JPH04196532A - Sealing mechanism for driving equipment - Google Patents

Sealing mechanism for driving equipment

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JPH04196532A
JPH04196532A JP2331313A JP33131390A JPH04196532A JP H04196532 A JPH04196532 A JP H04196532A JP 2331313 A JP2331313 A JP 2331313A JP 33131390 A JP33131390 A JP 33131390A JP H04196532 A JPH04196532 A JP H04196532A
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inner cover
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裕二 上川
Mitsuo Nishi
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Tokyo Electron Kyushu Ltd
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Abstract

PURPOSE:To surely prevent outside air from permeating into an inner cover even if it permeates, by pressurizing the inside of the inner cover covering a driving equipment by a pressurizing equipment, keeping the inside in a positive pressure state, exhausting the inside of an outer periphery cover by an exhaust system, and keeping the inside in a negative pressure state. CONSTITUTION:The inside of an inner cover 88 covering a driving equipment is pressurized by a pressurizing equipment 98, and kept in a positive pressure state. The inside of an outer periphery cover 90 covering the external side of the inner cover 88 is exhausted by an exhaust system 100, and kept in a negative pressure state. On account of the difference between the pressure inside the inner cover 88 and the pressure inside the outer periphery cover 90, the atmosphere inside the inner cover 88 is apt to escape to the inside of the outer periphery cover 90. Dust generated inside the inner cover 88 is compulsorily made to flow into the inside of the cover 90 and discharged outword. When outside air permeates into the inside of the cover 90, it is discharged and can not permeate into the inner cover 88. When the atmosphere inside the inner cover 88 escapes to the cover 90 side, it does not leak outside the cover 90, because the inside of the cover 90 is exhausted by the exhaust system 100. Thereby the dust and like in the inside are not discharged outward.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、駆動装置のシール機構に関し、特に塵埃を嫌
い、かつ薬品処理等を行なう必要のある装置に適用して
好適な駆動装置のシール機構に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Object of the Invention] (Industrial Field of Application) The present invention relates to a sealing mechanism for a drive device, and is particularly suitable for application to a device that does not like dust and needs to be treated with chemicals, etc. This invention relates to a sealing mechanism for a drive device.

(従来の技術) 塵埃を嫌い、かつ薬品処理等を行なう必要のある装置と
して、例えば、半導体ウェハ製造装置における洗浄装置
がある。
(Prior Art) An example of a device that does not like dust and needs to perform chemical treatment or the like is a cleaning device in a semiconductor wafer manufacturing device.

この半導体ウェハ製造装置における洗浄装置は、半導体
ウェハに対する影響を考慮して、洗浄処理を無塵のクリ
ーン雰囲気で行なうようにしており、しかも半導体ウェ
ハに対してアンモニア処理、水洗処理、フッ酸処理等の
洗浄処理を施すようにしている。
The cleaning equipment in this semiconductor wafer manufacturing equipment is designed to perform the cleaning process in a dust-free clean atmosphere in consideration of the effects on the semiconductor wafers, and also performs ammonia treatment, water washing treatment, hydrofluoric acid treatment, etc. on semiconductor wafers. The cleaning process is carried out.

そのため、従来の洗浄装置は、アンモニア処理槽、水洗
処理槽、フッ酸処理槽等の複数の処理槽を備え、半導体
ウェハを搬送装置やボート等の駆動装置を用いる機器に
て、各処理槽まで搬送供給するようにしていた。
Therefore, conventional cleaning equipment is equipped with multiple processing tanks such as an ammonia processing tank, a water washing processing tank, a hydrofluoric acid processing tank, etc., and semiconductor wafers are transported to each processing tank using a device using a drive device such as a transport device or a boat. I was trying to transport and supply it.

(発明が解決しようとする課題) 上記従来の半導体ウェハ製造装置における洗浄装置にあ
っては、半導体ウェハを各処理槽まで搬送供給する搬送
装置やボート等に駆動装置を用いており、この駆動装置
は稼働の際に塵埃を発生する発塵源となるもので、この
駆動装置から生しる塵埃が上記クリーン雰囲気を汚染し
てしまい、特に近年微細処理化が進む半導体ウェハに不
純物を付着させて、半導体ウェハの製品歩留まりを低下
させるおそれかあるという問題かあった。
(Problems to be Solved by the Invention) In the cleaning device in the conventional semiconductor wafer manufacturing equipment described above, a drive device is used for the transport device, boat, etc. that transports and supplies semiconductor wafers to each processing tank. The drive equipment is a source of dust that generates dust during operation, and the dust generated from this drive equipment contaminates the clean atmosphere mentioned above, and in particular, it causes impurities to adhere to semiconductor wafers, which have become increasingly finely processed in recent years. However, there was a problem that the product yield of semiconductor wafers could be lowered.

また、洗浄処理装置は、上述のように洗浄処理にアンモ
ニアを用いるようになっており、このアンモニアが駆動
装置内に侵入すると、駆動装置を腐食させることになる
という問題かあった。
Further, as described above, the cleaning treatment apparatus uses ammonia for the cleaning treatment, and when this ammonia enters the drive device, there is a problem in that it corrodes the drive device.

ところが、駆動装置は可動部と連結されるのでこれを完
全に気密シールすることができなかった。
However, since the drive device is connected to a movable part, it has not been possible to completely hermetically seal the drive unit.

そこで本発明は、発塵源となる駆動装置内と外部との機
械的な空隙の存在は許容しながらも、駆動装置内から外
部に塵埃か漏出することかなく、しかも駆動装置外部の
雰囲気が駆動装置内に侵入して駆動装置内部を腐食させ
ることのない駆動装置のシール機構を提供することを、
その解決課題としている。
Therefore, the present invention allows for the existence of a mechanical gap between the inside of the drive device and the outside, which is a source of dust generation, but prevents dust from leaking from inside the drive device to the outside, and further improves the atmosphere outside the drive device. It is an object of the present invention to provide a sealing mechanism for a drive device that does not penetrate into the drive device and corrode the inside of the drive device.
This is a problem to be solved.

[発明の構成コ (課題を解決するための手段) 本発明に係わる駆動装置のシール機構は、駆動装置の駆
動部を覆う如く設けられた内カバーと、 前記内カバーの外側を覆う如く設けられた外周カバーと
、 前記内カバー内を陽圧状態に維持する加圧装置と、 前記外周カバー内を排気して負圧状態に維持する排気装
置と、 を有することを特徴とする。
[Structure of the Invention (Means for Solving the Problems) A sealing mechanism for a drive device according to the present invention includes an inner cover provided to cover a drive portion of the drive device, and an inner cover provided to cover the outside of the inner cover. A pressurizing device that maintains the inside of the inner cover in a positive pressure state; and an exhaust device that exhausts the inside of the outer peripheral cover and maintains it in a negative pressure state.

(作 用) 上記構成に係る本発明の駆動装置のシール機構は、駆動
装置を覆う内カバー内を加圧装置にて加圧して陽圧状態
に維持し、かつ内カバーの外側を覆う外周カバー内を排
気装置にて排気して負圧状態に維持することにより、内
カバー内の圧力と、外周カバー内の圧力差によって、内
カバー内の雰囲気は常に外周カバー内側に逃げようとす
る状態となる。例えば内周カバー内で発生した発塵を強
制的に外周カバー内に流入させて発塵を排気する。
(Function) The sealing mechanism of the drive device of the present invention having the above-mentioned configuration uses a pressure device to pressurize the inside of the inner cover that covers the drive device to maintain a positive pressure state, and the outer cover that covers the outside of the inner cover. By evacuating the inside with an exhaust device and maintaining a negative pressure state, the atmosphere inside the inner cover will always try to escape to the inside of the outer cover due to the pressure difference between the inner cover and the outer cover. Become. For example, the dust generated within the inner circumferential cover is forced to flow into the outer circumferential cover to exhaust the generated dust.

他方外周カバー内まで外気か入り込むようなことかあっ
ても、排気され、内カバーまては入り込めない状1Qと
なっている。
On the other hand, even if outside air were to enter into the outer circumferential cover, it would be exhausted and the inner cover would be in a state 1Q where no air could enter.

また、内カバー内の雰囲気か外周カバー側に逃げ…した
としても、外周カバー内は排気装置によって排気されて
いるので、外周カバーの外側に漏出することは無く、内
部の塵埃等が外部に出ることはない。この場合、外周カ
バー内に入り込んた外気も排気装置によって排出される
ので、より一層内カバー内への侵入は防止されることと
なる。
Also, even if the atmosphere inside the inner cover escapes to the outer cover side, the inside of the outer cover is exhausted by the exhaust system, so it will not leak to the outside of the outer cover, and the dust inside will come out. Never. In this case, since the outside air that has entered the outer circumferential cover is also exhausted by the exhaust device, intrusion into the inner cover is further prevented.

(実施例) 以下、本発明の駆動装置のシール機構を半導体ウェハ製
造装置における洗浄装置に適用した実施例について、図
面を参照して説明する。
(Example) Hereinafter, an example in which the sealing mechanism of the drive device of the present invention is applied to a cleaning device in a semiconductor wafer manufacturing apparatus will be described with reference to the drawings.

第1図において、本実施例の半導体ウェハの洗浄装置は
、3つの洗浄処理ユニットIO,12゜14を組合せて
構成されている。また、搬入側の処理ユニット10には
被処理ウェハのローダ16が接続され、搬出側の処理ユ
ニット14には処理済ウェハのアンローダ18が接続さ
れており、さらに洗浄処理ユニット10.12間及び洗
浄処理ユニット12.14間に、3ユニツトのいずれか
に含まれる水中ローダ2oが配設されている。配列順は
変更してもよい。この例では予め定められた洗浄処理プ
ログラムに応して設定している。
In FIG. 1, the semiconductor wafer cleaning apparatus of this embodiment is constructed by combining three cleaning processing units IO, 12.degree. 14. A loader 16 for processing wafers is connected to the processing unit 10 on the carry-in side, and an unloader 18 for processed wafers is connected to the processing unit 14 on the carry-out side. An underwater loader 2o included in any of the three units is disposed between the processing units 12 and 14. The arrangement order may be changed. In this example, the settings are made according to a predetermined cleaning processing program.

搬入側の洗浄処理ユニット1oは、中心位置に半導体ウ
ェハ22搬送用の回転搬送アーム24を配設すると共に
、その周囲でローダ16の正面及び回転搬送アーム24
の左隣に各々2つの洗浄処理槽26.28を配設するよ
うにしている。本実施例においては、洗浄処理槽26は
アンモニア処理を行なう薬品処理槽として用いられ、洗
浄処理槽28は水洗処理を行なうクイ・り・ダサ;″・
リンス(Q D R)処理槽として用いられている。
The cleaning processing unit 1o on the carry-in side is provided with a rotating transfer arm 24 for transferring semiconductor wafers 22 at the center position, and around the rotation transfer arm 24 and the front of the loader 16.
Two cleaning tanks 26 and 28 are arranged on the left side of each tank. In this embodiment, the cleaning tank 26 is used as a chemical treatment tank for ammonia treatment, and the cleaning tank 28 is used for cleaning with water.
It is used as a rinsing (QDR) treatment tank.

中央の洗浄処理ユニット12は、中心位置に配設した回
転搬送アーム24の周囲て左右両側に水中ローダ20を
位置させ、その間の前後位置に各々2つの洗浄処理槽3
o、32を配設するようにしている。本実施例では、洗
浄処理槽3oはフッ酸処理を行う薬品処理槽として用い
られ、洗浄処理槽32は水洗オーバーフロー処理槽とし
て用いられている。
The central cleaning processing unit 12 has underwater loaders 20 positioned on both left and right sides around a rotary transfer arm 24 disposed at the center, and two cleaning processing tanks 3 each at the front and rear positions between them.
o, 32 are arranged. In this embodiment, the cleaning treatment tank 3o is used as a chemical treatment tank for performing hydrofluoric acid treatment, and the cleaning treatment tank 32 is used as a water washing overflow treatment tank.

出側の洗浄処理ユニット14は、中心位置に配設した回
転搬送アーム24の周囲て、アンローダ18の正面側に
洗浄処理槽34を配設すると共に、回転搬送アーム24
の右隣に乾燥処理槽36を配設するようにしている。本
実施例では、洗浄処理槽34は水洗ファイナルリンス槽
として用いられている。
The cleaning processing unit 14 on the output side has a cleaning tank 34 arranged on the front side of the unloader 18 around the rotary transport arm 24 arranged at the center position, and
A drying treatment tank 36 is arranged on the right side of the drying tank 36. In this embodiment, the cleaning treatment tank 34 is used as a final rinse tank.

また、上記各洗浄処理槽26.28,30゜32.34
及び水中ローダ20並びに乾燥処理槽36は、第4図に
示すようにそれぞれ半導体ウェハ22搬入出用の開口部
38を有するケース40内に配設した状態となっている
。そして、上記開口部38に、開口部38を開閉するシ
ャッター44を配設すると共に、ケース40内の開口部
上方に図示せぬエア吹出部を設け、上記シャッター44
とエア吹出部から吹き出されるエアカーテンにてケース
40内と外部との雰囲気を遮断するようにしている。な
お、この場合ケース40の下部よりエアを吸込み、ケー
ス40内を大気圧よりも若干低い圧力に設定してケース
40内の雰囲気か外部に漏れないように調節している。
In addition, each of the above cleaning treatment tanks 26.28, 30°32.34
As shown in FIG. 4, the underwater loader 20 and the drying tank 36 are placed in a case 40 each having an opening 38 for loading and unloading the semiconductor wafers 22. A shutter 44 for opening and closing the opening 38 is disposed in the opening 38, and an air blowing part (not shown) is provided above the opening in the case 40.
The atmosphere between the inside of the case 40 and the outside is cut off by an air curtain blown out from the air blowing section. In this case, air is sucked in from the lower part of the case 40 and the pressure inside the case 40 is set to be slightly lower than the atmospheric pressure to prevent the atmosphere inside the case 40 from leaking to the outside.

ローダ16は、第2図に示すように2つのキャリア48
上に載置された各々25枚ずつの半導体ウェハ22を、
所謂オリフラ合せ機構49にて半導体ウェハ22のオリ
エンテーションフラットの位置合せを行なった後、2つ
のキャリア48上の半導体ウェハ22を突き上げ棒51
にて上方に突き上げ、この突き上げ棒51を互に寄せ合
った状態にし、この状態て上記搬入側の回転搬送アーム
24にて50枚の半導体ウェハ22のみをすくい上げる
ようにしている。なお、アンローダ18ては、上記ロー
ダ16と同様の機構となっており、上記ローダ16と逆
順の処理かなされるようになっている。
The loader 16 includes two carriers 48 as shown in FIG.
25 semiconductor wafers 22 each placed on the
After the orientation flats of the semiconductor wafers 22 are aligned by a so-called orientation flat alignment mechanism 49, the semiconductor wafers 22 on the two carriers 48 are pushed up by a push rod 51.
The push-up rods 51 are pushed upwards so that the push-up rods 51 are brought together, and in this state, only the 50 semiconductor wafers 22 are scooped up by the rotary transfer arm 24 on the carry-in side. The unloader 18 has a mechanism similar to that of the loader 16, and is configured to perform processing in the reverse order of that of the loader 16.

回転搬送アーム24は、第3図に示すように水平回転可
能、かつ伸縮可能な多関節のアーム本体50の先端に、
半導体づエバ22載置用のウェハフォーク52を有し、
このウニハフオーク52上にキャリア48なしで、50
枚の半導体ウェハ22のみを載置し、ローダ16、洗浄
処理槽26゜28.30.32,34、水中ローダ20
、乾燥処理槽36及びアンローダ18間で半導体ウェハ
22を受渡しするようになっている。
As shown in FIG. 3, the rotary transfer arm 24 has a multi-jointed arm body 50 that is horizontally rotatable and extendable.
It has a wafer fork 52 for mounting the semiconductor device 22,
50 without carrier 48 on this Unihafork 52
Loader 16, cleaning treatment tank 26°28, 30, 32, 34, underwater loader 20
, the semiconductor wafer 22 is transferred between the drying tank 36 and the unloader 18.

具体的には、ウェハフォーク52は、半導体ウェハ22
を載置位置決めする多数の支持溝を有する2本の平行な
支持棒54を水平方向で移動可能に有し、ローダ16、
アンローダ18との間では、上記2本の支持棒54間で
上下動する突き上げ棒51から半導体ウェハ22を受は
取り、あるいは上記突き上げ棒51に対して半導体ウェ
ハ22を受は渡すようにしており、また水中ローダ20
、洗浄処理槽26.28,30.32.34及び乾燥処
理槽36との間では、各槽専用に被処理体を収納する如
く設けられたウェハ収納ボート56を上下動させること
により、各槽専用のボート56から半導体ウェハ22を
受は取りあるいはボート56に対して半導体ウェハ22
を受は渡すようになっている。
Specifically, the wafer fork 52 supports the semiconductor wafer 22
The loader 16,
Between the unloader 18, the semiconductor wafer 22 is picked up from the push-up rod 51 that moves up and down between the two support rods 54, or the semiconductor wafer 22 is passed to the push-up rod 51. , also underwater loader 20
, the cleaning processing tanks 26, 28, 30, 32, 34, and the drying processing tank 36, by moving up and down a wafer storage boat 56, which is provided exclusively for each tank to store objects to be processed, The semiconductor wafers 22 are received from the dedicated boat 56 or the semiconductor wafers 22 are transferred to the boat 56.
The receiver is supposed to pass it on.

各槽専用のボート56は、半導体ウェハ22を載置位置
決めする多数の支持溝を有する3本の平行な支持棒58
を有し、アーム60によって上述のように上下動可能に
支持されている。この3本の支持M!58は、上記回転
搬送アーム24のウェハフォーク52の2本の支持棒5
4と上下方向で干渉しない位置に設けられ、かつ半導体
ウニへ22の外形に沿うように配設されている。また、
このボート56は、半導体ウェハ22を直接載置位置決
めするようになっており、キャリア48は使用していな
い。そして、回転搬送アーム24のウェハフォーク52
上に半導体ウェハ22を載置し、このウェハフォーク5
2が開口部38より各槽内に入り込んだ状態で、アーム
60を伸ばしボート56を上昇させると、ウェハフォー
ク52上の半導体ウェハ22がボート56上に載置され
ることとなる。逆に、ボート56上に半導体ウェハ22
を載置した状態で、ボート56を上昇させ、その下に回
転搬送アーム24のウェハフォーク52を挿入し、ボー
ト56を下降させればボート56上の半導体ウェハ22
が回転搬送アーム24のウニハフオーク52上に載置さ
れることとなる。
The boat 56 dedicated to each tank has three parallel support rods 58 having a large number of support grooves for placing and positioning the semiconductor wafers 22.
, and is supported by the arm 60 so as to be vertically movable as described above. Support these three M! 58 are two support rods 5 of the wafer fork 52 of the rotary transfer arm 24.
It is provided in a position that does not interfere with the semiconductor sea urchin 22 in the vertical direction, and is arranged along the outer shape of the semiconductor sea urchin 22. Also,
This boat 56 is designed to directly place and position the semiconductor wafer 22, and the carrier 48 is not used. Then, the wafer fork 52 of the rotary transfer arm 24
A semiconductor wafer 22 is placed on top, and this wafer fork 5
When the arm 60 is extended and the boat 56 is raised with the semiconductor wafers 22 entering each tank through the opening 38, the semiconductor wafers 22 on the wafer fork 52 are placed on the boat 56. Conversely, semiconductor wafers 22 are placed on the boat 56.
The semiconductor wafers 22 on the boat 56 are lifted by raising the boat 56 with the semiconductor wafers 22 placed on the boat 56, inserting the wafer fork 52 of the rotary transfer arm 24 under it, and lowering the boat 56.
is placed on the sea urchin fork 52 of the rotary transfer arm 24.

また、上記ボート56を支持するアーム60は、上下動
する駆動源で、塵埃を発生する原因となる部分てあり、
しかも薬品を扱う槽内に設けられているので薬品によっ
て腐食する虞かあるため、シール機構によりシールして
塵埃の外部への漏れを防止すると共に、槽内の薬品雰囲
気がアーム60内に入り込んで腐食させるのを防止する
ようにしている。
Further, the arm 60 that supports the boat 56 is a driving source that moves up and down, and is a part that generates dust.
Moreover, since it is installed in a tank that handles chemicals, there is a risk of corrosion due to the chemicals. Therefore, a sealing mechanism is used to prevent dust from leaking to the outside, and to prevent the chemical atmosphere inside the tank from entering the arm 60. This is to prevent corrosion.

具体的には、上記アーム60は、第5図に示すように固
定側部62と、可動側部64とからなり、上記固定側部
62に対して可動側部64を上下動させることにより、
可動側部64の頂部に設けたボート56支持用のアーム
本体66を上下動させるようにしている。
Specifically, the arm 60 consists of a fixed side part 62 and a movable side part 64 as shown in FIG. 5, and by moving the movable side part 64 up and down with respect to the fixed side part 62,
An arm body 66 for supporting the boat 56 provided at the top of the movable side part 64 is moved up and down.

次に、シール機構の詳細について第6図を参照して説明
する。
Next, details of the sealing mechanism will be explained with reference to FIG. 6.

固定側部62は、上面に支持ベース68を有するハウジ
ング70内にモータ72を封止し、このモータ72と連
結したスクリューシャフト74を上記支持ベース68上
に立設している。また、上記スクリューシャフト74の
周囲には、3本のガイドシャフト76が等間隔て平行に
配設されている。なお、スクリューシャフト74及びガ
イドシャフト76の他端部は、固定プレート78に支持
されている。
The fixed side part 62 seals a motor 72 in a housing 70 having a support base 68 on the upper surface, and a screw shaft 74 connected to the motor 72 is erected on the support base 68. Furthermore, three guide shafts 76 are arranged in parallel at equal intervals around the screw shaft 74. Note that the other ends of the screw shaft 74 and the guide shaft 76 are supported by a fixed plate 78.

可動側部64には、上記スクリューシャフト74に螺合
するナツト80と、このナツト80と一体にされ、かつ
上記スクリューシャフト74及びガイドシャフト76に
移動可能に嵌挿された第1の可動プレート82と、一端
が上記第1の可動プレート82に取付けられ、かっ他端
が上記固定プレート78を貫通してスライド可能にされ
た等間隔で平行な3本のスライドシャフト84と、上記
固定プレート78を貫通したスライドシャフト84の他
端を支持する第2の可動プレート86とを備え、上記ス
クリューシャフト74及びガイドシャフト76に沿って
上下動可能にされている。
The movable side portion 64 includes a nut 80 that is screwed onto the screw shaft 74, and a first movable plate 82 that is integrated with the nut 80 and is movably fitted onto the screw shaft 74 and the guide shaft 76. and three equally spaced parallel slide shafts 84, one end of which is attached to the first movable plate 82 and the other end of which is slidable through the fixed plate 78, and the fixed plate 78. It includes a second movable plate 86 that supports the other end of the slide shaft 84 passing through it, and is movable up and down along the screw shaft 74 and guide shaft 76.

さらに、上記′s2の可動プレート86上には上記アー
ム本体66が取付けられるようになっている。
Further, the arm main body 66 is mounted on the movable plate 86 of 's2.

そして、上記固定側部62の支持ベース68上に、上下
駆動部であるスクリューシャフト74、ガイドシャフト
76、スライドシャフト84等を覆う筒状の内カバー8
8を取付けると共に、上記可動側部64の第2の可動プ
レート86側に、上記内カバー88の外側を覆う筒状の
外周カバー90を取付けるようにしている。さらに、上
記内カバー88には、外周カバー90のさらに外側を覆
う外カバー92が取付けられるようになっており、これ
ら内カバー88、外周カバー90及び外カバー92は夫
々間隙を設けて構成され3重のカバーをなすようにして
いる。なお、内カバー88の上端は、固定プレート78
上に配した封止プレート94にて封止されている。また
、封止プレート94とスライドシャフト84との間及び
封止プレート94と外周カバー90との間はそれぞれシ
ール材96にて封止されている。
A cylindrical inner cover 8 is placed on the support base 68 of the fixed side part 62 to cover the screw shaft 74, guide shaft 76, slide shaft 84, etc. which are the vertical drive parts.
8 is attached, and a cylindrical outer circumferential cover 90 that covers the outside of the inner cover 88 is attached to the second movable plate 86 side of the movable side portion 64. Furthermore, an outer cover 92 that covers the outer side of the outer cover 90 is attached to the inner cover 88, and these inner cover 88, outer cover 90, and outer cover 92 are each configured with a gap between them. It serves as a heavy cover. Note that the upper end of the inner cover 88 is attached to the fixing plate 78.
It is sealed with a sealing plate 94 placed above. Moreover, the space between the sealing plate 94 and the slide shaft 84 and the space between the sealing plate 94 and the outer peripheral cover 90 are each sealed with a sealing material 96.

さらに、上記内カバー88内に、内カバー88内を加圧
して、内カバー内を陽圧状態に維持する加圧装置98を
接続するようにしている。この加圧装置 98は、内カ
バー88内にアンモニア等のガスか侵入して内部の機構
を腐食させるのを防止するためのもので、本実施例では
不活性ガス、例えば窒素(N2)ガスを、支持ベース6
8部分より内カバー88内に加圧供給するようになって
いる。従って、内カバー88内へのアンモニア等のガス
の侵入はこの陽圧雰囲気により防止されることとなる。
Further, a pressurizing device 98 is connected to the inner cover 88 to pressurize the inner cover 88 and maintain the inner cover in a positive pressure state. This pressurizing device 98 is used to prevent gas such as ammonia from entering the inner cover 88 and corroding the internal mechanism. , support base 6
Pressure is supplied into the inner cover 88 from part 8. Therefore, this positive pressure atmosphere prevents gas such as ammonia from entering into the inner cover 88.

そしてさらに、内カバー88と外カバー92との間の下
部側に排気装置100を接続し、外周カバー90と内カ
バー88との間及び外周カバー90と外カバー92との
間の排気を行なうようにしている。このように、排気を
行なうのは、外カバー92の上端側から侵入したアンモ
ニア等のガスや塵芥が外周カバー90と外カバー92と
の間・に侵入しても、内カバー88と外周カバー90と
の間には侵入させないようにするためで、また、たとえ
内カバー88と外周カバー90との間に侵入したとして
も、その内部が負圧状態にされているため、排気装置1
00によって排出されるようにしている。なお、この排
気装置100の採用により、上記各カバーに多少のガス
透過性かあっても十分に対応できることとなるものであ
る。
Further, an exhaust device 100 is connected to the lower side between the inner cover 88 and the outer cover 92 to exhaust air between the outer cover 90 and the inner cover 88 and between the outer cover 90 and the outer cover 92. I have to. In this way, the exhaust is performed so that even if gas such as ammonia or dust that enters from the upper end side of the outer cover 92 enters between the outer cover 90 and the outer cover 92, the inner cover 88 and the outer cover 92 This is to prevent it from entering between the inner cover 88 and the outer cover 90, and even if it does enter between the inner cover 88 and the outer cover 90, the inside is in a negative pressure state, so the exhaust system 1
It is set to be ejected by 00. Note that by employing this exhaust device 100, it is possible to sufficiently cope with the gas permeability of each of the above-mentioned covers to some extent.

このように、駆動装置を覆う内カバー88内を加圧装置
98にて加圧して陽圧状態に維持し、かつ内カバー88
の外側を覆う外周カバー90内を排気装置100にて排
気して負圧状態に維持することにより、内カバー88内
の圧力と、外周カバー90内の圧力差によって、内カバ
ー88内の雰囲気は常に外周カバー90内側に逃げよう
とする状態となる。例えば内カバー88内で発生した発
塵を強制的に外周カバー90内に流入させて発塵を排気
する。他方外周カバー90内まで外気が入り込むような
ことがあっても、排気され、内カバー88までは入り込
めない状態となっている。
In this way, the inside of the inner cover 88 that covers the drive device is pressurized by the pressurizing device 98 to maintain a positive pressure state, and the inner cover 88
By evacuating the inside of the outer circumferential cover 90 that covers the outside with the exhaust device 100 and maintaining it in a negative pressure state, the atmosphere inside the inner cover 88 is It is always in a state where it tries to escape to the inside of the outer peripheral cover 90. For example, dust generated within the inner cover 88 is forced to flow into the outer cover 90 to exhaust the dust. On the other hand, even if outside air were to enter into the outer circumferential cover 90, it will be exhausted and will not be able to enter into the inner cover 88.

また、内カバー88内の雰囲気が外周カバー90側に逃
げ出したとしても、外周カバー90内は排気装置100
によって排気されているので、外周カバー90の外側に
漏出することは無く、内部の塵埃等が外部に出ることは
ない。この場合、外周カバー90内に入り込んだ外気も
排気装置100によって排出されるので、より一層内カ
バー88内への侵入は防止されることとなる。
Further, even if the atmosphere inside the inner cover 88 escapes to the outer cover 90 side, the inside of the outer cover 90 is
Since the air is exhausted by the air, there is no leakage to the outside of the outer circumferential cover 90, and internal dust and the like will not come out. In this case, the outside air that has entered the outer circumferential cover 90 is also exhausted by the exhaust device 100, so that intrusion into the inner cover 88 is further prevented.

また、本実施例では、上記排気袋r1100による排気
の際に、薬液雰囲気状態を検出するセンサー(図示せず
)を設けて内部の状態を検知し、その状態に応じて、加
圧装置98および排気装置100を制御して最適状態を
維持するようにしている。
Furthermore, in this embodiment, when exhausting air using the exhaust bag r1100, a sensor (not shown) for detecting the chemical atmosphere is provided to detect the internal state, and depending on the state, the pressurizing device 98 and The exhaust system 100 is controlled to maintain an optimum state.

なお、封止プレート94と、第2の可動プレート86と
の間には、内部が密封状態となってアーム60の可動時
にボンピング作用を起こしてアンモニアガス等を吸引し
てしまうのを防止するため、若干の空気の導入を許す空
気導入孔102を設けている。
Note that there is a space between the sealing plate 94 and the second movable plate 86 in order to prevent the inside from being sealed so that a pumping action occurs when the arm 60 is moved and ammonia gas etc. are sucked. , an air introduction hole 102 is provided to allow the introduction of some air.

なお、上記実施例においては、2つのキャリア48に載
置された50枚の半導体ウェハ22を一度に処理する場
合について説明したが、この例に限らず1つのキャリア
48上の25枚の半導体ウェハ22を一度に処理するよ
うにしてもよい。
In the above embodiment, the case where 50 semiconductor wafers 22 placed on two carriers 48 are processed at one time has been described, but this is not limited to this example. 22 may be processed at once.

また、3つの処理ユニット10,12.14を組合せる
ようにしているか、組合せの個数は任意に変更すること
ができる。
Furthermore, the three processing units 10, 12, and 14 may be combined, or the number of combinations may be changed arbitrarily.

さらに、上記実施例では、各処理槽のボートを上下動さ
せるアーム60に本発明のシール機構を適用した例につ
いて説明したが、このほか搬送アーム等駆動部を有する
各種駆動装置にも本発明のシール機構を適用することが
可能である。
Furthermore, in the above embodiment, an example was explained in which the sealing mechanism of the present invention was applied to the arm 60 that moves the boat of each processing tank up and down, but the present invention can also be applied to various drive devices having a drive unit such as a transfer arm. It is possible to apply a sealing mechanism.

[発明の効果] 以上説明したように、本発明の駆動装置のシール機構は
、駆動装置を覆う内カバー内を加圧装置にて加圧して陽
圧状態に維持し、かつ内カバーの外側を覆う外周カバー
内を排気装置にて排気して負圧状態に維持することとし
たため、内カバー内の圧力と、外周カバー内の圧力に差
が生じ、内カバー内の雰囲気は常に外周カバー内側に逃
げようとする状態となり、たとえ外周カバー内まで外気
が入り込むようなことがあっても、内カバーまで入り込
むのを確実に防止できるという効果がある。
[Effects of the Invention] As explained above, the sealing mechanism of the drive device of the present invention uses a pressure device to pressurize the inside of the inner cover that covers the drive device to maintain a positive pressure state, and also to keep the outside of the inner cover in a positive pressure state. Because the inside of the outer cover was evacuated using an exhaust device to maintain a negative pressure state, there was a difference between the pressure inside the inner cover and the pressure inside the outer cover, and the atmosphere inside the inner cover was always inside the outer cover. Even if the air tries to escape and the outside air gets into the outer cover, it is possible to reliably prevent the air from getting into the inner cover.

また、内カバー内の雰囲気か外周カバー側に逃げ出した
としても、外周カバー内は排気装置によって排気されて
いるのて、外周カバーの外側に漏出することは無く、内
部の塵埃等が外部に出るのを確実に防止できるという効
果かある。
In addition, even if the atmosphere inside the inner cover escapes to the outer cover side, the inside of the outer cover is exhausted by the exhaust device, so it will not leak to the outside of the outer cover, and the dust inside will come out. It has the effect of being able to reliably prevent this.

さらに、外周カバー内に外気か入り込んたとしても、確
実に排気装置によって排出されるので、より一層内カバ
ー内への外気の侵入を防止できるという効果がある。
Furthermore, even if outside air enters the outer circumferential cover, it is reliably exhausted by the exhaust device, so that it is possible to further prevent outside air from entering into the inner cover.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例に係る洗浄装置の全体的構成
を示す平面図、 第2図は第1図のローダ部分を示す平面図、第3図は第
1図の搬入側の処理ユニットを示す拡大図、 第4図は各洗浄処理槽、水中ローダ及び乾燥処理槽の状
態を示す斜視図、 第5図はアームとボートの状態を示す側面図、第6図は
アームのシール機構を示す断面図、第7図は各シャフト
の状態を示す平面図である。 60・・・アーム、66・・・アーム本体、74・・・
スクリューシャフト、 76・・ガイドシャフト、88・・・内カバー、90・
・・外周カバー、92・・・外カバー、98・・・加圧
装置、100・・・排気装置。 代理人 弁理士 井  上   −(他1名)第2図 22      .22 第4図 第5図
Fig. 1 is a plan view showing the overall configuration of a cleaning device according to an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a plan view showing the loader portion of Fig. 1, and Fig. 3 is a plan view showing the loading side processing of Fig. 1. An enlarged view showing the unit, Figure 4 is a perspective view showing the state of each cleaning tank, underwater loader, and drying tank, Figure 5 is a side view showing the state of the arm and boat, and Figure 6 is the arm seal mechanism. FIG. 7 is a sectional view showing the state of each shaft. 60...Arm, 66...Arm body, 74...
Screw shaft, 76... Guide shaft, 88... Inner cover, 90...
...Outer circumferential cover, 92... Outer cover, 98... Pressurizing device, 100... Exhaust device. Agent Patent attorney Inoue - (1 other person) Figure 2 22. 22 Figure 4 Figure 5

Claims (1)

【特許請求の範囲】 駆動装置の駆動部を覆う如く設けられた内カバーと、 前記内カバーの外側を覆う如く設けられた外周カバーと
、 前記内カバー内を陽圧状態に維持する加圧装置と、 前記外周カバー内を排気して負圧状態に維持する排気装
置と、 を有することを特徴とする駆動装置のシール機構。
[Scope of Claims] An inner cover provided to cover a drive portion of a drive device, an outer cover provided to cover an outside of the inner cover, and a pressurizing device for maintaining a positive pressure state inside the inner cover. A sealing mechanism for a drive device, comprising: an exhaust device that exhausts the inside of the outer circumferential cover to maintain a negative pressure state.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008062826A1 (en) * 2006-11-24 2008-05-29 Tokyo Electron Limited Treatment apparatus, method of treating and recording medium
JP2010245361A (en) * 2009-04-08 2010-10-28 Yaskawa Electric Corp Prealigner apparatus, and carrying device and semiconductor manufacturing apparatus with the same
JP2011091323A (en) * 2009-10-26 2011-05-06 Tokyo Electron Ltd Apparatus for manufacturing semiconductor

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008062826A1 (en) * 2006-11-24 2008-05-29 Tokyo Electron Limited Treatment apparatus, method of treating and recording medium
JP2008130978A (en) * 2006-11-24 2008-06-05 Tokyo Electron Ltd Processing device, processing method, and storage medium
US8298344B2 (en) 2006-11-24 2012-10-30 Tokyo Electron Limited Method of processing workpieces using a vessel with a low pressure space surrounding a processing space for the purpose of preventing the leakage of atmosphere into the processing space
JP2010245361A (en) * 2009-04-08 2010-10-28 Yaskawa Electric Corp Prealigner apparatus, and carrying device and semiconductor manufacturing apparatus with the same
JP2011091323A (en) * 2009-10-26 2011-05-06 Tokyo Electron Ltd Apparatus for manufacturing semiconductor
US8936507B2 (en) 2009-10-26 2015-01-20 Tokyo Electron Limited Semiconductor manufacturing apparatus

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