JPH04196200A - 電子部品外観検査におけるカメラの視野枠の設定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、゛基板に搭載された電子部品の外観検査の為
に、基板にカメラの視野枠を設定するための方法に関す
る。

（従来の技術） 基板に搭載された′；シ子部品の位置ずれ、２２裏反転
、欠品、半田付状態の良否等の外観検査を、カメラに、
Ｌり行うことが知られていｚｌ。

このようなカメラによる自動外観検査を行うにあたって
は、その＋ｉｉｊ　’！４屏１１１として、カメラの視
野枠を基板に設定し７な＆Ｊればならない。この場合、
できるだけ少い視野枠数−ご基板の全面をカバーてきる
ように、基板」−に視野枠を設定することが、外観検査
の作業能率」−有利である。従来、このような視野枠の
設定は、サンプル基板をモニター画面に映出し、作業者
かこの画面を見で視野枠を動かしながらマニュアル的に
行っていた。

（発明が解決しようとする課題） しかしながら上記従来手段は、作業者のマニラ４アル作
業であったため、多大な時間と労力を要するものであっ
た。しかも基板には、その全面に、大小様々の電子部品
がきわめて多数個搭載されていることから、作業者が電
子部品を見逃し、何れの視野枠にも包含されない電子部
品が発生しやすい問題があった。このように見逃された
電子部品は外観検査の対象から洩れてしまうこととなる
。

そごて本発明は、より少い視野枠数で、しかも基板全面
の電子部品を見逃すごとノ、１く、自動的に視野枠を設
定できる方法を１ノ？供することをｌ」的とする。

（課題を解決するための１段） 本発明は、 （１）電子部品を包含する検査枠を電子部品の品種４ｉ
４に設定し、この検査枠を、基板に搭載さ１また電子部
品に合致させて、電子部品マツプを作成したうえで、 （２）上記電子部品マツプの検査枠の中から、第１の検
査枠をｉＫ択Ｕ７．１］、・つこの第１の検査枠がカメ
ラの視野枠の第１　＝ｒ−ナーに位置するように、カメ
ラの視野枠を設定する第１ステップと、（３）次いで十
型箱１の検査枠以外の他の検査枠を上記視野枠に取り込
むべく、上記第１の検査枠か上記視野枠の第２のコーナ
ーに位置するように、上記視野枠を移動させる第２ステ
ップと、（４）次いで更に他の検査枠を上記視野枠に取
り込む−・く、Ｉ−型箱１の検査枠が、上記視野枠の第
３のコーナーに位置するように、上記視野枠を移動さ−
ｌる第３ステップと、 （５）次いて更に他の検査枠を上記視野枠に取り込むべ
く、他の検査枠が、」１記視野枠の第４のコーナーに位
置するべく　、−上記視野枠を移動させる第４ステップ
、 とからカメラの視野枠を設定し、 上記カメラの視野枠の設定作業を、基板の全面について
繰り返すようにしている。

（作用） 」１記構成によれば、基板の全面に搭載されたすべての
電子部品を見逃すことなく、且つより少い視野枠数で、
視野枠を自動的に設定することができる。

（実施例） 次に、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。

第１図は電子部品マツプ図である。１はサンプル基板で
あり、この基板１には、多品種多数の電子部品Ｐ（ＰＩ
〜Ｐｎ）が搭載されている。

△（Ａ１−・Δｎ）は、電子部品Ｉ）を包含するように
設定された検査枠である。

第７図は、電子部品Ｉ）と検査枠への位置関係を示して
いる。Ｓは電子部品Ｐを基板目こ接７１する゛ト田であ
る。外観検査Ｃａｔ、電子部品１）の位置ずれ、欠品、
表裏反転等だけでなく、半田伺状態の良否判定も行われ
る。また電子部品Ｐは若王の位置ずれをイ１する、二と
から、検査枠△は、電子部品Ｐや半田Ｓを余裕をもっ゛
（包含できる大きさに設定されている。

本方法は、カメラの視野枠を設定するに先立し、その前
準備として、サンプル基板１の電子部品Ｐ１〜Ｐｎを包
含する検査枠Ａ１〜Ａｎを設定して、第１図に示す電子
部品マッシを作成する。この電子部品マツプは、既知の
実装データや部品ザイズデータにより簡単に作成できる
。

次いで、第２図に示す第１ステップを行う。

このステップは、任意に設定された基準原点Ｏに最も近
い第１の検査枠Ａ１を選択し、カメラの視野枠Ｂ１の第
１のコーナーに１を、この第１の検査枠Ａ１に合致させ
る。

次いで、−に型箱１の検査枠Ａｌ以外の検査枠を視野枠
Ｂ１に取り込むべく、第３図に承ず第２ステップを行゛
う。このステ・ノブは、第１ステップで取り込んだ検査
枠Δ１が収まるように、視野枠Ｂ１を下方（矢印Ｙ１方
向）に移動させて、第２の′：１−ナーに２を１−記検
査枠Ａ１に合致させ、この視野枠Ｂ１に新しく入った他
の検査枠Ａ２を検出する。

次いで、更に他の検査枠を視野枠Ｔ３１に取り込むべく
、第４図に示す第３ステップを行う。

このステップは、取込済の検査枠ＡＩ、Ａ２がすべて収
まるように、視野枠Ｂ１をＸ１方向に移動させ、上記検
査枠ＡＩを第３のコーナーに３に合致させ、新たな検査
枠Δ３、Ａ４を視野枠Ｂ１に取り込む。

次いで、第５図に示す第４ステップを行う。

このステップは、視野枠Ｂ１をＹ２方向に移動させ、第
４のコーナーに４に検査枠Δ２を合致させる。

十型箱１〜第４のステップは、何れも、視野枠１３１に
検査枠Ａを最大限取り込むべく、取込済の検査枠へを視
野枠ＢＪ内に収めながら、視野枠＋３１をＸＹ力向に最
大限移動ざ−Ｉ！ろものてあり、−上記スうヘソプを行
・）、二とにより、視野枠Ｂ１に最大限取り込めろ検査
枠Δ１〜Δ４が決定する。

次いて第６図に示すよ′己こ、視野枠１３１をＸＹ力方
向移動させ、検査枠△１〜Δ４を視野枠Ｂ１の中央乙こ
位置ざ−ｌる（第５ステップ）。これは、検査枠Δ１へ
・Ａ４を視野枠Ｂ１の中央に位置させて余裕マージンａ
、ｂを確保した力か外観検査を行いやすいためである。

−１二記第１〜第６ステノプにより、第１番目の視野枠
＋３１の位置が決定される。

次いで第６図鎖線にて示すように、新たに基準点Ｏに最
も近い検査枠△５をＪ択し、−］二２第１〜第５のステ
ップを繰り返して、第２番「」の視野枠Ｂ２を決定する
。このようなステップを繰り返ずごとり、ｉ　、Ｌす、
基板Ｉの全面について、視野枠Ｂ１、Ｂ　２・・・を順
次設定していく。

第８図は、上記方法に、Ｊ、す、基板ｌに最終的に設定
された視野枠Ｂ１〜Ｂ５を示している。

各々の視野枠Ｂ１〜Ｂ５について外観検査を行う場合、
視野枠１３１〜Ｂ５を、より短い最適順路で移動するの
が作業」二有利である。そこで次に、視野枠Ｂの最ｉｌ
￥ｉ順路の決定方法を説明する。

まず、各々の視野枠Ｂ１〜Ｂ　５について、任意のポイ
ント■、■、■、■、■を決定する。

本実施例では、視野枠Ｂ１〜Ｂ５の左−１−の角に設定
している。本方法は、視野枠全体を、ポイント■〜■を
結ふリング構造とし、ポイント同士を交換しながら、全
ポイントの距離が最短若しくはより短くなる順路を求め
るものである。

第９図は、隣り同士のポイントを交換しなから、最適順
路を求めている様子を示している。

まず同図（ａ）の順路の順路長Ｔ、、１を求める。

次いで相隣るポイント■とボ・インド■を交換し、同様
に順路長ｌ−１２を求める（同図（ｂ））。以下同様に
して、相隣るポイントを交換しながら、順路長り、１．
ｉ、２、Ｉ−１）　　・・を順に求めていく。次いで全
順路長１．．１．　、　Ｌ　２．１，３・・・のうぢ、
最短のものを抽出することにより、最適順路か求められ
る。、二の場合、和１’Ａ　ｚ）ボイ：、’　ｌ−を交
換してめで、順路長が短くなれば、交換ＯＫとする。ま
た交換してめで、順路長か長＜Ｉｓ。

れば、交換Ｎ（ニーζあって、交換を中止し７、他の交
換を行う。

」二記方法は、ポイントの順列＆Ｊ１合せにより、各々
の順路長を求めていくごとから、ボ・インｉ数が多くな
ると、演算に多大な時間を要する。

そごで例えば乱数表による偶発性を利用し、相隣るポイ
ント同士の交換だけでなく、相削れたポインＩ・同士の
交換を行いながら、最適順路を求めることが望ましい。

ごのよう乙こずれば、１１「１列組合−げによる全ての
順路の演算は行わないが代表的な順路ばほぼ演算てきる
ごととなり、より短い最適順路を求める、二とが−Ｃき
イ１゜（発明の効果） 以Ｉ−説明しまたように本発明は、 （１）電子部品を包含する検査枠を電子部品の品種毎に
設定し、この検査枠を、基板に搭載された電子部品に合
致させて、電子部品マツプを作成したうえで、 （２）　ｊ１記電子部品マツプの検査枠の中から、第１
の検査枠を選択し、且つごの第１の検査枠がカメラの視
野枠の第１コーナーに位置するように、カメラの視野枠
を設定する第１ステップと、（３）次いで上記第１の検
査枠以外の他の検査枠を上記視野枠に取り込むべく、上
記第１の検査枠が上記視野枠の第２のコーナーに位置す
るように、上記視野枠を移動させる第２ステップと、（
４）次いで更に他の検査枠を北記視野粋に取り込むべく
、上記第１の検査枠が、−）、記視野枠の第３のコーナ
ーに位置するように、上記視野枠を移動させる第３ステ
ップと、 （５）次いで更に他の検査枠を」二記視野枠に取り込む
べく、他の検査枠が、上記視野枠の第４のコーナーに位
置するべく、」二記視野枠を移動させる第４ステップ、 とからカメラの視野枠を設定し、 上記カメラの視野枠の設定作業を、基板の全面について
繰り返すようにＵ７ているので、より少い視野枠数で、
基板全面の電子部品を見逃すことなく自動的に取り込め
ながら、視野枠を設定することができる。

【図面の簡単な説明】

図は本発明の実施例を示ず４）のであ１、て、第１図は
電子部品マツプ図、第２図、第３図、第４図、第５図、
第６図は視野枠の設定作業を示す平面図、第７図は検査
枠図、第８図は視野枠図、第９図は最適順路設定図であ
る。 Ａ・・・検査枠 ■３・・・視野枠 に１〜に４・・・′：１−ナー ０・・・基【１を原点 Ｐ　・・電子部品

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 電子部品を包含する検査枠を電子部品の品種毎に設定し
   、この検査枠を、基板に搭載された電子部品に合致させ
   て、電子部品マップを作成したうえで、 上記電子部品マップの検査枠の中から、第１の検査枠を
   選択し、且つこの第１の検査枠がカメラの視野枠の第１
   コーナーに位置するように、カメラの視野枠を設定する
   第１ステップと、次いで上記第１の検査枠以外の他の検
   査枠を上記視野枠に取り込むべく、上記第１の検査枠が
   上記視野枠の第２のコーナーに位置するように、上記視
   野枠を移動させる第２ステップと、次いで更に他の検査
   枠を上記視野枠に取り込むべく、上記第１の検査枠が、
   上記視野枠の第３のコーナーに位置するように、上記視
   野枠を移動させる第３ステップと、 次いで更に他の検査枠を上記視野枠に取り込むべく、他
   の検査枠が、上記視野枠の第４のコーナーに位置するべ
   く、上記視野枠を移動させる第４ステップ、 とからカメラの視野枠を設定し、 上記カメラの視野枠の設定作業を、電子部品マップの全
   面について繰り返すことを特徴とする電子部品外観検査
   におけるカメラの視野枠の設定方法。