JPH04160508A - 位置決め装置とその制御機構 - Google Patents
位置決め装置とその制御機構Info
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- JPH04160508A JPH04160508A JP28582090A JP28582090A JPH04160508A JP H04160508 A JPH04160508 A JP H04160508A JP 28582090 A JP28582090 A JP 28582090A JP 28582090 A JP28582090 A JP 28582090A JP H04160508 A JPH04160508 A JP H04160508A
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- 230000007246 mechanism Effects 0.000 title claims abstract description 28
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 20
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 2
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000008713 feedback mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000002706 hydrostatic effect Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Control Of Position Or Direction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、粗動・微動等により位置決めを行う位置決め
装置に関する。
装置に関する。
(従来の技術)
被位置決め体を目標位置に位置決めする技術のうち、粗
動装置及び微動装置の両方を装備したデュアル制御と呼
ばれる技術がある。かかるデュアル制御では、まず被位
置決め体を粗動装置によって目標位置に向かって移動さ
せた後粗動装置を停止させ、次に微動装置によって被位
置決め体を微動させて目標位置に位置決めしている。こ
の際、被位置決め体の位置を検出しフィードバック制御
して被位置決め体を移動させ、ている。
動装置及び微動装置の両方を装備したデュアル制御と呼
ばれる技術がある。かかるデュアル制御では、まず被位
置決め体を粗動装置によって目標位置に向かって移動さ
せた後粗動装置を停止させ、次に微動装置によって被位
置決め体を微動させて目標位置に位置決めしている。こ
の際、被位置決め体の位置を検出しフィードバック制御
して被位置決め体を移動させ、ている。
この場合、粗動装置と微動装置はそれぞれ独自のフィー
ドバック機構を有し、各々に対し制御信号を送る必要が
ある関係上、各々に専用の位置検出センサを併設してい
る。従って、位置検出部分の構成が複雑化し、部品点数
の多さから生ずるコス)・高、設置スペース等の問題が
ある。
ドバック機構を有し、各々に対し制御信号を送る必要が
ある関係上、各々に専用の位置検出センサを併設してい
る。従って、位置検出部分の構成が複雑化し、部品点数
の多さから生ずるコス)・高、設置スペース等の問題が
ある。
粗動と微動を交互に繰返して位置決めする場合、微動素
子の変位量が限界に達したら一旦微動素子の変位を零に
戻した後その変位量の分だけ粗動駆動機構により移動さ
せて再ひ微動素子により位置決めを行うという、尺取り
運動を行わせていた。
子の変位量が限界に達したら一旦微動素子の変位を零に
戻した後その変位量の分だけ粗動駆動機構により移動さ
せて再ひ微動素子により位置決めを行うという、尺取り
運動を行わせていた。
従来は、粗動装置と微動装置が互いに独立であるととも
に各々別個の位置検出センサから制御信号を得ていたた
め、微動素子の零変位復帰と粗動移動を同期させること
が困難であった。従ってこの方式によれば、例えば加工
機でのバイト位置制御への応用を考えた場合、滑かな自
由曲線創成ができない。
に各々別個の位置検出センサから制御信号を得ていたた
め、微動素子の零変位復帰と粗動移動を同期させること
が困難であった。従ってこの方式によれば、例えば加工
機でのバイト位置制御への応用を考えた場合、滑かな自
由曲線創成ができない。
(発明か解決しようとする課題)
本発明は、粗動移動時と微動移動時における位置検出セ
ンサ部を一本化し、装置構成が簡素で調整が容易な位置
決め装置を提供すること、併せて、粗動と微動の連動に
よる自由曲線軌跡制御が可能な制御手段を提供すること
を目的とする。
ンサ部を一本化し、装置構成が簡素で調整が容易な位置
決め装置を提供すること、併せて、粗動と微動の連動に
よる自由曲線軌跡制御が可能な制御手段を提供すること
を目的とする。
[発明の構成]
(課題を解決するだめの手段)
請求項1においては、粗動及び微動のいずれの移動時に
おいても同一の位置検出センサにより位置検出信号を得
、この位置検出信号を二方向に分岐させ粗動移動のフィ
ードバック制御系及び微動移動のフィードバック制御系
の両方に伝達し、必要に応じて両位置検出信号のいずれ
かを使用することとした。
おいても同一の位置検出センサにより位置検出信号を得
、この位置検出信号を二方向に分岐させ粗動移動のフィ
ードバック制御系及び微動移動のフィードバック制御系
の両方に伝達し、必要に応じて両位置検出信号のいずれ
かを使用することとした。
請求項2においては、微動移動時に微動素子の変位が限
界に達した場合、微動素子を零変位に復帰させる動作と
粗動駆動機構により被位置決め体を前記変位分だけ移動
させる動作を同期させることとした。
界に達した場合、微動素子を零変位に復帰させる動作と
粗動駆動機構により被位置決め体を前記変位分だけ移動
させる動作を同期させることとした。
(作用)
上記のように粗動及び微動における位置検出センサを共
有することにより、部品点数が削減でき、装置の省スペ
ース化、コスト低減が図れ、位置検出機構の調整の手間
も削減できる。
有することにより、部品点数が削減でき、装置の省スペ
ース化、コスト低減が図れ、位置検出機構の調整の手間
も削減できる。
また、上記制御手段により、粗動と微動の繰返し運動が
連続的に行え、被位置決め体の移動により自由曲線軌跡
制御が可能である。
連続的に行え、被位置決め体の移動により自由曲線軌跡
制御が可能である。
(実施例)
以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
る。
第1図は位置決め装置の構成図である。支持台30上に
は、被位置決め体10を支持する位置決め機構す」−と
、粗動駆動機構に該当する摩擦駆動機構19と、位置検
出センサに該当するレーサ干渉測長システムリ−が設置
されている。被位置決め体10を固定したスライダ12
は、支持台14.15で両端を固定されてる案内体13
上に静圧軸受16によって支持されている。スライダ]
2には、摩擦駆動機構19に静圧軸受18により支持さ
れる駆動ロッド17が連結され、これによって摩擦駆動
機構19による駆動が被位置決め体10に伝達される。
は、被位置決め体10を支持する位置決め機構す」−と
、粗動駆動機構に該当する摩擦駆動機構19と、位置検
出センサに該当するレーサ干渉測長システムリ−が設置
されている。被位置決め体10を固定したスライダ12
は、支持台14.15で両端を固定されてる案内体13
上に静圧軸受16によって支持されている。スライダ]
2には、摩擦駆動機構19に静圧軸受18により支持さ
れる駆動ロッド17が連結され、これによって摩擦駆動
機構19による駆動が被位置決め体10に伝達される。
被位置決め体1−0は微動素子に該当する圧電素子9と
一体であり、圧電素子9の印加電圧に伴う変位により微
動移動か可能である。
一体であり、圧電素子9の印加電圧に伴う変位により微
動移動か可能である。
位置検出センサたる光学系は、レーザ発振器1と、その
光軸上に設置された干渉計2と、その先軸と直交方向に
位置する被位置決め体10に装着された反射ミラー3と
からなる。し〜ザ発振器4から出力されたレーザ光は干
渉計2を通って反射ミラー3に照射される。反射ミラー
3からの反射レーザ光は再び干渉計に入射し、前記レー
ザ発振器1からのレーザ光とによる干渉光を形成する。
光軸上に設置された干渉計2と、その先軸と直交方向に
位置する被位置決め体10に装着された反射ミラー3と
からなる。し〜ザ発振器4から出力されたレーザ光は干
渉計2を通って反射ミラー3に照射される。反射ミラー
3からの反射レーザ光は再び干渉計に入射し、前記レー
ザ発振器1からのレーザ光とによる干渉光を形成する。
この干渉光はその干渉光軸上に設置されたビームスプリ
ッタ4により二方向に分岐される。分岐された干渉光の
一方は微動用レシーバ5に入射し、電気信号に変換され
て微動用レーザ測定ホード24に伝達され、他方は粗動
用レシーバ6に入射して電気信号に変換され粗動用レー
ザ測定ボード23に伝達される。本発明の実施例である
第1図と従来例である第4図における光学系を比較した
場合、前者は後者に対して干渉計107と反射ミラー1
08、ベンダ109が省略てきることになる。
ッタ4により二方向に分岐される。分岐された干渉光の
一方は微動用レシーバ5に入射し、電気信号に変換され
て微動用レーザ測定ホード24に伝達され、他方は粗動
用レシーバ6に入射して電気信号に変換され粗動用レー
ザ測定ボード23に伝達される。本発明の実施例である
第1図と従来例である第4図における光学系を比較した
場合、前者は後者に対して干渉計107と反射ミラー1
08、ベンダ109が省略てきることになる。
主制御装置20は、摩擦駆動機構19及び圧電素子1−
1に作動指令を発するとともに、レーザ発振器1にもレ
ーザ発振指令を発する。粗動時は、粗動用レーザ測定ボ
ード23て被位置決め体10の位置を検出し、位置検出
信号を粗動用増幅回路21へ伝達し、目標位置との距離
に応じた制御信号を粗動用増幅回路21から摩擦駆動機
構19へ送ることによりフィードバック制御を行う。微
動時は、微動用レーザ測定ボード24で被位置決め体の
位置を検出し、位置検出信号を微動用増幅回路22へ伝
達し、微動用増幅回路22から圧電素子9に加減的に電
圧を印加し被位置決め体10を微動移動させる、という
フィードバック制御を行う。
1に作動指令を発するとともに、レーザ発振器1にもレ
ーザ発振指令を発する。粗動時は、粗動用レーザ測定ボ
ード23て被位置決め体10の位置を検出し、位置検出
信号を粗動用増幅回路21へ伝達し、目標位置との距離
に応じた制御信号を粗動用増幅回路21から摩擦駆動機
構19へ送ることによりフィードバック制御を行う。微
動時は、微動用レーザ測定ボード24で被位置決め体の
位置を検出し、位置検出信号を微動用増幅回路22へ伝
達し、微動用増幅回路22から圧電素子9に加減的に電
圧を印加し被位置決め体10を微動移動させる、という
フィードバック制御を行う。
圧電素子9は印加電圧に応じて伸縮するので、印加電圧
を段階的に高くすることにより被位置決め体を段階的に
移動させることができる。第2−1図Aに示すように印
加電圧を累積的に増大した結果B時点で圧電素子11の
変位が限界に達したとき、圧電素子の印加電圧を遮断し
圧電素子11を元の状態まで収縮させ、併せて摩擦駆動
機構19を働かせ圧電素子の収縮と同じ距離だけ移動さ
せる、という尺取り運動を行う。ここで、主制御装置2
0は粗動・微動の作動とともにレーザ干渉測長システム
40も司っているため、B時点において圧電素子11の
収縮と摩擦駆動機構19による被位置決め体10の移動
を同期させることが可能である。従って、第2−3図の
ように被位置決め体10を連続的に移動させることがで
きる。
を段階的に高くすることにより被位置決め体を段階的に
移動させることができる。第2−1図Aに示すように印
加電圧を累積的に増大した結果B時点で圧電素子11の
変位が限界に達したとき、圧電素子の印加電圧を遮断し
圧電素子11を元の状態まで収縮させ、併せて摩擦駆動
機構19を働かせ圧電素子の収縮と同じ距離だけ移動さ
せる、という尺取り運動を行う。ここで、主制御装置2
0は粗動・微動の作動とともにレーザ干渉測長システム
40も司っているため、B時点において圧電素子11の
収縮と摩擦駆動機構19による被位置決め体10の移動
を同期させることが可能である。従って、第2−3図の
ように被位置決め体10を連続的に移動させることがで
きる。
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものでなく、
その主旨を逸脱しない範囲で変形しても良い。例えば、
摩擦駆動機構19に替ってリニアモータを用いた機構や
ボールネジ送りを用いた機構としても良いし、粗動と微
動が確実に行える位置決め装置ならばその方式は問わな
い。
その主旨を逸脱しない範囲で変形しても良い。例えば、
摩擦駆動機構19に替ってリニアモータを用いた機構や
ボールネジ送りを用いた機構としても良いし、粗動と微
動が確実に行える位置決め装置ならばその方式は問わな
い。
[発明の効果]
以上詳記したように本発明によれば、粗動及び微動時の
位置検出センサを共有でき、これによって光学系の調整
の簡易化、コスト低減、装置の省スペース化が図れる。
位置検出センサを共有でき、これによって光学系の調整
の簡易化、コスト低減、装置の省スペース化が図れる。
また、粗動・微動の連動動作により軌跡制御が可能とな
り、例えば加工機に応用した場合、自由曲線創成に利用
することができる。
り、例えば加工機に応用した場合、自由曲線創成に利用
することができる。
第1図乃至第3図は本発明に係る位置決め装置の一実施
例を説明するための図である。第1−図は装置構成の斜
視図、第2図は当該粗動微動制御手段を用いて圧電素子
の収縮と摩擦駆動機構による移動を同時に行った場合の
被位置決め体の時間−変位図、第3図は当該粗動微動制
御手段を用いた粗動と微動の連動による軌跡制御のフロ
ーチャートである。第4図は従来の位置決め装置の外観
図(但し位置検出センサ部、駆動部のみ)である。 1・・・レーザ発振器、2・・・干渉計、3・・・反射
ミラー、4・・・ビームスプリッタ、5 ・微動用レシ
ーバ、6・・・粗動用レシーバ、9・・・圧電素子、1
0・・・被位置決め体、11・圧電素子、12・スライ
ダ、1−3・・・案内体、14・・・支持台、15・・
・支持台、16・・静圧軸受、17・・駆動ロッド、1
8・・・静圧軸受、19・・・摩擦駆動機構、20・・
主制御装置、21・・・粗動制御用増幅回路、22・・
微動制御用増幅回路回路、23・・・粗動用レーザ測定
ボード、24・・・微動用レーザ測定ボード、30・・
・支持台、40 ・レ−ザ干渉測長システム、1刈・・
位置決め機構、1−01・・・レーザ発振器、1−02
・・・干渉計、103・・・反射ミラー、104・・・
ビームスプリッタ、105・・・微動用レシーバ、10
6・・・粗動用レシーバ、107・・・干渉計、108
・・・反射ミラー、109・・・ベンダ、110・・・
被位置決め体、111・・・圧電素子、112・・・ス
ライダ、113・・案内体、1]4・・・支持台、11
5・・・支持台、116・・・静圧軸受、117・・・
駆動ロッド、118・・・静圧軸受、119・・・摩擦
駆動機構。 出願人代理人 弁理士 則近憲佑
例を説明するための図である。第1−図は装置構成の斜
視図、第2図は当該粗動微動制御手段を用いて圧電素子
の収縮と摩擦駆動機構による移動を同時に行った場合の
被位置決め体の時間−変位図、第3図は当該粗動微動制
御手段を用いた粗動と微動の連動による軌跡制御のフロ
ーチャートである。第4図は従来の位置決め装置の外観
図(但し位置検出センサ部、駆動部のみ)である。 1・・・レーザ発振器、2・・・干渉計、3・・・反射
ミラー、4・・・ビームスプリッタ、5 ・微動用レシ
ーバ、6・・・粗動用レシーバ、9・・・圧電素子、1
0・・・被位置決め体、11・圧電素子、12・スライ
ダ、1−3・・・案内体、14・・・支持台、15・・
・支持台、16・・静圧軸受、17・・駆動ロッド、1
8・・・静圧軸受、19・・・摩擦駆動機構、20・・
主制御装置、21・・・粗動制御用増幅回路、22・・
微動制御用増幅回路回路、23・・・粗動用レーザ測定
ボード、24・・・微動用レーザ測定ボード、30・・
・支持台、40 ・レ−ザ干渉測長システム、1刈・・
位置決め機構、1−01・・・レーザ発振器、1−02
・・・干渉計、103・・・反射ミラー、104・・・
ビームスプリッタ、105・・・微動用レシーバ、10
6・・・粗動用レシーバ、107・・・干渉計、108
・・・反射ミラー、109・・・ベンダ、110・・・
被位置決め体、111・・・圧電素子、112・・・ス
ライダ、113・・案内体、1]4・・・支持台、11
5・・・支持台、116・・・静圧軸受、117・・・
駆動ロッド、118・・・静圧軸受、119・・・摩擦
駆動機構。 出願人代理人 弁理士 則近憲佑
Claims (2)
- (1)被位置決め体を粗動移動させる粗動駆動機構と、
前記被位置決め体を微動移動させる微動素子と、被位置
決め体の位置を検出する位置検出機構と、前記位置検出
機構による検出位置と目標位置との差に基づいて前記粗
動駆動機構及び前記微動素子を作動させる制御手段を具
備する位置決め装置において、粗動移動及び微動移動の
いずれの場合でも同一の位置検出センサのみを用いて前
記被位置決め体の位置を検出する位置決め機構を有する
ことを特徴とする位置決め装置。 - (2)請求項1記載の位置検出センサからの制御信号に
より、粗動移動と微動移動のいずれかを選択的に作動さ
せることができるとともに、微動素子の変位復帰と粗動
駆動機構による被位置決め体の移動を連動させることに
より、粗動と微動の繰返し運動を連続的に行わしめるこ
とを可能とすることを特徴とする制御機構。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28582090A JPH04160508A (ja) | 1990-10-25 | 1990-10-25 | 位置決め装置とその制御機構 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28582090A JPH04160508A (ja) | 1990-10-25 | 1990-10-25 | 位置決め装置とその制御機構 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04160508A true JPH04160508A (ja) | 1992-06-03 |
Family
ID=17696512
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28582090A Pending JPH04160508A (ja) | 1990-10-25 | 1990-10-25 | 位置決め装置とその制御機構 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04160508A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104331091A (zh) * | 2014-10-28 | 2015-02-04 | 中国电子科技集团公司第十一研究所 | 跟瞄转台装调装置、方向轴调整方法及俯仰轴调整方法 |
-
1990
- 1990-10-25 JP JP28582090A patent/JPH04160508A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104331091A (zh) * | 2014-10-28 | 2015-02-04 | 中国电子科技集团公司第十一研究所 | 跟瞄转台装调装置、方向轴调整方法及俯仰轴调整方法 |
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