JPH04218843A

JPH04218843A - 情報処理装置におけるテストシーケンスの流れを制御する装置

Info

Publication number: JPH04218843A
Application number: JP3072632A
Authority: JP
Inventors: William A Brune; ウイリアム　エイ．　ブルーン; Robert L Hickling; ロバート　エル．　ヒックリング; Rusell Elliott Poffenberger; ルッセル　エリオット　ポフェンバーガー
Original assignee: Schlumberger Technologies Inc
Current assignee: Schlumberger Technologies Inc
Priority date: 1990-01-17
Filing date: 1991-01-17
Publication date: 1992-08-10
Also published as: FR2658933A1; DE4100899A1

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、大略、集積回路テスト
装置用の制御インターフェースに関するものであり、更
に詳細には、集積回路デバイスに関して実行すべき動作
テストの動作パラメータ、合否基準及び論理的流れを検
査し且つ修正する図形的オブジェクト指向型コンピュー
タインターフェースに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】集積回路テストシステムは、従来、ハー
ドコード化したテストパラメータ及びテストシーケンス
に依存している。従来は、テストパラメータ及びテスト
シーケンスはコンピュータコードにおいて固定されてい
た。従って、テストパラメータ及びテストシーケンスを
変化させる場合には、コンピュータコードの編集及びコ
ンピュータプログラムの知識及びそのプログラムが書か
れている言語を知ることが必要であった。この様な従来
のシステム乃至は装置の一つは、シュルンベルジェテク
ノロジーズ社のデジタルテストシステムグループによっ
て製造販売されているＳ５０汎用テストシステムがある
。このシステムにおいて、全てのテストシーケンスはパ
スカル言語で書かれたコンピユータプログラムによって
決定される。従って、テストシーケンスにおいて修正を
する場合には、パスカル言語及びテストシーケンスコン
ピュータプログラムの再プログラム化の知識を必要とす
る。

【０００３】このシステムは柔軟性があり且つ集積回路
デバイスの任意のタイプのものをテストするために有用
なものであるが、その使用はパスカル言語に精通してお
り且つそのテストシーケンスコンピュータプログラムの
詳細について知識を有するプログラマに制限されている
。従って、コンピュータ言語乃至はプログラムの知識を
必要とすることなしに、集積回路テスト及びテストシー
ケンスの一般的な検査及び修正を可能とするインターフ
ェースを開発することが望ましい。

【０００４】シュルンベルジェテクノロジーズ社によっ
て製造販売されているボードテストシステムのＳ７００
シリーズにおいて、テストパラメータ及びテストシーケ
ンスもコンピュータ言語でプログラムされており、且つ
テストパラメータかテストシーケンスの何れかに変更を
行なう場合には、そのプログラムを書き直し且つ再度コ
ンパイルせねばならない。このシステムは、テストシー
ケンスの部分的画定及びブランチ条件を可能とする図形
的アイコンをベースとしたテストプログラムフローエデ
ィタを有している。しかしながら、このフローエディタ
は、単に、ユーザの人力に応答してソースコードを発生
するに過ぎない。条件付きブランチに対して使用される
「Ｉｆ」ステートメントなどのような多数のステートメ
ントは、尚且つ、ユーザによって定義され且つ挿入され
ねばならない。

【０００５】シュルンベルジェテクノロジーズ社のメモ
リテストシステムグループによって製造販売されている
より最近のシステムであるＳ９０メモリテストシステム
は、プログラミングなしでテストパラメータ及びテスト
シーケンスの修正を行なう限定した能力を有するテキス
トをベースとしたメニュー駆動型インターフェースを有
している。このシステムは、メモリ製品の速度分類に対
して特に適合されたオプションの「カスケード」プログ
ラムフローを実行するテキストをベースとしたメニュー
インターフェースを有している。典型的に、集積回路メ
モリデバイス（装置）に関して多数の合否テストが実施
される。一次テストシーケンスにおいてデバイスがテス
トの一つに不合格となると、別のテストシーケンスを開
始させることが可能である。典型的に、この別のテスト
シーケンスは、厳格性を緩和した一組の条件及びより低
速の分類に対応している。この別のテストシーケンスに
おけるテストの一つに不合格となると、更に一層低速の
分類に対応するより一層厳格性を緩和した一連のテスト
が開始される。この様に、各部分がテストされ且つ分類
され、その際に線形シリーズのテストの一つに合格する
か、又は全てのシリーズのテストに不合格となるかが判
断される。次いで、該部分は、それが合格する最も高速
のシリーズのテストに対応する「ビン」内に入れること
が可能である。

【０００６】しかしながら、Ｓ９０システムにおける全
てのテストシーケンスはシーケンスが固定されており（
線形）、不合格となったシーケンスから次のシーケンス
への論理的流れは固定数のエントリーポイントへ制限さ
れており、且つ全てのシーケンスの変化はテキストをベ
ースとしたメニューシステムにおける制限されたフォー
マットから選択されねばならない。この制限されたイン
ターフェースは、一般化した態様でテストシーケンスの
検査及び修正を許容するものではない。従って、Ｓ９０
システムは速度によってメモリ製品を分類するためには
有用であるが、集積回路の他のタイプの汎用テストを行
なうためには有用なものではない。従って、コンピュー
タ言語又はプログラムの知識を必要とすることなしに、
集積回路テスト及びテストシーケンスの一般的な検査及
び修正を可能とするインターフェースを開発することが
望ましい。特に、コンピュータコードを検査したり又は
書いたりする必要性なしにテストシーケンスの流れを一
般的に検査し且つ修正することを可能とするインターフ
ェースを提供することが望ましい。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明によれば、動作テ
ストの特定のカテゴリに対する特定のパラメータ及び合
否基準を検査し、定義し且つ修正するためのインターフ
ェース及び機能を有する汎用集積回路テスト装置用のコ
ンピュータインターフェースが提供される。本インター
フェースは、更に、動作テストの間の論理的流れを検査
し、定義し且つ修正するための特殊のアイコンをベース
としたプログラミング言語を提供している。各動作テス
トは、ディスプレイターミナル上のアイコンによって図
形的に表示され、且つ動作テスト間の論理的流れは、そ
れらのアイコンを接続するラインによって図形的に表示
される。動作テスト間の論理的ブランチ、即ち分岐は、
各テストアイコンから個別的な合格及び不合格出口ポー
トを与えることによって図形的に表示される。合格ポー
トへ接続されるラインは、その動作テストに合格した場
合の論理的経路を表わしており、不合格ポートへ接続さ
れるラインはその動作テストが不合格であった場合の論
理的経路を表わしている。テストフローの修正は、テス
トフローの図形的表示の編集に応答して与えられる。テ
ストフローの図形的表示の編集は、アイコンを移動させ
るグラフィックカーソルを使用し且つアイコンを相互接
続するラインを切断したり接続したりすることによって
行なわれる。各動作テストは、テスト装置における対応
するデータオブジェクトによって表わせられ、且つこれ
ら動作テストのシーケンスは対応するデータオブジェク
トを諭理的に接続するポインタによって表わされる。メ
ッセージがディスプレイインターフェースを制御するツ
ールからテスト装置内に設けられるルーチンへ送られ、
図形的インターフェースによって定義される動作テスト
パラメータ及びテストシーケンスに対応すべくデータオ
ブジェクトを修正する。次いで、テスト装置がデータオ
ブジェクトによって定義されるシーケンスに従って動作
テストを実行する。

【０００８】

【実施例】図１は本発明の好適実施例を示している。特
に、図１は、キーボード１１０及び３ボタンマウス１２
０へ結合したワークステーション１００を示している。ワークステーション１００は、更に、集積回路テストシ
ステムコンピュータ１３０へ結合されており、該コンピ
ュータは、集積回路デバイス１４０に関して実施すべき
多数の動作テストを定義するプログラミング及びデータ
を有している。集積回路テストシステム１３０は、更に
、プログラミング及びデータに応答して集積回路デバイ
ス１４０へ信号を付与し該デバイス１４０から信号を受
取るために集積回路デバイス１４０へ結合されている、
例えばコンパレータ及びドライバなどのようなテスタハ
ードウエア１３５を有している。ワークステーション１
００は、更に、集積回路テストシステムコンピュータ１
３０のプログラミング及びデータと協力し且つ以下に詳
細に説明する如く動作テストの論理的シーケンス及び動
作テストの検査及び修正を可能とする特定のインターフ
ェースツールを有している。好適実施例においては、ワ
ークステーション１００は、約１００万画素の分解能を
有するグラフィックディスプレイである。好適実施例は
、カリフォルニア州マウンテンビュのサンマイクロシス
テムズ社によって販売されているワークステーションを
使用する。このワークステーション及び集積回路テスト
システムコンピュータ１３０は、ユニックスのオペレー
ティングシステム及びＸウインドグラフィックサーバの
下で稼動する。集積回路テストシステムコンピュータ１
３０用のコンピュータプログラムは、ＭＩＴから公有の
ソフトウエアとして入手可能なＸウインドグラフィック
システム及びユニックスのオペレーティングシステムの
下で稼動する。本発明の好適実施例においては、ソフト
ウエアツールのメニューが与えられ、それから、本シス
テムのユーザが、マウス１２０又はキーボード１１０を
適宜操作することにより、「ＣｏｎｔｒｏｌＴｏｏｌ（
制御ツール）」とラベルが付けられたメニュー項目を選
択することが可能である。この「ＣｏｎｔｒｏｌＴｏｏ
ｌ」メニュー項目は、テストシステム１３０に対する制
御プログラムを表わしており、それについては後に詳細
に説明する。検査及び編集用テストプログラムの選択図２は図形的に
表示された「Ｓｅｌｅｃｔ（選択）」プログラム及び「
ＣｏｎｔｒｏｌＴｏｏｌ」制御プログラムインターフェ
ースを示したターミナルディスプレイの概略図である。「ＣｏｎｔｒｏｌＴｏｏｌ」ウインド２００が図２のス
クリーンの底部に表われている。カーソル２０５を「Ｐ
ｒｏｇｒａｍ」ラベル２０８上に位置させてマウス１２
０の右側ボタンを押し下げると（即ち、「ラベル２０８
上右ボタン動作」又は「ラベル２０８の選択」と言及さ
れる）、ウインド２１５に示した如く、「Ｓｅｌｅｃｔ
Ｔｏｏｌ（ツール選択）」プログラム表示及びインター
フェースの表示が得られる。この「ＳｅｌｅｃｔＴｏｏ
ｌ」表示及びインターフェースは、以下に詳細に説明す
る如く、特定のテストプログラムの選択を可能とする。ウインド２１５を参照すると、ウインド２１５のライン
２２０が、リストしたテストプログラムに対するソース
がシステムディスクであることを表わしている。フィル
タライン２２５上の「＊」エントリーが、全てのテスト
プログラムがリストされていることを表わしている。（
どのフィルタもアクティブではない。）経路ライン２３
０は、アクセスされているユニックスのディレクトリを
表わしている。ディスプレイ区域２３５は、テストプロ
グラムファイルのスクロール可能なリストを示している
。図示例においては、ライン２４０上のテストプログラ
ム「３９０１」が前に選択されている。ウインド２３５
に示されたファイルのリストからテストプログラムを選
択すると、選択したテストプログラムの名称が「Ｃｏｎ
ｔｒｏｌＴｏｏｌ」ウインド２００のプログラムフィー
ルド２１０内にエンターされる。特に、図示例においては、テストプログラム「３９０１
」が選択されており、且つプログラムフィールド２１０
に表われている。本インターフェースは、以下に説明す
る如く、テストプログラム「３９０１」の検査及び編集
を行なうことを可能とする。テストフローの開始及び検査デバッグボタン２５０を選択すると、図３に示した如く
「ＦｌｏｗＴｏｏｌ（フローツール）」ディスプレイ及
びインターフェースの表示が得られ、それは、以下に説
明する如く、選択したテストプログラムのフローの検査
及び編集を行なうことを可能とする。図３は、「Ｆｌｏ
ｗＴｏｏｌ」インターフェースを示したターミナルディ
スプレイの表示であり、それは、選択したテストプログ
ラムを画定するテストアイコン及び論理的相互接続を示
している。図３を参照すると、テストプログラム「３９
０１」を画定するテストアイコン及び論理的相互接続が
ウインド３０５内に表示されている。この「ＦｌｏｗＴ
ｏｏｌ」ディスプレイ及びインターフェースは、テスト
プログラムのフローを確立し且つ修正するために使用さ
れる。特に、テストプログラムのフローは、ディスプレ
イ上にアイコンによって表示される多数の動作テストセ
グメント及びディスプレイ上に合否ポート及びアイコン
を接続するラインによって表わされるテストセグメント
の論理的シーケンスによって定義される。

【０００９】テストプログラムの開始点は、「Ｂｅｇｉ
ｎ（開始）」アイコン３１０として示される非動作アイ
コンによって画定される。「Ｂｅｇｉｎ」アイコン３１
０は、開始点の識別を容易とするために、全てのテスト
プログラムに対して一様な様相を有している。テストプ
ログラムにおける第一動作テストセグメントは、相互接
続ライン３１５を介して「Ｂｅｇｉｎ」アイコン３１０
への接続によって識別される。特に、Ｃｏｎｔｉｎｕｉ
ｔｙ（継続）アイコン３２０が相互接続ライン３１５を
介して「Ｂｅｇｉｎ」アイコン３１０へ接続されている
。

【００１０】テストプログラムのフローに対するディス
プレイ及びインターフェースは、更に、あるインターフ
ェース及びディスプレイ記号によって画定される。「Ｂ
ｅｇｉｎ」アイコン３１０、継続アイコン３２０及び相
互接続ライン３１５を更に詳細に検討すると、「Ｂｅｇ
ｉｎ」アイコン３１０は、その右側にポートとして呼ば
れる単一の正方形を有していることが観察される。この
ポートは、「Ｂｅｇｉｎ」アイコン３１０からの通常の
フローを表わしており、且つテストプログラムの実行即
ちフローは、接続線（好適実施例においてはＧｒｅｅｎ
、即ち緑）を介して示される如く、継続アイコン３２０
の左側上のポートへ進行し、尚、その継続アイコン３２
０の左側のポートは継続アイコン３２０の開始点を表わ
している。好適実施例においては、テストセグメントを
表わすアイコンの右側及び左側上のポートは、青か緑か
又は赤の何れかである。エントリーポートは青であり且
つ通常左側にある。出口ポートは通常テストセグメント
の右側にある。出口ポートは二つのタイプが存在してい
る。緑出口ポートは、そのアイコンに関連するテストセ
グメントが合格したことを表わし、プログラム実行は、
その出口ポートに接続されているアイコンによって表わ
されるテストセグメントへ継続する。赤出口ポート（通
常、合格出口ポートの下側又はアイコンの底部に表示さ
れる）は、そのアイコンに関連するテストが不合格であ
った場合に、プログラム実行がその出口ポートに接続さ
れたアイコンによって表わされるテストプログラムへ継
続することを表わしている。更に、複数個の出口ポート
を画定することが可能であり、その場合、動作テストに
続くシーケンスは、測定した出力値の結果として論理的
にブランチ、即ち分岐することが可能である。

【００１１】Ｃｏｎｔｉｎｕｉｔｙ（継続）アイコン３
２０は、特定の合否基準を有するＣｏｎｔｉｎｕｉｔｙ
（継続）テストセグメントを表わしている。継続テスト
セグメントが合格すると、プログラムのフローは継続ア
イコン３２０の右側上のポート３２２からポート３２２
へ接続されているアイコンによって表わされるテストセ
グメントへ進行する。特に、継続テストセグメントが合
格すると、プログラムフローは「Ｌｅａｋａｇｅ（漏洩
）」テストアイコン３２５によって表わされるテストセ
グメントへ進行する。継続テストセグメントが不合格で
あると、プログラムフローは、継続アイコン３２０のポ
ート３３０からＳｔｏｐ（停止）アイコン３４０へ進行
する。停止アイコン３４０は、相互接続ライン３４５に
よって継続アイコン３２０のポート３３０へ接続されて
いる。停止アイコン３４０は、「Ｂｅｇｉｎ」アイコン
３１０と同様に、何れかのプログラムの終了点の識別を
容易とするために、全てのテストプログラムに対して一
様な様相を有している。典型的に、テストプログラムは
、一度にグラフィックディスプレイ上に容易に表示する
ことが可能であるよりもより多くのテストセグメントを
有することが多い。テストプログラムのフローの全体像
を与えるために、本発明は、複合セグメント及び複合ア
イコンの概念を使用する。複合アイコンは、多数の諭理
的に相互接続されたテストセグメントを表わすアイコン
である。「Ｌｅａｋａｇｅ」テストアイコン３２５は、
複合アイコンの一例であって、それは以下に詳細に説明
する如く、多数の論理的に相互接続したテストセグメン
トを表わしている。

【００１２】「ＦｌｏｗＴｏｏｌ」ディスプレイ及びイ
ンターフェースは、複合アイコンを開始させ、検査させ
且つ修正させることを可能とする。「Ｌｅａｋａｇｅ」
テスト複合アイコン３２５を選択すると、「Ｌｅａｋａ
ｇｅ」テストアイコン３２５によって表わされるテスト
セグメント及び相互接続の検査及び修正を行なうことを
可能とする。特に、「Ｌｅａｋａｇｅ」複合アイコン３
２５を選択すると、図４に示した如き表示が得られる。図４は、選択した「Ｌｅａｋａｇｅ」テスト複合アイコ
ン３２５を画定するテストアイコン及び論理的相互接続
を図形的に図示する「ＦｌｏｗＴｏｏｌ」プログラムイ
ンターフェースを示したターミナルディスプレイを図示
している。図４を参照すると、ウインド４０５内のグラ
フィックディスプレイは、「Ｌｅａｋａｇｅ」複合アイ
コン３２５が二つの相互接続したテストセグメントから
構成されていることを示している。特に、図３に示した
「Ｌｅａｋａｇｅ」複合アイコン３２５のポート３５０
，３５５，３６０は、それぞれ、図４のタグ４１０，４
１５，４２０に対応している。

【００１３】複合テストアイコン３２５は、二つのテス
トセグメント、即ちテストセグメント４２５及びテスト
セグメント４３０を有している。テストアイコン４２５
及び４３０に対応する両方のテストセグメントが合格し
た場合には、プログラムフローは論理的にタグ４１０か
ら進行し、テストアイコン４２５のポート４３５にエン
ターし、テストアイコン４２５に対応するテストセグメ
ントをパスし、ポート４４０からテストアイコン４２５
を抜出し、ポート４４５を介してテストアイコン４３０
にエンターし、テストアイコン４３０によって表わされ
るテストセグメントをパスし、且つタグ４２０に結合さ
れているポート４５０を介してテストアイコン４３０を
抜出す。これらのテストセグメントの何れかが不合格で
あると、プログラムフローは不合格となったテストセグ
メントを表わすアイコンからタグ４１５へ進行する。図
４に示した「ＦｌｏｗＴｏｏｌ」ディスプレイ及びイン
ターフェースは、更に、ディスプレイ区域４５５に示し
た多数のその他のオプションを有している。例えば、「
ｐｏｐ　　ｄｉｓｐｌａｙ（ポップ表示）」ボタン４６
０を選択すると、前のスクリーン表示のディスプレイが
得られる。本例においては、それは、図３に示したテス
トプログラム「３９０１」の表示である。本好適実施例
は、更に、「複合」アイコンと呼ばれるインターフェー
スメカニズムを与えている。一般的に、ユーザが、所望
に応じ、テストシーケンスを表わす複数個のアイコンの
図形表示を論理的に凝縮することを可能とするインター
フェースメカニズムが複合セグメントによって与えられ
る。特に、二つ以上の相互接続したアイコンは、適宜の
ユーザ入力によって結合することが可能であり、且つ複
合アイコンとして図形的に表示される。従って、その結
果得られる「ＦｌｏｗＴｏｏｌ」ディスプレイは、その
複合アイコンとその複合アイコン内にないアイコンとの
間のライン相互接続のみを示し、複合アイコン内に含ま
れるアイコンを相互接続するラインは図示されない。複
合アイコンを構成するアイコン及びそれらを相互接続す
るラインは、複合アイコンを「選択」することによって
表示することが可能である。更に、複合セグメントの要
素自身が複合セグメントである場合があり、即ち複合セ
グメントは「入れ子」型とすることが可能である。この
ことは、ユーザがテストシーケンスの複数個の画面を異
なったレベルで与えることを可能とする上で多大な柔軟
性を与えることを可能としており、その場合、複合セグ
メントを使用することにより、図形表示が検査時にユー
ザの目的にとって関連性があり且つ簡明のままであるこ
とを可能とする。テストセグメントデータの修正典型的に、テストプログラムの一つの初期的な目的は、
テストシステムがテスト中のデバイスと電気的接触状態
にあることを確保することである。従って、継続型のＤ
Ｃテストは、しばしば、テストプログラムで実行される
最初のテストである。再度図３を参照すると、テストア
イコン３２０は、ＤＣテストセグメントの特定例を表わ
している。このＤＣテストとテストプログラム「３９０
１」の他の動作テストとの間の関係は、図３及び４に示
したディスプレイによって画定される。何れかのＤＣテ
ストの特定のパラメータ及び合否基準は、図５に示した
「ＤＣテストツール」プログラムインターフェースによ
って確立される。特に、図５に表示されたパラメータは
、特定のＤＣテストセグメント、即ちＤＣテストアイコ
ン３２０に対応するものに対応している。

【００１４】図５のディスプレイは、図３のテストアイ
コン３２０を選択することによって得られる。ライン５
０５は、これが、「ＤＣテストツール」プログラムイン
ターフェースを与える「ｄｃｔｏｏｌ」のディスプレイ
であることを表わしている。表示されている特定のＤＣ
テストセグメントの名称である「Ｃｏｎｔｉｎｕｉｔｙ
（継続）」が、ライン５１０上に位置されているＤＣフ
ィールド内に表示されている。この名称は、又、図３内
の対応するアイコン３２０上に表われている。（それは
、選択したフォント寸法に起因して省略した形態で表わ
れている。）ライン５１０上のＴＩＭＥ（時間）及びＤ
ＡＴＥ（日付）パラメータは、この特定のテストが最後
に修正された時間を表わしている。ライン５１５上のＢ
ｌｏｃｋ（ブロック）ステータスフィールドは、ディス
ク上に格納されたものからの現在のテスト値の変更を表
わしている。直ぐ下側には、従来のテストオプションで
ある、Ｔｅｓｔ　　Ｍｅｔｈｏｄ（テスト方法）、Ｍｅ
ａｓｕｒｅ　　Ｄｅｖｉｃｅ（デバイス測定）、Ｄｅｌ
ａｙ（遅延）、Ｖｏｌｔａｇｅ　　Ｃｏｎｎｅｃｔ（電
圧接続）、Ｃｌａｍｐ　　Ｈｉ及びＬｏ、Ｍａｓｋ（マ
スク）及びＲｅｓｕｌｔ（結果）を与える多数のフィー
ルドが設けられている。これらのフィールドは、ＤＣテ
ストに関係する多数の従来のオプションから動作パラメ
ータを選択することを可能としている。

【００１５】図５のディスプレイ区域５２０には、「Ｐ
ｉｎｓｅｔ（ピンセット）」、「Ｓｔａｒｔ（開始）」
、「Ｓｔｏｐ（停止）」及び「Ｉｆａｉｌ」として示さ
れたコラムが表われている。ディスプレイ区域５２０は
、このテストセグメントにおいてテストされるべき集積
回路の予め定めたピンセットを特定するために使用され
る。本例においては、全てのピンを包含するピンセット
「ａｌｌ　　ｐｉｎｓ（全てのピン）」が選択されてい
る。従って、このテストシーケンスは、以下のパラメー
タに従ってテスト中の集積回路の全てのピンを逐次的に
テストする。ディスプレイ区域５３０は、テスト中の集
積回路デバイスへ印加されるべき強制関数（負荷）の値
を表示し且つ修正するために使用される垂直スライダと
して呼称されるインターフェースデバイスを有している
。これは、適宜のユーザ入力によって選択される電圧又
は電流の何れかとすることが可能である。テスト期間中
に各ピンへ印加される負荷の大きさは、カーソルがスラ
イダ５３５上にある場合にマウス装置の中央ボタンを押
し下げ、マウスボタンを押し下げたままスライダを垂直
に移動させ、且つスライダが所望の大きさと一致（水平
方向）した場合にマウスボタンを解放させることによっ
て画定される。この垂直スライダは、スライダ５３５内
の正確な大きさを表示する。

【００１６】三つの付加的な垂直スライダが一体的にグ
ループ化されている。これらは、Ｈｉｇｈ　　Ｌｉｍｉ
ｔ（高限界）５４０、Ｓｅｎｓｅ（検知）５５０及びＬ
ｏｗＬｉｍｉｔ（低限界）５６０を有している。Ｈｉｇ
ｈ　　Ｌｉｍｉｔ５４０及びＬｏｗ　　Ｌｉｍｉｔ５６
０によってセットされるパラメータは、このＤＣテスト
に対する合否基準を確立する。特に、図示した如く、高
限界はセットされていない。これにより、「シングルエ
ンデド（ｓｉｎｇ１ｅ　　ｅｎｄｅｄ）」テストとして
知られるものが得られる。−１Ｖの下限電圧がＬｏｗ　
　Ｌｉｍｉｔ５６０によって画定される。従って、何れ
かのピンでの電圧が−１Ｖよりも大きい場合には、その
テストはパス、即ち合格である。Ｓｅｎｓｅ５５０はパ
スバンド、即ち合格帯域（−１乃至０Ｖ）を緑で表示し
、且つ不合格帯域（−１Ｖ未満及び０Ｖを超えた値）を
赤で表示する。更に、ブレークポイントにおいて得られ
るような実際のテスト結果はＳｅｎｓｅ垂直スライダ５
５０内に表示することが可能である。Ｍｅａｓｕｒｅ（
測定）表示区域５７０は、特定のピンを選択するために
使用されるスクロール用リストである。選択したピンか
らの実際のテスト値は表示区域５５０内に表示される。

【００１７】図５の右上角部に表われるディスプレイ区
域５７５は、完全にＤＣテストを画定するのに必要な前
提条件パラメータを画定する特定のツール及びデータを
表示する。前提条件パラメータは、テストを実行する前
にテスト中の集積回路へ印加される入力信号を画定する
。ＤＣテストセグメントの検査及び修正を完了した後に
、名称ストリップ５０５を選択すると、ドロップダウン
メニューが表示され、それは終結オプションを選択する
ことを可能とする。この終結オプションは、「ＤＣテス
トツール」プログラムインターフェースを終結すること
を可能とする。ＤＣテストツールを終結させると、イン
ターフェースは「ＦｌｏｗＴｏｏｌ」ディスプレイへ復
帰し、その一例を図３に示してある。

【００１８】別のテストセグメントは図３の「Ｇｒｏｓ
ｓ　　Ｆｕｎｃｔｉｏｎ（全体機能）」テストアイコン
３６５によって表現される。テストアイコン３６５をオ
ープン即ち開始させると、図６に示した「Ｆｕｎｃｔｉ
ｏｎａｌ　　Ｔｅｓｔ（機能テスト）」ツールディスプ
レイが得られる。「Ｆｕｎｃｔｉｏｎａｌ　　Ｔｅｓｔ
」ツールによって画定されるような機能テストは、通常
、高速ＩＣテスタによって実施される一次タスクである
。「Ｆｕｎｃｔｉｏｎａｌ　　Ｔｅｓｔ」ツールディス
プレイの上部パネルディスプレイ区域６０５は、ライン
６１０上の「Ｆｔｅｓｔ」フィールド内に機能テスト「
ｇｒｏｓｓｆｕｎｃ００６」の名称の修正が表示される
ことを可能とする。

【００１９】「Ｆｕｎｃｔｉｏｎａｌ　　Ｔｅｓｔ」ツ
ールディスプレイ及びインターフェースの下部パネルデ
ィスプレイ区域６１５及び６２５は、機能テストを画定
する別のフィールドを与えている。特に、このテスト構
成は、コードにモジュール化されており、且つ種々のフ
ィールドによって画定されるデータブロック内に含まれ
るデータからの定義及びパラメータを結合している。例
えば、デバイスに亘って入力励起を印加し且つテスト中
のデバイスからの出力を測定するために使用されるタイ
ミングパラメータは、ライン６２０上に「Ｔｉｍｉｎｇ
（タイミング）」として示したフィールド内において識
別されるデータブロックにおいて定義される。「Ｔｉｍ
ｉｎｇ」フィールド、「Ｌｅｖｅｌｓ（レベル）」フィ
ールド、「Ｃｏｄｅ（コード）」フィールド及び「Ｏｐ
ｅｎ　　Ｐｉｎｓ（開放ピン）」フィールドはアクティ
ブ、即ち活性状態であり、特定のツールの図形的ディス
プレイを与えるためにオープン、即ち開始させることが
可能であり、それは、テストのその特定の側面を画定す
るデータブロックのディスプレイ及び修正を行なうこと
を可能とする。同様に、パターンのリストを、ライン６
３５上のＶｅｃｔｏｒ（ベクトル）フィールドで特定す
ることが可能である。パターン全体が実行されるもので
ない場合には、開始点及び停止点を定義することが可能
であり、且つある値がサンプルされるべきでない場合に
はマスクを定義することが可能である。各入力及び出力
ピンに対して二進シーケンスであるパターンは、その機
能に対して専用のツール、即ちベクトルツールによって
定義乃至は画定される。

【００２０】図７は「Ｔｉｍｉｎｇ　　Ｔｏｏｌ（タイ
ミングツール）」プログラムをオープンすることから得
られる「Ｔｉｍｉｎｇ　　Ｔｏｏｌ」インターフェース
を示している。図示した如く、該データは、図６のライ
ン６２０上の「Ｔｉｍｉｎｇ」フィールド内に指定され
ている「ｇｒｏｓｓｆｕｎｃＴＩＭ００６」データオブ
ジェクトに対応する。上部パネル７１０はライン７１５
上に「Ｔｉｍｉｎｇ」フィールドを有しており、それは
、現在のディスプレイに対応するデータオブジェクトを
定義乃至は画定する。ライン７２０は、「ＰＩＮＤＥＦ
　　ＴＡＢＬＥ」フィールドを有しており、それは、テ
ストを行なうために選択されたデバイスのピンを画定す
るデータオブジェクトを命名する。

【００２１】ディスプレイ区域７２０は、大略、種々の
信号波形を画定するオシロスコープのような線図を示し
ている。このツールは、波形のエッジを一つの位置から
別の位置へ引くことによってレベル遷移のタイミングを
修正することを可能とする。特に、例えば低から高への
遷移７２５のような遷移は、その遷移のディスプレイを
包含する活性区域に対応している。カーソルがこの活性
区域内にある間に中間マウスボタンを押し下げると、該
遷移が水平方向に「引張られて」新たな時間に対応する
新しい位置とすることを可能とし、且つマウスボタンを
解放することによりその新しい時間に位置決めさせるこ
とが可能である。ディスプレイ区域７３０の右側部分に
は二つのプッシュボタン７３５及び７４０が設けられて
いる。テストプッシュボタン７３５を選択すると、「Ｔ
ｉｍｉｎｇ　　Ｔｏｏｌ」インターフェースによって画
定される現在の条件が直ぐさまテストハードウエア内に
ロードされ、テストを行ない、合否結果を発生する。こ
のことは、デバイスを新たなテストパラメータで迅速に
テストすることを可能とする。チェックプッシュボタン
７４０を選択すると、テスタの拘束条件の違反のチェッ
クを行なう。「ＰＩＮＤＥＦ」として示されたディスプ
レイ区域７２０の左側コラム７４５は、テスト中の集積
回路デバイスの個々のピン又はグループ毎のピン（「ｐ
ｉｎｓｅｔｓ」）の何れかをリストする。例えば、コラ
ム７４５における最初のエントリー「ａ」及び「ｂ」の
各々は、「ＰｉｎＤｅｆ」インターフェースによって画
定される４ビットバスを表わしている。

【００２２】コラム７５０は「ＳＥＱＵＥＮＣＥ　　Ｎ
ＡＭＥ（シーケンス名称）」ラベルが付けられている。シーケンス名称コラム７５０は、「ＷＡＶＥＦＯＲＭ　
　ＤＥＳＣＲＩＰＴＩＯＮ（波形描写）」ディスプレイ
区域７５５内の水平方向右側に表示されている関連する
波形を画定するためにユーザによって割当てられる名称
を有している。１及び０のシーケンス及びその他のツー
ルによって画定されるレベルと結合された場合に、「Ｔ
ｉｍｉｎｇ　　Ｔｏｏｌ」インターフェース内に特定さ
れるタイミング及びフォーマッティングは、印加される
べき、即ちテストされるべき波形を画定する。これらの
画定乃至は定義の分離は、それらを独立的に変化させる
ことを可能とする。このことは、一組のタイミングパラ
メータを幾つかの異なった組のレベルを介して使用する
か、又は一組のレベルを幾つかの異なった組のタイミン
グと共に使用することを可能とする。

【００２３】コラム７４５内に「ｙ」と名付けた「Ｐｉ
ｎｄｅｆ」項目を参照すると、それが、それと関連する
二つの異なった波形を有していることに注意すべきであ
る。ライン７６０上の波形はストローブ７６５を示して
いる。デバイスの出力がサンプルされ且つ特定の合否基
準と比較される場合に、ストローブはピン「ｙ」に関し
て実行されるテストの時間に対応する。好適実施例にお
いて、ストローブ７６５は、上部及び底部が緑で中間が
赤の小さなゾーンとして表示され、それがピン「ｙ」に
関する出力１及び０の特定の組合わせを表わす。特に、
パス（合格）基準は高又は低であり、且つ二つの画定し
た大きさの間ではない。

【００２４】「Ｔｉｍｉｎｇ　　Ｔｏｏｌ」ディスプレ
イ内のタイミングは、パターンツールによって画定され
る０及び１のパターンで全て画定される。各０又は１遷
移の特定のタイミングは「Ｔ０」と相対的に画定、即ち
定義される。「Ｔ０」は、テストベクトルの開始点であ
る。従って、次の「Ｔ０」は一つのテストベクトルの終
了であり、且つ次のテストベクトルの開始点である。一
般的に、一つのピンに一組の１−０を付与し且つある後
の時間にそのピン又は別のピンの出力をテストすること
は、「テストベクトル」を画定、即ち定義する。「Ｌｅ
ｖｅｌｓ　　Ｔｏｏｌ（レベルツール）」プログラムは
、「Ｔｉｍｉｎｇ　　Ｔｏｏｌ」プログラムがオープン
されたのと同一の態様でオープンされる。特に、カーソ
ルが図６のライン６３０上の「Ｌｅｖｅｌｓ＝」区域上
にある間に左側のボタンを活性化させると、「Ｌｅｖｅ
ｌｓ　　Ｔｏｏｌ」プログラムをオープンさせる。図８
は、「Ｌｅｖｅｌｓ　　Ｔｏｏｌ」プログラムをオープ
ンすることから得られる「Ｌｅｖｅｌｓ　　Ｔｏｏｌ」
ディスプレイ及びインターフェースを示している。

【００２５】図８を参照すると、ライン８０５上の「Ｌ
ｅｖｅｌ（レベル）」ブロックフィールドは、検査中の
特定のデータオブジェクトを表わす。スクロール用ディ
スプレイ区域８２０は、レベルを画定、即ち定義したピ
ンセット、即ちピンの組を表示する。ディスプレイ区域
８２０からピンセット、ピンの組を選択すると、ディス
プレイ区域８３０内にレベルパラメータの図形的表示が
得られる。一組の垂直スライダ８４０，８５０，８６０
，８７０，８８０は、ＶＩＨ（電圧入力高）、ＶＩＬ（
電圧入力低）、ＶＯＨ（電圧出力高）、ＶＯＬ（電圧出
力低）及びＶｒｅｆの大きさを画定、即ち定義すること
を可能とする。コラムの見出しは、ｐｉｎ　　ｓｅｔｓ
（ピンの組）及びＶＩＨ，ＶＩＬ，ＶＯＨ，ＶＯＬであ
る。ディスプレイ区域８９０は、プログラム可能ロード
を画定する二つの垂直スライダから構成されている。Ｉ
ＯＨ（Ｉ出力高）及びＩＯＬ（Ｉ出力低）が現在のパラ
メータである。

【００２６】図７に示した「Ｔｉｍｉｎｇ　　Ｔｏｏｌ
」ディスプレイを再度参照すると、種々の「ＰＩＮＤＥ
Ｆ」項目が「０」及び「１」で定義されている。これら
の電圧に対する定量的値は「Ｔｉｍｉｎｇ　　Ｔｏｏｌ
」プログラムで特定されていない。これら入力ピンに対
する実際の電圧レベルは「Ｌｅｖｅｌ　　Ｔｏｏｌ（レ
ベルツール）」プログラムによって定義される。任意の
時刻における各入力ピンは、高又は低の何れかで駆動す
ることが可能である。従って、各定義した入力ピンはテ
ストベクトルから１ビットの機能データを受取る。テス
タ装置内のハードウエアドライバは、各入力ピンを、そ
のデータに基づいてそのピンに対して画定乃至は定義さ
れたＶＩＨ又はＶＩＬの値へ駆動する。ＶＯＨ及びＶＯ
Ｌは出力ピンに対する比較レベルである。「１」はＶＯ
Ｈを超える値に対応する。「０」はＶＯＬ未満のレベル
に対応する。出力レベルは、定義した出力ピンの各々に
結合されているハードウエア内のコンパレータによって
決定される。テストセグメントのシーケンス（流れ）の修正現存する
テストセグメントのパラメータを検査し且つ修正するこ
とに加えて、テストセグメントの論理的シーケンスを修
正することも可能である。一例は、テストプログラムの
現存するシーケンス内に新たなテストセグメントをエン
トリーすることである。図９は、現存するテストシーケ
ンス及び該現存するテストシーケンスに論理的にいまだ
に関連されていない新たなテストセグメント９１０を図
形的に示した「ＦｌｏｗＴｏｏｌ（フローツール）」デ
ィスプレイである。新たなテストセグメント９１０が形
成され且つ以下に説明する如くテストシーケンスに接続
される。カーソルをディスプレイの「バックグラウンド
」区域９２０内に位置させて右側マウスボタンを活性化
させると、図１０に示した如きメインメニューのディス
プレイが得られる。このメインメニューにおける最初の
エントリーは「ｓｅｇｍｅｎｔ（セグメント）」である
。このセグメントオプションを選択すると、セグメント
メニュー１０１０が与えられる。セグメントメニュー１
０１０は、異なった種類のテストセグメントの一組の選
択を表示する。１番目の選択は、ライン１０２０上であ
り、「Ｆｕｎｃｔｉｏｎａｌ　　Ｔｅｓｔ（機能テスト
）」である。「Ｆｕｎｃｔｉｏｎａｌ　　Ｔｅｓｔ」を
選択すると、図９に示したフローツールディスプレイ内
の新たな「Ｆｕｎｃｔｉｏｎａｌ　　Ｔｅｓｔ」アイコ
ン９１０のディスプレイが得られる。この点において、
該アイコンはテストプログラムと相互接続を有すること
はなく、又テストセグメントを画定乃至は定義する関連
するデータを有することもない。この新たなテストセグ
メントに対する合否基準は、テストアイコン９１０を選
択することによってエンターさせることが可能であり、
それにより、図６に関して上述した如き「Ｆｕｎｃｔｉ
ｏｎａｌＴｅｓｔ」ツールディスプレイ及びインターフ
ェースが得られる。この「Ｆｕｎｃｔｉｏｎａｌ　　Ｔ
ｅｓｔ」ツールは、新たに形成したアイコン９１０と関
連する動作テストを画定するインターフェースを与える
。

【００２７】図９を参照すると、「Ｆｕｎｃｔｉｏｎａ
ｌ　　Ｔｅｓｔ」アイコン９１０が以下の如くにテスト
シーケンス内に組込まれる。継続テストアイコン３２０
のポート３３０は現在停止アイコン３４０へ接続されて
いる。ポート３３０上の左側のボタンを押し下げると、
この接続が切断され、接続ライン３４５の左側端部をカ
ーソルと共に移動させる。このことは、実効的に、ユー
ザが前にポート３３０に接続されていた接続ライン３４
５の端部を「ピックアップし且つそれを保持する」する
ことを可能とする。左側ボタンを解放すると、電気掃除
機のコードが本体内に終い込まれるのと視覚的に同様の
態様で、接続ライン３４５が停止アイコン３４０内に「
退避」する。継続テストアイコン３２０のポート３３０
をクリックすると、ポート３３０からの新たな接続ライ
ンが描かれる。この新たな接続ラインは、その一端部が
ポート３３０に取付けられており且つ他端がカーソルに
取付けられている。カーソルに取付けられているこの接
続ラインの端部は、例えばテストアイコン９１０のポー
ト９３０などのような別のポートの近くに移動させるこ
とが可能であり、且つ解放させることが可能である。こ
の接続ラインの端部があるポートの近くで解放されると
、それは自動的に接続し、新たなテストシーケンスフロ
ーを画定乃至は定義する。特に、継続テスト３２０の合
否パラメータが不合格となると、テストシーケンスを停
止させる代わりに、テストアイコン９１０に対応する機
能テストが実施される。新たな接続ライン１１１０を図
１１に示してある。同様に、接続ライン１１２０のカー
ソルで制御される端部をパワー（電源）アイコン１５０
のポート１１４０の近傍で解放することにより、同様の
態様でカーソルをパワーアイコン１１５０のポート１１
４０に位置させてテストアイコン９１０のポート１１３
０から別の接続ライン１１２０を描くことが可能である
。最後に、テストセグメント９１０のポート１１６０から
停止アイコン３４０のポートへの接続を形成することが
可能である。

【００２８】図１２は、完全に接続した新たなテストア
イコン９１０を示しており、テストアイコン９１０のポ
ートと停止アイコン３４０のポート１２２０との間に新
たな接続ライン１２１０が形成されている。この新たな
シーケンスにおいて、アイコン３２０によって表わされ
る継続テストがパス（合格）すると、そのテストシーケ
ンスは「Ｌｅａｋａｇｅ」アイコン３２５によって表わ
される「Ｌｅａｋａｇｅ」テストセグメントへ進行する
。この継続テストが不合格である場合には、該テストシ
ーケンスはアイコン９１０によって表わされるテストセ
グメントへ進行する。テストアイコン９１０によって表
われるテストセグメントがパス、即ち合格である場合に
は、該テストシーケンスはパワーアイコン１１５０によ
って表わされるパワーテストセグメントへ進行し且つ「
Ｌｅａｋａｇｅ」アイコン３２５によって表わされる「
Ｌｅａｋａｇｅ」テストセグメントをスキップする。テストアイコン９１０によって表わされるテストセグメ
ントが不合格である場合には、該テストシーケンスは停
止アイコン３４０へ進行し且つ停止する。この様に、新
たなテストセグメントを形成し且つ既存のテストプログ
ラムシーケンス内にエンターさせることが可能である。一方、既存のテストシーケンスのフロー（流れ）を変更
することが可能であり、又新たなテストシーケンスを形
成することも可能である。その他のツール及びマウス記号種々のツールを介して、テスト中のデバイス上のピンは
、ピン番号ではなく論理的名称によって参照される。例えば、「ＰＩＮＤＥＦ」と呼ばれる論理的名称は、図
５のウインド５２０内に示される「ＤＣＴｏｏｌ」イン
ターフェースによって使用される。「ＰＩＮＤＥＦ」プ
ログラムは、特定のピン番号を参照するピン名称を画定
乃至は定義するための図形的インターフェース（不図示
）を与える。カーソルを制御するために使用される三つ
のボタンを具備するマウスは、指向用／採取用／引回し
用／選択用装置である。右側のマウスボタンは、内容感
応性メニューを出すために使用される。即ち、右側のボ
タンを押し下げると、カーソルによってポイント、即ち
指向されたオブジェクトに特定のメニューが表われる。多くのツールは「ｍａｉｎ　　ｍｅｎｕ　　ｔｏｏｌ（
メインメニューツール）」を有しており、それは、何れ
かの使用していないバックグラウンド区域を介して右側
ボタンを押し下げた時に表われる。中央のボタンは、引
回し／移動／パンするために使用される。これは、移動
されるべきオブジェクト上にカーソルを位置させ、中央
のボタンを押し下げ、カーソルを所望の位置に移動させ
且つ中央ボタンを解放することによって達成される。左側のボタンは、採取／選択／選定／活性化のために使
用される。テストシステムワークステーション１００のインターフェースツール及
びテストシステムコンピュータ１３０のプログラミング
及びデータは、無国籍のオブジェクト指向型テストプロ
グラムを構成している。各動作テストは、アイコンによ
ってワークステーション１００上に図形的に表示される
。これらの動作テストのシーケンスは、アイコンの図形
的相互接続によって表示される。各動作テストは、又、
テストシステム内の対応するデータオブジェクトによっ
て表示され、且つこれら動作テストのシーケンスは、以
下に更に詳細に説明する如く、対応するデータオブジェ
クトを論理的に接続するポインタによって表わされる。テストシステムコンピュータ１３０のアーキテクチャを
図１３に示してある。ワークステーション１００はキー
ボード１１０及びマウス１２０へ結合されており、且つ
インターフェースツール１３０５を有しており、該ツー
ルは、ディスプレイ１３１０を駆動し且つキーボード１
１０及びマウス１２０への入力に応答する。メッセージがインターフェースツール１３０５からテス
トシステムコンピュータ１３０内に設けられているツー
ルインターフェースルーチン１３１５へ送られ、該テス
トシステム内のデータオブジェクトを修正し、ディスプ
レイ１３１０上のインターフェースによって画定される
動作テストパラメータ及びテストシーケンスと対応させ
る。例えばテストを「実行」するためのメッセージなど
のようなメッセージが特定の活動を開始させるために送
給され、且つデータ及びテスト結果はディスプレイさせ
るためにテストシステムコンピュータ１３０からワーク
ステーション１００へ帰還させることが可能である。

【００２９】好適実施例においては、インターフェース
ツール１３０５は、スタンダードなＸウインドグラフィ
ックパッケージ及び、例えば上述した如き「ＦｌｏｗＴ
ｏｏｌ」プログラム及びその他のプログラムなどのよう
な特定のインターフェースツールを有している。インタ
ーフェースツール１３０５は、例えば「継続」などのよ
うなユーザが画定可能なアイコン名称でもってアイコン
及びアイコンのシーケンスを画定乃至は定義する。従っ
て、アイコンの形成、修正又は再接続に応答して、テス
トシステムコンピュータ１３０のツールインターフェー
スルーチン１３１５へメッセージが送給されると、その
メッセージはアイコン名称によるものである。又、本発
明の好適実施例によれば、ツールインターフェースルー
チン１３１５は、二進テーブル１３２０を使用してアイ
コンに関係するメッセージを解釈し、アイコン名称をテ
ストシステムコンピュータ１３０のメモリ内に収容され
ているセグメントブロックに対応するアドレスへ変換す
る。ツールインターフェースルーチン１３１５は、該メ
ッセージに応答して対応するデータオブジェクトを検査
し又は修正する。従って、ユーザが「ＦｌｏｗＴｏｏｌ
」プログラムを使用してアイコンを相互接続するライン
を移動させると、影響されるアイコンの名称が二進テー
ブル１３２０内でルックアップされて、対応するセグメ
ントブロックのアドレスを決定する。ツールインターフ
ェースルーチン１３１５は、適宜のポインタを変化させ
て、相互接続ラインの新たな位置によって画定される新
たなシーケンスに対応させる。これらのデータオブジェ
クト及びインターフェースアイコン及びその他のデータ
オブジェクトに対するそれらの関係については以下に更
に詳細に説明する。

【００３０】ツールインターフェースルーチン１３１５
は、又、「ｅｘｅｃｕｔｅ（実行）」などのような命令
を解釈し且つ実施する。例えば、ツールインターフェー
スルーチン１３１５は、例えば図６に示した「Ｆｕｎｃ
ｔｉｏｎａｌ　　Ｔｅｓｔ」インターフェースの区域５
０５内の「Ｅｘｅｃｕｔｅ（実行）」ボタンを選択する
ことによるなどして、インターフェースツール１３０５
からの「ｅｘｅｃｕｔｅ（実行）」命令に応答しテスト
実行ルーチン１３２５内に位置されている実行ルーチン
をコール、即ち呼び出す。更に、ツールインターフェー
スルーチン１３１５は、図形的表示のためにデータメッ
セージをワークステーション１００へ送信する。例えば
、好適実施例においては、相互接続ラインが白となって
、テスト実行期間中実際のテストシーケンスを表わす。更に、実行されたテストに対応するアイコンの境界は色
が変化して、テスト結果が各テストに対して設定された
基準を合格したものであるか又は不合格であるかを表わ
す。

【００３１】各動作テストは、主に、三つの個別的なタ
イプのデータオブジェクトによって画定乃至は定義され
る。第一に、例えばデータブロック１３３０などのよう
な一つ又はそれ以上のテストパラメータデータブロック
は、各動作テストの動作パラメータを画定乃至は定義す
る。データブロックは、何ら実行可能なコード又はシー
ケンス情報を有するものではないが、特定のテストのパ
ラメータを画定乃至は定義するデータに専用なものとさ
れている。典型的に、これらの動作パラメータは、対応
するツールへの入力に応答して画定され、検査され且つ
修正される。例えば、ＤＣテストに対する変更は、「Ｄ
Ｃ　　ｔｅｓｔ　　ｔｏｏｌ」プログラム（図５に関し
て上述した）への入力から得られ、機能テストに対する
変更は「Ｆｕｎｃｔｉｏｎａｌ　　Ｔｅｓｔ」ツール（
図６に関して上述した）に対する入力から得られ、且つ
画定したテストのタイミングに対する変更は「Ｔｉｍｉ
ｎｇＴｏｏｌ」プログラム（図７に関して上述した）に
対する入力から得られる。

【００３２】データブロックは二つの方法で変更するこ
とが可能である。第一に、異なったブロックを選択する
ことが可能である。例えば、「Ｔｉｍｉｎｇ」ブロック
「ｇｒｏｓｓｆｕｎｃｔｉｍｅ００６」は、図１に示し
た「ＳｅｌｅｃｔＴｏｏｌ」ディスプレイ及びインター
フェースからデータブロックを選択することにより異な
ったブロックで置換することが可能である。特に、カー
ソルを、例えばライン６２０上の「Ｔｉｍｉｎｇ」ラベ
ル６１８などのようなフィールドラベル上に位置させて
右側のボタンを押し下げると、タイミングを画定するた
めの異なったデータブロックを選択するためのメニュー
が与えられる。一方、適宜のディスプレイ及びインター
フェースツールを使用することによって、選択したデー
タブロック内の特定のパラメータを修正することが可能
である。特に、カーソルをデータブロック区域上に位置
させて左側のボタンを活性化させると、選択した属性に
対応するツールをオープンさせる。

【００３３】２番目のタイプのデータオブジェクトはセ
グメントブロックである。一例として、セグメントブロ
ック１３３５が図１３に示されている。３番目のタイプ
のデータオブジェクトはセグメントｄｅｆであり、その
一例は図１３のセグメントｄｅｆ１３４０である。一体
となって、セグメントブロック及びセグメントｄｅｆは
、実行時に使用可能な動作テストの論理的シーケンスを
画定、即ち定義する。セグメントブロック及びセグメン
トｄｅｆは、図１４を参照してより詳細に説明する。図示した如く、セグメントブロック１３３５は、多数の
スロットを持ったデータオブジェクトである。例えば、
ｎａｍｅ（名称）スロットはディスプレイ１３１０上の
対応するアイコンの名称を有している。ｔｙｐｅ（タイ
プ）スロットは、オブジェクトのタイプ、即ち「セグメ
ント」を識別する。ａｌｔ−ｔｙｐｅスロットは、それ
がポイントするテストのタイプ、即ち「ＤＣｔｅｓｔ」
を識別する。その他のスロットは、どの様にして別のシ
ーケンスが使用可能であるか（グラフィックディスプレ
イ上の出力ポート数に対応し）及びラン時間においてセ
グメントブロック１３２５によって画定されるＤＣテス
トの実行の後に使用可能な別の動作テストを画定する別
のセグメントブロック１４１０及び１４２０のアドレス
を有するセグメントｄｅｆ１３４０の特定のアドレスを
識別する。本例においては、セグメントブロック１３２
５，１４１０，１４２０は、図３及び４のアイコン３２
０，４２５，３４０に対応している。（複合アイコンは
対応するデータオブジェクトによってテストシステムコ
ンピュータ１３０によって表示されるが、それらは主に
ワークステーション１００のインターフェースツール１
３０５のインターフェースメカニズムである。）再度図
１３を参照すると、テストシステムコンピュータ１３０
は、好適には、Ｃプログラミング言語で書いたテスト実
行ルーチン１３２５を有している。テスト実行ルーチン
１３２５は、セグメントブロック、セグメントｄｅｆ及
びデータブロックに関して実行を行ない、且つツールイ
ンターフェースルーチン１３１５から受取ったメッセー
ジに応答してディスプレイ上に図形的表示によって表示
されたテストフローを実行するテスタハードウエハ１３
５とインターフェースする予め画定（定義）した方法の
ラン時間サポートライブラリィである。例えば、テスト
を「実行」するためのメッセージに応答して、ツールイ
ンターフェースルーチン１３１５は、特定のアドレスに
よって実行されるべきテストを識別し且つテスト実行ル
ーチン１３２５をコールする。次いで、テスト実行ルー
チンは、適宜のセグメントブロック、セグメントｄｅｆ
、データブロック及び制御テスタハードウエア１３５と
インターフェースする。例えば、ＤＣテストを実行する
ためのメッセージに応答して、テスト実行ルーチンは、
アドレスしたセグメントブロックを読取り、ＤＣテスト
を実行するのに適したラン時間プログラムを実行し、Ｄ
Ｃテストを画定乃至は定義するデータブロックパラメー
タを読取り、これらのテストパラメータに従ってテスタ
ハードウエア１３５を駆動し、テスタハードウエア１３
５から受取ったテスト結果をデータブロック内の合否パ
ラメータと比較し、且つ対応するセグメントｄｅｆ内の
論理に応答してテストシーケンス内の次のセグメントブ
ロックへ該シーケンスを論理的に継続させる。

【００３４】テスタハードウエア１３４０は、テスト中
の集積回路へ所定の入力信号を印加するためにテスト中
のデバイスへ結合されたドライバを有すると共に、テス
ト中のデバイスからの出力信号をプログラム可能なレベ
ルと比較するためのコンパレータを有している。テスト
が実行されている際に、テスタハードウエアから受取っ
たデータは、合否パラメータと比較され、且つその結果
がグローバルデータ区域内に格納される。このデータは
、ツールインターフェースルーチン１３１５によってア
クセスすることが可能であり、且つディスプレイ１３１
０上で表示するためにワークステーション１００へメッ
セージとして送給される。

【００３５】以上、本発明の具体的実施の態様について
詳細に説明したが、本発明は、これら具体例にのみ限定
されるべきものではなく、本発明の技術的範囲を逸脱す
ることなしに種々の変形が可能であることは勿論である
。例えば、上述した好適実施例は、集積回路テスト装置
用のインターフェースを示しているが、本発明の技術的
範囲を逸脱することなしに本発明装置をその他の目的に
使用することも可能である。例えば、本発明は、論理的
相互接続を必要とする一連の事象のシーケンスを使用す
る回路基板テスタなどのような多種類の情報処理装置に
適用可能である。

【図面の簡単な説明】

【図１】　　集積回路テストシステムを制御すべく結合
されたワークステーションを示した概略図。

【図２】　　図形的に表示された「Ｓｅｌｅｃｔ」プロ
グラム及び「ＣｏｎｔｒｏｌＴｏｏｌ」制御プログラム
インターフェースを示したターミナルディスプレイの概
略図。

【図３】　　選択したテストプログラム３９０１を画定
する論理的相互接続及びテストアイコンを図形的に示し
た「ＦｌｏｗＴｏｏｌ」プログラムインターフェースを
示したターミナルディスプレイの概略図。

【図４】　　選択した「Ｌｅａｋａｇｅ」テスト複合ア
イコン３２５を画定する論理的相互接続及びテストアイ
コンを図形的に示した「ＦｌｏｗＴｏｏｌ」プログラム
インターフェースを示したターミナルディスプレイの概
略図。

【図５】　　ＤＣテストの合否基準及び特定のパラメー
タを図形的に示した「ＤＣｔｅｓｔ　　ｔｏｏｌ」プロ
グラムインターフェースを示したターミナルディスプレ
イの概略図。

【図６】　　機能テストの合否基準及び特定のパラメー
タを図形的に示した「Ｆｕｎｃｔｉｏｎａｌ　　Ｔｅｓ
ｔ」ツールインターフェースに対応するターミナルディ
スプレイの概略図。

【図７】　　「Ｔｉｍｉｎｇ　　Ｔｏｏｌ」プログラム
をオープンすることから得られる「Ｔｉｍｉｎｇ　　Ｔ
ｏｏｌ」インターフェースの概略図。

【図８】　　「Ｌｅｖｅｌｓ　　Ｔｏｏｌ」プログラム
をオープンすることから得られる「Ｌｅｖｅｌｓ　　Ｔ
ｏｏｌ」インターフェースを示した概略図。

【図９】　　既存のテストシーケンスにいまだ論理的に
関連されていない新たなテストセグメント及び既存のテ
ストシーケンスを図形的に示した「ＦｌｏｗＴｏｏｌ」
ディスプレイの概略図。

【図１０】　　メインメニュー及びセグメントメニュー
に対応するターミナルディスプレイの概略図。

【図１１】　　新たなテストセグメントの一つのポート
が既存のテストシーケンスに論理的に統合された新たな
テストセグメント及び既存のテストシーケンスを図形的
に示した「ＦｌｏｗＴｏｏｌ」ディスプレイの概略図。

【図１２】　　完全に既存テストシーケンスに統合した
新たなテストセグメントを図形的に示した「ＦｌｏｗＴ
ｏｏｌ」ディスプレイの概略図。

【図１３】　　本発明の好適実施例に基づくテストシス
テムのアーキテクチャを示したブロック線図。

【図１４】　　セグメントブロックと、セグメントｄｅ
ｆと、データブロックとの間の関係を示したブロック線
図。

【符号の説明】

１００　　ワークステーション１１０　　キーボード１２０　　マウス１３０　　集積回路テストシステムコンピュータ１３５
　　テスタハードウエア１４０　　集積回路デバイス

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】　　動作テストの論理シーケンスへデバイ
スを露呈させるテスト装置において、前記シーケンスは
図形的インターフェースによって画定されており、ディ
スプレイと、前記デバイスへ信号を付与する手段と、前
記デバイスから信号を受取る手段と、前記デバイスから
受取った信号を処理する手段と、前記デバイスへ付与す
べき信号と前記デバイスから受取った信号を包含する動
作テストのパラメータを画定する手段とが設けられてお
り、更に前記ディスプレイ上に動作テストのシーケンス
を図形的に表示する手段と、動作テストのシーケンスを
画定するデータ構成と、前記表示されたシーケンスに対
応すべく前記データ構成を操作する手段と、前記データ
構成によって画定されたシーケンスにおいて動作テスト
を実行すべく制御する手段とを有することを特徴とする
テスト装置。
【請求項２】　　請求項１において、更に、前記ディス
プレイ上に図形的に表示されたシーケンスを修正する手
段が設けられており、前記操作手段が前記データ構成を
前記表示されたシーケンスに対応すべく修正させ、且つ
前記制御手段がその修正されたシーケンスを実行すべく
制御することを特徴とするテスト装置。
【請求項３】　　請求項１において、前記データ構成が
動作テストのシーケンスを画定すべく任意に相互接続す
ることの可能な多数の独立的データオブジェクトを有す
ることを特徴とするテスト装置。
【請求項４】　　請求項３において、各動作テストに対
するシーケンス情報が個別的なデータオブジェクトによ
って表わされることを特徴とするテスト装置。
【請求項５】　　デバイスを動作テストの論理シーケン
スへ露呈させるテスト装置において、前記シーケンスが
図形的インターフェースによって画定されており、信号
を前記デバイスへ付与する手段と、前記デバイスから信
号を受取る手段と、前記デバイスから受取った信号を処
理する手段と、前記デバイスへ付与する信号及び前記デ
バイスから受取った信号を包含する動作テストのパラメ
ータを画定する手段と、前記パラメータを検査し且つ修
正する手段とが設けられており、更に前記動作テストの
論理的シーケンスを検査し且つ修正するための図形的イ
ンターフェースが設けられており、前記インターフェー
スが、カーソルを有すると共にカーソルの位置を制御す
る入力装置を有する図形的ディスプレイと、前記図形的
ディスプレイ上に各動作テストの図形的表示を発生する
手段と、各動作テストに対応しており且つ別の逐次的動
作テストに対応するデータオブジェクトに対するポイン
タを有する個別的データオブジェクトと、対応する図形
的アイコンと関連する各動作テストのアドレスを図形的
に表示する手段と、前記ディスプレイ上のアイコンを前
記テストシーケンスの可能な流れに対応するラインと図
形的に相互接続させる手段と、前記ディスプレイ上のア
イコンを図形的に接続するための手段に応答し前記デー
タオブジェクトによって画定される別の逐次的動作テス
トが図形的に表示されたテストシーケンスの可能な流れ
に対応するように前記データオブジェクト内に対応する
ポインタを画定するデータ手段と、前記デバイスに結合
されており前記デバイス及びデータオブジェクトから受
取った信号に応答して可能なテストシーケンスから動作
テストの論理シーケンスを実行するテスト手段とを有す
ることを特徴とするテスト装置。
【請求項６】　　請求項５において、前記アイコンを図
形的に相互接続する手段が、更に、アイコンの間の相互
接続を修正する手段を有しており、前記データ手段が前
記データオブジェクトを修正して図形的表示と対応させ
ることを特徴とするテスト装置。
【請求項７】　　請求項６において、更に、カーソル制
御の下でアイコンの間のラインを切断し且つアイコンの
間に新たなラインを描く入力手段が設けられていること
を特徴とするテスト装置。
【請求項８】　　請求項７において、更に多数の予め画
定した動作テストタイプが設けられており、各動作テス
トタイプは共通アイコンによって前記ディスプレイ上に
図形的に表示され、各動作テストタイプは、更に、対応
するクラスのデータオブジェクトによって表示され、且
つ各特定の動作テストはそのクラスの例証によって表示
されることを特徴とするテスト装置。
【請求項９】　　請求項５において、前記図形的表示を
発生する手段が、更に、複数個のグループの動作テスト
を単一のアイコンとして表示する手段を有することを特
徴とするテスト装置。