JPH04221072A - マルチチャンバ型スパッタリング装置 - Google Patents

マルチチャンバ型スパッタリング装置

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JPH04221072A
JPH04221072A JP40477790A JP40477790A JPH04221072A JP H04221072 A JPH04221072 A JP H04221072A JP 40477790 A JP40477790 A JP 40477790A JP 40477790 A JP40477790 A JP 40477790A JP H04221072 A JPH04221072 A JP H04221072A
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chamber
exhaust
process chamber
chambers
separation chamber
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Kiyoshi Nashimoto
梨本 清
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、マルチチャンバ型スパ
ッタリング装置に関し、特に、セパレーションチャンバ
のメンテナンスのために設けられたプロセスチャンバ取
外し機構を改良したマルチチャンバ型スパッタリング装
置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のマルチチャンバ型スパッタリング
装置ではセパレーションチャンバのメンテナンスを考慮
して次のような構成を採用していた。第1の構成を図4
に示す。図4において1はセパレーションチャンバ、2
はロードロックチャンバ、3〜6はプロセスチャンバ(
これはモジュラーともいう)、複数の7は、セパレーシ
ョンチャンバ1と、ロードロックチャンバ2及びプロセ
スチャンバ3〜6のそれぞれとの間に配置されるゲート
バルブである。図示した構成を有する装置では、中央部
に位置するセパレーションチャンバ1のメンテナンスの
ため、セパレーションチャンバ1の周囲のプロセスチャ
ンバ配設可能箇所のすべてにプロセスチャンバを設けず
、1箇所については破線8に示すように空のスペースと
している。第2の構成としてセパレーションチャンバの
周囲のチャンバ配設可能箇所に空スペースを形成せず、
プロセスチャンバを設けるようにしたマルチチャンバ型
スパッタリング装置も存在する。このような構成の場合
には、複数のプロセスチャンバのいずれかに取出し機構
を設け、セパレーションチャンバをメンテナンスすると
きには取出し機構を駆動させてスペースを作るようにす
る。しかし、かかる構成の場合には、プロセスチャンバ
に設けられた排気機構における排気ポンプの配管及び電
気配線を外さないと取り出せないという構造上の制約を
受ける。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】前述した従来のマルチ
チャンバ型スパッタリング装置の構成において、第1の
構成によれば、空のスペース8を確保しなければならな
い分、プロセスチャンバの個数が少なくなるという不具
合がある。また第2の構成によれば、プロセスチャンバ
を取り外す場合に、そのつど排気機構を停止することに
なり、取り外したプロセスチャンバを復旧させた後にお
いて、排気動作の立ち上げに長い時間を要するという不
具合がある。本発明の目的は、セパレーションチャンバ
の周囲のすべてのスペースに真空チャンバを備える前記
第2の構成において、セパレーションチャンバのメンテ
ナンスのためプロセスチャンバを取り外す場合に、各チ
ャンバの排気動作を停止させることなく取外し動作を行
うことができ、復旧後の排気立ち上げ動作を不要とした
マルチチャンバ型スパッタリング装置を提供することに
ある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明に係るマルチチャ
ンバ型スパッタリング装置は、セパレーションチャンバ
の全周囲に複数の真空チャンバを備える構成を有するも
のであり、複数の真空チャンバは1つのロードロックチ
ャンバと複数のプロセスチャンバとからなり、複数のプ
ロセスチャンバのいずれかに排気機構による排気動作を
維持したまま当該プロセスチャンバを引き出すプロセス
チャンバ取出し機構を設けたことを特徴とする。前記の
構成において、プロセスチャンバ取出し機構が回転構造
を有する取出し機構であり、この取出し機構の回転軸部
の近傍に排気機構の配管部及び電気配線部が配設される
ことを特徴とする。また、前記の各構成において、プロ
セスチャンバを引き出す際、セパレーションチャンバ及
びその他のプロセスチャンバを真空状態に保持するゲー
トバルブを備えたことを特徴とする。
【0005】
【作用】本発明によるマルチチャンバ型スパッタリング
装置によれば、中央部に位置するセパレーションチャン
バに対してメンテナンスを行うため所定のプロセスチャ
ンバを取り出しても、当該プロセスチャンバの排気ポン
プ等による排気動作は継続して行われ、また取り外した
プロセスチャンバを元の位置に戻したときにも排気系の
排気動作立ち上げを行う必要がない。具体的構造として
好ましくは回転構造を有するプロセスチャンバ取出し機
構とし、その回転支点である回転軸部の近傍に回転式の
配管部及び電気配線部を配設することにより、回転動作
によりプロセスチャンバを取り出し、その際に排気機構
における排気ポンプの動作を継続させることができる。 更に、取り外されたプロセスチャンバ以外の真空チャン
バ、すなわち、セパレーションチャンバ及びその他の残
りのプロセスチャンバは、ゲートバルブで密閉状態にあ
り、それぞれの排気系の動作により引き続き真空状態に
保持される。
【0006】
【実施例】以下に、本発明の実施例を図1〜図3に基づ
いて説明する。図1は本発明に係るマルチチャンバ型ス
パッタリング装置のチャンバ構成を示す平面図、図2は
プロセスチャンバにおける排気機構の概略構成を示すシ
ステム図、第3図はプロセスチャンバ取出し機構と排気
機構の要部構造を示す図である。各図において前述の図
4で説明した要素と実質的に同一の要素には同一の符号
を付す。
【0007】図1において、1は中央に位置するセパレ
ーションチャンバ、2はロードロックチャンバ3〜6,
9はプロセスチャンバ、複数の7はセパレーションチャ
ンバ1とプロセスチャンバ3〜6,9のそれぞれとの間
に配置されるゲートバルブである。プロセスチャンバ3
には、プロセスチャンバ3を回転して引き出す取出し機
構10が設けられる。この取出し機構10は、所定のス
ペースを有した回転軸部10aと、回転軸部に10aに
固定され且つプロセスチャンバ3を支持するアーム部1
0bとからなる。取出し機構部10の回転軸部10aに
は図示しないモータ等の駆動装置が設けられ、回転軸部
10aは回転支点として機能し、図1中反時計回りに回
転動作を行ってプロセスチャンバ3をセパレーションチ
ャンバ1から分離し、引き出す。図1において破線で示
したプロセスチャンバ3の位置は引き出した状態のチャ
ンバ位置を示している。なおプロセスチャンバ3の引出
しは手動による人力で行うこともできる。
【0008】ところで図2に示すように、プロセスチャ
ンバ3〜6,9のそれぞれには排気機構が付設されてい
る。これはプロセスチャンバの内部を所要レベルの真空
状態に保持するためである。このことは、セパレーショ
ンチャンバ1及びロードロックチャンバ2などの真空チ
ャンバであっても同じである。かかる排気機構は、例え
ば荒引き用のロータリバルブ11とこれに関連する配管
11a及びバルブ類11bと、高真空状態を発生させる
ためのクライオポンプ12とこれに関連する配管13及
びコンプレッサ14から構成される。クライオポンプ1
2や排気配管等はプロセスチャンバの下部に固設され、
当該チャンバと一体的に配設されている。このようにし
て、プロセスチャンバ等の真空チャンバにおいて、排気
機構は一体的に組み付けられている。
【0009】そこで、前述のプロセスチャンバ3の取出
し機構10では、プロセスチャンバ3に配設された排気
機構の排気用配管及び排気ポンプや制御系を動作させる
ための給電用電気配線を、回転軸部10の近傍に形成さ
れたスペースを利用して配設するようにしている。当該
配管における固定側部分と回転側部分との接続部では、
配管の気密性を保持したまま配管を回転できる回転機構
を備え、また電気配線では配線回転機構を備える。回転
機構の一例を示すと、図3の如くなる。
【0010】図3においてプロセスチャンバ2はその下
部にアーム部10bを固定し、アーム部10bの一端は
回転軸部10aの上端に取り付けれている。プロセスチ
ャンバ2の下部に排気チャンバ15が設けられこの排気
チャンバ15にクライオポンプ12が固設され且つ荒引
き用の配管11aが接続されている。またクライオポン
プ12からも配管13が引き出される。前記の回転軸部
10aは支持台16に固設され、支持台16は基台17
に固設される。プロセスチャンバ3は、回転軸部10a
及びアーム部10bからなる取出し機構10の他、プロ
セスチャンバ3の回転引出し動作に伴ってプロセスチャ
ンバ3を支持しながら一緒に移動する支柱22によって
支持されている。この支柱22は、下部にローラを設け
、基台17のレール上を移動することができる。支持台
16の下部にスペースが形成され、このスペースに配管
回転機構及び配線回転機構が配設される。図3において
18及び19は配管回転機構で、これらの配管回転機構
18,19は回転軸部10aと同一軸線上に配置され、
それぞれ、固定部18a,19aと回転部18b,19
bからなっている。20は配管回転機構18,19を上
段及び下段の位置で配置する取付け台である。かかる配
管回転機構において、配管11aは回転部18bに接続
され、配管13は回転部19bに接続される。また配管
回転機構18,19の固定部18a,19からは更に配
管20,21が引き出される。配管回転機構18では配
管11aと配管20とがシール性を保って回転自在に接
続され、同様に配管回転機構19では配管13と配管2
1とが接続される。なお配線回転機構については図示さ
れていないが、配管回転機構の近傍に配設される。 配線回転機構は配管回転機構ほどスペースをとるもので
はない。以上の構成において、回転取出し機構10の回
転動作でプロセスチャンバ3を引き出した時、排気機構
の配管11a,13等も回転するが、この回転で支持台
16に接触することはない。また配管11a及び13は
配管回転機構18,19の作用により滑らかに回転する
ことができる。
【0011】以上の構成によれば、セパレーションチャ
ンバ1に対してメンテナンスを行う場合に、ゲートバル
ブ7を閉じた状態で回転取出し機構10を動作させて、
プロセスチャンバ3をセパレーションチャンバ1から分
離し、取出す。このとき、プロセスチャンバ3の排気機
構の配管や電気配線の配置状態は、回転軸部10aの近
傍において、取り外すことなく保持され、排気及び給電
を継続できるので、当該排気機構の排気動作を停止させ
ることなくプロセスチャンバ3の取出しを行うことがで
きる。また、プロセスチャンバ3の取出しの際、セパレ
ーションチャンバ1及びその他のプロセスチャンバ4〜
6,9の内部は、それぞれの排気機構の排気動作及び各
ゲートバルブ7により、真空状態に保持されている。
【0012】また前記回転取出し機構10には、前述の
如く、排気用配管の回転機構18,19と給電用電気配
線の回転機構(図示せず)が設けられ、配管及び配線が
滑らかに移動し、プロセスチャンバ3が回転して引き出
される場合に一切の配管及び配線の取外しを行わなくと
もよく、簡単にプロセスチャンバ3の引出し及び復旧を
行うことができる。
【0013】前記実施例では、セパレーションチャンバ
1のメンテナンスを行うためのプロセスチャンバ3の取
出し機構10を回転式で構成したが、これに限定される
ものではなく、排気ポンプの動作を保持したままプロセ
スチャンバを引き出すという同様な機能を実現できるも
のであれば、任意な構成を採用することができる。また
セパレーションチャンバのメンテナンスを行うため取出
す真空チャンバはプロセスチャンバに限定されるもので
はない。
【0014】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、マルチチャンバ型スパッタリング装置において
、プロセスチャンバ等の排気機構の動作を停止させるこ
となく、当該プロセスチャンバを取り出すことができ、
このため復旧後の排気動作の立ち上げのための時間が不
要となり、取り出したプロセスチャンバの真空立ち上げ
を短時間で行うことができ、動作効率を高めることがで
きる。従来の如くチャンバの排気ポンプを停止させた後
に排気ポンプを再び立ち上げたときには2〜3時間の時
間を要するが、本発明の場合には排気ポンプを停止させ
ないため、この時間は全く不要となる。また本発明によ
れば、かかる構成によって、セパレーションチャンバの
全周囲に処理用真空チャンバを設けることができ、スペ
ースの利用効率を向上することができる。更に、プロセ
スチャンバの取外し時、排気系の配管及び電気配線を一
切取り外さないので、取外し及び復旧が容易となり、セ
パレーションチャンバのメンテナンス性が向上する。併
せて復旧後の配管リークテストも不要となる。加えて、
取り出したプロセスチャンバ以外のプロセスチャンバ、
及びセパレーションチャンバは、ゲートバルブによって
、真空状態を継続できるので、処理に都合がよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るマルチチャンバ型スパッタリング
装置のチャンバ構成を示す平面図である。
【図2】プロセスチャンバにおける排気機構の概略構成
を示すシステム図である。
【図3】プロセスチャンバ取出し機構と排気機構の要部
構造を示す図である。
【図4】従来のマルチチャンバ型スパッタリング装置の
チャンバ構成を示す平面図である。
【符号の説明】 1          セパレーションチャンバ2  
        ロードロックチャンバ3〜6,9  
  プロセスチャンバ 7          ゲートバルブ 10        プロセスチャンバ取出し機構11
        ロータリポンプ 12        クライオポンプ 11a,13    配管 18,19      配管回転機構

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  セパレーションチャンバの全周囲に複
    数の真空チャンバを備えたマルチチャンバ型スパッタリ
    ング装置において、前記複数の真空チャンバは1つのロ
    ードロックチャンバと複数のプロセスチャンバとからな
    り、前記複数のプロセスチャンバのいずれかに排気機構
    による排気動作を維持したまま当該プロセスチャンバを
    引き出すプロセスチャンバ取出し機構を設けたことを特
    徴とするマルチチャンバ型スパッタリング装置。
  2. 【請求項2】  請求項1記載のマルチチャンバ型スパ
    ッタリング装置において、前記プロセスチャンバ取出し
    機構は回転構造を有する取出し機構であり、この取出し
    機構の回転軸部の近傍に前記排気機構の配管部及び電気
    配線部が配設されることを特徴とするマルチチャンバ型
    スパッタリング装置。
  3. 【請求項3】  請求項1又は2記載のマルチチャンバ
    型スパッタリング装置において、前記プロセスチャンバ
    を引き出す際、前記セパレーションチャンバ及びその他
    の前記プロセスチャンバを真空状態に保持するゲートバ
    ルブを備えたことを特徴とするマルチチャンバ型スパッ
    タリング装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0794413A (ja) * 1993-09-22 1995-04-07 Anelva Corp 集積回路の配線方法及び集積回路における穴又は溝の埋め込み配線方法並びにマルチチャンバー基板処理装置
DE19606463A1 (de) * 1995-02-28 1996-08-29 Hitachi Ltd Mehrkammer-Kathodenzerstäubungsvorrichtung
US6753213B2 (en) 1994-07-28 2004-06-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Laser processing method

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US5783055A (en) * 1995-02-28 1998-07-21 Hitachi, Ltd. Multi-chamber sputtering apparatus

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