JPH0417511A

JPH0417511A - 試験用電源装置の点検回路

Info

Publication number: JPH0417511A
Application number: JP2118595A
Authority: JP
Inventors: Kenji Shimamura; 健二島村
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1990-05-10
Filing date: 1990-05-10
Publication date: 1992-01-22

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の目的］（産業上の利用分野）この発明は試験用電源装置の供試体保護機能を確認する
ための点検回路に関する。

（従来の技術）一般に重要な供試体を試験するための電源装置は、電源
の故障により供試体を破損させることかないよう、定電
圧、定電流機能及び過電圧、過電流検知による遮断機能
等を有する保護回路を備えている。但し、供試体の試験
を行う前に電源装置内の保護回路機能を確認するために
は、供試体の代わりに点検回路を外部接続する必要かあ
る。

第４図にその構成を示す。

第４図において、１１は試験用電源装置、１２は電源、
１３は保護回路、１４は点検回路である。点検回路１４
は、電源装置１１の出力端間に抵抗を介在してなる電圧
設定回路１５と、電源装置】１の出力端間に並列抵抗を
介在してなる電流設定回路１６と、両回路を切換選択す
るスイッチ１７とで構成される。すなわち、この点検回
路１４はスイッチ１７を開放、短絡することにより、第
５図の負荷直線Ａ、Ｂを切換え、直線Ａの定電圧領域に
おいて保護回路１３の定電圧、過電圧の設定を行い、直
線Ｂの定電流領域において保護回路１３の定電流、過電
流の設定を行い得るものである。

しかしながら、上記のような従来の点検回路では、回路
内で発生する熱量が第５図の７１ツチングの面積で示さ
れるＱ＾またはＱＢであり、実負荷となる供試体の発熱
量と等価である。このため、大規模な供試体用の電源装
置に対しては、耐大電力であることが要求され、高価で
あると共に発熱量が大きいため電源装置内に内蔵するこ
とは不可能で、外部に接続することか要求される。特に
重要な供試体の場合、電源装置内の保護回路の動作を供
試体試験の度に事前に確認することが要求されるので、
外部接続の場合には供試体が代わる度に点検回路を接続
しなければならず、試験効率が悪い。尚、第５図におい
て、ｖｏｖは過電圧リミット、Ｖｃｖは定電圧値、ＩＯ
Ｃは過電流リミット、ＩＣＣは定電流値である。

（発明が解決しようとする課題）以上述べたように従来の試験用電源装置の点検回路では
、耐火電力、耐高発熱の要求によって高価になると共に
、外部接続装置となるため点検の度にまた供試体交換の
度に接続し直さなければならず、作業性が極めて悪いも
のであった。

この発明は上記の問題を解決するためになされたもので
、低電力、低発熱で動作し、電源装置に内蔵可能で、作
業性が極めて良好な試験用電源装置の点検回路を提供す
ることを目的とする。

［発明の構成］（課題を解決するための手段）上記目的を達成するためにこの発明に係る試験用電源装
置の点検回路は、電源発生源の出力を過電圧、過電流で
遮断する保護回路を介して供試体に定電圧または定電流
の少なくとも一方を供給する試験用電源装置の保護回路
動作点検に用いられる試験用電源装置の点検回路におい
て、前記保護回路の出力端間に選択スイッチにより開放
負荷及び短絡負荷のいずれか一方を選択接続するように
したことを特徴とする。具体的には、前記開放負荷は高
抵抗であり、前記短絡負荷は低抵抗であることを特徴と
する。

（作用）上記構成による試験用電源装置の点検回路では、保護回
路の定電圧、過電圧の設定を行う場合には、選択スイッ
チで開放負荷を選択接続し、電流を流さないようにする
。このとき電力の発生はほとんど生じない。一方、保護
回路の定電流、過電流の設定を行う場合には、選択スイ
・ソチで短絡負荷を選択接続し、電圧を生じないように
する。

このときも電力の発生はほとんど生じない。よって点検
回路は、極めて低電力で動作し、発熱もほとんどなく、
小型、軽量にして安価に製造することができるようにな
り、電源装置内に内蔵することも可能となる。

（実施例）以下、第１図乃至第３図を参照してこの発明の一実施例
を説明する。

第１図は第４図に示した試験用電源装置１１に対し、こ
の発明に係る点検回路２１を接続した場合の構成を示す
ものである。この点検回路２１は開放負荷２２と短絡負
荷２３を備え、切替スイッチ２４によりいずれかの負荷
を選択して電源装置１１の出力端間に接続するようにし
たものである。

上記構成において、保護回路１３の定電圧、過電圧の設
定を行う場合には、切替スイッチ２４で開放負荷２２側
を選択接続する。このときの負荷直線は第２図のＣのよ
うになり、はとんど電流が流れない。このため、電力の
発生が生じない。一方、保護回路１３の定電流、過電流
の設定を行う場合には、切替スイッチ２４で短絡負荷２
３側を選択接続する。

このときの負荷直線は第２図のＤのようになり、はとん
ど電圧か発生しない。このため、電力の発生か生じない
。

したかって、上記構成による点検回路は、極めて低電力
で動作するので、発熱もほとんとなく、小型、軽量にし
て安価に製造することができ、電源装置１１内に内蔵す
ることも可能となる。

尚、上記実施例において、開放負荷２２を高抵抗、短絡
負荷２３を低抵抗で構成しても、電力の発生を許容範囲
に抑えることができ、しかも電源装置１１の動特性をも
確認することができる。さらに、定電圧、過電圧リミッ
トの設定回路、定電流、過電流リミットの設定回路及び
その設定手順を含めた応用回路を第３図に示す。

第３図において、３１は試験用電源装置、３２は供試体
である。試験用電源装置３１は電源発生回路（Ｐ、　　
Ｓ、　）　３１ａ　、電圧・電流設定回路３１ｂ１保護
回路３１Ｃ１点検回路３１ｄ１出力切換回路３１ｅで構
成され、端子３１ｆ　、　３１ｇか電源出力用、３１ｈ
３１ｉかリモートセンシング用となっている。尚、図中
ＯＶＴはオーバー・ボルテージ・テスト、ＯＣＴはオー
バー・カレント・テスト、ＣＣはコンスタント・カレン
ト、Ｃ■はコンスタント・ボルテージ、ＬＶはロー・ボ
ルテージの略である。

電源発生回路３１ａの発生電圧、発生電流は電圧・電流
設定回路３１ｂによって設定される。この回路３１ｂは
可変抵抗Ｒ□ｖＴ、　Ｒ（ｖ、抵抗ＲＬｖ、スイッチＳ
。ＶＴ　＋　　Ｓ　ＬＶにより電圧制御回路ｂ１を構成
し、可変抵抗Ｒ８ＣＴ　＋　ＲＣＣ及びスイ、ツチＳ。

Ｃ□（こより電流制御回路ｂ２を構成している。

保護回路３１ｃは電流出力ラインに電流計（Ａ）ｃｌを
介在させ、二の電流計Ｃ３の出力値を過電流検出回路（
ＯＣＤ）Ｃ２てモニタしている。また、電圧出力ライン
間に電圧計（Ｖ）Ｃ３及び過電圧検出回路（ＯＶ　Ｄ　
）　ｃ　４を並列接続している。

そして、０ＣＤｃ２，０ＶＤＣ４て過電流、過電圧か検
出されると、電磁コイルＫに駆動信号が出力され、これ
によって電流出力ラインに介在させたリレースイッチ５
５０がオフとなり、供試体３２の電源供給が遮断される
。

点検回路３１ｄは連動する２つの選択スイ・ソチｄ、、
ｄ２　（合わせてＳＬＤとする）を用いて、ＯＰＲ選択
時には電力ライン、センシングラインをそれぞれ供試体
３２に接続状態とし、ｖｃＡＬ選択時には各ラインを高
抵抗Ｒ６ＡＬ２に接続し、ＣＣＡＬ選択時には各ライン
を低抵抗Ｒ６ＡＬｌに接続するようになっている。出力
切換回路３１ｅは連動する２つの選択スイッチｅ１．ｅ
２　１わせてＳｓｓとする）を用いてリモートセンシン
グ（ＥＸＴ）　、ローカルセンシング（ＩＮＴ）のいず
れか一方を選択可能とするものである。

上記回路装置における供試体試験前の点検設定を説明す
る。

定電圧値を設定する場合、Ｓ　Ｏｖ７をオン、ＳＬＶを
オフ、ＳＬＤをＶ。ＡＬ選択とした後、電圧計０３をモ
ニタしながらＲｅｖを上げて設定する。

過電圧リミットを設定する場合、Ｓ　Ｏｖ７をオフ、Ｓ
ＬＶをオフ、ＳＬＤを■。ＡＬ選択とした後、電圧計ｃ
３をモニタしなからＲ６Ｖ工を上げてリミット値に設定
し、次に過電圧検出回路Ｃ４の基準値を下げて行き、リ
レースイッチＳＳＯがシャットアウトした時点で止める
。

定電流値を設定する場合、Ｓ　ＯＣＴをオン、ＳＬＤを
ＣＣＡＬ選択とした後、電流計Ｃ１をモニタしなからＲ
６Ｃを上げて設定する。

過電流リミットを設定する場合、Ｓ　ＯＣＴをオフ、Ｓ
５．）をＣ６ＡＬ選択とした後、電流計Ｃ２をモニタし
なからＲ８Ｃ工を上げてリミット値に設定する。

次に過電流検出回路Ｃ２の基準値を下げて行き、リレー
スイッチＳＳＯかシャットアウトした時点で止める。

以上の設定により、保護回路の動作を確認し、供試体３
２への定電圧出力、定電流出力を設定し、かつ保護回路
の動作を確認することができる。この場合、点検回路３
１ｄは低電力、低発熱で動作し、しかも小型軽量なので
電源装置３１内に収めることができ、これによって従来
のように供試体の交換毎に点検回路を接続し直す必要は
なく、極めて点検作業か容易となり、効率向上を図るこ
とかできる。

［発明の効果］以上のようにこの発明によれば、低電力、低発熱で動作
し、電源装置に内蔵可能で、作業性か極めて良好な試験
用電源装置の点検回路を提供することかできる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係る試験用電源装置の点検回路の一
実施例を示すブロック回路図、第２図は同実施例の設定
動作を説明するための特性図、第３図はこの発明に係る
点検回路を内蔵した試験用電源装置の具体的な構成を示
す回路図、第４図は従来の試験用電源装置の点検回路の
構成を示すブロック回路図、第５図は第４図の従来回路
の設、１定動作を説明するための特性図である。１１・・・試験用電源装置、１２・・・電源、１３・・
・保護回路、１４・・・点検回路、１５・・・電圧設定
回路、１６・・・電流設定回路、１７・・・スイッチ、
２１・・・点検回路、２２・・・開放負荷、２３・・・
短絡負荷、２４・・・切替スイッチ、３１・・・試験用
電源装置、３１ａ・・・電源発生回路（Ｐ、Ｓ、）、３
１ｂ・・・電圧・電流設定回路、３１ｃ・・・保護回路
、３１ｄ・・・点検回路、３］ｅ・・・出力切換回路、
ｂｌ・・・電圧制御回路、ｂ２・・・電流制御回路、Ｃ
３・・・電流計（Ａ）　　Ｃ２・・・過電流検出回路（
ＯＣＤ）Ｃ９・・電圧計（Ｖ　）　　ｃ　＜・・・過電
圧検出回路（ＯＶＤ）　　Ｋ・・・電磁コイル、リレー
スイッチＳＳＯ％　ｄ＋　ｒ　　ｄ２（ＳＬｏ）−選択
スイッチ、”ｌ＋６２　　（Ｓ　ｓｓ）・・・選択スイ
ッチ、３２・供試体。出願人代理人　弁理士　鈴江武彦

Claims

【特許請求の範囲】

（１）電源発生源の出力を過電圧、過電流で遮断する保
護回路を介して供試体に定電圧または定電流の少なくと
も一方を供給する試験用電源装置の保護回路動作点検に
用いられる試験用電源装置の点検回路において、前記保
護回路の出力端間に選択スイッチにより開放負荷及び短
絡負荷のいずれか一方を選択接続するようにしたことを
特徴とする試験用電源装置の点検回路。
（２）前記開放負荷は高抵抗であり、前記短絡負荷は低
抵抗であることを特徴とする請求項（１）記載の試験用
電源装置の点検回路。