JPH04158298A - シンクロトロン放射光用反射ミラー - Google Patents

シンクロトロン放射光用反射ミラー

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JPH04158298A
JPH04158298A JP28192290A JP28192290A JPH04158298A JP H04158298 A JPH04158298 A JP H04158298A JP 28192290 A JP28192290 A JP 28192290A JP 28192290 A JP28192290 A JP 28192290A JP H04158298 A JPH04158298 A JP H04158298A
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JP
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film
carbon
mirror
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carbon film
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JP28192290A
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JPH0769479B2 (ja
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Shiro Hotate
保立 四郎
Hiroshi Yamazaki
拓 山崎
Teruo Sugai
菅井 照夫
Shigeo Kato
加藤 茂男
Haruo Tazoe
田添 春夫
Hiroaki Koike
小池 弘明
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Coorstek KK
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Toshiba Ceramics Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はシンクロトロン放射光用反射ミラーに関する。
〔従来の技術〕
近年、シンクロトロン放射光(S OR)の応用研究が
急速な進歩を遂げている。その応用分野は、半導体製造
、医学、化学及び物理と広範囲にわたっている。また、
SOR装置の大型化、高エネルギー化も著しくなってき
ている。この結果SOR用の反射ミラーに対する要求も
ますます厳しくなってきている。
従来、この用途の反射ミラーとしては、黒鉛、SiCな
どの耐熱性セラミック基材にCVD法によりSiC膜を
被覆してその表面を光学研磨したもの、及び前記SiC
膜上に更に金属膜を蒸着したものが用いられている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、高エネルギーのSORを照射するとミラー面の
温度が著しく上昇するため、従来の反射ミラーでは基材
とSiC膜との界面に熱応力が発生し、SiC膜が変形
して反射率が低下するという問題があった。しかも、金
属膜を設けたものでは、金属膜が脱離しやすくなり、実
質的に高エネルギーのSOR用ミラーとしては使用でき
ないという問題があった。
本発明は前記問題点を解決するためになされたものであ
り、高エネルギーのSORが照射されても反射率の低下
が少ないシンクロトロン放射光用反射ミラーを提供する
ことを目的とする。
〔課題を解決するための手段と作用〕
本発明のシンクロトロン放射光用反射ミラーは、耐熱性
セラミック基材にCVD法によるSiC膜を被覆し、少
なくともミラー面にCVD法による膜厚2〜20卯のカ
ーボン膜を被覆したことを特徴とするものである。
本発明に係るシンクロトロン放射光用反射ミラーは、黒
鉛、SiCなどの耐熱性セラミック基材表面に、CVD
法によりSiC膜を被覆し、このSiC膜の表面を表面
粗さRffi、が10Å以下となるように光学研磨した
後、CVD法による少なくともミラー面にカーボン膜を
被覆することにより製造される。
カーボン膜は、メタンなどの炭素源となるガスと水素ガ
スとを、マイクロ波放電、熱分解などの手段で分解・励
起して炭素を析出させることにより形成される。このよ
うにCVD法で形成されるカーボン膜は、ダイヤモンド
状カーボン、イオンカーボン、無定形カーボンなどとい
われるものである。これらのカーボン膜は、優れた熱伝
導率を有する。
本発明において、カーホン膜の膜厚を範囲としたのは以
下のような理由による。すなわち、膜厚が2−未満ては
、ミラー面で発生した熱を伝導して外部へ逃がすことが
充分に行われず、基材とSiC膜との界面に熱応力か発
生し、SiC膜か変形するため反射率が低下してしまう
。一方、膜厚か20nを超えると、下地のSiC膜の表
面が滑らかであっても、カーボン膜を構成するカーボン
粒子が大きくなりその表面粗さか粗くなるため、やはり
反射率か低下してしまう。
本発明のシンクロトロン放射光用反射ミラーは、ミラー
面に滑らかで充分に熱を伝導することができるカーボン
膜が形成されているので、高エネルギーのSORが照射
されても反射率の低下を防止することができる。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図に本発明に係るSOR用反射ミラーの断面図を示
す。この反射ミラーは以下のようにして製造された。1
00+wX200+omX30+n+++のSiC基材
1の表面にCVD法により膜厚500nのSiC膜2を
形成した後、その表面を表面粗さRmsが10Å以下と
なるように光学研磨した。次に、CVD装置内にSiC
膜2を被覆したSiC基材1を設置し、CH4ガスとH
2ガスとの混合ガス(体積比でCH4/H2−L:9)
を供給して圧力を50Torrに設定し、650℃にお
いて2.45G Hzのマイクロ波で放電を起こさせ、
100mmX200mmのミラー面にカーボン膜3を形
成した。カーボン膜3の膜厚は、反応時間を調整するこ
とにより、■、2.5、■0.20.25.30μm7
種とした。
カーボン膜を形成していないSOR用反射ミラー、及び
カーボン膜の膜厚が異なる7種のSOR用反射ミラーに
ついて、以下のようにして評価した。
10−’Torrの圧力下でlohmX200mmのミ
ラー面の中央部50m+* X l 00m11の範囲
に垂直方向からIW/W2O3ORを照射した。ミラー
面の表面温度の経時変化を第2図に示す。また、カーボ
ン膜の膜厚と、SORを4分間照射したときの反射率と
の関係を第3図に示す。
第2図から明らかなように、ミラー面にカーボン膜を被
覆したSOR用反射ミラーは、カーボン膜を被覆してい
ないもの(従来例)と比較して、ミラー面の表面温度が
あまり上昇しない。このことから、ミラー面にカーボン
膜を被覆すれば、SORの照射によって発生する熱を外
部へ逃がしてミラー面の温度上昇を防止できることがわ
かる。
また、第3図から明らかなように、カーボン膜の膜厚か
2〜20μ覆のものでは反射率が高いが、カーボン膜の
膜厚が1顔、25μm及び30μmのものでは反射率が
低い。カーボン膜の膜厚が1μmのものでは、ミラー面
で発生した熱を充分に外部へ逃がすことができず、基材
とSiC膜との界面に熱応力か発生し、SiC膜が変形
するため、反射率が低下すると考えられる。膜厚が25
即及び30周のものでは成膜されたカーボン膜の表面粗
さが粗くなるため、反射率が低下すると考えられる。
〔発明の効果〕
以上詳述したように本発明のシンクロトロン放射光用反
射ミラーは、ミラー面に滑らかで充分に熱を伝導するこ
とができるカーボン膜が形成されているので、高エネル
ギーのSORが照射されても反射率の低下を防止するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図に本発明に係るSOR用反射ミラーの断面図、第
2図は本発明に係るSOR用反射ミラーにSORを照射
したときのミラー面の表面温度の経時変化を示す図、第
3図は本発明に係るSOR用反射ミラーのカーボン膜の
膜厚とSORを照射したときの反射率との関係を示す図
である。 1・・・SiC基材、2・・・SiC膜、3・・・カー
ボン膜。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 □−1丁 、η、う、      6i(、間第1図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 耐熱性セラミック基材にCVD法によるSiC膜を被覆
    し、少なくともミラー面にCVD法による膜厚2〜20
    μmカーボン膜を被覆したことを特徴とするシンクロト
    ロン放射光用反射ミラー。
JP28192290A 1990-10-22 1990-10-22 シンクロトロン放射光用反射ミラー Expired - Lifetime JPH0769479B2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP28192290A JPH0769479B2 (ja) 1990-10-22 1990-10-22 シンクロトロン放射光用反射ミラー

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JP28192290A JPH0769479B2 (ja) 1990-10-22 1990-10-22 シンクロトロン放射光用反射ミラー

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JPH04158298A true JPH04158298A (ja) 1992-06-01
JPH0769479B2 JPH0769479B2 (ja) 1995-07-31

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5461657A (en) * 1993-06-30 1995-10-24 Canon Kabushiki Kaisha X-ray mirror, and x-ray exposure apparatus and device manufacturing method employing the same
JP2006527791A (ja) * 2003-06-16 2006-12-07 コミサリア、ア、レネルジ、アトミク 少なくとも一つの水素含有アモルファスカーボンを含んでなる、機械部品用コーティング、およびコーティングの堆積方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5461657A (en) * 1993-06-30 1995-10-24 Canon Kabushiki Kaisha X-ray mirror, and x-ray exposure apparatus and device manufacturing method employing the same
JP2006527791A (ja) * 2003-06-16 2006-12-07 コミサリア、ア、レネルジ、アトミク 少なくとも一つの水素含有アモルファスカーボンを含んでなる、機械部品用コーティング、およびコーティングの堆積方法

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JPH0769479B2 (ja) 1995-07-31

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