JPH0419544A - 疑似太陽光照射装置およびそのスペクトル調整方法 - Google Patents
疑似太陽光照射装置およびそのスペクトル調整方法Info
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
方法に係り、特に、製品材料の耐候・耐光性加速試験に
好適な疑似太陽光を照射する疑似太陽光照射装置および
そのスペクトル調整方法に関する。
のスペクトル分布を紫外領域から可視、赤外領域にわた
って高精度に再現するための装置であり、繊維・塗料・
プラスチック・金属等の1光・耐候性加速試験のための
環境試験装置に組み込まれて使用されている。
アークランプ、キャノン長アークランプ、カーボンアー
クランプ等が用いられているが、その中でも、特にキセ
ノン短アークランプ(以下、単にキセノンランプという
)はスペクトル分布が自然太陽光のスペクトル分布と極
めて近似しており、疑似太陽光光源として用いられるこ
とが多い。
ル分布図に示したように、近赤外部(800〜1000
nm)に、尖鋭でかつ複雑なピーク群を有しているの
で、これを平均的に補正して自然太陽光のスペクトル分
布に近付けるためのスペクトル分布補正用フィルタと併
用されることが多い。
タ、あるいは水フィルタなどが用いられている。水フィ
ルタとは、たとえば対向して設けられたガラス板の間に
水を充填し、照射光が該水を透過するようにした構造の
ものである。
射装置によれば、そのスペクトル分布は自然太陽光のそ
れに近付き、実用にも供することができるが、現在のフ
ィルタ製造技術では、所望の分光特性をもったフィルタ
を精度良く製造することはほとんど不可能であり、キセ
ノンランプ特有の近赤外部でのピーク群を、選択的かつ
十分に除去することができなかった。
した図である。同図から明らかなように、水フィルタは
波長95Onm付近の光を選択的に吸収する特性を有し
ているので、この水フィルタを用いてキセノンランプの
近赤外成分を除去すれば、第8図に示したように、約1
200nm以下の領域では、自然太陽光のスペクトル分
布(−点鎖線L4)に十分近似した疑似太陽光(実線L
3)を得ることができるようになる。
00nmより長波長側をほとんど吸収してしまうので、
この領域の光を補うために、近年では白熱フィラメント
ランプ(ハロゲン、タングステンなど)を併用し、両者
を重畳・混合して得られた光を疑似太陽光として用いる
場合が多い。
に、比較的連続した自然太陽光に近いスペクトル分布を
有するので、上記したように、近赤外領域の除去された
キセノンランプ光に、これと自然太陽光との差を補うよ
うな白熱フィラメントランプ光を重畳・混合すれば、キ
セノンランプ光のみによる場合に比べて、より自然太陽
光に近い疑似太陽光を得ることができる。
ラメントランプ光が一種類、すなわち、白熱フィラメン
トランプが1つであったり、たとえ複数であっても、各
白熱フィラメントランプによる照射光が同一のスペクト
ル分布を示していたために、この白熱フィラメントラン
プを併用しても、その補正が未だ不十分であるという問
題があった。
光のスペクトル分布を紫外領域から可視、赤外領域にわ
たって高精度に再現することが可能な疑似太陽光照射装
置およびスペクトル調整方法を提供することにある。
を載置する載置手段とキセノンランプとが、キセノンラ
ンプの管軸を回転中心として相対的に回転するように設
けられた疑似太陽光照射装置において、キセノンランプ
の管軸を回転中心として前記載置手段と相対的に回転す
る複数の白熱フィラメントランプと、前記複数の白熱フ
ィラメントランプのうちの少なくとも1つの白熱フィラ
メントランプの電圧、電流、および周波数の少なくとも
1つを制御する制御手段とを具備した。
フィラメントランプの内の少なくとも1つのスペクトル
分布調整によって行うようにした。
等を制御してフィラメント温度を変えれば変化するので
、前記した構成によれば、各白熱フィラメントランプへ
の供給電圧等をそれぞれ異ならせることによって、各白
熱フィラメントランプのスペクトルを、それぞれ異なら
せることができるようになる。
供給電圧等を、キセノンランプ光と自然太陽光との差を
補うように調整し、両者の時系列的な積分光を疑似太陽
光とすれば、そのスペクトル分布を自然太陽光のそれに
極めて近似させることができるようになる。
ると、近赤外領域のスペクトルが除去されるので、自然
太陽光に近似したスペクトル分布を有する疑似太陽光を
得ることができる。
nmの領域、および約1200nm以上の領域での分光
透過率が低いために、該領域での照射強度が自然太陽光
に比べて弱くなってしまう。
、該領域での照射強度を補うようにした。
図は本発明の一実施例である疑似太陽光照射ランプユニ
ットの側面図、第1図は第2図のA−B線断面図である
。
部には保持部材2によって保持されたキセノンランプ5
が収納され、該キセノンランプ50両端に点灯回路(図
示せず)から電圧を印加することによってキセノンラン
プ5内の電極12間でアークが発生し、光が放射される
。
laで構成された筒型のUVフィルタ11が設けられて
いる。なお、UVフィルタ11は、ホウ珪酸ガラスから
成るシリンダ形状のものであっても良い。このUVフィ
ルタ11は、太陽光には含まれていないがキセノンラン
プ5の照射光には含まれている、波長300nm以下の
紫外光を除去する。
スで構成された内筒6aおよび外筒6bが設けられてい
る。この内筒6aおよび外筒6bは、支柱9、上板4お
よび底板3と液密に構成され、該内筒6aと外筒6bと
の間に水7を充填することによって水フィルタ8が構成
される。
ントランプ(タングステンやハロゲンなど)10がそれ
ぞれ設置されている。
・耐候性試験器の断面Iv′でめ、バ第1図または第2
図と同一の符号は同一または同等部分を表している。
0によフて枠体41に固定されている。
ハンガ17に、試験面をキセノンランプ5に対向させて
取り付けられ、固定ブロック15はブラケット16によ
って回転テーブル13に固定されている。
4によって枠体41に支持され、ウオーム歯車22およ
び23を介してモータ20の回転軸に連結される。回転
テーブル13はモータ20の回転によって所望の回転速
度で回転される。
光は、まずUVフィルタ11によって不要な紫外成分を
除去された後に、水フィルタ8によって近赤外成分も除
去されて、前記第8図に示したようなスペクトル分布を
有する疑似太陽光となる。
照射光を重畳・混合すると共に、モータ20を駆動して
回転テーブル13を回転させ、供試材料14とキセノン
ランプ5および白熱フィラメントランプ10とを相対的
に回転させることによって、両者の時系列的な積分光を
最終的な疑似太陽光とする。
第5図に示したように、供給する電圧、電流、および周
波数などを適宜に調整することによってフィラメント温
度を制御すると、そのフィラメント温度に応じたスペク
トル分布を示す。
プとが相対的に回転するので、各白熱フィラメントラン
プごとにスペクトル分布特性を異ならせても、各供試材
料には、実質上均一な疑似太陽光が照射されるようにな
る。
クトル分布を予め分析し、自然太陽光に比べて照度の弱
い領域の照度を補うように各フィラメントランプへの供
給電圧等をそれぞれ個別に制御すれば、両者の時系列的
な積分光である疑似太陽光は、自然太陽光に極めて近似
するようになる。
別に制御することができないような場合には、各白熱フ
ィラメントランプ10への供給電圧等を時分割的に制御
するようにすれば、上記と同等の効果を達成することが
できる。
の温度より低い場合には赤外領域の照度を高(し、また
、検出温度が高い場合には赤外領域の照度を低くすると
いったように、検出温度に応じてキセノンランプ5およ
び各フィラメントの少なくとも一方への供給電圧等を制
御してスペクトル調整を行うようにすれば、試験内容に
最適な擬似太陽光を自動的に得ることができるようにな
る。
面図であり、前記と同一の符号は同一または同等部分を
表している。
用のガラスフィルタ8oを水フイルタ8内にさらに設け
た点に特徴がある。
押さえることができるので、加熱によるガラスフィルタ
の破損等の問題がなくなる。
スフィルタに限らず、蒸着フィルタであっても良い。ま
た、水フィルタ8を構成する内筒6aおよび外筒6bの
表面に膜を蒸着して、該内筒6aないし外筒6bを蒸着
フィルタとして活用したり、あるいは内筒6aないし外
筒6bをガラスフィルタによって構成したりすれば、部
品点数が減るので構造が簡単になる。
回転するものとして説明したが、供試材料を固定して白
熱フィラメントランプおよびキセノンランプが回転する
ようにしても良い。
ノンランプ光に、該キセノンランプ光を補うようにスペ
クトル分布を異ならせた複数の白熱フィラメントランプ
による光を重畳・混合して疑似太陽光を得るようにした
ので、紫外領域から赤外領域にわたって、自然太陽光に
極めて近似した疑似太陽光を得ることができるようにな
る。
ユニットの断面図、第2図は第1図の側面図、第3図は
第1.2図のランプユニットを適用した射光・耐候性試
験器の断面図、第4図はキセノンランプのスペクトル分
布図、第5図は白熱フィラメントランプのフィラメント
温度ごとのスペクトル分布図、第6図は本発明の他の実
施例のランプユニットの断面図、第7図は水の分光透過
率を示した図、第8図はキセノンランプによる疑似太陽
光のスペクトル分布図である。 l・・・ランプユニット、2・・・保持部材、3・・・
底板、4・・・上板、5・・・キセノンランプ、6a・
・・内筒、6b・・・外筒、7・・・水、8・・・水フ
ィルタ、10・・白熱フィラメントランプ、11・・・
UVフィルタ、12・・・電極、13・・・回転テーブ
ル、14・・・供試材料、17・・・供試材料ハンガ、
20・−・モータ代理人弁理士 平木道人 外1名 第 図 ′J、長一体一 第 図 第 図 成長い嗣 Φ埜塑曹・蓋6
Claims (7)
- (1)供試材料を載置する載置手段とキセノンランプと
が、キセノンランプの管軸を回転中心として相対的に回
転する疑似太陽光照射装置において、載置手段とキセノ
ンランプとの間に設けられたスペクトル分布補正用フィ
ルタと、 載置手段とキセノンランプとの間に設けられ、キセノン
ランプの管軸を回転中心として前記載置手段と相対的に
回転する複数の白熱フィラメントランプと、 前記複数の白熱フィラメントランプのうちの少なくとも
1つの白熱フィラメントランプの電圧、電流、および周
波数の少なくとも1つを制御する制御手段と、 を具備し、 スペクトル分布補正されたキセノンランプ光に、複数の
白熱フィラメントランプからの照射光を順次重畳・混合
して得られた、両者の時系列的な積分光を疑似太陽光と
することを特徴とする疑似太陽光照射装置。 - (2)供試材料の温度を検出する温度検出手段をさらに
具備し、前記制御手段は検出温度に応じた制御を行うこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の疑似太陽光
照射装置。 - (3)記制御手段は、前記白熱フィラメントランプの電
圧、電流、および周波数の少なくとも1つを、時分割的
に変化させることを特徴とする特許請求の範囲第1項ま
たは第2項記載の疑似太陽光照射装置。 - (4)前記載置手段とキセノンランプとの間に、紫外線
フィルタをさらに具備したことを特徴とする特許請求の
範囲第1項ないし第3項のいずれかに記載の疑似太陽光
照射装置。 - (5)前記補正用フィルタは、透明容器の内部に水を充
填した水フィルタであることを特徴とする特許請求の範
囲第1項ないし第4項のいずれかに記載の疑似太陽光照
射装置。 - (6)特許請求の範囲第1項記載の疑似太陽光照射装置
のスペクトル調整方法であって、 前記疑似太陽光のスペクトル調整を、前記複数の白熱フ
ィラメントランプの内の少なくとも1つのスペクトル分
布調整によって行うことを特徴とする疑似太陽光のスペ
クトル調整方法。 - (7)前記白熱フィラメントランプのスペクトル分布調
整は、該白熱フィラメントランプの電圧、電流、および
周波数の少なくとも1つを制御することによって行われ
ることを特徴とする特許請求の範囲第6項記載の疑似太
陽光のスペクトル調整方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12297590A JP2862953B2 (ja) | 1990-05-15 | 1990-05-15 | 疑似太陽光照射装置およびそのスペクトル調整方法 |
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Publications (2)
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JPH0419544A true JPH0419544A (ja) | 1992-01-23 |
JP2862953B2 JP2862953B2 (ja) | 1999-03-03 |
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ID=14849214
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JP12297590A Expired - Lifetime JP2862953B2 (ja) | 1990-05-15 | 1990-05-15 | 疑似太陽光照射装置およびそのスペクトル調整方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2862953B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5671324A (en) * | 1994-10-31 | 1997-09-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Light beam heating apparatus with optical energy correction compensating for lamp electrode wear and aging |
JP2005221502A (ja) * | 2004-02-02 | 2005-08-18 | Atlas Material Testing Technology Llc | 全スペクトル校正、モニタリング、コントロールを備える促進耐候性試験装置 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102366815B1 (ko) * | 2016-07-29 | 2022-02-22 | 김선미 | 펄스자외선을 이용한 내후성 시험기 |
-
1990
- 1990-05-15 JP JP12297590A patent/JP2862953B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5671324A (en) * | 1994-10-31 | 1997-09-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Light beam heating apparatus with optical energy correction compensating for lamp electrode wear and aging |
JP2005221502A (ja) * | 2004-02-02 | 2005-08-18 | Atlas Material Testing Technology Llc | 全スペクトル校正、モニタリング、コントロールを備える促進耐候性試験装置 |
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Publication number | Publication date |
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JP2862953B2 (ja) | 1999-03-03 |
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