JPH0418727A - 縦型拡散装置 - Google Patents

縦型拡散装置

Info

Publication number
JPH0418727A
JPH0418727A JP12244390A JP12244390A JPH0418727A JP H0418727 A JPH0418727 A JP H0418727A JP 12244390 A JP12244390 A JP 12244390A JP 12244390 A JP12244390 A JP 12244390A JP H0418727 A JPH0418727 A JP H0418727A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
combustion
heater
cap
heat
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP12244390A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideo Kobayashi
秀夫 小林
Hisashi Nomura
久志 野村
Toshiki Kozu
神津 敏樹
Shuichi Nakamura
修一 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kokusai Electric Corp
Original Assignee
Kokusai Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kokusai Electric Corp filed Critical Kokusai Electric Corp
Priority to JP12244390A priority Critical patent/JPH0418727A/ja
Publication of JPH0418727A publication Critical patent/JPH0418727A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体製造装置の一つである縦型拡散装置に関
する。
〔従来技術とその課題〕
従来、内部燃焼方法によるウェット酸化と外部燃焼方法
によるウェット酸化がある。内部燃焼方法によるウェッ
ト酸化は反応管内部に■2ガスと0□ガスを導入し、ヒ
ータからの熱により点火・燃焼させるが、反応管内で燃
焼させるため、燃焼熱により均熱領域が短くなるという
課題がある。
第2図は従来装置の一例の構成を示す概略断面図である
。第2図中1はヒータ、laはヒータ発熱部、2はヒー
タ1内に挿設された石英反応管である。この石英反応管
2内に、石英キャップ3上に支持された石英ウェーハボ
ート4が搬入出可能に収設されている。
石英反応管2に石英燃焼管15が摺合せ部17で摺合せ
られ、石英燃焼管15に石英バーナ16が摺合ぜ部18
で摺合されている。この石英バーナ16には燃焼管15
内に突出する11□ガスノズル8と02ガスノズル9が
設けられている。19は焦熱リング、20は赤外線ラン
プ、21は反射板、22は水冷ジャケット、24はガス
排気管である。
石英燃焼管151石英バーナ16. H2ガスノズル8
゜0□ガスノズル9.焦熱リング19.赤外線ランプ2
0゜反射板21及び水冷ジャケット22等は外部燃焼ユ
ニット23を構成しCいる。
この従来例のように外部燃焼方法によるウェット酸化は
反応管外部に設けられた燃焼部5でH2ガスノズル8よ
り導入されたH2ガスと02ガスノズル9より導入され
た02ガスを燃焼させるので、ヒータ発熱部1aによる
均熱領域が短くなることはないが、ヒータ1の熱を点火
時に利用できないので、別に赤外線ランプ20またはヒ
ータなどの熱源1反射板21.水冷ジャケット22.焦
熱リング19等よりなる夕1部燃焼ユニット23を必要
とし、この熱源のオンオフ制御により点火、消化シーケ
ンスを行う必要があるばかりでなく、反応管2外部に燃
焼部5が設けられているので、装置が大型化すると共に
摺合せ部17 、18を設けているので、外気が外部よ
り内部にリークすることによる汚染や内部ガスが外部に
リークすることによる悪影響を防止できないだけでなく
、■2ガスと02ガスが燃焼した後のガス導入が難しく
なる等の課題がある。
本発明の目的は均熱領域を短くすることなく、ヒータの
熱を点火時に利用することにより別に赤外線ランプまた
はヒータ等の熱源を不要にし、かつ燃焼部をキャップ内
に設けることにより装置の小型化、簡略化を図り、かつ
点火、消化シーケンスを単純簡易化すると共に信頼性の
低い摺合せ部をなくして外気が外部より内部にリークす
ることによる汚染や内部ガスが外部にリークすることに
よる悪影響を防止するだけでなくLガスと02ガスが燃
焼した後のガス導入を容易にし、かつH2ガスと02ガ
スの燃焼熱をヒータ下部よりの放熱に補充してウェーハ
ボート4下部に載置されたウェーハ6の温度安定性を向
上することである。
〔課題を解決するだめの手段〕
本発明装置は上記の課題を解決し、」1記の目的を達成
するため、第1図示のようにヒータ1内に反応管2を挿
設し、この反応管2内に、キャップ3」二に支持された
ウェーハボート4を搬入出可能に収設せしめ、燃焼部5
で112ガスと02ガスを燃焼させながらヒータ1によ
りウェーハボート4に載置したウェーハ6を加熱しウェ
ーハ6のウェット酸化を行う縦型拡散装置において、キ
ャップ3内の断熱材充填部7に前記燃焼部5を設け、当
該燃焼部5に対する固定側に11゜ガス、02ガス導入
管89を設けてなる構成としたものである。
〔作 用〕
このように燃焼部5はキャップ3内の断熱材充填部7に
設けられているので、H2ガス導入管8より導入された
H2ガスと02ガス導入管9より導入された0□ガスが
ヒータ1により熱せられるキャップ3により点火され燃
焼部5内で燃焼されることになる。その結果、ヒータ1
による均熱領域が短くなることはなく、ヒータ1の熱を
点火時に利用しているので、従来、別に必要であった赤
外線ランプ20またはヒータなどの熱源を主とする外部
燃焼ユニット23が不要となり、この熱源のオンオフ制
御により点火、消化シーケンスを行う必要がなくなり、
点火、消化シーケンスが単純簡易化できることになる。
また、燃焼部5をキャップ3内の断熱材充填部7に設け
たので、装置の小型化、簡略化が図れる古共に信頼性の
低い摺合せ部がなくなるので外気が外部より内部にリー
クすることによる汚染や内部ガスが外部にリークするこ
とによる悪影響が防止できることになる。
更に112ガスと0□ガスが燃焼した後のガス導入が容
易になるばかりでなく、1(2ガスと0□ガスの燃焼熱
をヒータ下部よりの放熱に補充することによりウェーハ
ボート4に載置されたウエーノ\6の温度安定性が向上
することになる。
〔実施例〕 以下図面に基づいて本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明装置の一実施例の構成を示す概略断面図
で、1はヒータ、1aはヒータ発熱部、2はヒータ1内
に挿設された石英反応管である。この石英反応管2内に
、石英キャップ3」二に支持された石英ウェーハボート
4が搬入出可能に収設されている。
石英キャップ3内の断熱材充填部7に燃焼部5が設けら
れ、この燃焼部5に対する固定側、この実施例では石英
反応管2の下部に設けられたステンレスフランジ11に
H2ガスノズル8と02ガスノズル9が設けられている
石英キャップ3の上部には燃焼部5に連通ずるキャップ
内空洞部10が設けられ、石英反応管2のF部とステン
レスフランジ11との間及び当該ステンレスフランジ1
1と石英キャップ3の下面に固定された支持板3aとの
間にシール用0リング12が挿設されている。
13は支持板3aを介してキャップ内断熱材充填部7に
挿着された温度検出用熱電対、Hは石英反応管2の後方
部に設けられ当該反応管2の上部よりガスの導入、排気
を行うガス導入兼排気管である。
−1−記のような構成において、燃焼部5はキャップ3
内の断熱材充填部7に設けられているので、H2ガスノ
ズル8より導入された11□ガスと0□ガスノズル9よ
り導入された0□ガスがヒータ1により熱せられるキャ
ップ3により点火され燃焼部5内で燃焼されることにな
る。その結果、ヒータ1のヒータ発熱部1aによる均熱
領域が短くなることはなく、ヒータ1の熱を点火時に利
用しているので、従来、別に必要であった赤外線ランプ
20またはヒータなどの熱源を主とする外部燃焼ユニッ
ト23が不要となり、この熱源のオンオフ制御により点
火。
消化シーケンスを行う必要がなくなり、点火、消化シー
ケンスが単純簡易化できることになる。
また、燃焼部5をキャップ3内の断熱材充填部7に設け
たので、装置の小型化、簡略化が図れると共に信頼性の
低い摺合せ部がなくなるので外気が外部より内部にリー
クすることによる汚染や内部ガスが外部にリークするこ
とによる悪影響が防止できることになる。
更にH2ガスと02ガスが燃焼した後のガス導入はガス
導入兼排気管Hより行なえるので、ガス導入が容易にな
るばかりでなく、■2ガスと02ガスの燃焼熱をヒータ
下部よりの放熱に補充することによりウェーハボート4
に載置されたウェーハ6の温度安定性が向上することに
なる。
また、キャップ3の下部に設けられた温度検出用熱電対
13により温度を検出し、この検出温度信号により]1
.ガスと02ガスの点火時点の判断を行なえることにな
る。
〔発明の効果〕
上述のように本発明によれば、■燃焼部5をキャップ3
内の断熱材充填部7に設けたので、112ガスと02ガ
スをヒータ1の熱を利用して点火でき、燃焼部5内で燃
焼することができる。■ヒータ1による均熱領域が短く
なることはない。■ヒータ1の熱を点火時に利用してい
るので、従来必要であった熱源を主とする外部燃焼ユニ
ットを不要にでき、この熱源のオンオフ制御により点火
、消化シーケンスを行う必要がなくなるため、点火、消
化シーケンスを単純簡易化することができる。■燃焼部
5をキャップ3内の断熱材充填部7に設けたので、装置
の小型化、簡略化を図ることができる。■信頼性の低い
摺合せ部がなくなるので、外気が外部より内部にリーク
することによる汚染や内部ガスが外部にリークすること
による悪影響を防止することができる。■112ガスと
02ガスが燃焼した後のガス導入が容易になるばかりで
なく、H2ガスと0゜ガスの燃焼熱をヒータ下部よりの
放熱に補充できるので、ウェーハボート4の下部に載置
されたウェーハ6の温度安定性を向上することができる
等の効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明装置の一実施例の構成を示す概略断面図
、第2図は従来装置の一例の構成を示す概略断面図であ
る。 1・・・・・・ヒータ、1a・・・・・・ヒータ発熱部
、2・・・・・・石英反応管、3・・・・・・石英キャ
ップ、3a・・・・・・支持板、4・・・・・・石英ウ
ェーハボート、5・・・・・・燃焼部、6・・・・・・
ウェーハ、7・・・・・・キャップ内断熱材充填部、8
・・・・・・H2ガス導入管(ノズル)、9・・・・・
・02ガス導入管(ノズル)、10・・・・・・キャッ
プ内空洞部、11・・・・・・ステンレス製フランジ、
12・・・・・・シール用パツキン(0リング)、13
・・・・・・温度検出用素子(熱電対)、H・・・・・
・ガス導入兼排気管。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  ヒータ(1)内に反応管(2)を挿設し、この反応管
    (2)内に、キャップ(3)上に支持されたウェーハボ
    ート(4)を搬入出可能に収設せしめ、燃焼部(5)で
    H_2ガスとO_2ガスを燃焼させながらヒータ(1)
    によりウェーハボート(4)に載置したウェーハ(6)
    を加熱しウェーハ(6)のウェット酸化を行う縦型拡散
    装置において、キャップ(3)内の断熱材充填部(7)
    に前記燃焼部(5)を設け、当該燃焼部(5)に対する
    固定側にH_2ガス、O_2ガス導入管(8、9)を設
    けてなる縦型拡散装置。
JP12244390A 1990-05-11 1990-05-11 縦型拡散装置 Pending JPH0418727A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12244390A JPH0418727A (ja) 1990-05-11 1990-05-11 縦型拡散装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12244390A JPH0418727A (ja) 1990-05-11 1990-05-11 縦型拡散装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0418727A true JPH0418727A (ja) 1992-01-22

Family

ID=14835977

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12244390A Pending JPH0418727A (ja) 1990-05-11 1990-05-11 縦型拡散装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0418727A (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6869892B1 (en) 2004-01-30 2005-03-22 Tokyo Electron Limited Method of oxidizing work pieces and oxidation system
US7129186B2 (en) 2003-11-20 2006-10-31 Tokyo Electron Limited Oxidation method and oxidation system
US7304003B2 (en) 2004-03-24 2007-12-04 Tokyo Electron Limited Oxidizing method and oxidizing unit for object to be processed
JP2008060456A (ja) * 2006-09-01 2008-03-13 Tokyo Electron Ltd 被処理体の酸化方法、酸化装置及び記憶媒体
US7419550B2 (en) 2004-02-17 2008-09-02 Tokyo Electron Limited Oxidizing method and oxidizing unit of object for object to be processed
US7452826B2 (en) 2003-11-20 2008-11-18 Tokyo Electron Limited Oxidation method and oxidation system
US7605095B2 (en) 2007-02-14 2009-10-20 Tokyo Electron Limited Heat processing method and apparatus for semiconductor process
US8124181B2 (en) 2006-10-20 2012-02-28 Tokyo Electron Limited Oxidation method providing parallel gas flow over substrates in a semiconductor process
US8153534B2 (en) 2006-09-22 2012-04-10 Tokyo Electron Limited Direct oxidation method for semiconductor process

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7129186B2 (en) 2003-11-20 2006-10-31 Tokyo Electron Limited Oxidation method and oxidation system
US7452826B2 (en) 2003-11-20 2008-11-18 Tokyo Electron Limited Oxidation method and oxidation system
US6869892B1 (en) 2004-01-30 2005-03-22 Tokyo Electron Limited Method of oxidizing work pieces and oxidation system
US7419550B2 (en) 2004-02-17 2008-09-02 Tokyo Electron Limited Oxidizing method and oxidizing unit of object for object to be processed
US7674724B2 (en) 2004-02-17 2010-03-09 Tokyo Electron Limited Oxidizing method and oxidizing unit for object to be processed
US7304003B2 (en) 2004-03-24 2007-12-04 Tokyo Electron Limited Oxidizing method and oxidizing unit for object to be processed
US7926445B2 (en) 2004-03-24 2011-04-19 Tokyo Electron Limited Oxidizing method and oxidizing unit for object to be processed
JP2008060456A (ja) * 2006-09-01 2008-03-13 Tokyo Electron Ltd 被処理体の酸化方法、酸化装置及び記憶媒体
US7795158B2 (en) 2006-09-01 2010-09-14 Tokyo Electron Limited Oxidation method and apparatus for semiconductor process
US8153534B2 (en) 2006-09-22 2012-04-10 Tokyo Electron Limited Direct oxidation method for semiconductor process
US8124181B2 (en) 2006-10-20 2012-02-28 Tokyo Electron Limited Oxidation method providing parallel gas flow over substrates in a semiconductor process
US7605095B2 (en) 2007-02-14 2009-10-20 Tokyo Electron Limited Heat processing method and apparatus for semiconductor process

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0418727A (ja) 縦型拡散装置
US5234501A (en) Oxidation metod
JPS63210501A (ja) 蒸気発生方法及びその装置
TWI727233B (zh) 氧化爐
JPS626342B2 (ja)
CN101220958B (zh) 燃烧加热器及排气燃烧装置
KR100556394B1 (ko) 가스복사버너
JPH05304136A (ja) 酸化処理装置
JPH11173516A (ja) 水素ガス燃焼バーナ
JP2681113B2 (ja) 縦型酸化装置
JPH0623606B2 (ja) 燃焼装置
JP3227280B2 (ja) 熱処理装置
JP2001097781A (ja) 電気炉
JPH09232300A (ja) ファーネス用燃焼装置及び燃焼方法
JPH029234Y2 (ja)
JPH0878404A (ja) 半導体製造装置の外部燃焼装置
JPH0545402U (ja) 水素燃焼式水蒸気発生装置
JPS62185329A (ja) シリコン酸化装置
KR100280541B1 (ko) 반도체 웨이퍼 산화막형성장치의 번 튜브 설치구조
JP2995312B2 (ja) 雰囲気加熱炉
JPS63193531A (ja) 半導体の熱酸化法
CA1239230A (en) High temperature furnace for integrated circuit manufacture
JPS6358842A (ja) 半導体製造装置
JPH01225126A (ja) 半導体ウェーハ熱処理装置
JPS60175916A (ja) 触媒燃焼式ガスバ−ナ