JPH04206135A - 液体クロマトグラフ質量分析装置および分析法 - Google Patents
液体クロマトグラフ質量分析装置および分析法Info
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- JPH04206135A JPH04206135A JP2332184A JP33218490A JPH04206135A JP H04206135 A JPH04206135 A JP H04206135A JP 2332184 A JP2332184 A JP 2332184A JP 33218490 A JP33218490 A JP 33218490A JP H04206135 A JPH04206135 A JP H04206135A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 4
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- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は液体クロマトグラフ質量分析装置および分析法
に係り、特に質量掃引ごとに“正”負”イオンのスペク
トルを検出できる液体クロマトグラフ質量分析装置およ
び分析法に関する。
に係り、特に質量掃引ごとに“正”負”イオンのスペク
トルを検出できる液体クロマトグラフ質量分析装置およ
び分析法に関する。
［従来の技術］
従来の液体クロマトグラフ質量分析装置は液体クロマト
グラフ（ＬＣ）により分離、流出する移動相と測定試料
は、内径１０〜１００μｍの細管を通し加熱されて霧化
し、脱溶媒室に導入される。
グラフ（ＬＣ）により分離、流出する移動相と測定試料
は、内径１０〜１００μｍの細管を通し加熱されて霧化
し、脱溶媒室に導入される。
脱溶媒室で霧滴は更に微細化され、コロナ放電室へ送ら
れる。コロナ放電室に備えられ放電用の針電極には１０
ｋＶ程度の高電圧が印加され、その針電極によって、コ
ロナ放電を起させて前記霧滴となった移動相をイオン化
させる。イオン化された移動相イオンは一種の化学イオ
ン化反応を起こし、同様霧滴となった試料分子をイオン
化する。
れる。コロナ放電室に備えられ放電用の針電極には１０
ｋＶ程度の高電圧が印加され、その針電極によって、コ
ロナ放電を起させて前記霧滴となった移動相をイオン化
させる。イオン化された移動相イオンは一種の化学イオ
ン化反応を起こし、同様霧滴となった試料分子をイオン
化する。
該試料分子イオンはドリフト電圧に導かれて質量分析計
に入り質量分散を受け、試料に由来するマススペクトル
（ＭＳ）が検出され、レコーダまたはプリンタにより出
力される。
に入り質量分散を受け、試料に由来するマススペクトル
（ＭＳ）が検出され、レコーダまたはプリンタにより出
力される。
この場合、正イオンの測定には、針電極に印加される電
圧が＋１０ｋＶ、第１細孔には＋２００■、第２細孔に
は＋５０Ｖ程度のドリフト電圧を印加し、前記イオンを
質量分析計に導く。
圧が＋１０ｋＶ、第１細孔には＋２００■、第２細孔に
は＋５０Ｖ程度のドリフト電圧を印加し、前記イオンを
質量分析計に導く。
一方、負イオンの測定には、針電極に印加される電圧が
一１０ｋＶ、第１細孔に一２００Ｖ、第２細孔に一５０
Ｖ程度のドリフト電圧を印加する。
一１０ｋＶ、第１細孔に一２００Ｖ、第２細孔に一５０
Ｖ程度のドリフト電圧を印加する。
即ち、前記の各測定ごとに試料を注入し電位を反転させ
て行なっていた（特願昭６３−３０４５６４号）。
て行なっていた（特願昭６３−３０４５６４号）。
［発明が解決しようとする課題］
前記従来技術は、正イオンの測定が終了した後に、再度
試料を注入して負イオンの測定を行なっており、一度の
試料注入で正負の両イオンを測定することに関しては考
慮されていなかった。
試料を注入して負イオンの測定を行なっており、一度の
試料注入で正負の両イオンを測定することに関しては考
慮されていなかった。
近年、ＬＣ／ＭＳによる質量分析は、その初期の頃の様
にスペクトルを得ることができればよいと云うだけでは
不十分である。混合試料の中にはその化学的性質から、
正イオンの方がイオン化し易い物質と、負イオンの方が
イオン化し易い物質があり、これらの物質が混合してい
ることも多い。
にスペクトルを得ることができればよいと云うだけでは
不十分である。混合試料の中にはその化学的性質から、
正イオンの方がイオン化し易い物質と、負イオンの方が
イオン化し易い物質があり、これらの物質が混合してい
ることも多い。
特に、不純物の測定等は正イオンの測定が終った後に、
負イオンの測定を必要とする場合が多くなってきた。
負イオンの測定を必要とする場合が多くなってきた。
本発明の目的は、一度の試料注入で正負両イオンの検出
が可能な液体クロマトグラフ質量分析装置並びに分析方
法を提供することにある。
が可能な液体クロマトグラフ質量分析装置並びに分析方
法を提供することにある。
［課題を解決するための手段］
前記目的を達成する本発明の要旨は次のとおりである。
（１）混合試料を分離する液体クロマトグラフと、前記
液体クロマトグラフからの流出物を霧化し、イオン化す
るイオン源と、前記イオン源により生成されたイオンを
質量分析計に導入するドリフト電圧部と、前記イオンを
分析する質量分析計を有する液体クロマトグラフ質量分
析装置において、 質量掃引ごとにイオン生成のための放電電極に印加する
電圧の極性を反転させる手段を備えたことを特徴とする
液体クロマトグラフ質量分析装置。
液体クロマトグラフからの流出物を霧化し、イオン化す
るイオン源と、前記イオン源により生成されたイオンを
質量分析計に導入するドリフト電圧部と、前記イオンを
分析する質量分析計を有する液体クロマトグラフ質量分
析装置において、 質量掃引ごとにイオン生成のための放電電極に印加する
電圧の極性を反転させる手段を備えたことを特徴とする
液体クロマトグラフ質量分析装置。
（２）液体クロマトグラフにより分離された混合試料と
移動相液を霧化し、該霧滴をイオン源においてイオン化
して質量分析計に導入し、前記イオンを質量分析計で分
析する液体クロマトグラフ質量分析方法において、 質量掃引ごとに前記イオン生成のための電極電圧、試料
イオン加速電圧およびドリフト電圧の極性を反転させて
、一度の試料注入で前記混合試料の正負両イオン化時の
質量を分析することを特徴とする液体クロマトグラフ質
量分析方法。
移動相液を霧化し、該霧滴をイオン源においてイオン化
して質量分析計に導入し、前記イオンを質量分析計で分
析する液体クロマトグラフ質量分析方法において、 質量掃引ごとに前記イオン生成のための電極電圧、試料
イオン加速電圧およびドリフト電圧の極性を反転させて
、一度の試料注入で前記混合試料の正負両イオン化時の
質量を分析することを特徴とする液体クロマトグラフ質
量分析方法。
本発明の特徴は、質量数掃引に同調させて放電電圧の極
性を反転させて行なう。例えば、まず最初の掃引は針電
極、試料イオン加速電圧およびドリフト電圧に“正”の
電位を与えて正イオンの測定を行なう。次に掃引では針
電極、試料イオン加速電圧およびドリフト電圧に“負”
の電位を与えて負イオンの測定を行なう。これを繰り返
すことによりより、一度の試料注入で正負両イオンの検
出が可能となる。
性を反転させて行なう。例えば、まず最初の掃引は針電
極、試料イオン加速電圧およびドリフト電圧に“正”の
電位を与えて正イオンの測定を行なう。次に掃引では針
電極、試料イオン加速電圧およびドリフト電圧に“負”
の電位を与えて負イオンの測定を行なう。これを繰り返
すことによりより、一度の試料注入で正負両イオンの検
出が可能となる。
特に化学的性質の異なった試料、正負の電荷を持った試
料等の測定に適している。
料等の測定に適している。
従来は試料の前記化学的性質に対して何ら考慮されてい
なかったため、正イオン検出でイオン化が行なわれなか
った場合には、負イオン検出モードへ変更後、再度試料
を注入して測定を行っていた。混合試料は、その成分の
イオン化効率で正”“負”イオンの生成の程度が極端に
異なっていることが多く、本発明においては、両イオン
を繰り返し掃引することで混合成分の化学的性質の異な
る物質でも、一度の試料注入でイオン化し、スペクトル
を得ることができる。
なかったため、正イオン検出でイオン化が行なわれなか
った場合には、負イオン検出モードへ変更後、再度試料
を注入して測定を行っていた。混合試料は、その成分の
イオン化効率で正”“負”イオンの生成の程度が極端に
異なっていることが多く、本発明においては、両イオン
を繰り返し掃引することで混合成分の化学的性質の異な
る物質でも、一度の試料注入でイオン化し、スペクトル
を得ることができる。
更にまた、温度条件、グラジェント条件が全く同一の正
負両イオンスペクトルが得られ、混合試料の各成分に対
してより多くの知見が得られる。
負両イオンスペクトルが得られ、混合試料の各成分に対
してより多くの知見が得られる。
［作用コ
この様に各質量数掃引ごとに針電極、ドリフト電圧の電
位を“正“負”に反転させることにより、各掃引ごとに
“正イオン”負イオン”の両スペクトルが交互に得られ
る。即ち、化学的性質上、正イオンができ易い物質と負
イオンができ易い物質が混合している様な不純物の成分
の測定にも、一度の試料注入で両イオンのスペクトルが
得られる。
位を“正“負”に反転させることにより、各掃引ごとに
“正イオン”負イオン”の両スペクトルが交互に得られ
る。即ち、化学的性質上、正イオンができ易い物質と負
イオンができ易い物質が混合している様な不純物の成分
の測定にも、一度の試料注入で両イオンのスペクトルが
得られる。
［実施例］
本発明の一実施例を第１図により説明する。
液体クロマトグラム１より流出した移動相溶媒および試
料は、霧化器２で霧化され、脱溶媒室３で移動相溶媒の
大半が除去され、残りの溶媒および試料分子が針電極室
４に入る。印加電圧電源６より供給される電圧により針
電極５よりコロナ放電が生じ、移動相溶媒がイオン化さ
れる。
料は、霧化器２で霧化され、脱溶媒室３で移動相溶媒の
大半が除去され、残りの溶媒および試料分子が針電極室
４に入る。印加電圧電源６より供給される電圧により針
電極５よりコロナ放電が生じ、移動相溶媒がイオン化さ
れる。
前記イオン化された溶媒イオンと試料分子はドリフト電
圧室１０に入り、溶媒イオンとの化学イオン化反応によ
り試料分子はイオン化されて、試料イオンとなる。
圧室１０に入り、溶媒イオンとの化学イオン化反応によ
り試料分子はイオン化されて、試料イオンとなる。
ここで生成された試料イオンは、第１細孔７と第２細孔
９に印加されたドリフト電圧電源８からの印加電圧によ
り、質量分析計１１に導入される。
９に印加されたドリフト電圧電源８からの印加電圧によ
り、質量分析計１１に導入される。
質量分析計１１に導入された試料イオンは、質量分散用
電ｉ１２より供給される質量掃引電圧によって質量分散
を受け、次々にマススペクトルとして検出され、増幅器
１３で増幅されて、ＣＰＵ１４に蓄積される。
電ｉ１２より供給される質量掃引電圧によって質量分散
を受け、次々にマススペクトルとして検出され、増幅器
１３で増幅されて、ＣＰＵ１４に蓄積される。
本実施例の特徴は、質量掃引が終った時点で針電極の印
加電圧電源６．ドリフト電圧電源８の極性をＣＰＵ１４
により制御し反転して、次の質量掃引を行なう。
加電圧電源６．ドリフト電圧電源８の極性をＣＰＵ１４
により制御し反転して、次の質量掃引を行なう。
本発明の質量掃引と針電極電圧およびドリフト電圧のタ
イミングチャートの一例を第２図に示す。
イミングチャートの一例を第２図に示す。
前記を繰り返すことにより、一度の試料注入で正、負両
イオンスペクトルを得ることが可能となり、化学的特性
の異なる成分でも高感度で質量分析することができる。
イオンスペクトルを得ることが可能となり、化学的特性
の異なる成分でも高感度で質量分析することができる。
［発明の効果］
本発明によれば、針電極電圧、ドリフト電圧の電位を質
量掃引ごとに反転させることにより、正イオンスペクト
ル、負イオンスペクトルが交互に検出され、一度の試料
注入で化学的性質が異なる成分を高感度で質量分析する
ことができる。
量掃引ごとに反転させることにより、正イオンスペクト
ル、負イオンスペクトルが交互に検出され、一度の試料
注入で化学的性質が異なる成分を高感度で質量分析する
ことができる。
更にまた、温度条件、グラジェント条件が全く同一の正
負両イオンスペクトルを得ることができる。
負両イオンスペクトルを得ることができる。
第１図は本発明の液体グロマトグラフ質量分析装置の一
実施例の模式系統図、第２図は本発明の質量掃引と針電
極電圧およびドリフト電圧のタイミングチャートの一例
である。 ■・・液体クロマトグラフ、２ ・霧化器、３・・脱溶
媒室、４・針電極室、５・・・針電極、６・・・印加電
圧電源、７・第１細孔、８・ ドリフト電圧電源、９・
第２細孔、１０・・ドリフト電圧室、１１・−・質量分
析計、１２ 質量分散用電源、１３・・増幅器、１４・
・・ＣＰＵ。
実施例の模式系統図、第２図は本発明の質量掃引と針電
極電圧およびドリフト電圧のタイミングチャートの一例
である。 ■・・液体クロマトグラフ、２ ・霧化器、３・・脱溶
媒室、４・針電極室、５・・・針電極、６・・・印加電
圧電源、７・第１細孔、８・ ドリフト電圧電源、９・
第２細孔、１０・・ドリフト電圧室、１１・−・質量分
析計、１２ 質量分散用電源、１３・・増幅器、１４・
・・ＣＰＵ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、混合試料を分離する液体クロマトグラフと、前記液
体クロマトグラフからの流出物を霧化し、イオン化する
イオン源と、前記イオン源により生成されたイオンを質
量分析計に導入するドリフト電圧部と、前記イオンを分
析する質量分析計を有する液体クロマトグラフ質量分析
装置において、 質量掃引ごとにイオン生成のための放電電極に印加する
電圧の極性を反転させる手段を備えたことを特徴とする
液体クロマトグラフ質量分析装置。 ２、混合試料を分離する液体クロマトグラフと、前記液
体クロマトグラフからの流出物を霧化し、イオン化する
イオン源と、前記イオン源により生成されたイオンを質
量分析計に導入するドリフト電圧部と、前記イオンを分
析する質量分析計を有する液体クロマトグラフ質量分析
装置において、 質量掃引ごとにイオン生成のための電極電圧、試料イオ
ン加速電圧およびドリフト電圧の極性を反転させる手段
を備えたことを特徴とする液体クロマトグラフ質量分析
装置。 ３、液体クロマトグラフにより分離された混合試料と移
動相液を霧化し、該霧滴をイオン源においてイオン化し
て質量分析計に導入し、前記イオンを質量分析計で分析
する液体クロマトグラフ質量分析法において、 質量掃引ごとに前記イオン生成のための電極電圧、試料
イオン加速電圧およびドリフト電圧の極性を反転させて
、一度の試料注入で前記混合試料の正負両イオン化時の
質量を分析することを特徴とする液体クロマトグラフ質
量分析法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2332184A JP2644920B2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 液体クロマトグラフ質量分析装置および分析法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2332184A JP2644920B2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 液体クロマトグラフ質量分析装置および分析法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04206135A true JPH04206135A (ja) | 1992-07-28 |
| JP2644920B2 JP2644920B2 (ja) | 1997-08-25 |
Family
ID=18252110
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2332184A Expired - Lifetime JP2644920B2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 液体クロマトグラフ質量分析装置および分析法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2644920B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05275053A (ja) * | 1992-03-26 | 1993-10-22 | Hitachi Ltd | Ｌｃ／ａｐｉ質量分析方法 |
| CN105651760A (zh) * | 2015-12-31 | 2016-06-08 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | 一种适用于气体中金属元素分析的微等离子体装置 |
| CN105842230A (zh) * | 2016-03-29 | 2016-08-10 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | 一种用于重金属元素检测的装置及方法 |
| US10705023B2 (en) | 2015-12-31 | 2020-07-07 | Shanghai Institute Of Ceramics, Chinese Academy Of Sciences | Solution cathode glow discharge plasma-atomic emission spectrum apparatus and method capable of performing direct gas sample introduction and used for detecting heavy metal element |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63248048A (ja) * | 1987-04-03 | 1988-10-14 | Hitachi Ltd | 液体クロマトグラフ―大気圧質量分析計 |
| JPH0244640A (ja) * | 1988-08-05 | 1990-02-14 | Hitachi Ltd | 大気圧イオン化質量分析計 |
-
1990
- 1990-11-29 JP JP2332184A patent/JP2644920B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63248048A (ja) * | 1987-04-03 | 1988-10-14 | Hitachi Ltd | 液体クロマトグラフ―大気圧質量分析計 |
| JPH0244640A (ja) * | 1988-08-05 | 1990-02-14 | Hitachi Ltd | 大気圧イオン化質量分析計 |
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| CN105651760A (zh) * | 2015-12-31 | 2016-06-08 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | 一种适用于气体中金属元素分析的微等离子体装置 |
| US10705023B2 (en) | 2015-12-31 | 2020-07-07 | Shanghai Institute Of Ceramics, Chinese Academy Of Sciences | Solution cathode glow discharge plasma-atomic emission spectrum apparatus and method capable of performing direct gas sample introduction and used for detecting heavy metal element |
| CN105842230A (zh) * | 2016-03-29 | 2016-08-10 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | 一种用于重金属元素检测的装置及方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2644920B2 (ja) | 1997-08-25 |
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