JP2644920B2 - 液体クロマトグラフ質量分析装置および分析法 - Google Patents
液体クロマトグラフ質量分析装置および分析法Info
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- JP2644920B2 JP2644920B2 JP2332184A JP33218490A JP2644920B2 JP 2644920 B2 JP2644920 B2 JP 2644920B2 JP 2332184 A JP2332184 A JP 2332184A JP 33218490 A JP33218490 A JP 33218490A JP 2644920 B2 JP2644920 B2 JP 2644920B2
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- Japan
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- sample
- voltage
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- mass spectrometer
- liquid chromatograph
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- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は液体クロマトグラフ質量分析装置および分析
法に係り、特に質量掃引ごとに“正”“負”イオンのス
ペクトルを検出できる液体クロマトグラフ質量分析装置
および分析法に関する。
法に係り、特に質量掃引ごとに“正”“負”イオンのス
ペクトルを検出できる液体クロマトグラフ質量分析装置
および分析法に関する。
［従来の技術］ 従来の液体クロマトグラフ質量分析装置は液体クロマ
トグラフ（LC）により分離、流出する移動相と測定試料
は、内径10〜100μｍの細管を通し加熱されて霧化し、
脱溶媒室に導入される。脱溶媒室で霧滴は更に微細化さ
れ、コロナ放電室へ送られる。コロナ放電室に備えられ
放電用の針電極には10kV程度の高電圧が印加され、その
針電極によって、コロナ放電を起させて前記霧滴となっ
た移動相をイオン化させる。イオン化された移動相イオ
ンは一種の化学イオン化反応を起こし、同様霧滴となつ
た試料分子をイオン化する。該試料分子イオンはドリフ
ト電圧に導かれて質量分析計に入り質量分散を受け、試
料に由来するマススペクトル（MS）が検出され、レコー
ダまたはプリンタにより出力される。
トグラフ（LC）により分離、流出する移動相と測定試料
は、内径10〜100μｍの細管を通し加熱されて霧化し、
脱溶媒室に導入される。脱溶媒室で霧滴は更に微細化さ
れ、コロナ放電室へ送られる。コロナ放電室に備えられ
放電用の針電極には10kV程度の高電圧が印加され、その
針電極によって、コロナ放電を起させて前記霧滴となっ
た移動相をイオン化させる。イオン化された移動相イオ
ンは一種の化学イオン化反応を起こし、同様霧滴となつ
た試料分子をイオン化する。該試料分子イオンはドリフ
ト電圧に導かれて質量分析計に入り質量分散を受け、試
料に由来するマススペクトル（MS）が検出され、レコー
ダまたはプリンタにより出力される。
この場合、正イオンの測定には、針電極に印加される
電圧が＋10kV、第１細孔には＋200V、第２細孔には＋50
V程度のドリフト電圧を印加し、前記イオンを質量分析
計を導く。
電圧が＋10kV、第１細孔には＋200V、第２細孔には＋50
V程度のドリフト電圧を印加し、前記イオンを質量分析
計を導く。
一方、負イオンの測定には、針電極に印加される電圧
が一10kV、第１細孔に−200V,第２細孔に−50V程度のド
リフト電圧を印加する。即ち、前記の各測定ごとに試料
を注入し電位を反転させて行なっていた（特願昭63−30
4564号）。
が一10kV、第１細孔に−200V,第２細孔に−50V程度のド
リフト電圧を印加する。即ち、前記の各測定ごとに試料
を注入し電位を反転させて行なっていた（特願昭63−30
4564号）。
［発明が解決しようとする課題］ 前記従来技術は、正イオンの測定が終了した後に、再
度試料を注入して負イオンの測定を行なっており、一度
の試料注入で正負の両イオンを測定することに関しては
考慮されていなかった。
度試料を注入して負イオンの測定を行なっており、一度
の試料注入で正負の両イオンを測定することに関しては
考慮されていなかった。
近年、LC/MSによる質量分析は、その初期の頃の様に
スペクトルを得ることができればよいと云うだけでは不
十分である。混合試料の中にはその化学的性質から、正
イオンの方がイオン化し易い物質と、負イオンの方がイ
オン化し易い物質があり、これらの物質が混合している
ことも多い。特に、不純物の測定等は正イオンの測定が
終つた後に、負イオンの測定を必要とする場合が多くな
ってきた。
スペクトルを得ることができればよいと云うだけでは不
十分である。混合試料の中にはその化学的性質から、正
イオンの方がイオン化し易い物質と、負イオンの方がイ
オン化し易い物質があり、これらの物質が混合している
ことも多い。特に、不純物の測定等は正イオンの測定が
終つた後に、負イオンの測定を必要とする場合が多くな
ってきた。
本発明の目的は、一度の試料注入で正負両イオンの検
出が可能な液体クロマトグラフ質量分析装置並びに分析
方法を提供することにある。
出が可能な液体クロマトグラフ質量分析装置並びに分析
方法を提供することにある。
［課題を解決するための手段］ 前記目的を達成する本発明の要旨は次のとおりであ
る。
る。
（１）混合試料を分離する液体クロマトグラフと、前記
液体クロマトグラフからの流出物を霧化し、イオン化す
るイオン源と、前記イオン源により生成されたイオンを
質量分析計に導入するドリフト電圧部と、前記イオンを
分析する質量分析計を有する液体クロマトグラフ質量分
析装置において、 注入された試料に対し繰り返し行う質量掃引に同調さ
せて前記イオン生成のための電極電圧，試料イオン加速
電圧およびドリフト電圧の極性を反転させる手段を備え
たことを特徴とする液体クロマトグラフ質量分析装置に
ある。
液体クロマトグラフからの流出物を霧化し、イオン化す
るイオン源と、前記イオン源により生成されたイオンを
質量分析計に導入するドリフト電圧部と、前記イオンを
分析する質量分析計を有する液体クロマトグラフ質量分
析装置において、 注入された試料に対し繰り返し行う質量掃引に同調さ
せて前記イオン生成のための電極電圧，試料イオン加速
電圧およびドリフト電圧の極性を反転させる手段を備え
たことを特徴とする液体クロマトグラフ質量分析装置に
ある。
（２）液体クロマトグラフにより分離された混合試料と
移動相液を霧化し、該霧滴をイオン源においてイオン化
して質量分析計に導入し、前記イオンを質量分析計で分
析する液体クロマトグラフ質量分析法において、 質量掃引を繰り返し行い、これに同調させて前記イオ
ン生成のための電極電圧，試料イオン加速電圧およびド
リフト電圧の極性を反転させて、一度の試料注入で前記
混合試料の正負両イオン化時の質量を分析することを特
徴とする液体クロマトグラフ質量分析方法にある。
移動相液を霧化し、該霧滴をイオン源においてイオン化
して質量分析計に導入し、前記イオンを質量分析計で分
析する液体クロマトグラフ質量分析法において、 質量掃引を繰り返し行い、これに同調させて前記イオ
ン生成のための電極電圧，試料イオン加速電圧およびド
リフト電圧の極性を反転させて、一度の試料注入で前記
混合試料の正負両イオン化時の質量を分析することを特
徴とする液体クロマトグラフ質量分析方法にある。
本発明の特徴は、質量数掃引に同調させて放電電圧の
極性を反転させて行なう。例えば、まず最初の掃引は針
電極，試料イオン加速電圧およびドリフト電圧に“正”
の電位を与えて正イオンの測定を行なう。次の掃引では
針電極，試料イオン加速電圧およびドリフト電圧に
“負”の電位を与えて負イオンの測定を行なう。これを
繰り返すことによりより、一度の試料注入で正負両イオ
ンの検出が可能となる。
極性を反転させて行なう。例えば、まず最初の掃引は針
電極，試料イオン加速電圧およびドリフト電圧に“正”
の電位を与えて正イオンの測定を行なう。次の掃引では
針電極，試料イオン加速電圧およびドリフト電圧に
“負”の電位を与えて負イオンの測定を行なう。これを
繰り返すことによりより、一度の試料注入で正負両イオ
ンの検出が可能となる。
特に化学的性質の異なつた試料、正負の電荷を持つた
試料等の測定に適している。
試料等の測定に適している。
従来は試料の前記化学的性質に対して何ら考慮されて
いなかったため、正イオン検出でイオン化が行なわれな
かった場合には、負イオン検出モードへ変更後、再度試
料を注入して測定を行っていた。混合試料は、その成分
のイオン化効率で“正”“負”イオンの生成の程度が極
端に異なっていることが多く、本発明においては、両イ
オンを繰り返し掃引することで混合成分の化学的性質の
異なる物質でも、一度の試料注入でイオン化し、スペク
トルを得ることができる。
いなかったため、正イオン検出でイオン化が行なわれな
かった場合には、負イオン検出モードへ変更後、再度試
料を注入して測定を行っていた。混合試料は、その成分
のイオン化効率で“正”“負”イオンの生成の程度が極
端に異なっていることが多く、本発明においては、両イ
オンを繰り返し掃引することで混合成分の化学的性質の
異なる物質でも、一度の試料注入でイオン化し、スペク
トルを得ることができる。
更にまた、温度条件，グラジエント条件が全く同一の
正負両イオンスペクトルが得られ、混合試料の各成分に
対してより多くの知見が得られる。
正負両イオンスペクトルが得られ、混合試料の各成分に
対してより多くの知見が得られる。
［作用］ この様に各質量数掃引ごとに針電極，ドリフト電圧の
電位を“正”“負”に反転させることにより、各掃引ご
とに“正イオン”“負イオン”の両スペクトルが交互に
得られる。即ち、化学的性質上、正イオンができ易い物
質と負イオンができ易い物質が混合している様な不純物
の成分の測定にも、一度の試料注入で両イオンのスペク
トルが得られる。
電位を“正”“負”に反転させることにより、各掃引ご
とに“正イオン”“負イオン”の両スペクトルが交互に
得られる。即ち、化学的性質上、正イオンができ易い物
質と負イオンができ易い物質が混合している様な不純物
の成分の測定にも、一度の試料注入で両イオンのスペク
トルが得られる。
［実施例］ 本発明の一実施例を第１図により説明する。
液体クロマトグラフ１より流出した移動相溶媒および
試料は、霧化器２で霧化され、脱溶媒室３で移動相溶媒
の大半が除去され、残りの溶媒および試料分子が針電極
室４に入る。印加電圧電源６より供給される電圧により
針電極５よりコロナ放電が生じ、移動相溶媒がイオン化
される。
試料は、霧化器２で霧化され、脱溶媒室３で移動相溶媒
の大半が除去され、残りの溶媒および試料分子が針電極
室４に入る。印加電圧電源６より供給される電圧により
針電極５よりコロナ放電が生じ、移動相溶媒がイオン化
される。
前記イオン化された溶媒イオンと試料分子はドリフト
電圧室10に入り、溶媒イオンとの化学イオン化反応によ
り試料分子はイオン化されて、試料イオンとなる。
電圧室10に入り、溶媒イオンとの化学イオン化反応によ
り試料分子はイオン化されて、試料イオンとなる。
ここで生成された試料イオンは、第１細孔７と第２細
孔９に印加されたドリフト電圧電源８からの印加電圧に
より、質量分析計11に導入される。質量分析計11に導入
された試料イオンは、質量分散用電源12より供給される
質量掃引電圧によって質量分散を受け、次々にマススペ
クトルとして検出され、増幅器13で増幅されて、CPU14
に蓄積される。
孔９に印加されたドリフト電圧電源８からの印加電圧に
より、質量分析計11に導入される。質量分析計11に導入
された試料イオンは、質量分散用電源12より供給される
質量掃引電圧によって質量分散を受け、次々にマススペ
クトルとして検出され、増幅器13で増幅されて、CPU14
に蓄積される。
本実施例の特徴は、質量掃引が終つた時点で針電極の
印加電圧電源6,ドリフト電圧電源８の極性をCPU14によ
り制御し反転して、次の質量掃引を行なう。
印加電圧電源6,ドリフト電圧電源８の極性をCPU14によ
り制御し反転して、次の質量掃引を行なう。
本発明の質量掃引と針電極電圧およびドリフト電圧の
タイミングチャートの一例を第２図に示す。
タイミングチャートの一例を第２図に示す。
前記を繰り返すことにより、一度の試料注入で正，負
イオンスペクトルを得ることが可能となり、化学的特性
の異なる成分でも高感度で質量分析することができる。
イオンスペクトルを得ることが可能となり、化学的特性
の異なる成分でも高感度で質量分析することができる。
［発明の効果］ 本発明によれば、電極電圧，試料イオン加速電圧およ
びドリフト電圧の電位を質量掃引ごとに反転させること
により、正イオンスペクトル，負イオンスペクトルが交
互に検出され、一度の試料注入で化学的性質が異なる成
分を高感度で質量分析することができる。
びドリフト電圧の電位を質量掃引ごとに反転させること
により、正イオンスペクトル，負イオンスペクトルが交
互に検出され、一度の試料注入で化学的性質が異なる成
分を高感度で質量分析することができる。
更にまた、温度条件，グラジエント条件が全く同一の
正負両イオンスペクトルを得ることができる。
正負両イオンスペクトルを得ることができる。
第１図は本発明の液体クロマトグラフ質量分析装置の一
実施例の模式系統図、第２図は本発明の質量掃引と針電
極電圧およびドリフト電圧のタイミングチャートの一例
である。 １……液体クロマトグラフ、２……霧化器、３……脱溶
媒室、４……針電極室、５…針電極、６……印加電圧電
源、７……第１細孔、８……ドリフト電圧電源、９……
第２細孔、10……ドリフト電圧室、11……質量分析計、
12……質量分散用電源、13……増幅器、14……CPU。
実施例の模式系統図、第２図は本発明の質量掃引と針電
極電圧およびドリフト電圧のタイミングチャートの一例
である。 １……液体クロマトグラフ、２……霧化器、３……脱溶
媒室、４……針電極室、５…針電極、６……印加電圧電
源、７……第１細孔、８……ドリフト電圧電源、９……
第２細孔、10……ドリフト電圧室、11……質量分析計、
12……質量分散用電源、13……増幅器、14……CPU。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中田 豊哉 茨城県勝田市市毛882番地 日立計測エ ンジニアリング株式会社内 (72)発明者 沼尻 陽子 茨城県勝田市市毛882番地 日立計測エ ンジニアリング株式会社内 (72)発明者 高橋 利明 茨城県勝田市市毛882番地 日立計測エ ンジニアリング株式会社内 (56)参考文献 特開 昭63−248048（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−44640（ＪＰ，Ａ)
Claims (2)
- 【請求項１】混合試料を分離する液体クロマトグラフ
と、前記液体クロマトグラフからの流出物を霧化し、イ
オン化するイオン源と、前記イオン源により生成された
イオンを質量分析計に導入するドリフト電圧部と、前記
イオンを分析する質量分析計を有する液体クロマトグラ
フ質量分析装置において、 注入された試料に対し繰り返し行う質量掃引に同調させ
て前記イオン生成のための電極電圧，試料イオン加速電
圧およびドリフト電圧の極性を反転させる手段を備えた
ことを特徴とする液体クロマトグラフ質量分析装置。 - 【請求項２】液体クロマトグラフにより分離された混合
試料と移動相液を霧化し、該霧滴をイオン源においてイ
オン化して質量分析計に導入し、前記イオンを質量分析
計で分析する液体クロマトグラフ質量分析法において、 質量掃引を繰り返し行い、これに同調させて前記イオン
生成のための電極電圧，試料イオン加速電圧およびドリ
フト電圧の極性を反転させて、一度の試料注入で前記混
合試料の正負両イオン化時の質量を分析することを特徴
とする液体クロマトグラフ質量分析法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2332184A JP2644920B2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 液体クロマトグラフ質量分析装置および分析法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2332184A JP2644920B2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 液体クロマトグラフ質量分析装置および分析法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04206135A JPH04206135A (ja) | 1992-07-28 |
| JP2644920B2 true JP2644920B2 (ja) | 1997-08-25 |
Family
ID=18252110
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2332184A Expired - Lifetime JP2644920B2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 液体クロマトグラフ質量分析装置および分析法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2644920B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2799102B2 (ja) * | 1992-03-26 | 1998-09-17 | 株式会社日立製作所 | Ｌｃ／ａｐｉ質量分析装置 |
| US10705023B2 (en) | 2015-12-31 | 2020-07-07 | Shanghai Institute Of Ceramics, Chinese Academy Of Sciences | Solution cathode glow discharge plasma-atomic emission spectrum apparatus and method capable of performing direct gas sample introduction and used for detecting heavy metal element |
| CN105651760B (zh) * | 2015-12-31 | 2018-06-22 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | 一种适用于气体中金属元素分析的微等离子体装置 |
| CN105842230B (zh) * | 2016-03-29 | 2018-06-22 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | 一种用于重金属元素检测的装置及方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0744029B2 (ja) * | 1987-04-03 | 1995-05-15 | 株式会社日立製作所 | 液体クロマトグラフ―大気圧質量分析計 |
| JP2892655B2 (ja) * | 1988-08-05 | 1999-05-17 | 株式会社日立製作所 | 大気圧イオン化質量分析計 |
-
1990
- 1990-11-29 JP JP2332184A patent/JP2644920B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04206135A (ja) | 1992-07-28 |
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