JPH04186127A - 測光装置の信号処理回路 - Google Patents

測光装置の信号処理回路

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Publication number
JPH04186127A
JPH04186127A JP31967090A JP31967090A JPH04186127A JP H04186127 A JPH04186127 A JP H04186127A JP 31967090 A JP31967090 A JP 31967090A JP 31967090 A JP31967090 A JP 31967090A JP H04186127 A JPH04186127 A JP H04186127A
Authority
JP
Japan
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voltage
light receiving
diode
operational amplifier
photocurrent
Prior art date
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Pending
Application number
JP31967090A
Other languages
English (en)
Inventor
Eiichi Matsuyama
松山 栄一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Exposure Control For Cameras (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、測光装置、特に2つの光信号を処理する光
学機器に好適な測光装置の信号処理回路に関するもので
ある。
〔従来の技術〕
従来2つの光信号を処理する信号処理回路は、種々提案
されている。その−例を第2図に示し説明する。
第2図において、S P D 1(Silicon P
hoto De−tector)は光信号λ1を受光す
る受光素子で、光信号λ□を光電流■、に変換する。D
lは乙の光電流11を電圧に変換するダイオードである
。A1は前記受光素子SPD、で受光した光信号λ1を
ダイオードD、で電圧変換するために使う演算増幅器で
ある。5PD2は光信号λ2を受光する受光素子で、光
信号λ2を光電流■2に変換する。
D2はこの光電流■2を電圧に変換するダイ詞−ドであ
る。A2は前記受光素子5PD2を受光した光信号λ2
をダイオードD2て電圧変換するために使う演算増幅器
である。A3ば前記2つの演算増幅iA1.A2からの
電圧出力の差を演算するための演算増幅器である。Vr
は前記2つの演算増幅器へ〇、A2に基準電圧を印加す
るための基準電圧発生回路(一定値)である。
乙のように構成された回路において、まず、光信号^1
は受光素子SPD、で受光されて、電流に変換される。
変換された光電流■□はダイオードD工に流れる。演算
増幅器A□は光電流■1がダイオードD1に流れる」:
うに接続される。光電流■、はダイオードD、で電圧に
変換され、演算増幅器A3の1つの入力となる。同様に
、光信号λ2(よ受光素子5PD2で受光されて、電流
に変換される。変換された光電流■2はダイオードD2
に流れる。演算増幅器A2は光電流■2がダイオードD
2に流れるように接続されろ。光電流1□はタイオード
D2で電圧に変換され、演算増幅器A3の他の1つの入
力となる。演算増幅器A3で2つの光電流の差を演算す
る。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の測光装置は以上のように構成されているので、各
々の演算増幅器A、、A2のオ7セ・ソト電圧が光電流
を電圧に変換するときに、変換誤差となり、真の光電流
の差が得られない乙とかがる。
つまり、演算増幅器A、、A2のそれぞれの出力は、 であり (ただし、△VA、、△VA2は演算増幅器A
1.A2のオフセ・ソト電圧、I3はダイオードの逆方
向電流)、 その差は となり、上式の()内が誤差となる。これが変換誤差と
なり、光信号が小さい場合には、測光性能が悪化するな
どの問題点があった。
乙の発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、光信号の微弱な場合でも測光精度を向上さ
せる乙とができる測光装置の信号処理回路を得ることを
目的とずろ。
〔課題を解決するための手段〕
乙のような目的を達成するために、乙の発明では、1つ
の演算増幅器を使い2つの受光素子を互いに極性を逆に
接続し、その光電流の差をダ(m−ドで電圧に変換する
ようにしたものである。
〔作用〕
この発明における2つの受光素子は、互いに逆に接続さ
れて、1つの演算増幅器の入力に印加されることから、
オフセット電圧が小さくなり、誤差が小さくなる。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図面について説明する。
第1図はこの発明による測光装置の信号処理回路の一実
施例を示す回路図である。
第1図において、第2図と同一符号のものは相当部分を
示し、受光素子5PD1と5PD2はその極性が逆に接
続されている。また、光電流を電圧に変換するダイオー
ドD2はダイオードDlとはその極性が逆に接続されて
いる。
次に、第1図に示す実施例の動作を説明する。
まず、光信号λ1の方が光信号λ2より大きい場合を考
える。光信号λ1は受光素子SPD、に入り、光電流■
、となる。光信号λ2は受光素子5PD2に入り、光電
流■2となる。光電流■。
と12の差電流Ix  I2(ただし、■、≧■2とす
る)はダイオードD1を通り、電圧に変換される。
つまり、演算増幅器A、の出力電圧■oはとなる。ここ
で、△VA、は前記演算増幅器A1のAフセツト電圧で
ある。Vrは基準電圧で一定値である。上式で明らかな
ように、従来例に比例してオフセット電圧値が少なくな
っており、その分課差として小さくなっている。
次に、光信号^1の方が光信号λ2より小さい場合を考
える。乙の場合、光電流の差電流I2−■、はダイオー
ドD2を通り、電圧に変換される。
つまり、演算増幅器A、の出力電圧■oばとなる。この
場合でも、上記と同様に従来例と比較してオフセット電
圧値が少なくなっており、その分課差として小さくなっ
ている。
〔発明の効果〕
以上説明したように、乙の発明は、演算増幅器と2つの
受光素子を互いに極性を逆に接続したので、オフセラ1
〜電圧の小さな電圧値を得ることができ、測光精度の向
上を図ることができるので、実用上の効果は極めて大で
ある。また、回路構成が簡単となり、特に集積回路に適
用した場合には製造が容易になり、社産に適し、コスト
アップを防止できるという点において極めて有効である
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による測光装置の信号処理回路の一実
施例を示す回路図、第2図は従来の測光装置の信号処理
回路の一例を示す回路図である。 図において、5PD1,5PD2は受光素子、D、、D
2はダイオード、A工は演算増幅器、Vrは基準電圧発
生回路、λ1.λ2は光信号、■oは出力電圧である。 なお、各図中の同一符号は同一または相当部分を示す。 −Cシ 〉 手続補正帯(自発) 3.補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所    東京都千代田区丸の内二丁目2番3号名
 称  (601)三菱電機株式会社代表者 志 岐 
守 哉 4、代理人 5、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄および図面6、補正の内
容 (1)  明細書の第3頁19行の「ことがかる。」を
、「ことがある。」と補正する。 (2)同しく第6頁10行の「比例」を、「比較」と補
正する。 (3)  図面中、第1図を別紙のように補正する。 以」二

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  2つの物体からの光信号を測定する測光装置において
    、1つの物体からの光信号を受光して光電変換する第1
    の受光素子と、他の1つの物体からの光信号を受光して
    光電変換する第2の受光素子と、前記第1、第2の受光
    素子の極性を逆にして並列に接続し、その入力に印加さ
    れる光情報信号を増幅する演算増幅器と、前記第1、第
    2の受光素子よりその光電流を電圧に変換するダイオー
    ドと、前記演算増幅器に加える基準電圧発生器とを具備
    したことを特徴とする測光装置の信号処理回路。
JP31967090A 1990-11-20 1990-11-20 測光装置の信号処理回路 Pending JPH04186127A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005338062A (ja) * 2004-04-05 2005-12-08 Pmd Technologies Gmbh 信号処理技術
CN102937479A (zh) * 2012-11-15 2013-02-20 北京昆腾微电子有限公司 光强检测电路和方法
JPWO2014156336A1 (ja) * 2013-03-27 2017-02-16 日本電気株式会社 光受信回路

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CN102937479A (zh) * 2012-11-15 2013-02-20 北京昆腾微电子有限公司 光强检测电路和方法
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