JPH04155950A - 半導体装置用リードフレーム材 - Google Patents
半導体装置用リードフレーム材Info
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- JPH04155950A JPH04155950A JP28141090A JP28141090A JPH04155950A JP H04155950 A JPH04155950 A JP H04155950A JP 28141090 A JP28141090 A JP 28141090A JP 28141090 A JP28141090 A JP 28141090A JP H04155950 A JPH04155950 A JP H04155950A
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Links
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Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、IC,LSIなどの半導体装置用のリード
フレーム材に関するものである。
フレーム材に関するものである。
IC1LSIなどの半導体装置用のリードフレーム材に
は、熱伝導性および導電性に優れ、また強度特に引張強
度が大きく、繰返し曲げ性が良好で、熱膨張係数が比較
的小さく、かつめっき性、はんだ付性が良好なことが求
められており、従来は主としてFe−42%Ni合金(
以下、42合金という)が用いられていた。
は、熱伝導性および導電性に優れ、また強度特に引張強
度が大きく、繰返し曲げ性が良好で、熱膨張係数が比較
的小さく、かつめっき性、はんだ付性が良好なことが求
められており、従来は主としてFe−42%Ni合金(
以下、42合金という)が用いられていた。
ところが半導体装置の高集積化に伴う半導体チップの大
型化により、熱の発生に対処するため、さらに熱伝導性
が高く、熱膨張率が半導体チップに近い材質が求められ
ている。またリードフレームにAu線やCu線等のワイ
ヤを直接ボンディングするダイレクトボンディングの場
合、銅合金のリードフレームは添加成分であるNi、
Cr、 Sn等の酸化物が表面に露出して接合信頼性が
悪いため、ダイレクトボンディングに適したリードフレ
ームが求められている。
型化により、熱の発生に対処するため、さらに熱伝導性
が高く、熱膨張率が半導体チップに近い材質が求められ
ている。またリードフレームにAu線やCu線等のワイ
ヤを直接ボンディングするダイレクトボンディングの場
合、銅合金のリードフレームは添加成分であるNi、
Cr、 Sn等の酸化物が表面に露出して接合信頼性が
悪いため、ダイレクトボンディングに適したリードフレ
ームが求められている。
従来このような要望に適合するリードフレーム材として
、アンバー(Fe−36%Ni合金)の両側に銅を配置
した銅/アンバー/銅の3層からなるクラッド材(以下
、アンバークラッド材という)が提案されている(日立
電線Nu 3 (1983−12)第57〜60頁)。
、アンバー(Fe−36%Ni合金)の両側に銅を配置
した銅/アンバー/銅の3層からなるクラッド材(以下
、アンバークラッド材という)が提案されている(日立
電線Nu 3 (1983−12)第57〜60頁)。
アンバーはFe−Ni系の中でも最も熱膨張係数が低い
ため、アンバーの両側に銅をクラッドしたアンバークラ
ッド材は、熱膨張係数が小さく、かつ熱伝導率が高いと
されている。
ため、アンバーの両側に銅をクラッドしたアンバークラ
ッド材は、熱膨張係数が小さく、かつ熱伝導率が高いと
されている。
しかしながらアンバークラッド材の熱膨張係数が小さい
のは、常温付近の温度範囲に限られ、高温になると熱膨
張係数は急激に大きくなる。このためダイボンディング
に際して、はんだ溶融温度(約300℃)に加熱すると
、リードフレームとの熱膨張係数の差により、半導体チ
ップに割れが発生する場合がある。またアンバークラッ
ド材は熱伝導率および強度とも必ずしも満足できるもの
ではなく、特殊な合金であるため入手も容易でなく。
のは、常温付近の温度範囲に限られ、高温になると熱膨
張係数は急激に大きくなる。このためダイボンディング
に際して、はんだ溶融温度(約300℃)に加熱すると
、リードフレームとの熱膨張係数の差により、半導体チ
ップに割れが発生する場合がある。またアンバークラッ
ド材は熱伝導率および強度とも必ずしも満足できるもの
ではなく、特殊な合金であるため入手も容易でなく。
コスト高になるなどの問題点がある。
この発明は上記のような従来の問題点を解決するために
なされたもので、常温ないし高温の平均熱膨張係数が小
さくて半導体チップの割れが少なく、また熱伝導率が大
きくて放熱性に優れ、強度が大きく、かつダイレクトボ
ンディングが可能で、低コストの半導体装置用リードフ
レーム材を得ることである。
なされたもので、常温ないし高温の平均熱膨張係数が小
さくて半導体チップの割れが少なく、また熱伝導率が大
きくて放熱性に優れ、強度が大きく、かつダイレクトボ
ンディングが可能で、低コストの半導体装置用リードフ
レーム材を得ることである。
この発明の半導体装置用リードフレーム材は、Fe−4
2%Ni合金の両側に綱を、Jlil : Fe−42
%Ni合金:銅の構成比が1:(3〜7):1となるよ
うに配置したクラッド材(以下、42合金クラッド材と
いう)からなるものである。
2%Ni合金の両側に綱を、Jlil : Fe−42
%Ni合金:銅の構成比が1:(3〜7):1となるよ
うに配置したクラッド材(以下、42合金クラッド材と
いう)からなるものである。
42合金はFe58重量%、Ni42重量%のFe−N
i合金で、電気、電子機器材料として広く用いられてい
る合金であり、入手が容易で低コストである。両側に配
置する綱は純銅、特に無酸素銅が好ましい。
i合金で、電気、電子機器材料として広く用いられてい
る合金であり、入手が容易で低コストである。両側に配
置する綱は純銅、特に無酸素銅が好ましい。
本発明で用いる42合金クラッド材は、42合金を挟む
ように、その両面に銅をクラッドさせた銅/42合金/
銅の3層からなるクラッド材である。42合金と銅は圧
接と金属拡散により固着し、全体が一体化した材料とな
っている。
ように、その両面に銅をクラッドさせた銅/42合金/
銅の3層からなるクラッド材である。42合金と銅は圧
接と金属拡散により固着し、全体が一体化した材料とな
っている。
銅:42合金:銅の構成比(クラッド材全体に対する体
積比)は1:(3〜7):1であり、特に1:(4〜6
):1とするのが好ましい、42合金の構成比率が前記
範囲より低くなると熱膨張係数が大きくなって好ましく
なく、また42合金の構成比率が前記範囲より高くなる
と熱伝導率が低くなって好ましくない。
積比)は1:(3〜7):1であり、特に1:(4〜6
):1とするのが好ましい、42合金の構成比率が前記
範囲より低くなると熱膨張係数が大きくなって好ましく
なく、また42合金の構成比率が前記範囲より高くなる
と熱伝導率が低くなって好ましくない。
42合金クラッド材は、42合金および銅をそれぞれ脱
脂、研磨し、42合金の両側に銅を重ねて、冷間圧延法
により、圧下率50〜60%となるように圧延圧接して
一体化し、複合材を400〜500℃で約30分間加熱
して拡散加熱を行って、42合金および銅を相互に拡散
させ、圧延および熱処理を繰返した後、続いて20〜4
0%の仕上げ圧延加工を施すことにより、所望の強度を
有するクラッド材が製造される。42合金および銅は圧
下率が異なるので、圧接の段階で前記構成となるように
、原料の42合金および鋼材の厚さを選択する。製造さ
れる42合金クラッド材の厚さは0.2〜0.15+*
mとするのが好ましい。
脂、研磨し、42合金の両側に銅を重ねて、冷間圧延法
により、圧下率50〜60%となるように圧延圧接して
一体化し、複合材を400〜500℃で約30分間加熱
して拡散加熱を行って、42合金および銅を相互に拡散
させ、圧延および熱処理を繰返した後、続いて20〜4
0%の仕上げ圧延加工を施すことにより、所望の強度を
有するクラッド材が製造される。42合金および銅は圧
下率が異なるので、圧接の段階で前記構成となるように
、原料の42合金および鋼材の厚さを選択する。製造さ
れる42合金クラッド材の厚さは0.2〜0.15+*
mとするのが好ましい。
こうして得られるクラッド材は42合金および両面の銅
が一体化して、熱伝導性および導電性に優れ、強度が大
きく、繰返し曲げ性が良好で、熱膨張係数が小さく、め
っき性、はんだ付性が良好で。
が一体化して、熱伝導性および導電性に優れ、強度が大
きく、繰返し曲げ性が良好で、熱膨張係数が小さく、め
っき性、はんだ付性が良好で。
ダイレクトボンディング性も良好である。特にアンバー
クラッド材よりも、常温ないし高温、特に30〜300
℃における平均熱膨張係数が小さく、熱伝導率および強
度が大きい。
クラッド材よりも、常温ないし高温、特に30〜300
℃における平均熱膨張係数が小さく、熱伝導率および強
度が大きい。
このようなりラッド材はそのままあるいは任意の処理を
施してリードフレーム材として用いられ、打抜加工、エ
ツチング等により所定の形状に加工してリードフレーム
が形成される、 〔実施例〕 以下、この発明の実施例を図について説明する。
施してリードフレーム材として用いられ、打抜加工、エ
ツチング等により所定の形状に加工してリードフレーム
が形成される、 〔実施例〕 以下、この発明の実施例を図について説明する。
第1図はこの発明の実施例による半導体装置用リードフ
レーム材を示す斜視図である。図において、(1)は4
2合金クラッド材で、42合金(2)を挟むように、そ
の両面に銅(3)、(4)をクラッドさせた銅/42合
金/銅の3層からなり、銅:42合金:銅の構成比が1
:(3〜7):1、好ましくは1:(4〜6):1とさ
れているクラッド材である。
レーム材を示す斜視図である。図において、(1)は4
2合金クラッド材で、42合金(2)を挟むように、そ
の両面に銅(3)、(4)をクラッドさせた銅/42合
金/銅の3層からなり、銅:42合金:銅の構成比が1
:(3〜7):1、好ましくは1:(4〜6):1とさ
れているクラッド材である。
1枚の42合金板と2枚の純銅板を脱脂、研磨後、42
合金板の両面に2枚の純銅板を重ね、冷間圧延法により
、圧下率55%となるように圧延圧接して一体化し、複
合材を450℃で約30分間加熱して拡散加熱を行い、
その後圧延および熱処理を繰返して、最終20%の仕上
げ圧延加工した厚さ0.2+usの42合金クラッド材
を得た。
合金板の両面に2枚の純銅板を重ね、冷間圧延法により
、圧下率55%となるように圧延圧接して一体化し、複
合材を450℃で約30分間加熱して拡散加熱を行い、
その後圧延および熱処理を繰返して、最終20%の仕上
げ圧延加工した厚さ0.2+usの42合金クラッド材
を得た。
42合金クラッド材の銅/42合金/綱の構成比が1:
(3〜7)=1となるように、42合金板および純銅板
の厚さを変えて42合金クラッド材を得、その物性を測
定し、同じ構成比のアンバークラッド材と比較した構成
比と30〜300℃平均熱膨張係数の関係を第2図に示
し、構成比と熱伝導率の関係を第3図に示す。
(3〜7)=1となるように、42合金板および純銅板
の厚さを変えて42合金クラッド材を得、その物性を測
定し、同じ構成比のアンバークラッド材と比較した構成
比と30〜300℃平均熱膨張係数の関係を第2図に示
し、構成比と熱伝導率の関係を第3図に示す。
第2図および第3図の結果より、42合金クラッド材は
アンバークラッド材よりも常温ないし高温における平均
熱膨張係数が小さく、かつ熱伝導率が大きいことがわか
る。
アンバークラッド材よりも常温ないし高温における平均
熱膨張係数が小さく、かつ熱伝導率が大きいことがわか
る。
以上の通り、本発明によれば、42合金クラッド材を用
いたので、常温ないし高温における平均熱膨張係数が小
さくて半導体チップの割れが少なく、また熱伝導率が大
きくて放熱性に優れ、強度が大きく、かつダイレクトボ
ンディング性に優れ、低コストのリードフレーム材が得
られる。
いたので、常温ないし高温における平均熱膨張係数が小
さくて半導体チップの割れが少なく、また熱伝導率が大
きくて放熱性に優れ、強度が大きく、かつダイレクトボ
ンディング性に優れ、低コストのリードフレーム材が得
られる。
第1図は実施例の半導体装置用リードフレーム材を示す
斜視図、第2図は構成比と熱膨張係数の関係を示すグラ
フ、第3図は構成比と熱伝導率の関係を示すグラフであ
る。 (1)・・・42合金クラッド材、(2)・・・42合
金、(3)。 (4)・・・銅。
斜視図、第2図は構成比と熱膨張係数の関係を示すグラ
フ、第3図は構成比と熱伝導率の関係を示すグラフであ
る。 (1)・・・42合金クラッド材、(2)・・・42合
金、(3)。 (4)・・・銅。
Claims (1)
- (1)Fe−42%Ni合金の両側に銅を、銅:Fe−
42%Ni合金:銅の構成比が1:(3〜7):1とな
るように配置したクラッド材からなることを特徴とする
半導体装置用リードフレーム材。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28141090A JPH04155950A (ja) | 1990-10-19 | 1990-10-19 | 半導体装置用リードフレーム材 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28141090A JPH04155950A (ja) | 1990-10-19 | 1990-10-19 | 半導体装置用リードフレーム材 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04155950A true JPH04155950A (ja) | 1992-05-28 |
Family
ID=17638768
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28141090A Pending JPH04155950A (ja) | 1990-10-19 | 1990-10-19 | 半導体装置用リードフレーム材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04155950A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014197674A (ja) * | 2013-03-05 | 2014-10-16 | 日亜化学工業株式会社 | リードフレーム及び半導体装置 |
-
1990
- 1990-10-19 JP JP28141090A patent/JPH04155950A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014197674A (ja) * | 2013-03-05 | 2014-10-16 | 日亜化学工業株式会社 | リードフレーム及び半導体装置 |
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