JPH04167424A - マイクロ波プラズマ処理装置 - Google Patents

マイクロ波プラズマ処理装置

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JPH04167424A
JPH04167424A JP2292050A JP29205090A JPH04167424A JP H04167424 A JPH04167424 A JP H04167424A JP 2292050 A JP2292050 A JP 2292050A JP 29205090 A JP29205090 A JP 29205090A JP H04167424 A JPH04167424 A JP H04167424A
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plasma
microwave
reaction chamber
plasma reaction
microwaves
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Saburo Kanai
三郎 金井
Yoshinao Kawasaki
義直 川崎
Makoto Nawata
誠 縄田
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01JCHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
    • B01J19/00Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
    • B01J19/08Processes employing the direct application of electric or wave energy, or particle radiation; Apparatus therefor
    • B01J19/12Processes employing the direct application of electric or wave energy, or particle radiation; Apparatus therefor employing electromagnetic waves
    • B01J19/122Incoherent waves
    • B01J19/126Microwaves

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
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  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、マイクロ波プラズマ処理装置に係り。
特に均一で高密度のプラズマを大面積で必要とするマイ
クロ波プラズマ処3M!装置に関するものである。
〔従来の技術〕
半導体素子基板等の試料をプラズマにより処理する装置
としては、例えば特開昭02−1222178公報に記
載のようなものが知られている。
−のトら?r払床千l(+自1爪イニイーhルー6ヘマ
イクロ波を伝播する場合には、テーパ導波管を用いて基
本モードのマイクロ波を拡大させている。しかし、二の
場合、基本モードのマイクロ波が均一に拡大されにり(
、結果的にプラズマ密度の不均一に起因する処理の不均
一が発生するため、チューナ棒を用いて均一性を改善す
る等の処置が施されている。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来技術では、ガス橿や磁場条件、真空圧力等の条
件変化に対しても大口径均一プラズマを安定に発生する
ことが可能なマイクロ波の均一拡大伝播についての配慮
がされておらず、プラズマの均一・高q!:度・大口径
化に間層があった。
本発明の目的は、電界強度が強く、安定した大口径のマ
イクロ波をプラズマ発生室に導入して、均一・1Iil
i密度・大口径のプラズマを発生させ、試料のプラズマ
処理の均一性および処M迷度の向上を行うことである。
Ca1層を解決するための手段〕 上記目的を連成するために、大気雰囲気の空洞共振器を
プラズマ反応室に隣接して設け、空洞共振器にあけた放
射窓からマイクロ波をプラズマ反応室へ導入したもので
ある。
〔作  用〕
大気雰囲気中に設けた空洞共振器へマイクロ波を導入す
ると、空洞共振器の寸法で法式る特定の電磁界モードの
共振を起こすことができ、放射窓寸法がtiisに大き
くならなければ、空洞共振器寸法な適切に選ぶことによ
り所望のモードの共振を起こすことができ、共振で得ら
れた特定モードの高エネルギ密度のマイクロ波の一部が
放射窓からプラズマ反応室へ導入される。
プラズマ反応室寸法は、マイクロ波放射窓寸法と略等し
い寸法にしてあり、外部から磁界が印加されている。こ
こへ高エネルギ密度のマイクロ波が導入されると、4f
i場とマイクロ波電界との相互作用で反応室内に供給さ
れたガスがプラズマ化するや 二の時、プラズマ処理装置は放射窓を介して空洞共振器
と@接しており、プラズマ反応室へ導入されたマイクロ
波は速やかにプラズマ化のエネルギに変換されるため、
均一で高WJtなプラズマが得られ、処理の均一化、高
速化が這成さnる。
〔実施例〕
以下1本発明の一実施例を1!s1図により説明する。
なお、この場合、プラズマ処理装置としてマイクロ波プ
ラズマエ!チング装歇を例にとり説明する。
円筒空洞共振!14の一部の円筒中心には円形導波管3
が接続され、マイクロ波5i振器lから出力されたマイ
クロ波が矩形導波管2を通して導入されるよう構成しで
ある。円筒空洞共振器4の円形is波管3接#!側と対
向する面には石英等の誘電体材料で作られたマイクロ波
放射窓5が設けてあり。
@接してプラズマ反応M6が接続され、マイクロ波放射
N5とで真空室が構成されて真空排気装置7が接続され
ている。プラズマ反応室6の壁材料は非磁性導電性材料
で構成され、周一に空芯コイル101〜10cが配設さ
れて、プラズマ反応!6内へ4a場を印加するよう1こ
なっている。
マイクロ波放射W15に対向するペラズマ反応宣6内に
は試料nを載りする試料台nが配設され。
バイアス電S(図示では高周波電jl13)が**され
ている。
二雫チングガスはガス供給*19よりガス導入孔8を通
してプラズマL応室へ供給するよう構成されている。
181図で、プラズマ反応室6内は真空排気装置7によ
り減圧排気され、一方、ガス導入孔8を通してガス供紛
装ff19よりエツチングガスが導入される。これによ
り、プラズマ反応室6内はプラズマが発生しやすい圧力
に保持される。また、空芯コイル10 m = 10 
cから磁場が印加され、マイクロ波放射j!!5から試
料台Hに向かって徐々にJas強度が小さくなるms強
度分布で、その強度は、マイクロ波放射窓5と試料台n
間の任意の位置において、電子サイクロトロン度鳴条件
な満足できるよう調節される。
一方、マイクロ波発振!11で発振されたマイクロ波は
矩形導波管21円形番波管3を通し円s?!洞共振器4
へ伝播される。円筒空洞共振#14は円筒内径および円
筒長さを適切に運ぶことにより伝播されてきたマイクロ
波を特定の電磁界モードで共振させることができ、共振
で得られた特定モードの高エネルギ密度のマイクロ波の
一部がマイクロ波放射窓5を通してプラズマ反応室6へ
導入される。
プラズマ反応室6ではマイクロ波と磁場との相互作用に
よりエツチングガスがプラズマ化される。
二こで、プラズマ反応室6へ導入されるマイクロ波は安
定な特定モードの高エネルギ密度であり、発生するプラ
ズマも高密度化される。しかも、共振モードの電磁界分
布のマイクロ波放射窓5内にほぼ相当すると思われるモ
ードのプラズマ密度分布が得られる。したがって、プラ
ズマ反応室6内の拭動に影響されずに、高密度で均一な
プラズマが得られ、a場勾配に沿ったプラズマの波紋に
より試料νはエツチング処理できる。また、試料台Hに
高周波電#i13からの電力を供給することにより、試
料校はイオン性のエツチング処理を行うことができる。
第1図の実施例において、例えば、マイクロ波放射窓寸
法をφ200131. 円筒空洞共振器内径なφ270
1EI、円筒空洞共振器モードをT B 112 。
マイクロ波周波数を2.450H! とした時、φ20
0IOのプラズマ反応室には、特開昭62−12221
7号公報記載の装置の約5倍のプラズマ密度が得られ、
エツチング処理の均一性も大幅に向上した。なお、プラ
ズマ反応室の内径寸法より試料としてはそれに収納、処
理可能な寸法を有するものに限定されるが、試料の寸法
がこれ以上のものとなる場合は、上記各寸法を相似則に
より拡大することで原則的には対応可能である。
以上工雫チング装置を例にとり股明したが、マイクロ波
プラズマを利用する処理装置であれば、エツチングに限
らずプラズマ処理装置やアシシングIjk!等において
も高密度で大口径、均一なプラズマ加工処理が可能とな
る。また、より大口径プラズマが必要な場合には、円筒
空洞共振器内径を大きくし、プラズマ放射窓径を大りく
することで適正に対応可能になる。
〔発明の効果〕
本発明によnば、マイクロ波プラズマを利用する装置に
おいて、空洞共振器で特定モードのマイクロ波を共振さ
せて、その一部を放射窓から放射して高密度プラズマを
発住できるので、大口径で均一なプラズマ処理装置を提
供することができる。
また、共振器寸法を回度にすれば、種々の共振モードが
得られ、発生するプラズマ密度分布もモードに対応した
ものが得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のマイクロ波プラズマ処理装
置の縦断面図である。 l・・・・・・マイクロ波発振器、2・・・・・・矩形
罵波管、3・・・・・・円形導波管、4・・・・・・円
筒空洞共振器、5・・・マイクロ波放射窓、6−・・・
・・プラズマ反応室、7・・・真空排気装置、8・・・
・・・ガス導入孔、9・・・・・・ガス供給装[,10
・・・・・・空芯コイル、U・・・・・・試料台、ν・
・・KIFjr%B・・・・・・高周波電源代理人 野
海士  小 川 勝 男

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.円筒中心にマイクロ波放射窓を設け他端から導入さ
    れたマイクロ波を共振させる円筒空洞共振器と、前記マ
    イクロ波放射窓に隣接し、かつマイクロ波放射窓寸法に
    略等しい寸法のプラズマ反応室と、前記該円筒空洞共振
    器およびプラズマ反応室外周に設けて該プラズマ反応室
    内に磁場を供給する磁場印加装置と、前記プラズマ反応
    室内で試料を保持する試料台と、前記プラズマ反応室で
    プラズマ状態にするためのガスを導入するガス供給孔と
    、前記プラズマ反応室内を規定真空圧力にする真空排気
    装置とから成ることを特徴とするマイクロ波プラズマ処
    理装置。
  2. 2.前記マイクロ波放射窓の材質を誘電体材料で構成し
    た第1請求項に記載のマイクロ波プラズマ処理装置。
  3. 3.前記プラズマ反応室内面に石英ガラスを設けた第1
    請求項に記載のマイクロ波プラズマ処理装置。
  4. 4.前記マイクロ波放射窓の大きさは、マイクロ波のT
    E11モードを伝播する寸法より大きく、前記円筒空洞
    共振器直径の80%未満である第1請求項に記載のマイ
    クロ波プラズマ処理装置。
  5. 5.前明試料台に直流又は高周波のバイアス電源を印加
    した第1ないし第4請求項に記載のマイクロ波プラズマ
    処理装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5580420A (en) * 1993-09-17 1996-12-03 Hitachi, Ltd. Plasma generating method and apparatus and plasma processing method and apparatus
US5785807A (en) * 1990-09-26 1998-07-28 Hitachi, Ltd. Microwave plasma processing method and apparatus
US5804033A (en) * 1990-09-26 1998-09-08 Hitachi, Ltd. Microwave plasma processing method and apparatus
CN113151809A (zh) * 2021-04-01 2021-07-23 上海征世科技股份有限公司 一种微波等离子体加工装置

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CN113151809A (zh) * 2021-04-01 2021-07-23 上海征世科技股份有限公司 一种微波等离子体加工装置

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