JPH04211872A - 論理回路のタイミング検証方法 - Google Patents

論理回路のタイミング検証方法

Info

Publication number
JPH04211872A
JPH04211872A JP3054277A JP5427791A JPH04211872A JP H04211872 A JPH04211872 A JP H04211872A JP 3054277 A JP3054277 A JP 3054277A JP 5427791 A JP5427791 A JP 5427791A JP H04211872 A JPH04211872 A JP H04211872A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
branch point
logic
delay
circuit
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3054277A
Other languages
English (en)
Inventor
Kozo Fujita
浩三 藤田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP3054277A priority Critical patent/JPH04211872A/ja
Publication of JPH04211872A publication Critical patent/JPH04211872A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は論理回路のタイミング検
証方法に関し、特に共通の信号伝播経路および分岐点を
求め且つそれらの情報を用いて論理シミュレーションを
行なう論理回路のタイミング検証方法に関す  る。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の論理回路のタイミング検
証方法は、検証を行なう論理素子に対して単一の論理シ
ミュレーションを行ない、その結果から検証を行なって
いる。従って、回路内部の分岐点に至る信号伝播経路を
求めたりせず、また分岐点に対する論理シミュレーショ
ンの結果を考慮したりしてはいない。また、この種の論
理回路のタイミング検証方法は、検証を行なう検査対象
端子対に対して単一遅延モデルの論理シミュレーション
の結果から検証を行っており、回路内部の分岐点に至る
信号伝播経路を求めたりせず、また分岐点上の信号変化
時刻に対する論理シミュレーションの結果を考慮してい
ない。
【0003】図11は従来の一例をを説明するためのフ
リップフロップ試験接続図である。図11に示すように
、かかる論理回路のDAT及びCLKは外部入力端子、
OUTは外部出力端子、G1はバッファ、F1とF2は
Dフリップフロップであり、しかもF1とF2はそれぞ
れデータ入力端子Dおよびクロック入力端子Cを持って
いる。まず、配線遅延は0を仮定し、バッファG1の入
力から出力までの遅延と、フリップフロップF1及びF
2のC入力から出力までの遅延とは、すべて最小遅延5
nsであり、最大遅延10nsと仮定する。また、セッ
トアップ時間及びホールド時間は、検証時に配線ばらつ
き或いは遅延ばらつきを考慮可能なとき共に3ns、不
可能なときは配線のばらつき或いは遅延ばらつきのマー
ジンを含め共に6nsとする。次に、今あるテストパタ
ンによってDATとCLKの論理値がともに0から1へ
変化する場合を考える。このとき1101はDATの入
力の変化を示しており、0nsで0から1に変化するこ
とを示している。また、1102はF1のCLKの入力
値の変化を示しており、0nsで0から1へ変化するこ
とを示している。さらに、1103はF1のC入力の変
化を示しており、5nsの直前まで0であり、5nsか
ら10nsの直前までが0から1への変化中であり、1
0ns以降1になることを示している。また、1104
はF2のD入力の変化を示しており、10nsの直前ま
で0で、10nsから20nsの直前までが0から1へ
の変化中であり、20ns以降1になることを示してい
る。1105はF2のC入力の変化を示しており、5n
sの直前まで0で、5sから10nsの直前までが0か
ら1への変化中、10ns以降1になることを示してい
る。
【0004】ここで、F2に対しセットアップホールド
時間の検証を行なう場合を考える。まず第一に、単一の
遅延、すなわち最大遅延または最小遅延のみの値で検証
を行なった場合、この検証方法では配線ばらつきを考慮
できない。すなわち、最小遅延の値で検証を行なった場
合、F2のCの入力が変化した後5ns後にF2のD入
力が変化するため6nsのホールド時間が満たされなず
、エラーとなる。
【0005】次に、遅延のばらつきを考慮して検証を行
なうと、最小遅延時間を仮定した場合、D入力の変化時
刻は10nsであり、最大遅延時間を仮定した場合のC
の入力の変化時刻は10nsであるため、3nsのホー
ルド時間を満足できない。しかし、フリップフロップF
2のD入力に起こった信号変化とC入力に起こった信号
変化とは、共にバッファG1の出力の変化に起因してい
る。すなわち、D入力とC入力に至る信号変化は、バッ
ファG1の出力で同時に変化するはずであり、D入力に
至る変化を最小遅延で変化し且つC入力に至る変化が最
大遅延で変化することを仮定することは、CLKからG
1に至る共通の経路に対して最大遅延と最小遅延の両方
を仮定するため、不要に遅延のばらつきを考慮すること
になる。しかるに、バッファG1の出力までの経路の遅
延のばらつき5nsをフリップフロップのD入力とC入
力に至る経路の遅延から除去すると、遅延の相対ばらつ
きを考慮したタイミング検証の結果は、最大遅延を考慮
した場合のCの入力変化の5ns後に最小遅延を考慮し
た場合のDの入力信号の変化が発生することが明かにな
り、配線或は遅延の相対ばらつきを考慮したときのタイ
ミング検証の場合のホールド時間3nsを満足している
【0006】このように、従来のタイミング検証方法で
は、検証時に配線ばらつき或は回路内部の相対遅延ばら
つきを考慮しない場合、検証の規定値が必要以上になる
ため、また検証時に配線ばらつきを考慮した場合は不必
要な遅延のばらつきを考慮するために、共に検証結果は
正常な回路に対しエラーを検出する可能性がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の論理回
路のタイミング検証方法は、検証を行なう論理回路の論
理素子或は検査対象端子対に対して、単一遅延モデルの
論理シミュレーションの結果から検証を行なっており、
しかも回路内部の分岐点に至る伝播経路を求めテいない
。このため、分岐点上での信号変化時刻に対する論理シ
ミュレーションの結果を考慮していない。このため、遅
延値の異なる論理シミュレーションの結果を用いて、遅
延の相対ばらつきを考慮したタイミング検証を行なうこ
とができず、また遅延の異なる複数の論理シミュレーシ
ョンの演算結果をもとにタイミング検証を行なう際、複
数の信号伝播経路に共通な経路が存在する場合、共通な
経路の遅延の差を排除することが不可能なために必要以
上の遅延のばらつきを考慮したタイミング検証を行なわ
ざるを得ないという欠点がある。
【0008】
【課題を解決するための手段】第一の発明の論理回路の
タイミング検証方法は、検証対象になる論理回路の論理
素子から回路内部の分岐点に至る信号伝播経路を求める
ステップと、前記信号伝播経路の共通部分および前記共
通部分から各入力部分に至る分岐点を求めるステップと
、前記回路内部の分岐点および検証を行なう論理素子に
対して遅延値の異なる複数回の論理シミュレーションの
演算を行なうステップと、前記演算結果を保存し且つ前
記分岐点での論理シミュレーションの演算結果をもとに
前記論理素子の複数の信号伝播経路に共通な経路が存在
するときにその共通経路の遅延の差を排除するステップ
とを有し、前記論理回路のタイミング検証を行なうよう
に構成される。
【0009】第二の発明の論理回路のタイミング検証方
法は、論理回路内部のタイミングを決定する分岐点を探
索するステップと、検証対象となる端子に至る入力信号
が通過した前記論理回路内部の分岐点の名称及び信号伝
播時刻を保持するステップとを有し、各検査対象端子が
保持している変化時刻と分岐点の信号変化時刻及び名称
とから必要以上の遅延ばらつきを防止したタイミング検
証を行うように構成される。
【0010】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0011】図1は本発明の一実施例を説明するための
論理回路のタイミング検証におけるシステム構成図であ
る。図1に示すように、本実施例はタイミング検証シス
テムを三つのモジュールから構成している。第一のモジ
ュール101は経路及び分岐点検索を行なうモジュール
であり、入力として回路の接続情報が入力され、検査対
象ブロックと分岐点情報が情報ファイル102へ出力さ
れる。また、第二のモジュール103は論理シミュレー
ションモジュールであり、経路・分岐点検索モジュール
101から得られた検査対象ブロックと分岐点情報をも
とに論理シミュレーションを行ない検査対象ブロックと
分岐点でのシミュレーション演算結果を情報ファイル1
04に出力する。更に第三のモジュール105はタイミ
ング検証モジュールであり、情報ファイル104から得
た演算結果をもとに情報ファイル102からの検査対象
ブロックのタイミング検証を行なう。
【0012】図2は図1における経路・分岐点検索モジ
ュール内の動作を説明するための処理フロー図である。 図2に示すように、処理開始201後、まず検査対象ブ
ロックの接続情報の取り込み202を行なった後、ブロ
ック検証ライブラリの取り込みステップ203を行なう
。このライブラリには、検査対象となるブロックの名称
及び検査対象となる端子の名称が記述されている。次に
、このライブラリデータを基に回路内に検査対象ブロッ
クの検索ステップ204を行なう。次に、検索されたブ
ロックの入力端子群の信号伝播経路を回路接続情報をも
とに検索する経路検索ステップ205を実施する。しか
る後、信号伝播経路に共通な経路が存在するか否かの判
定ステップ206を行ない、共通経路から個々の入力端
子群に分岐する分岐点の情報をスタック207する。 次に、信号伝播経路がほかに存在するかどうかを複数経
路判定ステップ208で判断し、存在した場合には経路
検索ステップ205に戻る。すべての経路を検索した後
、ブロックの情報をスタック209し、次にすべての対
象ブロックを検索したか否かをステップ210で判断し
、検索されていないブロックがあれば検査対象ブロック
の検索ステップ204に戻るが、すべて検索さてれいる
場合には、ブロックの情報と分岐点の情報を出力ステッ
プ211で出力し、この経路・分岐点検索モジュール1
01の処理を終了212とする。
【0013】図3は図1における論理シミュレーション
モジュール内部の動作を説明するための処理フロー図で
ある。図3に示すように、処理開始301後、遅延のば
らつきを選択する遅延タイプ選択ステップ302を行な
い、パタン周期やピリオド等のシミュレーション条件を
設定する条件設定ステップ303を実施する。しかる後
、分岐点と検査対象ブロックの情報を情報取り込みステ
ップ304で取り込み、回路内部での演算結果を存在す
る点を設定する。次に、論理シミュレーション305を
行ない、そのシミュレーション結果である分岐点及び検
査対象ブロックの演算結果を出力ステップ306で出力
することにより、かかる処理を終了307する。
【0014】図4は図1におけるタイミング検証モジュ
ール内部の動作を説明するための処理フロー図である。 図4に示すように、処理開始401後、モジュール10
1から得られたブロック情報と分岐点情報を取り込みス
テップ402で取り込み、さらにモジュール103で得
られた検査対象ブロックの演算結果情報と分岐点での演
算結果を取り込みステップ403で取り込む。次に、検
査対象ブロックをステップ404で抽出し、しかる後検
査対象ブロックの入力端子に対応する分岐点をステップ
405で抽出する。次に、入力端子間でのタイミング検
証をステップ406で行なうが、この検証時には入力端
子の各々の配線ばらつきから分岐点の配線のばらつきを
排除して検証を行なう。最悪の場合、すなわち分岐点が
複数存在する場合には、これら分岐点の個数回のタイミ
ング検証を行なう。更に、すべての対象ブロックに対し
て検証が終了したか否かをステップ407で判断し、終
了していなければ再び検査対象ブロック抽出ステップ4
04に戻る。このように、すべてのブロックに対する検
証を終了すれば、408でその結果を出力し終了する。
【0015】図5は本発明の他の実施例を説明するため
の論理回路のタイミング検証におけるシステム構成図で
ある。図5に示すように、本実施例は二つのモジュール
から構成されており、一つは経路探索及び分岐点探索を
行う分岐点探索モジュール501である。このモジュー
ル501は入力として回路の接続情報が入力され、検査
対象ブロックと回路内部のタイミングを決定ずける分岐
点情報502が出力される。また、他方のモジュールは
論理シミュレーションを含むタイミング検証のコアモジ
ュール503である。これは論理シミュレーションを行
い、検査対象ブロックにおけるセットアップ/ホールド
検証が分岐点情報502を基に遅延ばらつきを加味して
検証を行い、検証結果504を出力する。
【0016】図6は図5における分岐点検索モジュール
内部の動作を説明するための処理フロー図である。図6
に示すように、この分岐点検索モジュール501は、ま
ず回路の取り込み601を行い、内部データ構造に展開
する。次に、ブロック検証用ライブラリの取り込み60
2を行う。このブロック検証用ライブラリには、検査対
象ブロックの名称及び検査対象端子の名称が記述されて
いる。次に、検査対象ブロック探索603を実行するが
、これはライブラリをもとに回路内部に存在する検査対
象ブロックを探索する。この検査対象ブロックが探索さ
れると、クロックラインの経路探索604により、ブロ
ックのクロック入力端子から外部出力端子に至る経路を
探索する。
【0017】次に、分岐ブロックの判定を行うステップ
605で得られた信号経路上のファンアウトが二つ以上
のブロックで存在した場合、これらを分岐点と見なして
スタック606する。次に、ステップ607で全ての信
号経路を探索したか否かを判断し、もし探索していない
信号経路が存在すれば、経路探索604に戻る。さらに
、すべての検査対象端子の経路を探索したか否かを全ブ
ロック探索ステップ608で調査し、もし探索していな
いブロックが存在した場合には、ブロック探索ステップ
603に戻って再びブロック探索を行う。また、全ての
対象ブロックのクロックラインに存在する分岐点を探索
すると、分岐点情報と検査対象ブロック名をステップ6
09で出力し、モジュールの動作は終了する。
【0018】図7は図5における論理シミュレーション
タイミング解析コアモジュール内部の動作を説明するた
めの処理フロー図である。図7に示すように、まず実行
条件設定ステップ701でシミュレーションの実行条件
を設定する。次に、ステップ702で回路接続情報,テ
ストパターン,ブロックライブラリ,分岐点および検査
対象ブロックのデータを読み込む。次に、ステップ70
3で論理シミュレーションを単一遅延で行う。ここでは
、テストパターンを印加することにより引き起された信
号変化が回路内部を伝播する際に分岐点を通過したとき
、その分岐点の名称と通過時刻を信号そのものに付加す
る。次に、ステップ704でシミュレーションの結果か
らタイミング検証を遅延ばらつきを考慮せずに行う。 更に、エラー判定ステップ705でエラーが検出された
か否かを判断し、エラーの場合には詳細検証モードとし
ての詳細タイミング解析706を行う。この詳細タイミ
ング解析706では、検査対象となる個々の入力端子に
至った信号変化自体が保持している相互の分岐点情報を
照合し、共通して通過した分岐点が存在する場合、その
分岐点以降の遅延に対する遅延ばらつきを考慮してタイ
ミング検証を再度行う。検証終了後、その結果は、出力
結果707としてファイルに出力され、再度シミュレー
ションを実行する。しかる後、全てのテストパタンが印
加されるまで、この処理708を行い終了する。
【0019】図8は図5における処理例を説明するため
のフリップフロップ試験接続図である。図8に示すよう
に、この処理例はフリップフロップに対するセットアッ
プホールド検証を示し、DATおよびCLKは外部入力
端子、G1はバッファ806、F1およびF2はDフリ
ップフロップ807,808である。これらのフリップ
フロップはデータ入力Dとクロック入力Cの二つの端子
を有する。また、OUTは外部入力端子である。かかる
論理回路における配線遅延を0と仮定し、G1の入力か
ら出力まで及びF2のC入力から出力までの遅延はすべ
て最小遅延を5ns、最大遅延を10ns、標準遅延を
6nsと仮定する。また、セットアップ時間とホールド
時間は、検証が遅延ばらつきを考慮可能な場合ともに3
ns、考慮不可能な場合はマージンを含めてともに6n
sとする。ここで、論理シミュレーションを遅延で行っ
た場合のF2のDとC入力でのセットアップホールド検
証を行うとする。しかも、遅延の相対ばらつきは遅延値
の20%とする。
【0020】まず、分岐点探索モジュールで分岐点探索
を行う。この分岐点探索においてフリップフロップのク
ロック入力、すなわちF1,F2のC入力から外部入力
端子に向けて経路探索を行う。ここで、ファンアウト2
以上のブロックが分岐点と見なされるため、806のブ
ロックG1分岐点と見なされる。
【0021】次に、論理シミュレーションを行い、タイ
ミング検証を行う。このとき印加されたテストパターン
においてDATとCLKの論理値がともに0から1へ変
化する場合を仮定する。尚、801はDATの入力の変
化を示しており、0nsで0から1へ変化することを表
している。また、802はF1のCLKの入力の変化を
示しており、0nsで0から1へ変化することを表して
いる。803はF1の入力の変化を示しており、6ns
で0から1へ変化することを表している。さらに、80
4はF2のD入力の変化を示しており、12nsで0か
ら1へ変化することを表している。また、805はF2
のC入力の変化を示しており、6nsで0から1へ変化
することを表している。
【0022】以下、フリップフロップF2に対してセッ
トアップホールド時間の検証を行った場合を図9および
図10を参照して考える。
【0023】図9は図8におけるフリップフロップのホ
ールドエラーが有るときのタイミング図である。図9に
示すように、まず始めに単一の遅延、この場合標準遅延
のみの値で検証を行った場合、F2のCの入力が変化し
た後にF2のDの入力が変化するため、901に示すよ
うに、6nsのホールド時間が満たされずエラーとなる
【0024】次に、遅延のばらつきを考慮して検証を行
う。この場合、D入力に起った信号変化とC入力に起っ
た信号変化は、ともに分岐点を通過した場合その通過時
刻を信号変化自体が保持している。F2のDとF2のC
はそれぞれG1を通過しており、このG1が分岐点とな
る。しかるに、遅延ばらつきは分岐点以降を対象とする
ため、G1以降の経路上での遅延ばらつきを求める。す
なわち、分岐点からF2のDに至る遅延は6nsである
ため、遅延ばらつきは±1.2nsとなる。同様に、F
2のCに至る遅延は0nsであるため、遅延ばらつきは
無い。
【0025】図10は図8におけるフリップフロップの
ホールドエラーが無いときのタイミング図である。図1
0に示すように、まず分岐点以降の遅延ばらつき100
1を求めた場合、D入力の変化は12ns±1.2ns
であり、またC入力の変化時刻は6nsとなる。ここで
、3nsのセットアップ/ホールド時間1002を考慮
しタイミング検証を行う。この遅延の相対ばらつきを考
慮したタイミング検証の結果は最大遅延を仮定したとき
のCの入力信号の変化の4.8ns後に最小遅延を仮定
したDの入力信号の変化が起こることになる。従って、
1103は遅延の相対ばらつきを考慮したときのホール
ド時間3ns満たすことになる。
【0026】このように、前述した従来例においては、
検証時に回路内部の相対遅延ばらつきを考慮しない場合
の検証に用いる値が遅延ばらつきをマージンとして見込
んでいたため、単純に遅延ばらつきを考慮して検証を行
った場合には、必要以上に遅延ばらつきを考慮してしま
うので、検証結果は正常な回路に対してエラーを検出す
る可能性があったのを、本実施例によれば解消できる。
【0027】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の論理回路
のタイミング検証方法は、検証対象となる論理素子の各
入力の信号伝播経路を求めた後、その信号伝播経路の共
通部分およびその共通部分から各入力部分に至る分岐点
を求め、求められたこの分岐点の情報を保存する一方、
その分岐点での論理シミュレーションの演算を行ない且
つその演算結果をもとに複数の信号伝播経路の演算を行
なって分岐点の遅延の差を排除することにより、必要以
上の遅延のばらつきを考慮した検証を防止することがで
きるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を説明するための論理回路の
タイミング検証におけるシステム構成図である。
【図2】図1における経路・分岐点検索モジュール内部
の動作を説明するための処理フロー図である。
【図3】図1における論理シミュレーションモジュール
内部の動作を説明するための処理フロー図である。
【図4】図1におけるタイミング検証モジュール内部の
動作を説明するための処理フロー図である。
【図5】本発明の他の実施例を説明するための論理回路
のタイミング検証におけるシステム構成図である。
【図6】図5における分岐点検索モジュール内部の動作
を説明するための処理フロー図である。
【図7】図5における論理シミュレーションタイミング
解析コアモジュール内部の動作を説明するための処理フ
ロー図である。
【図8】図5における処理例を説明するためのフリップ
フロップ試験接続図である。
【図9】図8におけるフリップフロップのホールドエラ
ーが有るときのタイミング図である。
【図10】図8におけるフリップフロップのホールドエ
ラーが無いときのタイミング図である。
【図11】従来の一例をを説明するためのフリップフロ
ップ試験接続図である。
【符号の説明】
101    経路・分岐点検索モジュール102  
  検査対象ブロック・分岐点情報ファイル103  
  論理シミュレーションモジュール104    検
査対象ブロック・分岐点シミュレーション結果情報ファ
イル 105    タイミング検証モジュール202   
 回路接続情報取り込み処理203    検証ブロッ
クライブラリ取り込み処理204    検査対象ブロ
ック検索 205    経路検索 206    分岐点の判定 207    分岐点情報スタック処理208    
複数経路の判定 209    ブロック情報のスタック処理210  
  全対象ブロック検索判定211    ブロック情
報分岐点情報出力処理302    遅延タイプの選択
処理 303    シミュレーション条件設定処理304 
   分岐点・ブロック情報取り込み処理305   
 論理シミュレーション処理306    分岐点・検
査ブロック演算結果出力処理402    ブロック情
報・分岐点情報の取り込み処理403    シミュレ
ーション演算結果取り込み処理404    検査ブロ
ック抽出 405    ブロック対応の分岐点抽出処理406 
   タイミング検証 407    全ブロックの検証終了判定501   
 分岐点探索モジュール 502    検査対象ブロック分岐点情報503  
  論理シミュレーションタイミング解析コアモジュー
ル 504    検証結果 601    接続情報取り込み 602    ライブラリ取り込み処理603    
検査対象ブロック検索 604    クロックラインの経路探索605   
 分岐ブロック判定 606    分岐ブロック情報のスタック607  
  全経路探索の判定 608    全ブロック探索の判定 609    分岐情報/ブロック情報出力701  
  実行条件設定 702    回路接続情報等のデータ読み込み703
    論理シミュレーション 704    タイミング解析 705    エラー判定 706    詳細タイミング解析 707    結果出力

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  検証対象になる論理回路の論理素子か
    ら回路内部の分岐点に至る信号伝播経路を求めるステッ
    プと、前記信号伝播経路の共通部分および前記共通部分
    から各入力部分に至る分岐点を求めるステップと、前記
    回路内部の分岐点および検証を行なう論理素子に対して
    遅延値の異なる複数回の論理シミュレーションの演算を
    行なうステップと、前記演算結果を保存し且つ前記分岐
    点での論理シミュレーションの演算結果をもとに前記論
    理素子の複数の信号伝播経路に共通な経路が存在すると
    きにその共通経路の遅延の差を排除するステップとを有
    し、前記論理回路のタイミング検証を行なうことを特徴
    とする論理回路のタイミング検証方法。
  2. 【請求項2】  論理回路内部のタイミングを決定する
    分岐点を探索するステップと、検証対象となる端子に至
    る入力信号が通過した前記論理回路内部の分岐点の名称
    及び信号伝播時刻を保持するステップとを有し、各検査
    対象端子が保持している変化時刻と分岐点の信号変化時
    刻及び名称とから必要以上の遅延ばらつきを防止したタ
    イミング検証を行うことを特徴とする論理回路のタイミ
    ング検証方法。
JP3054277A 1990-03-19 1991-03-19 論理回路のタイミング検証方法 Pending JPH04211872A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3054277A JPH04211872A (ja) 1990-03-19 1991-03-19 論理回路のタイミング検証方法

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2-70185 1990-03-19
JP7018590 1990-03-19
JP3054277A JPH04211872A (ja) 1990-03-19 1991-03-19 論理回路のタイミング検証方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04211872A true JPH04211872A (ja) 1992-08-03

Family

ID=26395025

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3054277A Pending JPH04211872A (ja) 1990-03-19 1991-03-19 論理回路のタイミング検証方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04211872A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7131082B2 (en) 2000-11-22 2006-10-31 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Delay distribution calculation method, circuit evaluation method and false path extraction method
JP2010049386A (ja) * 2008-08-20 2010-03-04 Nec Corp 遅延解析装置、遅延解析方法、及びプログラム

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7131082B2 (en) 2000-11-22 2006-10-31 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Delay distribution calculation method, circuit evaluation method and false path extraction method
JP2010049386A (ja) * 2008-08-20 2010-03-04 Nec Corp 遅延解析装置、遅延解析方法、及びプログラム
US8171440B2 (en) 2008-08-20 2012-05-01 Nec Corporation Timing analyzing apparatus, timing analyzing method and program thereof

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5513339A (en) Concurrent fault simulation of circuits with both logic elements and functional circuits
US5815655A (en) Device for generating error path list and method of extracting the worst paths
US5640403A (en) Fault diagnosis method for a sequential circuit
US5189365A (en) Method of locating a fault in a logic IC device
US7958474B2 (en) Highly threaded static timer
US6301685B1 (en) Error propagation path extraction system, error propagation path extraction method, and recording medium recording error propagation path extraction control program
US5331570A (en) Method for generating test access procedures
JP2921502B2 (ja) 順序回路の故障箇所推定方法
US5365528A (en) Method for testing delay faults in non-scan sequential circuits
US5600568A (en) Analysis system for the delay time in logic equipment
JP3555071B2 (ja) 故障伝搬経路推定方法、故障伝搬経路推定装置及び記録媒体
JPH04211872A (ja) 論理回路のタイミング検証方法
US10234504B1 (en) Optimizing core wrappers in an integrated circuit
JP2001051027A (ja) 論理回路の遅延故障検出方法
JP2908339B2 (ja) 半導体集積回路のシミュレーション方式
JPH06232735A (ja) 同期ディジタル電子回路の設計方法
JPH1152023A (ja) Lsiの故障箇所推定方法及びlsiの故障箇所推定プログラムを記録した記録媒体
JP2003028935A (ja) 故障伝搬経路推定システム
JP2003162561A (ja) タイミング解析方法
JP2000293553A (ja) 出力同時動作検証方法及び検証システム
JP3011591B2 (ja) 半導体集積回路の誤動作の判定方法
JP2996153B2 (ja) Asic検証方法
KR100618859B1 (ko) 테스트 벡터 검증 방법 및 이 기능을 실현하는 기록 매체
JPH11304890A (ja) Lsiテスタのテストパタン生成方法および装置
JP3012546B2 (ja) シミュレーション装置及びその方法