JPH0416801A - 半透鏡 - Google Patents
半透鏡Info
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- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 2
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Landscapes
- Optical Filters (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は半透鏡、特に広い測定波数域をカバーする半透
鏡の改良に関する。
鏡の改良に関する。
[従来の技術]
フーリエ変換分光光度計等に用いられる三光束干渉計に
は、一般に半透鏡が用いられている。
は、一般に半透鏡が用いられている。
第5図には一般的な三光束干渉計の概略構成が示されて
いる。
いる。
同図に示す三光束干渉計は、光源1oと、半透鏡12と
、固定鏡14と、走査鏡16とを含む。
、固定鏡14と、走査鏡16とを含む。
そして、光源10よりの入射光18に対して前記半透鏡
12は45度傾いて配置されている。該半透鏡12は、
入射光18の一部を透過光2oとして走査鏡16に導光
し、また入射光18の一部を反射光22として固定鏡1
4に導光する。
12は45度傾いて配置されている。該半透鏡12は、
入射光18の一部を透過光2oとして走査鏡16に導光
し、また入射光18の一部を反射光22として固定鏡1
4に導光する。
そして、前記固定@14及び走査鏡16からの反射光は
再度半透鏡12に入射し、各鏡1416からの光の干渉
光24が所望の測定系に導光される。
再度半透鏡12に入射し、各鏡1416からの光の干渉
光24が所望の測定系に導光される。
ここで、前記走査鏡16を矢印1方向(透過光20と平
行方向)に移動させると、干渉光24の干渉状態が変化
するため、反射鏡16の位置を正確に測定することがで
き、また反射鏡16を例えば光ディスク等のサンプルと
することにより、薄膜厚の測定等を行なうことができ、
更に該干渉光をフーリエ変換することによって分光スペ
クトルを得ることができる。
行方向)に移動させると、干渉光24の干渉状態が変化
するため、反射鏡16の位置を正確に測定することがで
き、また反射鏡16を例えば光ディスク等のサンプルと
することにより、薄膜厚の測定等を行なうことができ、
更に該干渉光をフーリエ変換することによって分光スペ
クトルを得ることができる。
なお、前記半透鏡12は通常極めて薄い膜であるため、
臭化カリウムKBr、 フッ化カルシウムCaF2、水
晶、ガラスなとからなる基板26上に載置され、半透鏡
の光学的特性を補償する補償板28と該基板26により
挟持されている。
臭化カリウムKBr、 フッ化カルシウムCaF2、水
晶、ガラスなとからなる基板26上に載置され、半透鏡
の光学的特性を補償する補償板28と該基板26により
挟持されている。
[発明が解決しようとする課題]
ところで、一般に半透鏡の高い実効効率を持つ領域は、
該半透鏡に蒸着された光学材料の光学定数に依存し、通
常一種類の半透鏡では比較的狭い波数域でしか高い効率
を得ることかできない。
該半透鏡に蒸着された光学材料の光学定数に依存し、通
常一種類の半透鏡では比較的狭い波数域でしか高い効率
を得ることかできない。
すなわち、第6図にも示すように、従来の半透鏡ては高
効率の領域はある特定の波数領域に限られ、例えば光学
材料Aの薄膜半透鏡を用いた場合には図中点線で示すよ
うにσ、〜σ2cm−’、光学材料Bの薄膜半透鏡を用
いた場合には図中実線で示すように68〜64cm−1
の範囲でしか高効率を維持できない。
効率の領域はある特定の波数領域に限られ、例えば光学
材料Aの薄膜半透鏡を用いた場合には図中点線で示すよ
うにσ、〜σ2cm−’、光学材料Bの薄膜半透鏡を用
いた場合には図中実線で示すように68〜64cm−1
の範囲でしか高効率を維持できない。
一方、測定対象となる試料には、測光波数域の広い測定
が必要になるものも少なくない。
が必要になるものも少なくない。
このため従来においては、三光束干渉計の半透鏡は広い
測定波数域をカバーするために様々な種類のものを組合
わせて使用し、特に赤外波数域にあっては比較的広い波
数にわたって測定しようとすると、測定波数域に対応し
て異なる光学材料よりなる数種類の半透鏡が必要となる
。そこで従来は広い帯域にわたる測定は半透鏡を交換し
なから行なう必要があった。しかし、干渉計の光学的最
適調整状態を保持するため、或いは装置構成の簡易化を
図る面からも半透鏡の交換はできる限り避ける必要があ
る。
測定波数域をカバーするために様々な種類のものを組合
わせて使用し、特に赤外波数域にあっては比較的広い波
数にわたって測定しようとすると、測定波数域に対応し
て異なる光学材料よりなる数種類の半透鏡が必要となる
。そこで従来は広い帯域にわたる測定は半透鏡を交換し
なから行なう必要があった。しかし、干渉計の光学的最
適調整状態を保持するため、或いは装置構成の簡易化を
図る面からも半透鏡の交換はできる限り避ける必要があ
る。
本発明は前記従来技術の課題に鑑みなされたものであり
、その目的は一枚の半透鏡て広い測光波数領域をカバー
することのできる半透鏡を提供することにある。
、その目的は一枚の半透鏡て広い測光波数領域をカバー
することのできる半透鏡を提供することにある。
[課題を解決するための手段]
前記目的を達成するために本発明にがかる半透鏡は、光
学的反射・透過特性の異なる複数種の光学材料から形成
されたことを特徴とする。
学的反射・透過特性の異なる複数種の光学材料から形成
されたことを特徴とする。
ここで、本発明にかかる半透鏡は、入射光束に対して同
心円状の幾何学的配置に光学的反射・透過特性の異なる
複数種の光学材料を位置させて形成することが好適であ
る。
心円状の幾何学的配置に光学的反射・透過特性の異なる
複数種の光学材料を位置させて形成することが好適であ
る。
また、半透鏡の鏡面の中心に対して対象に光学的反射・
透過特性の異なる複数種の光学材料を配置させることか
好適である。
透過特性の異なる複数種の光学材料を配置させることか
好適である。
また、半透鏡の鏡面にランダムに、異なる光学的反射・
透過特性を有する複数種の光学材料を配置させることが
好適である。
透過特性を有する複数種の光学材料を配置させることが
好適である。
なお、光学的反射・透過特性は、異なる光学定数を有す
る光学材料を用いること、ないし同一の光学定数を有す
る光学材料を異なる塵みて用いること等により、相違さ
せることができる。
る光学材料を用いること、ないし同一の光学定数を有す
る光学材料を異なる塵みて用いること等により、相違さ
せることができる。
[作 用]
本発明にがかる半透鏡は前述したように、−枚の半透鏡
に光学的反射・透過特性の異なる複数種の光学材料を位
置させているので、各部分によってそれぞれ効率の良い
波数域を得ることができる。
に光学的反射・透過特性の異なる複数種の光学材料を位
置させているので、各部分によってそれぞれ効率の良い
波数域を得ることができる。
このため、三光束干渉計に半透鏡を用いた場合等にも、
−の半透鏡により広い測定波数域をカバーすることが可
能となり、各波数域毎に半透鏡を交換する必要かなくな
る。
−の半透鏡により広い測定波数域をカバーすることが可
能となり、各波数域毎に半透鏡を交換する必要かなくな
る。
[実施例]
以下、図面に基づき本発明の好適な実施例を説明する。
第1図には本発明の一実施例にかかかる半透鏡が示され
ている。
ている。
本実施例においては、半透鏡112が同心円状の二分割
されており、中心部分112aに光学材料A1また円周
部分112bに光学材料Bかそれぞれ位置している。
されており、中心部分112aに光学材料A1また円周
部分112bに光学材料Bかそれぞれ位置している。
このため、第2図に示すように波数σ、〜σ4に至る広
い帯域で測定が可能となる。
い帯域で測定が可能となる。
すなわち、一般に三光束干渉計における平行平面サンド
イッチ構造の半透鏡においては、第3図に示すようにS
偏光とP偏光が生している。従って半透鏡の光学的実効
効率η。(σ)はS偏光とP偏光のそれぞれの効率η8
.η、の平均であり、自然光に対して、 η。(σ)=(η、+η9) ■と表わすこ
とができる。
イッチ構造の半透鏡においては、第3図に示すようにS
偏光とP偏光が生している。従って半透鏡の光学的実効
効率η。(σ)はS偏光とP偏光のそれぞれの効率η8
.η、の平均であり、自然光に対して、 η。(σ)=(η、+η9) ■と表わすこ
とができる。
ここで、η、、η2は半透鏡光学材料のS偏光P偏光に
対する反射率R1(σ)及び透過率T’(σ)(ただし
j=s、p)を用いて、 ηI(σ)=4RI(σ)TI(σ) (j=s、p
) ■で表わさせる。
対する反射率R1(σ)及び透過率T’(σ)(ただし
j=s、p)を用いて、 ηI(σ)=4RI(σ)TI(σ) (j=s、p
) ■で表わさせる。
例えば、単層薄膜で構成される半透鏡では(j:s、p
) θ=4πcrn+(cr)d cosi、
■nz(σ):光学定数 d :単層膜厚 11 :基板と第1境界での屈折角 RA、(σ)、基板と半透鏡膜との境界面のj偏光に対
するエネルギー反 対重 で表されることとなる。
) θ=4πcrn+(cr)d cosi、
■nz(σ):光学定数 d :単層膜厚 11 :基板と第1境界での屈折角 RA、(σ)、基板と半透鏡膜との境界面のj偏光に対
するエネルギー反 対重 で表されることとなる。
なお、理想的にはR=1/2.T=172であり、η=
4RT=1になる。
4RT=1になる。
このように、前記■及び0式より半透鏡の効率を決定す
る重要な因子はn+(σ)とdであることが理解される
。
る重要な因子はn+(σ)とdであることが理解される
。
従って、光学定数の異なる光学材料を用いるか、或いは
光学材料は同じでも厚さを異ならせることによって広い
波数領域での測定が可能となる。
光学材料は同じでも厚さを異ならせることによって広い
波数領域での測定が可能となる。
なお、光学材料としては一般にゲルマニウムGe シリ
コンSi、酸化鉄Fe20a等か用いられる。
コンSi、酸化鉄Fe20a等か用いられる。
第4図には本発明の他の実施例にかかる半透鏡が示され
ている。
ている。
同図(A)に示す半透鏡は、円形半透鏡212の中心を
軸に等形扇状に4分割して扇状部212a 212b
、212c、212dを形成し、対向する一対の扇状部
212a、212cに光学材料Aを、また扇状部212
b、212dに光学材料Bを蒸着している。この結果、
光学材料A及び光学材料Bのそれぞれの高効率の波数域
が有効に活用できる。
軸に等形扇状に4分割して扇状部212a 212b
、212c、212dを形成し、対向する一対の扇状部
212a、212cに光学材料Aを、また扇状部212
b、212dに光学材料Bを蒸着している。この結果、
光学材料A及び光学材料Bのそれぞれの高効率の波数域
が有効に活用できる。
また、同図(B)に示す半透鏡は、円形半透鏡312の
中心を軸に等形扇状に8分割して扇状部312a、31
2b、−312hを形成し、対向する一対の扇状部31
2a、312eに光学材料Aを、扇状部312b、31
2fに光学材料Bを、扇状部312c、312gに光学
材料Cを蒸着している。この結果、光学材料A、B、C
のそれぞれの高効率の波数域が有効に活用できる。
中心を軸に等形扇状に8分割して扇状部312a、31
2b、−312hを形成し、対向する一対の扇状部31
2a、312eに光学材料Aを、扇状部312b、31
2fに光学材料Bを、扇状部312c、312gに光学
材料Cを蒸着している。この結果、光学材料A、B、C
のそれぞれの高効率の波数域が有効に活用できる。
同図(C)に示す半透鏡は、円形半透鏡412を同心円
状に6分割し、各分割部412a、412b、・・・4
12fにそれぞれ光学材料A−Fを蒸着している。
状に6分割し、各分割部412a、412b、・・・4
12fにそれぞれ光学材料A−Fを蒸着している。
同図(D)に示す半透鏡は、円形半透鏡512にランダ
ムに複数の光学材料を蒸着している。具体的には、半透
鏡512に網目状のスクリーンを付した状態で蒸着を行
ない、該スクリーンを順次移動させて複数の光学材料を
蒸着させる。
ムに複数の光学材料を蒸着している。具体的には、半透
鏡512に網目状のスクリーンを付した状態で蒸着を行
ない、該スクリーンを順次移動させて複数の光学材料を
蒸着させる。
尚、以上のようにN種の構成光学材料からなる半透鏡の
実効効率は、 で表される。
実効効率は、 で表される。
従って、全体の光学的実効効率の低下は見られない。
12゜
212、 312. 412. 512・・・ 半透鏡
[発明の効果]
以上説明したように本発明にかかる半透鏡は、異なる光
学的反射・透過特性の光学材料を複数種位置させたので
、広い波数領域において高い光学的実効効率を得ること
ができる。
学的反射・透過特性の光学材料を複数種位置させたので
、広い波数領域において高い光学的実効効率を得ること
ができる。
Claims (5)
- (1)光学的反射・透過特性の異なる複数種の光学材料
から形成されたことを特徴とする半透鏡。 - (2)請求項1記載の半透鏡において、入射光束に対し
て同心円状の幾何学的配置に光学的反射・透過特性の異
なる複数種の光学材料を配置させたことを特徴とする半
透鏡。 - (3)請求項1記載の半透鏡において、半透鏡の鏡面の
中心に対して対象に、光学的反射・透過特性の異なる複
数種の光学材料を配置させたことを特徴とする半透鏡。 - (4)請求項1記載の半透鏡において、半透鏡の鏡面に
ランダムに、光学的反射・透過特性の異なる複数種の光
学材料を配置させたことを特徴とする半透鏡。 - (5)請求項1〜4のいずれかに記載の半透鏡において
、光学的反射・透過特性は、異なる光学定数を有する光
学材料を用いること、ないし同一の光学定数を有する光
学材料を異なる厚みで用いることにより相違させたこと
を特徴とする半透鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02121721A JP3117450B2 (ja) | 1990-05-10 | 1990-05-10 | 半透鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02121721A JP3117450B2 (ja) | 1990-05-10 | 1990-05-10 | 半透鏡 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0416801A true JPH0416801A (ja) | 1992-01-21 |
JP3117450B2 JP3117450B2 (ja) | 2000-12-11 |
Family
ID=14818239
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP02121721A Expired - Fee Related JP3117450B2 (ja) | 1990-05-10 | 1990-05-10 | 半透鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3117450B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5535230A (en) * | 1994-04-06 | 1996-07-09 | Shogo Tzuzuki | Illuminating light source device using semiconductor laser element |
US6064525A (en) * | 1997-03-25 | 2000-05-16 | Glaverbel | Optical device including a dichromatic mirror |
JP2007225392A (ja) * | 2006-02-22 | 2007-09-06 | Spectratech Inc | 光干渉装置 |
WO2018011591A1 (en) * | 2016-07-13 | 2018-01-18 | Oxford University Innovation Limited | Interferometric scattering microscopy |
-
1990
- 1990-05-10 JP JP02121721A patent/JP3117450B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5535230A (en) * | 1994-04-06 | 1996-07-09 | Shogo Tzuzuki | Illuminating light source device using semiconductor laser element |
US6064525A (en) * | 1997-03-25 | 2000-05-16 | Glaverbel | Optical device including a dichromatic mirror |
JP2007225392A (ja) * | 2006-02-22 | 2007-09-06 | Spectratech Inc | 光干渉装置 |
WO2018011591A1 (en) * | 2016-07-13 | 2018-01-18 | Oxford University Innovation Limited | Interferometric scattering microscopy |
KR20190028448A (ko) * | 2016-07-13 | 2019-03-18 | 옥스포드 유니버시티 이노베이션 리미티드 | 간섭계 산란 현미경 |
JP2019520612A (ja) * | 2016-07-13 | 2019-07-18 | オックスフォード ユニヴァーシティ イノヴェーション リミテッド | 干渉散乱顕微鏡 |
US10775597B2 (en) | 2016-07-13 | 2020-09-15 | Oxford University Innovation Limited | Interferometric scattering microscopy |
EP3923054A1 (en) * | 2016-07-13 | 2021-12-15 | Oxford University Innovation Limited | Interferometric scattering microscopy |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3117450B2 (ja) | 2000-12-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |