした背景から、トロイダル面を
波長以下の高精度で測定する必要が生じている。
【0004】一般に、面を高精度で測定するものとして
は、レーザ干渉計が広く知られているが、この干渉計は
、平面または球面の測定はできるが、トロイダル面等の
ような、面内の直交する主径線の曲率中心が異なる曲面
については測定できない。
【0005】そのため、ダイヤモンドやルビー等の接触
針を被測定面に当接して走査させる「接触針方式」や、
光を微小スポットとして被測定面に照射し、このスポッ
トを被測定面全体に走査させる「光プローブ方式」等が
あった。
【0006】しかし、「接触針方式」は、硬い針を被測
定面に当接させるので、被測定面を傷付けたり、汚した
りする問題があった。また、「光プローブ方式」では、
点で被測定面を走査するために、測定に時間がかかると
いう問題があった。
【0007】そこで、本発明の出願人は、先願の特願平
2−126659号において、図4(a),(b)に示
すトロイダル面の測定方法を提案している。
【0008】同図において、1は光源で、可干渉性の高
いガスレーザ又は半導体レーザ等が使用される。2a,
2bはビームエクスパンダで、光源1からの狭い光束を
適当な大きさに拡げるためのものである。3は空間フィ
ルタで、ゴースト光や反射光等の不要な光をカットする
。4は光アイソレータでビームスプリッタ4a、λ/4
板4b及び反射面4cを有する。
【0009】ビームエクスパンダ2a,2bで拡大され
た光束は、対物レンズ6を経て、被検体7の被測定面と
してのトロイダル面7aに達する。このトロイダル面7
aは、頂点で直交する主径線AB,CDを有するが、こ
のうち一方の主径線CDを母線とし、これを他方の主径
線ABに沿って回転して形成したもので、以後母線CD
のことをG主径線、これと直交する主径線ABのことを
R主径線ということにする。
【0010】対物レンズ6の最終面は、半透鏡としての
参照面6aとなっており、その曲率中心は、トロイダル
面7aのG主径線(CD)の仕上がり曲率中心とほぼ一
致する位置に配置される。また、この参照面6a又はト
ロイダル面7aは、X−Z断面内で若干シフト及び/又
はチルト可能に配置される。
【0011】そして、この参照面6aで対物レンズ6に
入射する光の一部が反射され、残りが透過してトロイダ
ル面7aを照射し、反射される。
【0012】8は被測定物7を固定する回転台で、トロ
イダル面7aのR主径線(AB)の曲率中心と一致した
回転軸を有し、図示しないDCサーボモータやステッピ
ングモータ等によって駆動され、被測定面であるトロイ
ダル面7a上をR主径線に沿って走査可能になっている
【0013】参照面6a及びトロイダル面7aで反射さ
れた可干渉光は、来た光路を戻り重畳され、参照面6a
の球面とトロイダル面7aとがほぼ平行と見なせるG主
径線に平行な図7に示すスリット状の測定部分11′に
ついて干渉を起こし、干渉縞11が形成され、光アイソ
レータ4の反射面4cを介して集束レンズ9によってイ
メージセンサ10上に結像する。
【0014】回転台8を、R主径線に沿って回動すると
、トロイダル面7a全体について面形状及び面精度の測
定ができることになる。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】ところで、トロイダル
面には、上記のように母線(G主径線)が短く、これと
直交するR主径線の長い、いわゆるドーナツ型若しくは
ノーマル型(以後この型を「NTS」という。)の他に
、母線が長くR主径線の短い樽型(以後「BTS」とい
う)と、鞍型(以後「KTS」という)とがある。図6
にBTSを例に図示するが、このトロイダル面7aは、
母線(G主径線)をR主径線の曲率中心Oを通る回転軸
12の周りに回転して創成されたものである。
【0016】そして、上記の測定方法を、BTS型やK
TS型のトロイダル面に適用すると、参照面6aの直径
を母線(G主径線)に合わせて大きくする必要があり、
干渉光学系が非常に高価になってしまう。そこで、トロ
イダル面7aを90°回転して横向きに置き、干渉縞を
R主径線と平行に生じさせ、G主径線に沿って走査させ
る方法が考えられる。こうすれば、参照面6aの直径を
大きくしなくてもよくなる。しかし、図6からわかるよ
うに、G主径線に沿って測定部分を走査すると、測定断
面の曲率半径が、R主径線からの距離に応じてr0 か
らrn の範囲で変化するので、非常にむずかしくなる
【0017】本発明は、この問題の解決を図ったもので
、BTSやKTS等の母線(G主径線)の長いトロイダ
ル面の面形状や面精度を容易に測定できる方法、及び装
置を提供しようとするものである。
【0018】
【課題を解決するための手段】上記の問題を解決するた
めに本発明は、同一光源からの可干渉光を被測定面と基
準になる参照面とに照射し、これら両面からの反射光を
重畳して干渉縞を作り面精度を測定する方法において、
被測定面に照射する可干渉光をトロイダル面の創成に使
われた回転軸上に集束するように照射し、被測定面とな
るトロイダル面上の直交するG主径線とR主径線のうち
R主径線と平行な測定部分について干渉縞を作り、トロ
イダル面を有する被検体を前記回転軸と平行に走査して
面全体を測定する構成としている。
【0019】また、測定部分の干渉縞の像を光学系によ
りイメージセンサ上に結像し、該イメージセンサからの
干渉縞の光強度信号からフーリエ変換法により前記測定
部分の面形状及び面精度を測定する工程と、測定部分の
走査に応じて得られる各測定部分の測定結果を集積する
工程とによってトロイダル面全体の面形状及び面精度を
測定する構成としてもよい。
【0020】測定装置としては、同一光源からの可干渉
光を被測定面と基準になる参照面とに照射し、これら両
面からの反射光を干渉させて被測定面の面形状及び面精
度を測定する装置において、被測定面としてのトロイダ
ル面上の直交するG主径線とR主径線のうちR主径線の
曲率に対し、予め決められた曲率を有する参照面を有し
、トロイダル面を有する被検体をトロイダル面の創成に
使われた回転軸と平行に移動可能に支持する併進台を設
けた構成を採用している。
【0021】
【作用】光源からの可干渉光は、参照面と被測定面とで
反射され、重畳されてR主径線と平行な測定部分につい
て干渉し、干渉縞を形成する。この測定部分を回転軸と
平行に走査するのであるが、トロイダル面に照射される
可干渉光の集束点は常に回転軸上にあるから、常にピン
トの合った状態で移動がされることになる。
【0022】
【実施例】以下に図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。図1(a) ,(b) は本発明の測定装置を示し
ている。 ほぼ図4の先願例で示したのと同様の構成で、本発明に
おいては、トロイダル面7aがNTSではなく、BTS
若しくはKTS面である点、及び回転台8の代わりに併
進台13を設けた点が相違している。
【0023】なお、本発明ではトロイダル面7aが図4
に示すものに比べ90°回転しており、G主径線とR主
径線とが反対になっている点に注目されたい。併進台1
3は、従来例における回転台8と同様に、図示しないD
Cサーボモータやステッピングモータ等によって駆動さ
れ、被測定物7をこの回転軸12と平行に移動できるも
のである。
【0024】図2(a) から(d) は、トロイダル
面7aと参照面6a及び回転軸12との相互関係を示す
図で、(a) は凸のBTS、(b) は凹のBTS、
(c) は凹のKTS、(d) は凸のKTSの各場合
を示す。併進台13の移動によって、参照面6aはトロ
イダル面7aに対して移動するが、その移動する状態を
、上記各図においてそれぞれ三箇所で例示的に示してい
る。また、参照面6aの曲率中心O″は常に回転軸12
上に重なり、さらに、対物レンズ6から射出された可干
渉光は、この回転軸12上の点O″に集束するように設
定されている。
【0025】前記の先願例と同様に、光源1からの可干
渉光は、参照面6aと、被測定面としてのトロイダル面
7aとで反射され、重畳され、R主径線と平行な測定部
分について干渉し、集束レンズ9により干渉縞11の像
をイメージセンサ10上に結像する。この測定部分11
′を回転軸12と平行に走査するのであるが、図2(a
) から(d) に示すように、集束点は常に回転軸1
2上にあるから、常にピントの合った状態で移動がされ
ることになる。
【0026】また、各測定断面の曲率半径が中心線から
離れるに従って変化しても、参照面6aと各測定断面と
は常に平行な状態が保たれるので、干渉縞を形成できる
。なお、参照面6aと測定断面までの光路長は、中心線
14からの距離に応じて変化するが、この変化量も干渉
縞11の明暗が反転する回数と波長とによって算出でき
、G主径線に沿った面形状を観測できることとなる。
【0027】図2に戻り、被測定面7aで反射された可
干渉光の内、干渉縞の形成に関与する光線、すなわち来
た光路と同じ光路を戻る光線は、各図に矢印を付して示
したように、G主径線の曲率中心O′に向かう光線であ
る。この光線は、参照面6aが中心線14上にあるとき
は、対物レンズ6の光軸を通るが、参照面6aが中心線
14から上又は下にずれた場合は、この光線も対物レン
ズ6の光軸からずれることになる。そこで、次に、この
ようにずれた場合の干渉縞11のでき方を説明する。
【0028】なお、ここでは、図2(a) の凸BTS
について説明するが、他のトロイダル面の場合も全く同
様に考えることができる。
【0029】図3は、図2(a) において、参照面6
aが中心軸14の上方に移動した状態を詳細に示した図
である。対物レンズ6から射出される光は、トロイダル
面7aを創成する回転軸12上のO″点に集束するが、
この点は参照面6aの曲率中心に他ならない。
【0030】図3に示す集束光線のうち、G主径線の中
心O′に向かう太い線で示された光線Lは、参照面6a
の曲率中心O″をも通る。すなわち、光線Lは、参照面
6a及びトロイダル面7aに垂直に入射するので、光線
Lと参照面6aの交点をP、被測定面7aとの交点をP
′とすれば、点PとP′で反射された光線は、入射時と
同じ光路を戻るが、その他の光線は、図示のように入射
光とは異なる光路を通る。従って、光線Lと参照面6a
の交点をP、被測定面7aとの交点をP′とすると、点
PとP′とで反射された光のみが重畳して干渉縞11を
形成し、他の光線は干渉縞とは関係がないことになる。
【0031】ここで、参照面6aは球面であり、その曲
率中心O″は、常に回転軸12上にあるので、参照面6
aは、点O″を中心とする点線で示すような球面Sの一
部分である。そして、上記光線Lと球面Sとの交点P点
は、図3の断面に限らず、回転軸12を含む全ての断面
に存在することになる。そして、この点Pの軌跡は、二
点鎖線で示すこの球面S上の円Eとなる。一方、上記光
線Lとトロイダル面7aとの交点P′点の軌跡は、トロ
イダル面7a上の円E′となる。そして、円EとE′と
は、共に回転軸12と垂直な同心円である。
【0032】従って、参照面6a上の円Eと重なる部分
と、被測定面7aの円E′と重なる部分とが干渉を起こ
し、スリット状の干渉縞11を形成することとなる。
【0033】なお、参照面6aが中心線14から上下方
向にずれると、点Pの軌跡も参照面6aの中心線からず
れるので、図5におけるイメージセンサ10上に結像さ
れる干渉縞11の像も矢印のように移動することとなる
。そこで、イメージセンサ10に二次元センサを採用し
、干渉縞11が移動しても、常にイメージセンサ上に結
像できるようにすることが望ましい。
【0034】ところで、被測定面7aから反射されて参
照面6aに達した被検波、及び参照面6a上で反射され
た瞬間における参照波は、共に点O″を中心とする球面
波である。一方、対物レンズ6は、ほぼ正弦条件を満た
していると考えてよいので、上記の参照波及び被検波は
、対物レンズ6を通過すると平面波に変換されることに
なる。
【0035】即ち、円弧状のトロイダル面7aは、イメ
ージセンサ10上には平面の像として結像することにな
る。つまり、回転軸12上のO″点に向けて球面波を照
射すると、R主径線に平行な円弧についてスリット状の
干渉縞が得られるが、この干渉縞11はトロイダル面が
理想状態にあれば、イメージセンサ10上には、直線状
に形成されることになる。この性質は、本発明の測定方
法における非常に優れた特徴といえるものである。
【0036】こうして得られたトロイダル面7aの1断
面毎のデータを、フーリエ変換法で処理し、回転軸12
の方向に走査してトロイダル面7aの全体について解析
するが、この方法は前記の先願、特願平2−12665
9号に開示されたものと同様に行うことができる。
【0037】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、シ
リンドリカル面やトロイダル面等のように、面上の直交
する主径線の曲率中心が異なる面の面形状、面精度を波
長λ以下の精度で、しかも非接触で測定することができ
る。また、NTS以外のBTSやKTS等の母線(G主
径線)の長いトロイダル面の面形状や面精度を容易に測
定できるようになった。さらに、参照面を母線の長さに
合わせて大きくする必要もないので、測定装置を安価に
製作することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の測定装置の構成を示す図で、(a) 
は正面図、(b)は側面図である。
【図2】トロイダル面と参照面、及び回転軸との相互関
係を示す図で、(a)は凸のBTS、(b) は凹のB
TS、(c) は凹のKTS、(d) は凸のKTSの
各場合を示す図である。
【図3】図2(a) において、参照面が中心線の上方
にずれた場合の干渉縞のでき方を説明する図である。
【図4】先願に記載のトロイダル面を測定する装置の構
成図で、(a) は正面図、(b) は側面図である。
【図5】イメージセンサ上に結像された干渉縞の図であ
る。
【図6】樽型トロイダル面(BTS)の斜視図である。
【符号の説明】
1      光源 6a    参照面 7      被検体 7a    トロイダル面 11    干渉縞 11′  測定部分 12    回転軸 13    併進台 14    中心軸 O      R主径線の曲率中心 O′    G主径線の曲率中心 O″    参照面の曲率中心

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  同一光源からの可干渉光を被測定面と
    基準になる参照面とに照射し、これら両面からの反射光
    を重畳して干渉縞を作り面精度を測定する方法において
    、被測定面に照射する可干渉光をトロイダル面の創成に
    使われた回転軸上に集束するように照射し、被測定面と
    なるトロイダル面上の直交するG主径線とR主径線のう
    ちR主径線と平行な測定部分について干渉縞を作り、ト
    ロイダル面を有する被検体を前記回転軸と平行に走査し
    て面全体を測定することを特徴とするトロイダル面の測
    定方法。
  2. 【請求項2】  測定部分の干渉縞の像を光学系により
    イメージセンサ上に結像し、該イメージセンサからの干
    渉縞の光強度信号からフーリエ変換法により前記測定部
    分の面形状及び面精度を測定する工程と、測定部分の走
    査に応じて得られる各測定部分の測定結果を集積する工
    程とによってトロイダル面全体の面形状及び面精度を測
    定することを特徴とする請求項1記載のトロイダル面の
    測定方法。
  3. 【請求項3】  同一光源からの可干渉光を被測定面と
    基準になる参照面とに照射し、これら両面からの反射光
    を干渉させて被測定面の面形状及び面精度を測定する装
    置において、被測定面としてのトロイダル面上の直交す
    るG主径線とR主径線のうちR主径線の曲率に対し、予
    め決められた曲率を有する参照面を有し、トロイダル面
    を有する被検体をトロイダル面の創成に使われた回転軸
    と平行に移動可能に支持する併進台を設けたことを特徴
    とするトロイダル面の測定装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6553330B2 (en) * 2000-07-07 2003-04-22 Nsk Ltd. Power roller for toroidal type continuously variable transmission
JP2018501477A (ja) * 2014-12-04 2018-01-18 アプレ インストゥルメンツ, エルエルシーApre Instruments, Llc 干渉非接触光プローブおよび測定

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2018501477A (ja) * 2014-12-04 2018-01-18 アプレ インストゥルメンツ, エルエルシーApre Instruments, Llc 干渉非接触光プローブおよび測定

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