JPH04228564A - 基板に材料を被覆する装置 - Google Patents
基板に材料を被覆する装置Info
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- JPH04228564A JPH04228564A JP3060054A JP6005491A JPH04228564A JP H04228564 A JPH04228564 A JP H04228564A JP 3060054 A JP3060054 A JP 3060054A JP 6005491 A JP6005491 A JP 6005491A JP H04228564 A JPH04228564 A JP H04228564A
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 19
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 8
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 8
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 8
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 7
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 abstract description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 5
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
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- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/35—Sputtering by application of a magnetic field, e.g. magnetron sputtering
-
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- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/34—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
- H01J37/3402—Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering using supplementary magnetic fields
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、基板に材料、たとえば
金属を被覆する装置であって、単数または複数の電源が
設けられていて、該電源が、排気可能な被覆室に配置さ
れた電極と接続されており、該電極がターゲットと電気
的に接続されており、該ターゲットがスパッタリングさ
れて、スパッタリングされた粒子が基板に沈着するよう
になっており、前記被覆室にプロセスガスが導入可能で
ある形式のものに関する。
金属を被覆する装置であって、単数または複数の電源が
設けられていて、該電源が、排気可能な被覆室に配置さ
れた電極と接続されており、該電極がターゲットと電気
的に接続されており、該ターゲットがスパッタリングさ
れて、スパッタリングされた粒子が基板に沈着するよう
になっており、前記被覆室にプロセスガスが導入可能で
ある形式のものに関する。
【0002】
【従来の技術】互いに並んで配置されていて、スパッタ
リングしたい種々の材料から形成されている複数のター
ゲットを備えた陰極スパッタリング装置が知られている
(西ドイツ国特許出願公開第2636293号明細書、
同第2932483号明細書;東ドイツ国特許第111
409号明細書、西ドイツ国特許出願公開第17901
78号明細書参照)。
リングしたい種々の材料から形成されている複数のター
ゲットを備えた陰極スパッタリング装置が知られている
(西ドイツ国特許出願公開第2636293号明細書、
同第2932483号明細書;東ドイツ国特許第111
409号明細書、西ドイツ国特許出願公開第17901
78号明細書参照)。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、冒頭
で述べた形式の装置を改良して、スパッタリングされた
薄膜の品質を著しく改善するために適していて、しかも
慣用のもしくは既存の装置またはユニットがこのために
不適当となることがなく、つまりこれらの装置またはユ
ニットに、大きなまたはコストのかかる組換えまたは変
更を行なくて済むような装置を提供することである。
で述べた形式の装置を改良して、スパッタリングされた
薄膜の品質を著しく改善するために適していて、しかも
慣用のもしくは既存の装置またはユニットがこのために
不適当となることがなく、つまりこれらの装置またはユ
ニットに、大きなまたはコストのかかる組換えまたは変
更を行なくて済むような装置を提供することである。
【0004】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明の構成では、スパッタリングしたい単数または
複数の材料から成るターゲットが、基板の平面に対して
それぞれ所定の角度で保持されていて、基板に向けられ
たターゲットの粒子流の主移動方向が互いに交差してい
るようにした。
に本発明の構成では、スパッタリングしたい単数または
複数の材料から成るターゲットが、基板の平面に対して
それぞれ所定の角度で保持されていて、基板に向けられ
たターゲットの粒子流の主移動方向が互いに交差してい
るようにした。
【0005】
【発明の効果】本発明によれば、既存の装置を組換える
ことなく、スパッタリングされた薄膜の品質が改善され
て、前記欠点が回避される。
ことなく、スパッタリングされた薄膜の品質が改善され
て、前記欠点が回避される。
【0006】本発明の有利な構成は請求項2以下に記載
されている。
されている。
【0007】
【実施例】以下に、本発明の実施例を図面につき詳しく
説明する。
説明する。
【0008】図1には、薄膜2を備えさせたい基板1が
図示されている。基板1には、スパッタリングしたい2
つのターゲット3,3aが向かい合って位置している。 ターゲット3,3aはそれぞれ断面U字形のエレメント
4,4aを介して各1つの電極5,5aと結合されてい
る。これらの電極はそれぞれヨーク6,6aに載設して
おり、このヨークは、同ヨークとエレメント4,4aと
の間に各3つの永久磁石7,8,9もしくは7a,8a
,9aを取り囲んでいる。3つの永久磁石7,8,9も
しくは7a,8a,9aの磁極のそれぞれ前記ターゲッ
ト3,3aに向いた極性は互い違いになっているので、
それぞれ外側の2つの永久磁石7,9もしくは7a,9
aのS極は、それぞれ真ん中の永久磁石8,8aのN極
と共に、ターゲット3もしくは3aを通るほぼ円弧状の
各1つの磁界を生ぜしめる。この磁界はそれぞれターゲ
ット3もしくは3aの手前にプラズマを集中させるので
、磁界がその円弧の最大値を有する場所で前記プラズマ
は最大密度を有している。プラズマ中のイオンは、直流
電源10,10aによって印加される直流電圧に基づい
て形成された電界によって加速される。この直流電源1
0,10aはそれぞれその負極で、2つのインダクタン
ス11,12もしくは11a,12aを介して電極5も
しくは5aと接続されている。電界はそれぞれ対応する
ターゲット3もしくは3aの表面に対して垂直に生じて
、プラズマの正イオンを前記ターゲットの方向に加速す
る。これによって、多かれ少なかれ原子または粒子がタ
ーゲット3もしくは3aから叩き出され、この場合、前
記原子または粒子は特に範囲13,14もしくは13a
,14aから、つまり磁界がその最大値を有している場
所から叩き出される。スパッタリングされた原子または
粒子は基板1の方向に、しかも破線で示した軸線もしく
は矢印l,l′の方向で移動し、この場所で薄膜2とし
て沈着する。
図示されている。基板1には、スパッタリングしたい2
つのターゲット3,3aが向かい合って位置している。 ターゲット3,3aはそれぞれ断面U字形のエレメント
4,4aを介して各1つの電極5,5aと結合されてい
る。これらの電極はそれぞれヨーク6,6aに載設して
おり、このヨークは、同ヨークとエレメント4,4aと
の間に各3つの永久磁石7,8,9もしくは7a,8a
,9aを取り囲んでいる。3つの永久磁石7,8,9も
しくは7a,8a,9aの磁極のそれぞれ前記ターゲッ
ト3,3aに向いた極性は互い違いになっているので、
それぞれ外側の2つの永久磁石7,9もしくは7a,9
aのS極は、それぞれ真ん中の永久磁石8,8aのN極
と共に、ターゲット3もしくは3aを通るほぼ円弧状の
各1つの磁界を生ぜしめる。この磁界はそれぞれターゲ
ット3もしくは3aの手前にプラズマを集中させるので
、磁界がその円弧の最大値を有する場所で前記プラズマ
は最大密度を有している。プラズマ中のイオンは、直流
電源10,10aによって印加される直流電圧に基づい
て形成された電界によって加速される。この直流電源1
0,10aはそれぞれその負極で、2つのインダクタン
ス11,12もしくは11a,12aを介して電極5も
しくは5aと接続されている。電界はそれぞれ対応する
ターゲット3もしくは3aの表面に対して垂直に生じて
、プラズマの正イオンを前記ターゲットの方向に加速す
る。これによって、多かれ少なかれ原子または粒子がタ
ーゲット3もしくは3aから叩き出され、この場合、前
記原子または粒子は特に範囲13,14もしくは13a
,14aから、つまり磁界がその最大値を有している場
所から叩き出される。スパッタリングされた原子または
粒子は基板1の方向に、しかも破線で示した軸線もしく
は矢印l,l′の方向で移動し、この場所で薄膜2とし
て沈着する。
【0009】図示の装置を制御するためには、測定デー
タを処理して制御命令を発信するプロセスコンピュータ
を設けることができる。このようなプロセスコンピュー
タには、たとえばプロセス室15内の測定された分圧の
値を供給することができる。このようなデータやその他
のデータに基づき、このプロセスコンピュータはたとえ
ば弁18,19を介してガス流を制御して、電極5,5
aにおける電圧を調節することができる。また、前記プ
ロセスコンピュータはその他全ての変数、たとえば陰極
電流および磁界強さをも制御することができる。このよ
うなプロセスコンピュータは公知であるので、詳しい説
明は省略する。
タを処理して制御命令を発信するプロセスコンピュータ
を設けることができる。このようなプロセスコンピュー
タには、たとえばプロセス室15内の測定された分圧の
値を供給することができる。このようなデータやその他
のデータに基づき、このプロセスコンピュータはたとえ
ば弁18,19を介してガス流を制御して、電極5,5
aにおける電圧を調節することができる。また、前記プ
ロセスコンピュータはその他全ての変数、たとえば陰極
電流および磁界強さをも制御することができる。このよ
うなプロセスコンピュータは公知であるので、詳しい説
明は省略する。
【0010】個々のターゲット3,3aもしくはその電
極5,5aは環状の保持部材または保持カラー31,3
1aに支承されているので、平らなターゲット面f,f
′は基板1の平面に対して傾けられた位置に位置してい
る。このような保持カラー31,31aは円筒状のリン
グであり、このリングの各1つの端面は斜めの平面を形
成している(つまり前記リングの上端面が各円筒状のリ
ングの長手方向軸線に対して斜めに延びている)。基板
の方向におけるスパッタリングしたい粒子の流れもしく
はスパッタリング雲の対称軸線はそれぞれ符号lもしく
はl′で示されている。
極5,5aは環状の保持部材または保持カラー31,3
1aに支承されているので、平らなターゲット面f,f
′は基板1の平面に対して傾けられた位置に位置してい
る。このような保持カラー31,31aは円筒状のリン
グであり、このリングの各1つの端面は斜めの平面を形
成している(つまり前記リングの上端面が各円筒状のリ
ングの長手方向軸線に対して斜めに延びている)。基板
の方向におけるスパッタリングしたい粒子の流れもしく
はスパッタリング雲の対称軸線はそれぞれ符号lもしく
はl′で示されている。
【0011】もちろん、図示の装置とは異なり、2つよ
りも多いターゲット3,3aが設けられていてもよく、
この場合、ターゲットの軸線l,l′,...は全て交
点Sで交差する。同じく、基板1を回転可能に設けるこ
とも容易に可能となる(たとえば軸線Zを中心にして)
。
りも多いターゲット3,3aが設けられていてもよく、
この場合、ターゲットの軸線l,l′,...は全て交
点Sで交差する。同じく、基板1を回転可能に設けるこ
とも容易に可能となる(たとえば軸線Zを中心にして)
。
【0012】たんに保持部材もしくは保持カラー31,
31aを交換するだけで、交点Sをずらすか、もしくは
角度α,α′,...をスパッタリング条件に合わせる
ことができる。
31aを交換するだけで、交点Sをずらすか、もしくは
角度α,α′,...をスパッタリング条件に合わせる
ことができる。
【図1】本発明による装置の実施例を示す、DCスパッ
タリングに用いられる2つのターゲットを備えたスパッ
タリング装置の概略図である。
タリングに用いられる2つのターゲットを備えたスパッ
タリング装置の概略図である。
1 基板
2 薄膜
3,3a ターゲット
4,4a エレメント
5,5a 電極
6,6a ヨーク
7,7a,8,8a,9,9a 永久磁石10,10
a 直流電源 11,11a,12,12a インダクタンス13,
13a,14,14a 範囲 15,15a プロセス室 18,19 弁 31,31a 保持カラー
a 直流電源 11,11a,12,12a インダクタンス13,
13a,14,14a 範囲 15,15a プロセス室 18,19 弁 31,31a 保持カラー
Claims (2)
- 【請求項1】 基板(1)に材料を被覆する装置であ
って、単数または複数の電流源(10,10a)が設け
られていて、該電源が、排気可能な被覆室(15,15
a)に配置された電極(5,5a)と接続されており、
該電極がターゲット(3,3a)と電気的に接続されて
おり、該ターゲットがスパッタリングされて、スパッタ
リングされた粒子が基板(1)に沈着するようになって
おり、前記被覆室(15,15a)にプロセスガスが導
入可能である形式のものにおいて、スパッタリングした
い単数または複数の材料から成るターゲット(3,3a
)が、基板(1)の平面に対してそれぞれ所定の角度(
α,α′)で保持されていて、基板(1)に向けられた
ターゲット(3,3a)の粒子流の主移動方向(l,l
′)が互いに交差していることを特徴とする、基板に材
料を被覆する装置。 - 【請求項2】 多数のターゲット(3,3a)が等間
隔で所定の円弧上に配置されており、個々のターゲット
(3,3a)がそれぞれ基板(1)の平面に対して所定
の角度(α,α′)で保持されていて、前記基板に向け
られたターゲットの粒子流の主移動方向が交点(S)で
互いに交差している、請求項1記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4010495.8 | 1990-03-31 | ||
| DE4010495A DE4010495C2 (de) | 1990-03-31 | 1990-03-31 | Vorrichtung zum Beschichten eines Substrats mit Werkstoffen, beispielweise mit Metallen |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04228564A true JPH04228564A (ja) | 1992-08-18 |
Family
ID=6403540
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3060054A Pending JPH04228564A (ja) | 1990-03-31 | 1991-03-25 | 基板に材料を被覆する装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0450163A1 (ja) |
| JP (1) | JPH04228564A (ja) |
| KR (1) | KR910016960A (ja) |
| DE (1) | DE4010495C2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007100183A (ja) * | 2005-10-06 | 2007-04-19 | Cyg Gijutsu Kenkyusho Kk | スパッタ装置 |
| KR20170088441A (ko) * | 2009-04-27 | 2017-08-01 | 에바텍 어드벤스드 테크놀로지스 아크티엔게젤샤프트 | 복수의 스퍼터 소스를 구비한 반응성 스퍼터링 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| EP0608478A3 (en) * | 1992-01-29 | 1994-09-14 | Leybold Ag | Device for cathodic sputtering. |
| DE9217937U1 (de) * | 1992-01-29 | 1993-04-01 | Leybold AG, 6450 Hanau | Vorrichtung zur Kathodenzerstäubung |
| DE4419167B4 (de) * | 1994-06-01 | 2004-09-02 | Leybold Optics Gmbh | Vorrichtung zum Beschichten eines Substrates |
| DE4420951C2 (de) * | 1994-06-16 | 1998-01-22 | Leybold Ag | Einrichtung zum Erfassen von Mikroüberschlägen in Zerstäubungsanlagen |
| DE4441206C2 (de) * | 1994-11-19 | 1996-09-26 | Leybold Ag | Einrichtung für die Unterdrückung von Überschlägen in Kathoden-Zerstäubungseinrichtungen |
| DE19501804A1 (de) | 1995-01-21 | 1996-07-25 | Leybold Ag | Vorrichtung zur Beschichtung von Substraten |
| DE19506513C2 (de) * | 1995-02-24 | 1996-12-05 | Fraunhofer Ges Forschung | Einrichtung zur reaktiven Beschichtung |
| DE19508405A1 (de) * | 1995-03-09 | 1996-09-12 | Leybold Ag | Kathodenanordnung für eine Vorrichtung zum Zerstäuben von einem Target-Paar |
| DE19508406A1 (de) * | 1995-03-09 | 1996-09-12 | Leybold Ag | Kathodenanordnung für eine Vorrichtung zum Zerstäuben eines Target-Paares |
| US5683560A (en) * | 1995-07-08 | 1997-11-04 | Balzers Und Leybold Deutschland Holding Ag | Cathode assembly |
| DE19617057C2 (de) * | 1996-04-29 | 1998-07-23 | Ardenne Anlagentech Gmbh | Sputteranlage mit zwei längserstreckten Magnetrons |
| RU2160323C2 (ru) * | 1998-02-19 | 2000-12-10 | Иркутский государственный педагогический университет | Установка для ионно-плазменного распыления |
| KR100329630B1 (ko) * | 1998-06-08 | 2002-08-21 | 한전건 | 고속전도성세라믹/금속복합재료코팅방법 |
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| DE10145050C1 (de) * | 2001-09-13 | 2002-11-21 | Fraunhofer Ges Forschung | Einrichtung zum Beschichten von Substraten mit gekrümmter Oberfläche durch Pulsmagnetron- Zerstäuben |
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| KR20120044050A (ko) * | 2010-10-27 | 2012-05-07 | 주식회사 에이스테크놀로지 | Rf 장비 도금 방법 및 이에 사용되는 스퍼터링 장치 |
| WO2016202468A1 (de) | 2015-06-16 | 2016-12-22 | Schneider Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung, verfahren und verwendung zur beschichtung von linsen |
| DE102016125278A1 (de) | 2016-12-14 | 2018-06-14 | Schneider Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung, Verfahren und Verwendung zur Beschichtung von Linsen |
| CN111445489B (zh) * | 2019-11-18 | 2020-10-13 | 北京邮电大学 | 一种离子束入射角度确定方法及装置 |
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| DD111409A1 (ja) * | 1974-05-02 | 1975-02-12 | ||
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR910016960A (ko) | 1991-11-05 |
| DE4010495C2 (de) | 1997-07-31 |
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