JPH04155849A - 半導体集積回路装置のレイアウト設計方法 - Google Patents

半導体集積回路装置のレイアウト設計方法

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JPH04155849A
JPH04155849A JP2281031A JP28103190A JPH04155849A JP H04155849 A JPH04155849 A JP H04155849A JP 2281031 A JP2281031 A JP 2281031A JP 28103190 A JP28103190 A JP 28103190A JP H04155849 A JPH04155849 A JP H04155849A
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伸一 中川
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ この発明は半導体集積回路装置のレイアウト設計方法に
関し、特にCMOSスタンダードセル方式によるLSI
のレイアウト設計方法の改善に関するものである。
[従来の技術] LSIは、最近の一般的分類方法としてLSIレイアウ
ト設計の面から、カスタムLSIとセミカスタムLSI
とに分類される。ここで、カスタムLSIとは、ある特
定のLSIを設計するにあたって、LSI全体または内
部のブロックがそのLSI専用に設計されるものをいう
。セミカスタムLSI、4は、共通回路として予め設計
されているレイアウトパターンが登録されたライブラリ
を用いて設計されるものをいう。この定義によれば、ス
タンダードセル方式はセミカスタムLSIの設計方式に
分類される。
スタンダードセル方式は、標準的な回路ブロックセルを
予め設計してセルライブラリに登録しておき、これを用
いてLSIを設計する方式で、セミカスタムLSIの設
計法の一種である。各回路ブロワ“クセルは、CADシ
ステムの自動配置配線プログラムにより配置される。ラ
イブラリに登録される標準的な回路ブロックセルとして
のスタンダードセルは通常、単純な論理ゲートやフリッ
プフロップ等の論理回路が予め設計されたレイアウトパ
ターンである。これらの標準的なレイアウトパターンは
、−度設計され、シュミレーションまたは実験によって
正確な動作が検証されるとデータベースに登録される。
これにより、セルライブラリが構成される。また、これ
らの標準的なレイアウトパターンは幾何学的には高さ一
定、幅が可変の形状を有する。要するに、スタンダード
セル方式によるLSIのレイアウト設計は、ライブラリ
から標準的なレイアウトパターンを取出し、CADシス
テムによって各レイアウトパターンの配置と配線を行な
うものである。
従来のCMOSスタンダードセル方式によるLSIのレ
イアウト設計方法は、たとえば、Ne1l  H,E、
Weste  et  al、  Pr1nciple
s  of  CMO8VLSI  Design:A
  System  Perspective″pp、
193−195に開示されている。以下、従来のCMO
Sスタンダードセル方式によるLSIレイアウト設計の
方法について図を参照して説明する。
第7図は、従来のスタンダードセル方式によるLSIレ
イアウト設計の方法を示すフローチャートである。第7
図を参照して、ます、設計の対象となる所定の論理回路
図がCADシステムに入力される。ここでは、入力され
る論理回路図として第8図に示される論理回路図を一例
としてそのレイアウト設計方法を説明する。
第8図に示される論理回路図によれば、データが11〜
16から入力され、所定のデータ処理が行なわれた後、
OUTからデータが出力される。
この論理回路図に対する真理値表は第1表および第2表
に示される。
第1表 第2表 第1表において、不変とは出力状態が変化しない状態を
言う。禁止とはこの組合わせの入力を禁止することを言
う。第2表において、*印は1あるいは0を示す。Q、
Qは第1表で示される真理値表の出力がそのまま出力さ
れることを示す。
入力される論理回路図は、回路ブロック01〜G5から
構成される。回路ブロックG2の内部論理回路図は第9
図に示される。また、回路ブロックG5の内部論理回路
図は第10図に示される。
第8図の論理回路図を論理ゲートレベルで示したものは
第11図に示される。さらに、第11図の論理回路図を
トランジスタレベルで示した回路図は第12図に示され
る。
第8図に示される論理回路図がCADシステムに入力さ
れると、その論理回路図は論理機能単位、すなわち回路
ブロック01〜G5に分割される。
これらの回路ブロック61〜G5は標準的な回路ブロッ
クセルとして予め設計されており、CADシステムのセ
ルライブラリに各々の回路ブロックセルに対応するレイ
アウトパターンとして登録されている。したかって、各
論理機能単位、回路ブロック61〜G5に対応するスタ
ンダードセルをライブラリからレイアウトセルとして取
出される。
回路ブロックG1、G2、G3 (G4) 、G5に対
応するレイアウトセルは第13A図、第14A図、第1
5A図、第16A図に示されている。
また、これらの回路ブロックG1、G2、G3(G4)
、G5に対応するトランジスタレベルの回路図は第13
B図、第14B図、第15B図、第16B図に示されて
いる。
第13A図および第13B図を参照して、回路ブロック
G1はpチャネル型MO8)ランジスタTll、T12
、T13と、nチャネルMOSトランジスタT14、T
15、T16とから構成される。各MOSトランジスタ
間は第1配線により接続されている。入力端子A、Bと
出力端子Oは、第1配線にスルーホールを介して接続さ
れる上層の第2配線に設けられている。回路ブロックG
1に対応するレイアウトセルは、ANDゲートの論理機
能を有する標準的なレイアウトセルである。
また、第14A図および第14B図を参照して、回路ブ
ロックG2は、pチャネルM OS トランジスタT3
1、T32、T35、T36と、nチャネルMOSトラ
ンジスタ73B、T34、T37、T38とから構成さ
れる。各MOSトランジスタのn領域、n領域およびゲ
ート電極配線の間は、コンタクトホールを介して第1配
線によって接続されている。これらの第1配線はスルー
ホールを介して上層の第2配線に接続されている。入力
端子RSSと出力端子Q、Qは第2配線に設けられる。
図において、pチャネルMO5)ランジスタT31、T
32、T35、T36の上側には電源配線VDDか設け
られている。図において、nチャネルMOSトランジス
タT3B、T34、T37、T38の下側には接地配線
GNDか設けられている。このようにして、回路ブロッ
クG2、すなわちフリップ・フロップ・ゲートの標準的
なレイアウトセルが構成される。
さらに、回路ブロックG3、G4、すなわちORゲート
の標準的なレイアウトセルは第15A図に示される。第
15A図および第15B図を参照して、回路ブロックG
3、G4は、nチャネルMOSトランジスタT21、T
22、T2Bと、nチャネルMOSトランジスタT24
、T25、T26とから構成される。回路ブロックG1
、G2のレイアウトセルと同様にして、各MO5)ラン
ジスタのn領域、n領域およびゲート電極配線の間はコ
ンタクトホールを介して第1配線によって接続され、第
2配線はスルーホールを介して第1配線に接続される。
第2配線には、入力端子A、Bと出力端子Oが設けられ
ている。
第16A図および第16B図を参照して、回路ブロック
G5、すなわちセレクタ回路はpチャネルMO5)ラン
ジスタT41、T42、T43、T44、T49、T5
1、T52と、nチャネルMO8)ランジスタT45、
T46、T47、T48、T50、T53、T54とか
ら構成される。
各MO8)ランジスタのn領域、n領域およびゲート電
極配線の間はコンタクトホールを介して第1配線により
接続され、第2配線はスルーホールを介して第1配線に
接続されている。入力端子A、SA、Bと出力端子Oは
第2配線に設けられている。
以上のように、各回路ブロック61〜G5のレイアウト
セルにおいては、入力端子および出力端子は図において
各レイアウトセルの上側および下側に設けられている。
また、第13A図、第14A図、第15A図、第16A
図から明らかなように、各レイアウトセルは幾何学的に
高さhが一定で横方向の幅が可変の形状を有する。この
レイアウトセルの形状は、LSIのレイアウト設計時に
おいて各レイアウトセルの配置を容易にし、かつレイア
ウトセル間の配線を容易にするなどのレイアウト設計上
の要請による。
これらのレイアウトセルは第8図に示される論理回路図
に従って配置される。このレイアウトセルの配置は第1
7A図に示されている。回路ブロックG2、G3、G4
のレイアウトセルは図において上側に配置され、回路ブ
ロックG1、G5のレイアウトセルは図において下側に
配置される。
上側に配置されたレイアウトセル群と下側に配置された
レイアウトセル群との間の領域1000は各レイアウト
セル間の配線のために用いられる。
第17B図を参照して、レイアウトセル間の第2配線が
行われる。この第2配線のパターンは、各レイアウトセ
ルの入力端子または出力端子が設けられた第2配線が上
下レイアウトセル群の間の領域1000内に延びるよう
に形成される。
その後、第17C図を参照して、レイアウトセル間の第
1配線が行われる。この第1配線のパターンは、第17
B図において形成された第2配線のパターンにスルーホ
ールを介して接続するように形成される。これらの第1
配線および第2配線のパターンの形成は、第8図に示さ
れる論理回路図に従ってCADシステムの自動配置配線
プログラムにより行なわれる。
最後に、第17D図に示すように、上側のレイアウトセ
ル群と下側のレイアウトセル群との間の配線領域100
0を詰めるためにコンパクション処理が行なわれる。こ
のようにして、スタンダードセル方式によるLSIのレ
イアウト設計が行なわれる。
[発明が解決しようとする課題] 従来のスタンダードセル方式によるレイアウト設計方法
は以上のように行なわれていたので、同じ列に存在する
レイアウトセル間の接続配線も、配線領域1000を使
用して行なわれていた。すなわち、第17D図を参照し
て、同じ列に存在する回路ブロックG2のレイアウトセ
ルと回路ブロックG4のレイアウトセルとの間の接続配
線305も、上側レイアウトセル群と下側レイアウトセ
ル群との間の配線領域1000を使用して配置されてい
る。また、上側のレイアウトセル群に位置する回路ブロ
ックG2のレイアウトセルと回路ブロックG3のレイア
ウトセルとの間の接続配線309も配線領域1000を
使用して行なわれている。そのため、配線長が相対的に
長くなり、設計されたLSIの動作速度が遅くなるとい
う問題点があった。
そこで、この発明の目的は効率的な配線を可能にすると
ともに、より高速な動作を可能にする半導体集積回路装
置のレイアウト設計方法を提供することである。
[課題を解決するための手段] この発明に従った半導体集積回路装置のレイアウト設計
方法は、論理機能単位ごとに予め設計された標準レイア
ウトパターンを用いて所定の論理機能を有する半導体集
積回路装置のレイアウトを設計するものである。この発
明のレイアウト設計方法によれば、まず、所定の論理回
路図が複数個の論理機能単位に分割される。論理機能単
位の各々に対応する標準レイアウトパターンは、第1導
電型のレイアウトパターンと第2導電型のレイアウトパ
ターンとに分割されたレイアウトパターンとして所定の
ライブラリから取出される。第1導電型のレイアウトパ
ターンは論理回路図に従って配置される。第2導電型の
レイアウトパターンは論理回路図に従って配置される。
レイアウトパターンの間を接続する配線パターンは論理
回路図に従って配置される。
[作用] この発明においては、論理機能単位の各々に対応する標
準レイアウトパターンは第1導電型のレイアウトパター
ンと第2導電型のレイアウトパターンとに分割されてい
る。そのため、同一の列に存在するレイアウトパターン
間の配線は、レイアウトパターン列の間の配線領域を利
用することなく、第1導電型のレイアウトパターンと第
2導電型のレイアウトパターンとの間の領域を利用して
行なわれ得る。したがって、同一列内に存在するレイア
ウトパターン間の配線長を短くすることができる。その
結果、無駄な配線領域を最小限にし、効率的な配線が可
能となる。これにより、設計されたパターン集積回路装
置の動作速度をより高速にすることが可能になる。
[実施例コ 第1図は、この発明にしたがったスタンダードセル方式
によるLSIのレイアウト設計方法の一実施例を示すフ
ローチャートである。第1図を参照して、所定の設計対
象としての論理回路図かCADシステムに人力される。
この実施例では第8図に示された論理回路図が一例とし
て人力される。
次に、この論理回路図が論理機能単位、すなわち回路ブ
ロック61〜G5に分割される。各論理機能単位に対応
するスタンダードセルかライブラリから導電型式ごとの
レイアウトセルとして取出される。言い換えれば、各回
路ブロック61〜G5に対応する標準的なレイアウトパ
ターンがp型のレイアウトセルとn型のレイアウトセル
とに分割されたパターンとしてライブラリから取出され
る。
第2A図は回路ブロックG1に対応する導電型式ごとの
レイアウトセルを示す。回路ブロックG1に対応する標
準的なレイアウトパターンはp型のレイアウトセルGI
Pとn型のレイアウトセルGINとに分割されている。
これらのレイアウトセルGIP、GINに対応する等価
回路図は第2B図に示されている。p型のレイアウトセ
ルGIPは3個のpチャネルMOS)ランジスタを含む
これらのpチャネルMOS)ランジスタのレイアウトパ
ターンは、4個のp型不純物領域パターン10pと、3
個のゲート電極パターンとを含んでいる。p型不純物領
域パターン10pは、図において横方向に相互に間隔を
隔てて延在し、かつ所定の幅を有する。ゲート電極パタ
ーンはp型不純物領域パターンの間で横方向に相互に間
隔を隔てている。n型のレイアウトセルGINは横方向
に沿って並んだ3個のnチャネルMOS)ランジスタの
レイアウトパターンを含んでいる。このnチャネルMO
S)ランジスタのレイアウトパターンも、nチャネルM
OSトランジスタのレイアウトパターンと同様に4個の
n型不純物領域パターン10nと、3個のゲート電極パ
ターンとを含んでいる。また、p型のレイアウトセルG
IPとn型のレイアウトセルGINは、それぞれ、p型
不純物領域パターン10pに接続された電源配線vDp
Sn型不純物領域パターン10nに接続された接地配線
GNDを含んでいる。電源配線VDDおよび接地配線G
NDは、p型不純物領域パターン10 p s n型不
純物領域パターン1onの延びる方向に沿って延在して
いる。このようにして、回路ブロックG1に対応するレ
イアウトセルは、p型しイアウトセルGIPとn型しイ
アウトセルGINとに分割される。
第3A図は回路ブロックG2のレイアウトセルとして2
つに分割されたp型しイアウトセルG2Pとn型しイア
ウトセルG2Nとを示す。p型しイアウトセルG2Pと
n型しイアウトセルG2Nに対応する等価回路図は第3
B図に示されている。
第2A図に示されたレイアウトセルと同様に、p型しイ
アウトセルG2PはnチャネルMOSトランジスタのレ
イアウトパターンを含む。また、n型しイアウトセルG
2NもnチャネルMOSトランジスタのレイアウトパタ
ーンを含む。pチャネルMOS)ランジスタ、nチャネ
ルMOSトランジスタのレイアウトパターンはそれぞれ
、p型不純物領域パターン2OpSn型不純物領域パタ
ーン2Onを含む。
第4A図は回路ブロックG3 (G4)のレイアウトセ
ルとして分割された2つのp型レイアウトセル03P 
(04P)と、n型しイアウトセルG3N (04N)
を示す。p型しイアウトセルG3P (04P)とn型
しイアウトセルG3N (04N)の等価回路図は第4
B図に示されている。第2A図に示されたレイアウトセ
ルと同様に、p型しイアウトセルG3P (G4P) 
、n型しイアウトセルG3N (G4N)はそれぞれ、
複数個のnチャネルMOSトランジスタ、nチャネルM
OSトランジスタのレイアウトパターンを含む。pチャ
ネルMOS)ランジスタ、nチャネルMOSトランジス
タのレイアウトパターンはそれぞれ、p型不純物領域パ
ターン30p (40p) 、n型不純物領域パターン
30n (40n) を含t;。
第5A図は回路ブロックG5に対応するレイアウトセル
として分割された2つのp型しイアウトセルG5Pとn
型しイアウトセルG5Nとを示す。
p型しイアウトセルG5Pとn型しイアウトセルG5N
に対応する等価回路図は第5B図に示されている。第2
A図に示されたレイアウトセルと同様にして、p型しイ
アウトセルG5P、n型レイアウトセルG5Nはそれぞ
れ、複数個のpチャネルMOSトランジスタのレイアウ
トパターン、nチャネルMOSトランジスタのレイアウ
トパターンを含む。pチャネルMOSトランジスタのレ
イアウトパターン、nチャネルMOSトランジスタのレ
イアウトパターンはそれぞれ、複数個のp型不純物領域
パターン51p、52p、複数個のn型不純物領域パタ
ーン51n、52nを含む。
以上のように各回路ブロック01〜G5に対応するレイ
アウトセルはp型のレイアウトセルとn型のレイアウト
セルとに分割されてライブラリから取出される。
次に第6A図を参照して、まず、p型しイアウトセルG
2PSG3PおよびG4Pが上側の領域に配置され、p
型しイアウトセルGIPおよびG5Pが下側の領域に配
置される。その後、第6B図を参照して、n型しイアウ
トセルG2N、G3Nおよび04Nがp型しイアウトセ
ルG2P、03Pおよび04Pに向かい合うように上側
の領域に配置される。また、n型しイアウトセルGIN
およびG5Nかp型しイアウトセルGIPおよびG5P
に向かい合うように下側の領域に配置される。
その後、第6C図に示されるように、レイアウトセル間
のゲート電極配線か行なわれる。すなわち、p型しイア
ウトセルG2Pとn型しイアウトセルG2Nとの間には
ゲート電極配線21.22.23.24が施される。p
型しイアウトセルG3Pとn型しイアウトセルG3Nと
の間にはゲート電極配線31.32.33か施される。
p型しイアウトセルG4Pとn型しイアウトセルG4N
との間にはゲート電極配線41.42.43が施される
。さらに、p型しイアウトセルGIPとn型しイアウト
セルGINとの間にはゲート電極配線11.12.13
が施される。p型しイアウトセルG5Pとn型しイアウ
トセルG5Nとの間にはゲート電極配線51.52.5
3.54.55.56.57が施される。
第6D図を参照して、レイアウトセル間の第1配線10
1〜126が、CADシステムに入力された、第8図に
示される論理回路図に従フて自動配置配線プログラムに
より形成される。
さらに、第6E図に示すように、第8図の論理回路図に
従ってCADシステムの自動配置配線プログラムにより
第1配線間を相互に接続する上層の第2配線201〜2
13が形成される。
最後に、第6F図に示されるように、上側レイアウトセ
ル群と下側レイアウトセル群との間の配線領域1000
と、n型レイアウトセル群とn型レイアウトセル群との
間の配線領域2000.3000とを詰めるためにコン
パクション処理が施される。以上のようにして、この発
明に従ってスタンダードセル方式によるLSIのレイア
ウト設計が行なわれる。
この発明の一実施例によれば、第6F図に示されるよう
に、上側のレイアウトセル群と下側のレイアウトセル群
との間の配線領域1000に形成される配線は第1配線
113と第2配線203.207のみである。従来の第
17D図と本発明の第6F図とを比較する。第17D図
においては、上側のレイアウトセル群に含まれるレイア
ウトセル間を接続する第1配線305.309は、上側
のレイアウトセル群と下側のレイアウトセル群との間の
配線領域1000に形成されている。一方、本発明の第
6F図においては、第17D図の第1配線305に対応
する第1配線105、第17D図の第1配線309に対
応する第1配線109はそれぞれ、n型レイアウトセル
群とn型レイアウトセル群との間の領域2000に形成
されている。
そのため、上側レイアウトセル群と下側レイアウトセル
群との間の配線領域1000において無駄な領域を最小
限にすることが可能となる。
また、第6F図において第1配線105はコンタクトホ
ールC1、C2、C3、C4を接続するためのものであ
る。第17D図を参照すると、第1配線305もこれら
のコンタクトホールC1、C2、C3、C4を相互に接
続するためのものである。しかしながら、第17D図に
おいては回路ブロックG2、G4のレイアウトセルがそ
れぞれ一体的に予め配置されるので、これらのコンタク
ートホール間の接続配線は第2配線305a、305b
を通じて行なわれる。すなわち、コンタクトホールC1
、C2、C3を相互に接続するために第1配線305C
が形成され、スルーホールH1を介して第1配線305
Cに接続する第2配線305bが形成される。この第2
配線305bに回路ブロックG2のレイアウトセルの出
力端子Qが設けられる。一方、回路ブロックG4のレイ
アウトセルにおいてはコンタクトホールC4と入力端子
Bとを接続するために、第1配線305dが形成され、
スルーホールH2を介して第1配線305dに接続する
第2配線305aが形成される。
この第2配線305aに回路ブロックG4のレイアウト
セルの入力端子Bが設けられる。このように、従来のレ
イアウト設計方法によれば、各レイアウトセルに含まれ
るトランジスタ間の接続は、すべて各回路ブロックのレ
イアウトセルに設けられた入力端子または出力端、子を
通じて行なわれる。
そのため、余分な配線が回路ブロックのレイアウトセル
内において形成される。しかしながら、本発明によれば
、第6F図に示されるように、コンタクトホールC1、
C2、C3、C4を接続する配線は第1配線105のみ
で行なわれる。このように、本発明によれば、トランジ
スタ間の接続において余分な配線を削除することができ
るのでより高速な動作速度を実現することが可能になる
また、同様に第17D図においてコンタクトホールC5
、C6、C7の間を接続するためにスルーホールH3を
介して第2配線309a、スルーホールH4を介して第
2配線309bが形成されている。一方、本発明の第6
F図においてはこれらのコンタクトホールC5、C6、
C7を接続するために第1配線109のみが形成されて
いる。
同様にトランジスタ間の接続において余分な配線が削除
されている。
このように上側のレイアウトセル群と下側のレイアウト
セル群との間の配線領域1000を最小限にし、効率的
な配線が可能となる。そのため、所定の論理回路図に対
応するレイアウト設計において占有平面積の削減が可能
となる。また、回路ブロックのレイアウトセル内におい
てトランジスタ間の余分な接続配線を削除することがで
きるので、より高速な動作速度を実現することが可能に
なる。
[発明の効果コ 以上のようにこの発明によれば、スタンダードセル方式
においてレイアウトパターンが第1導電型のレイアウト
パターンと第2導電型のレイアウトパターンとに分割さ
れた形態で配置される。そのため、レイアウトパターン
間の配線が第1導電型のレイアウトパターン群と第2導
電型のレイアウトパターン群との間の領域において行な
われ得る。したがって、無駄な配線領域を最小限にする
ことができ、効率的な配線が可能となる。これにより、
レイアウト設計において占有平面積の削減を図ることが
できる。さらに、トランジスタ間の接続において余分な
配線を削除することができる。
そのため、より高速な動作速度を実現することが可能に
なる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例による半導体集積回路装
置のレイアウト設計方法を示すフローチャートである。 第2A図は回路ブロックG1の分割されたn型レイアウ
トセルとn型レイアウトセルとを示す平面配置図であり
、第2B図はそれらのレイアウトセルに対応する等価回
路図である。 第3A図は回路ブロックG2の分割されたn型レイアウ
トセルとn型レイアウトセルとを示す平面配置図であり
、第3B図はそれらのレイアウトセルに対応する等価回
路図である。 第4A図は回路ブロックG3 (G4)の分割されたn
型レイアウトセルとn型レイアウトセルを示す平面配置
図であり、第4B図はそれらのレイアウトセルに対応す
る等価回路図である。 第5A図は回路ブロックG5の分割されたn型レイアウ
トセルとn型レイアウトセルを示す平面配置図であり、
第5B図はそれらのレイアウトセルに対応する等価回路
図である。 第6A図、第6B図、第6C図、第6D図、第6B図、
第6F図は、第1図のフローチャートに従ったレイアウ
トセルの配置工程およびレイアウトセル間の配線工程を
順に示す平面配置図である。 第7図は、従来の半導体集積回路装置のレイアウト設計
方法を示すフローチャートである。 第8図は、従来およびこの発明の実施例において設計対
象として用いられる論理回路図である。 第9図は、第8図の回路ブロックG2を示す内部論理回
路図である。 第10図は、第8図の回路ブロックG5を示す内部論理
回路図である 第11図は、第8図の論理回路図を論理ゲートレベルで
示す論理回路図である。 第12図は、第8図の論理回路図をトランジスタレベル
で示す回路図である。 第13A図は従来のスタンダードセル方式において用い
られる回路ブロックGlのレイアウトセルを示す平面配
置図であり、第13B図はそのレイアウトセルに対応す
る等価回路図である。 114A図は従来のスタンダードセル方式において用い
られる回路ブロックG2のレイアウトセルを示す平面配
置図であり、第14B図はそのレイアウトセルに対応す
る等価回路図である。 第15A図は従来のスタンダードセル方式において用い
られる回路ブロックG3 (G4)のレイアウトセルを
示す平面配置図であり、第15B図はそのレイアウトセ
ルに対応する等価回路図である。 第16A図は従来のスタンダードセル方式において用い
られる回路ブロックG5のレイアウトセルを示す平面配
置図であり、第16B図はそのレイアウトセルに対応す
る等価回路図である。 第17A図、第17B図、第17C図、第17D図は、
第7図に従った従来のレイアウトセルの配置工程とレイ
アウトセル間の配線工程を順に示す平面配置図である。 図において、GIP、G2P、G3P、G4P。 G5Pはn型レイアウトセル、GINSG2N。 03NS04N、G5Nはn型レイアウトセルを示す。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 (ほか2名) tJ1図 第2A図 第2B図 IN 凶  コ〉り2トJ・−ノ[ ■ スルー不−IL。 口 γ“−F電J& le! 口itgl線 1112色ご縁 蕎  入力/lビン(聴2ff9) キオタトルト” 第48図 03N(04Nン ■  コンフットW、−1し ■  スルーπ・−1し 杉a  勺1−F電劉しl!]C#! 口¥Iff情 置鳩2錠穐 杉矩   九カ/出力し°ンα2tJf線)X:捧峠’
−F。 第7図 第148図 図  コンタクト大、−1L ■ スト庄、−ル ロ PT−[電IC線 同第1錠線 ij  V)2錠線

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)論理機能単位ごとに予め設計された標準レイアウ
    トパターンを用いて所定の論理機能を有する半導体集積
    回路装置のレイアウトを設計する半導体集積回路装置の
    レイアウト設計方法であって、 所定の論理回路図を複数個の前記論理機能単位に分割す
    る工程と、 前記論理機能単位の各々に対応する前記標準レイアウト
    パターンを第1導電型のレイアウトパターンと第2導電
    型のレイアウトパターンとに分割されたレイアウトパタ
    ーンとして所定のライブラリから取出す工程と、 前記論理回路図に従って前記第1導電型のレイアウトパ
    ターンを配置する工程と、 前記論理回路図に従って前記第2導電型のレイアウトパ
    ターンを配置する工程と、 前記論理回路図に従って前記レイアウトパターンの間を
    接続する配線パターンを配置する工程とを備えた、半導
    体集積回路装置のレイアウト設計方法。
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