JPH04230772A - 画像形成制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電子写真プロセスを有する画像形成制御装置に
関する。

〔従来の技術〕

一般に画像形成制御装置においては、その操作パネル上
にコピー画像の濃度調節部が設けられており、ユーザの
好みの画像濃度が得られるようになっている。

しかしながら、例えば基準濃度に設定しておいても、感
光体や露光ランプの経時劣化やトナー不足あるいは現像
バイアス電源の変動等により画像濃度は変化する。

そのため従来より、原稿露光面の原稿領域外に基準濃度
の濃度パターンを形成し、感光体上の濃度パターン像を
センサで検出し、この検出結果に基づき濃度補正制御が
行われている。この濃度制御方法では、通常の作像工程
にてパターン形成が行え、パターン濃度を適当に選択す
ることで任意のパターン電位が得られる。

濃度補正は、具体的には、帯電器、ランプレギユレータ
、現像バイアス電源の出力調整や、トナー補給ユニット
のオン／オフ動作によってなされる。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところで、濃度パターンが原稿と同様に原稿領域外のコ
ンタクトガラス上に設置されている場合は問題とならな
いが、機械の制約上、コンタクトガラス外に設置しなけ
ればならない場合、（１）コンタクトガラスによる反射
・吸収の影響、（２）原稿面との高低差による集光度の
差による影響、により、濃度パターンと同じ原稿濃度を
有する原稿とで反射光量が大きく異なってしまう。又、
その反射光量差は、機械毎における濃度パターンの濃度
ばらつき、露光ランプのフィラメント位置のばらつきに
よる集光度のばらつきなどにより、一定とはならないと
いう不具合を生じる。

濃度パターンの反射光量がばらつくということは、潜像
形成工程により形成された、その潜像パターン電位及び
現像により顕像化された顕像パターンのトナー付着量が
ばらつくということである。

これら潜像、顕像パターンは、電位センサあるいは光学
センサにてその量が測定され、初期設定値とのずれ分を
補正するために、前述の通り各作像ユニット（帯電電源
、露光ランプレギユレータ、現像バイアス電源、トナー
濃度など）を制御するものであるが、このパターンが一
定の条件内で形成されないと本来のずれ分を正確に検知
できないばかりか、過剰制御による暴走のために、シス
テム全体がダウンしてしまう危険性がある。

例えば、反射光量が少なく基準よりも高い潜像電位とな
つた場合、電位が高い分だけトナー付着量が増加するの
で、そのままの状態で制御するとトナー濃度が下がり画
像濃度低下となってしまう。

また反射光量が多く基準よりも低い潜像電位となった場
合は、逆にトナー濃度が上がり地肌汚れ、トナー飛散に
よる汚染が発生する。

本発明の目的は、上記従来技術の欠点を解消し、信頼性
の高い画像制御が可能な画像形成制御装置を提供するこ
とにある。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的は、原稿領域外に形成した基準パターンと基準
原稿との反射光量を比較し、その結果に基づいて画像形
成条件を補正する構成にすることによって達成される。

〔作用〕

基本パターンと基準原稿との反射光量を比較し、その結
果に基づき基本パターンの反射光量のずれを補正でき、
ばらつきの少ない画像形成制御がなし得ることになる。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。

第３図は本発明が通用される画像形成装置の作像周りの
概念図であって、１は感光体であり、この周囲に、作像
プロセス順に帯電器２、現像器３、転写・分離器４、ク
リーニング器５が配置される。

また、ＥＸで示す露光系の下流側には、コンタクトガラ
ス６の側方に設けた濃度パターン７の潜像電位を検出す
る電位センサ８が配置される。さらに、現像器３の下流
側には、濃度パターン７の顕像のトナー付着量を検出す
る光学センサ（フォトセンサ）９が配置される。１０は
露光ランプである。

また、１１はコンタクトガラス６上に載置された基準原
稿であり、１２は結像レンズ１３の下流側近傍に配置さ
れた自動画像濃度調整用センサである。

上記のように構成した実施例では、原稿露光面の原稿領
域外に設置された濃度パターン７は、電子写真法の潜像
形成工程により、感光体１上に潜像形成される。潜像形
成されたパターンは、電位センサ８や現像後の光学セン
サ９により、その電位、トナー付着量が検出され、例え
ば、予めメモリされている基準値と比較され、そのずれ
量に従って、帯電器２、図示しないランプレギユレータ
、現像バイアス電源の出力やトナー補給ユニットのオン
／オフを制御する。

また、自動画像濃度調整用センサ１２により、コンタク
ガラス６上に置かれた原稿地肌部からの露光による反射
光量を測定することで、その地肌がコピーとして再現さ
れないように、ランプ電圧や現像バイアスの値を制御す
る。

第４図は潜像電位、反射光量、自動画像濃度調整用セン
サ出力の関係を示す特性図である。

この図において、濃度パターン７の潜像電位は通常Ｖｐ
で得られるとする。しかしながら、前述の通り、濃度パ
ターン７の反射光量のばらつきにより、同じ露光光量で
も電位がＶｐ′、Ｖｐ″となってしまう場合がある。

この光量のばらつき度合は、自動画像濃度調整用センサ
１２で検出することができる。

次に第１図に示すフローチャートに基づき、本発明に係
るばらつき補正方法を説明する。

まず、濃度パターン７を露光ランプ４で照射し、その反
射光による自動画像濃度調整用センサ１２のセンサ出力
Ｓｐを求める（ステップ１−１）。

次に同一露光により、コンタクトラガス６上に載置され
た基準原稿１１（例えば反射光量Ｒｏの標準白紙）のセ
ンサ出力Ｓｏを求める（ステップ１−２）。次にこのセ
ンサ出力ＳｐとＳｏの比（Ｓｐ／Ｓｏ）を求める（ステ
ップ１−３）。この値により濃度パターン７からの実際
の反射光量、即ち濃度を知ることができる。そしてこの
値が第１の基準αより大きければ（ステップ１−３でＹ
）、パターン現像バイアスを電圧Ｖ１にセットする（ス
テップ１−４）。また第１の基準値αより小さければ（
ステップ１−３でＮ）、第２の基準値βと再び比較する
（ステップ１−５）。そしてβより小さければ（ステッ
プ１−５でＹ）、パターン現像バイアスを電圧Ｖ２にセ
ットする（ステップ１−６）。またβより大きければ（
ステップ１−５でＮ）、パターン現像バイアスを電圧Ｖ
３にセットする。

なお、パターン現像バイアスとＳｐ／Ｓｏの関係を第２
図に示す。

このように濃度パターンの反射光量をコンタクトガラス
上の基準原稿との比較により知ることで、パターン電位
が推定でき、それによりパターン作像条件、あるいは制
御条件を適当に選択することができる。また光量比検出
部材を、従来より用いられている自動画像濃度調節用セ
ンサ１２とすることで、コストアップなどが回避できる
。

さらに自動画像濃度調整用センサと電位センサ８あるい
は光学センサ９の測定位置が等しくなるようにすれば、
測定位置のばらつきが回避でき、安定した制御が実現で
きる。

第５図は原稿濃度と光出力比との関係を示す説明図であ
って、図中において黒丸印（●）でプロットする曲線は
原稿濃度と（ＶＯＲＮ／ＶＳＯ）×１００（％）の関係
を表したものであり（ＶＯＲＮは一般原稿の反射光量、
ＶＳＯは基準の濃度パターン７の理想的な反射光量であ
る）、濃度パターン７が理想的な反射光量を有している
状態のものである。

また図中の黒四角印（■）とクロス印（×）でプロット
する曲線は上述した各種理由により、濃度パターン７の
反射光量がずれてしまった場合の原稿濃度と（ＶＯＲＮ
／ＶＳＯＮ）×１００（％）の関係を表したものであり
　（ＶＳＯＮは、その機械での濃度パターン反射光量で
ある）、それぞれ前記ＶＳＯに対して２０％光量が低い
場合、２０％光量が高い場合を示している。

通常、画像条件の制御量は濃度パターン７が理想的な反
射光量を有する状態で設定されている。

つまり、第５図における黒丸印（●）でプロットした曲
線に基づいて制御されている。したがって、濃度パター
ン７の反射量がずれている場合、そのずれ分を補正する
必要がある。

以下に前記ずれ分の補正作動を第６図、第７図のフロー
チャートに基づいて説明する。

第６図はずれ分の補正量の決定のフローチャートであっ
て、検知用の露光ランプ４をオンし（ステップ６−１）
、濃度パターン７を露光ランプ４にてスキャンする（ス
テップ６−２）、そして、その機械での濃度パターン反
射光量ＶＳＯＮの読込みタイミング時に（ステップ６−
３）、ＶＳＯＮを読込み（ステップ６−４）、また基準
原稿１１の反射光量ＶＯＲＯの読込みタイミング時に（
ステップ６−５）、ＶＯＲＯを読込む（ステップ６−６
）。

予めＶＯＲＯ／ＶＳＯを求めておき、また、その機械に
おけるＶＯＲＯ／ＶＳＯＮを求める。そして、（ＶＯＲ
Ｏ／ＶＳＯ）／（ＶＯＲＯ／ＶＳＯＮ）を求めて補正値
αとする（ステップ６−７）。

第７図は自動地肌調整モード時の作動のフローチャート
であって、このモードが設定されなければ（ステップ７
−１のＮ）、マニアルモードへ移り（ステップ７−２）
、自動地肌調整用モードが設定されると（ステップ７−
１のＹ）、第６図におけるステップ（６−１）からステ
ップ（６−４）と同作動がステップ（７−３）からステ
ップ（７−６）として行われ、ＶＳＯＮが読込まれる。

また一般原稿の反射光量ＶＯＲＮの読込みタイミング時
に（ステップ７−７）、ＶＯＲＮを読込み（ステップ７
−８）、（ＶＯＲＮ／ＶＳＯＮ）×補正値α×１００（
％）を算出し（ステップ７−９）、この算出値によって
作像現像バイアス電圧を補正する（ステップ７−１０）
。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明によれば、画像形成条件を
基準パターンと基準原稿との反射光量を比較することに
よって補正し、信頼性の高い画像制御が可能な画像形成
制御装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による画像形成制御装置の一実施例に係
るばらつき補正作動を示すフローチャート、第２図はシ
フトする現像バイアス値の説明図、第３図は本発明が適
用される画像形成装置の作像周りの概念図、第４図は自
動画像濃度調整用センサ出力値の説明図、第５図は原稿
濃度と光出力比との関係を示す説明図、第６図はずれ補
正作動のフローチャート、第７図は自動地肌調整モード
時の作動のフローチャートである。 ７…基準パターン、１１…基準原稿。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 原稿領域外に形成した基準パターンと基準原稿との反射
   光量を比較し、その結果に基づいて画像形成条件を補正
   することを特徴とした画像形成制御装置。