JPH04168395A - 放射線モニタ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は放射線モニタ装置の改良に関する。

（従来の技術） 第４図は放射線モニタ装置の構成図である。

半導体放射線検出器１には半導体センサ２が設けられて
いる。この半導体センサ２の近傍には放射線源（バグソ
ース）３が設けられている。そして、この半導体センサ
２から出力されたパルス信号は増幅器４により増幅され
ケーブル５を通して監視装置６に送られる。

この監視装置６には波高弁別部７及び対数計数率変換部
８が接続されて設けられ、この対数計数率変換部８に比
較部９、指示計１０及び記録計１１が接続されている。

なお、比較部９の他端には下限設定部ｉ２が接続されて
いる。

かかる構成であれば、半導体センサ２に放射線が入射す
ると、この半導体センサ２は放射線を検知して電気パル
ス信号を発生する。このパルス信号は増幅器４により増
幅され、ケーブル５を通して波高弁別部７に送られる。

この波高弁別部７はパルス信号を波高弁別してノイズ等
をカットして対数計数率変換部８に送る。この対数計数
率変換部８はパルス信号を計数してこの計数率値を対数
値に変換し、この対数値に比例した直流電圧信号を発生
する。この直流電圧信号は比較部９、指示計１０及び記
録計１１に送られる。比較部９は直流電圧信号と放射線
測定範囲の下限値を示す下限電圧信号と比較し、直流電
圧信号が下限電圧信号よりもレベルが低下するとモニタ
異常アラーム信号Ｇを出力する。これにより、半導体放
射線検出器１の故障及びケーブルらの断線等の発生が検
知される。これとともに放射線レベルが指示計１０によ
り指示されるとともに記録計１１において記録される。

ところで、放射線モニタ装置は各測定場所における放射
線レベルが異常に高くなった場合にこれを検知し、危険
を報知する目的で設置されているものが多い。このため
、測定範囲は通常時の放射線レベルよりも比較的高く設
定する必要がある。

ところが、測定場所によっては通常時の放射線レベルが
測定範囲下限値よりも低下する場合が生じる。

この対策として半導体放射線検出器１にバグソース３が
設けられる。このバグソース３は放射線を放射して半導
体センサ２により検知される放射線レベルが放射線測定
範囲の下限値以下としないように防止している。

しかしながら、バグソース３は取扱が非常に面倒であり
、又バグソース３により放射線レベルを強制的に高くす
るので、実際の放射線レベルを測定できない。例えば、
第５図に示すように放射線レベルが１（ｍＳＶ／ｈ）〜
のときに対数値に比例した直流電圧信号が０（■）〜で
対応する場合、放射線レベルが１　（ｍＳＶ／ｈ）より
低いａであると、直流電圧信号は０（ｖ）以下となって
正常であるにも拘らずモニタ異常アラームＧが発生する
。このため、バグソース３により放射線レベルがｂに高
められる。

（発明が解決しようとする課題） 以上のようにバクソース３の取扱が非常の面倒であり、
又実際の放射線レベルが測定できない。

そこで本発明は、バクソースを使用せずに実際の放射線
レベルを測定できる放射線モニタ装置を提供することを
目的とする。

［発明の構成コ （課題を解決するための手段） 本発明は、放射線センサと、この放射線センサに低周波
数で光量が変化する光を照射する光照射手段と、放射線
センサの出力パルス信号から高周波数成分を分離する周
波数分離手段と、この周波数分離手段により分離された
高周波パルス信号を波高弁別した後に対数変換し、この
対数変換値から放射線レベルをモニタする監視手段と、
放射線センサの出力パルス信号から放射線センサの異常
を判別する判別手段とを備えて上記目的を達成しようと
する放射線モニタ装置である。

（作用） このような手段を備えたことにより、放射線センサには
光照射手段により低周波数で光量が変化する光が照射さ
れ、このときの放射線センサの出力パルス信号のうち高
周波数成分が周波数分離手段により分離される。この分
離された高周波パルス信号は監視手段により波高弁別さ
れた後に対数変換され、この対数変換値から放射線レベ
ルがモニタされ、又放射線センサの出力パルスは判別手
段に送られて放射線センサの異常が判別される。

（実施例） 以下、本発明の第１実施例について図面を参照して説明
する。なお、第４図と同一部分には同一符号を付してそ
の詳しい説明は省略する。

第１図は放射線モニタ装置の構成図である。

半導体放射線検出器２０には発光ダイオード（ＬＥＤ）
２１が備えられ、この発光タイオード２１は電源回路２
２に接続されている。この電源回路２２は第２図（ａ）
に示すように比較的低い周波数で出力電圧レベルＶが増
減するものである。

なお、この電圧Ｖは、 ■−（１／２）・Ｖｏ・（ｓｉｎωｔ＋１）で表される
。又、半導体センサ２と増幅器４との間にはコンデンサ
２３が接続されるとともに、半導体センサ２とコンデン
サ２３との間には同期検波回路２４が接続されている。

このコンデンサ２３は半導体センサ２の出力パルス信号
から高周波数成分を分離する作用を有している。又、同
期検波器回路２４は電源回路２２に同期して検波を行う
機能を有している。そして、この同期検波回路２４の検
波出力は監視装置３０の判別回路２５に送られている。

この判別回路２５は予め測定範囲の上下限レベルが設定
され、この上下限レベルと同期検波回路２４の検波出力
とを比較して検波出力レベルが上下限レベル外となった
場合に半導体センサ２の故障を検知判別する機能を有し
ている。

次に上記の如く構成された装置の作用について説明する
。

発光ダイオード２１には電源回路２２から第２図（ａ）
に示す変動の電圧■が供給される。これにより発光ダイ
オード２１は同図（ｂ）に示す変動で光量が変化する。

この光量変化ｉは ｉ＝　（１／２）　　◆Ｉｏ　φ　（ｓｉｎωｔ＋１）
に従う。

このように半導体センサ２に光が照射されると、この半
導体センサ２は光子を検知して受光量に応じたパルス信
号を発生する。これとともに半導体センサ２には放射線
が入射するので、半導体センサ２は放射線を検知してそ
の放射線レベルに応じたパルス信号を発生する。従って
、放射線センサ２は両パルス信号を重ね合わせて出力す
る。この場合、光子を検知して発生したパルス信号は電
源回路２２の出力周波数に従って低周波数であり、放射
線を検知して発生したパルス信号は高周波数である。

半導体センサ２から出力されたパルス信号はコンデンサ
２３に送られることにより、このパルス信号のうち高周
波数成分のみ通過する。そして、この高周波数成分のパ
ルス信号は増幅器４により増幅され、ケーブル５を通っ
て波高弁別部７に送られる。この波高弁別部７は上記同
様にパルス信号を波高弁別してノイズ等をカットして対
数計数率変換部８に送る。この対数計数率変換部８はパ
ルス信号を計数してこの計数率値を対数値に変換し、こ
の対数値に比例した直流電圧信号を発生する。この直流
電圧信号は比較部９、指示計１０及び記録計１１に送ら
れる。比較部９は直流電圧信号と放射線測定範囲の下限
値を示す下限電圧信号と比較し、直流電圧信号が下限電
圧信号よりもレベルが低下するとモニタ異常アラーム信
号Ｇを出力する。

又、半導体センサ２から出力されたパルス信号は同期検
波回路２４により電源回路２２の周波数に同期して検波
される。この同期検波回路２４の検波出力は監視装置３
０の判別回路２５に送られ、この判別回路２５は同期検
波回路２４の検波出力レベルと上下限レベルとを比較す
る。この比較の結果、検波出力レベルが上下限レベル外
となった場合、判別回路２５はモニタ異常アラームＳを
出力する。

このように上記第１実施例においては、半導体センサ２
に発光ダイオード２１から放射された低周波数で光量が
変化する光が照射され、このときの半導体センサ２の出
力パルス信号のうち高周波数成分がコンデンサ２３によ
り分離されて監視装置３０に送られ、又半導体センサ２
の出力パルスが同期検波された後に判別回路２５に送ら
れて半導体センサ２の異常が判別される構成としたので
、従来使用したバグソースが全く不要となり発光ダイオ
ード２１及び電源回路２２による簡単な構成でかつ取扱
いが非常に容易となる。又、発光ダイオード２１の発光
強度はこのダイオード２１に流す電流をコントロールし
たり、又発光ダイオード２１に半透過膜等を張り付けて
調整すればよく、バグソースを個別に取り替えるような
煩雑さはない。

又、波高弁別とは別系統によりモニタ異常アラームＳを
検知する構成なので、放射線レベルの測定範囲を狭くす
ることなく測定できる。従って、実際の放射線レベルを
指示計１０に指示できるとともに記録計１１に記録でき
る。

又、半導体センサ２の故障ばかりでなく半導体放射線検
出器２０内の電子回路の故障検知やケーブル５の断線検
知ができる。

次に本発明の第２実施例について第２図に示す構成図を
参照して説明する。なお、第１図と同一部分には同一符
号を付してその詳しい説明は省略する。

半導体放射線検出器４０には発光ダイオード２１が備え
られ、又監視装置５ｏには周波数可変の電源回路５１が
備えられている。そして、これら発光ダイオード２１と
電源回路５１とはスイッチ５２を介して接続されている
。

かかる構成であれば、発光ダイオード２１の光量変化の
周波数を任意に可変することによって半導体センサ２の
動作チエツクができるとともに一定の光量を半導体セン
サ２に照射することにより半導体センサ２の出力信号レ
ベルを高めることができる。

なお、本発明は上記各実施例に限定されるものでなくそ
の要旨を変更をしない範囲で変形してもよい。例えば、
同期検波回路２４は監視装置３゜に設けてもよい。

［発明の効果］ 以上詳記したように本発明によれば、バクソースを使用
せずに実際の放射線レベルを測定できる放射線モニタ装
置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第２図は本発明に係わる放射線モニタ装置の
第１実施例を説明するための図であって、第１図は構成
図、第２図は光源の作用を説明するための図、第３図は
本発明に係わる放射線モニタ装置の第２実施例を示す構
成図、第４図は従来装置の構成図、第５図は同装置の測
定作用を示す図である。 ２・・・半導体センサ、４・・・増幅器、５・・・ケー
ブル、７・・・波高弁別部、８・・・対数計数率変換部
、９・・・比較部、１０・・・指示計、１１・・・記録
計、１２・・・下限値設定部、２１・・・発光ダイオー
ド、２２・・・電源回路、２３・・・コンデンサ、２４
・・・同期検波回路、２５・・・判別回路。 出願人代理人　弁理士　鈴江武彦

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 放射線センサと、この放射線センサに低周波数で光量が
   変化する光を照射する光照射手段と、前記放射線センサ
   の出力パルス信号から高周波数成分を分離する周波数分
   離手段と、この周波数分離手段により分離された高周波
   パルス信号を波高弁別した後に対数変換し、この対数変
   換値から放射線レベルをモニタする監視手段と、前記放
   射線センサの出力パルス信号から前記放射線センサの異
   常を判別する判別手段とを具備したことを特徴とする放
   射線モニタ装置。