JPH04179005A - 撚線導体の素線絶縁処理レベル判定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電カケープル用撚線導体の素線絶縁処理レベ
ルを判定する方法に関するものである。

〔従来技術〕

電力需要の増大にともない、電カケープル用の導体は一
層大サイズ化される傾向にある。このような大サイズ導
体においては、表皮効果により交流実効抵抗が増大する
ため、導体断面積の増加の割には送電容量が増加しない
という問題がある。

これを解決するため、電カケープルの導体（撚線導体）
を構成する各素線の表面に絶縁被膜を形成した素線絶縁
導体が出現し、効果をあげている。

素線絶縁処理の方法としては、撚り合わせ後の導体ある
いは撚り合わせ後圧縮成形したセグメント導体を、酸化
処理液に浸漬する方法（湿式法）や、酸化雰囲気ガス中
で処理する方法（乾式法）が−船釣である。これらの方
法は各素線の表面に絶縁性酸化被膜を形成するものであ
るが、このほかエナメル被覆された素線を撚り合わせる
方法もある。

従来、これらの素線絶縁処理を施した撚線導体について
素線絶縁処理レベルを判定する場合には、撚線導体の外
観を目視することによる評価が一般的であった。

〔課題〕

しかしながら従来の素線絶縁処理レベル判定方法には次
のような問題があり、その解決が求められていた。まず
第一の問題点は、素線絶縁処理の良否の判定が最外層素
線の外観に基づいているため、内層素線の絶縁処理レベ
ルについては最外層素線の判定を基に経験的に判断せざ
るを得ないということである。内層素線の絶縁処理レベ
ルについては撚線導体の両端部を切断して解体すること
により観察することもできるが、両端部以外の部分につ
いてはやはり経験的な判断に頼らざるを得ない。また第
二の問題点は、外観の観察を人の目で行うため、個人差
があり、またその判定言己緑も一定間隔毎に記録するし
かなく、連続的かつ定量的な品質データが得られないと
いうことである。

〔課題の解決手段〕

本発明は、かかる現状に鑑み、素線絶縁処理を施された
撚線導体の内部を含めた絶縁処理レベルを、撚線導体を
解体することなく、かつ連続的に評価できる方法を提供
することを目的とする。

この目的を達成するため本発明は、素線絶縁処理を施し
た撚線導体内に高周波電流を誘起させ、その誘起電流の
大きさに応じた物理量を測定し、その測定値によって素
線絶縁処理レベルを判定するようにしたものである。

〔作用〕

素線絶縁処理を施した撚線導体には、その導体を構成す
る個々の素線に絶縁ＷｗＩが形成されているため、その
撚線導体に高周波磁界を印加する等の手段により内部に
高周波電流を誘起させると、誘起電流は個々の素線に流
れる。これに対し素線絶縁処理を施してない撚線導体で
は、誘起電流は撚線導体の最外層素線および素線間のご
く表面にしか流れない。このため同一出力の高周波電流
誘起器を使用しても、素線絶縁処理導体と、そうでない
導体とでは誘起される電流の大きさが大きく異なる。ま
た素線絶縁処理の不完全な導体ではその中間の傾向があ
られれる。したがって誘起電流の大きさに応じた物理量
（温度、電流、インピーダンス等）を測定することによ
って、素線絶縁処理の良否を判定することが可能である
。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する
。

図−１は本発明の一実施例を示す。この方法は、供給ド
ラム１から引き出された素線絶縁処理済みの撚線導体２
を、引取り機３で一定の速度で引き取り、巻取りドラム
４に巻き取るラインに、撚線導体２の誘導加熱器５を設
置すると共に、誘導加熱器５の出口に温度検出器６を設
置して、撚線導体２の温度を測定するものである。

誘導加熱器５で撚線導体２内に高周波電流を誘起させた
場合、素線絶縁処理レベルが高ければ個々の素線に電流
が誘起されるため、全体としての発熱量は多くなり、撚
線導体２の温度上昇は大きくなるが、素線絶縁処理レベ
ルが低ければ、表皮効果により撚線導体２の内部に誘起
される電流が少なくなるため、全体としての発熱量は少
なく、撚線導体２の温度上昇は小さくなる。したがって
撚線導体２の温度を測定すれば、その温度から素線絶縁
処理レベルを判定することができる。

以下、この方法による実験結果を説明する。断面積２５
００ｍｍ’の５分割導体を製造するため、素線として直
径３゜４ｍｍの銅線を用い、全体で５層（中心線も１層
と数える）からなる断面積５００ｍｍ’のセグメント撚
線導体を製造した。

次にこの撚線導体を長さ３０ｍで４本に切断し、Ａ−Ｄ
の４本のサンプルを得た。Ａは乾式法（特公昭６０−３
１０４７号公報記載の方法）によって所定の時間だけ素
線絶縁処理し、素線絶縁導体とした。

ＥＳＣはそれぞれ素線絶縁処理時間をへの２７３．１／
２として素線絶縁導体とした。Ｄは素線絶縁処理を施さ
ないものとした。

上記４本の導体を、出力を一定（３３０Ｌ　１０＾）と
した誘導加熱器に、一定線速（２，４５ｍ／分）で通過
させ、通過直後の導体温度を測定した。使用した誘導加
熱器は、周波数９Ｋ）ｔｚ、コイル径５１ｍｍφ、巻数
１３ターンのものである。また温度の測定には熱電対式
で接触式のものを用いた。また温度測定後、各導体を解
体し、各層の素線の絶縁被膜厚を測定した。以上の結果
を表−１に示す。

以上の結果から明らかなように、絶縁被膜が厚いほど、
誘起された高周波電流による温度上昇が大きくなるため
、導体の温度を測定することにより絶縁処理の良否を判
定することができる。

図−２は本発明の他の実施例を示す。この方法は、一定
線速で走行する素線絶縁処理済みの撚線導体２を誘導加
熱器（高周波電流誘起器）５に通し、誘導加熱器５によ
り撚線導体２に誘起された高周波電流を検出コイル７に
よって検出し、その検出値によって素線絶縁処理レベル
を判定するものである。

図−３の方法は本発明のさらに他の実施例を示す。この
方法は、素線絶縁処理された撚線導体２を一つのりアン
タンスとみなし、撚線導体２が誘導加熱器５を一定線速
で通過するときに、インダクタンス測定器８によって誘
導加熱器５のインダクタンスを測定し、その測定値が素
線絶縁処理レベルにより変動することを利用して素線絶
縁処理レベルを判定するものである。

なお以上の実施例では、素線絶縁処理された撚線導体を
供給ドラムから引き出して、つまりバッチ処理方式で素
線絶縁処理された撚線導体について、絶縁処理レベルの
判定を行う場合を説明したが、本発明はこれに限られる
ものではなく、素線絶縁処理と、素線絶縁処理レベルの
測定とをタンデムで行うことも可能である。この場合は
、供給ドラムから絶縁処理前の撚線導体を引出し、それ
を予備加熱した後、絶縁処理槽に通して素線絶縁処理を
施し、その後、乾燥器に通して乾燥してから、誘導加熱
器に通し、高周波電流を誘起させるという方法をとるこ
とができる。上記絶縁処理槽は例えば上半分が０２とＮ
Ｈ，が混合された酸化性ガス雪囲気で、下半分が上記ガ
スの水溶液となっており、撚線導体はその水溶液中を通
過する構造のものである。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、素線絶縁処理され
た撚線導体の内部を含めての素線絶縁処理レベルを、撚
線導体を解体することなく、連続的かつ定量的に評価す
ることが可能となり、その工業的価値は極めて大である
。

【図面の簡単な説明】

図−１ないし図−３はそれぞれ本発明に係る撚線導体の
素線絶縁処理レベル判定方法の実施例を示す説明図であ
る。 ２：素線絶縁処理された撚線導体 ３：引取り機 ５：誘導加熱器（高周波電流誘起器） ６：温度検出器 ７：高周波電流検出用のコイル ８：インダクタンス測定器

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、素線絶縁処理を施した撚線導体内に高周波電流を誘
   起させ、その誘起電流の大きさに応じた物理量を測定す
   ることを特徴とする撚線導体の素線絶縁処理レベル判定
   方法。