JPH04151526A - 騒音自動測定装置 - Google Patents
騒音自動測定装置Info
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- JPH04151526A JPH04151526A JP27560090A JP27560090A JPH04151526A JP H04151526 A JPH04151526 A JP H04151526A JP 27560090 A JP27560090 A JP 27560090A JP 27560090 A JP27560090 A JP 27560090A JP H04151526 A JPH04151526 A JP H04151526A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 25
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 5
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、騒音自動測定装置に関するものである。
従来、この種の騒音自動測定装置としては、第４図に示
すように、無響室からなる防音室＋１１の中に音源（２
）を配置し、この音源をスピーカ（３）にて覆い、スピ
ーカＢ）に加えられた白色雑音が暗雑音を発生する。こ
れに対し、音源（２）から近い位置に第１のマイクロホ
ン４、音源（２１から離れた８点のポイントに第２のマ
イクロホン（９を配置し、それぞれのマイクロホン（イ
）、（５）の出力を周波数分析器（６）に入力し、それ
ぞれの差を測定、且つ演算しているものが知られている
（例えば、Ｎ０ＩＳＥ Ｃ０ＮＴＲ０ＬＥＮＧＩＮＥＥ
ＲＩＮＧ ＪＯＬＩＲＮＡＬ／ＪＬＩＩＹ−ＡＵＧＬＩ
ＳＴ ＋９８５．Ｐ４〜ｐＨ参照）。
すように、無響室からなる防音室＋１１の中に音源（２
）を配置し、この音源をスピーカ（３）にて覆い、スピ
ーカＢ）に加えられた白色雑音が暗雑音を発生する。こ
れに対し、音源（２）から近い位置に第１のマイクロホ
ン４、音源（２１から離れた８点のポイントに第２のマ
イクロホン（９を配置し、それぞれのマイクロホン（イ
）、（５）の出力を周波数分析器（６）に入力し、それ
ぞれの差を測定、且つ演算しているものが知られている
（例えば、Ｎ０ＩＳＥ Ｃ０ＮＴＲ０ＬＥＮＧＩＮＥＥ
ＲＩＮＧ ＪＯＬＩＲＮＡＬ／ＪＬＩＩＹ−ＡＵＧＬＩ
ＳＴ ＋９８５．Ｐ４〜ｐＨ参照）。
上記のような従来の騒音自動測定装置では、周波数分析
器（６）を使用してそれぞれの差を測定し、その差を実
測データから差し引いて測定するというものであり、演
算処理が複雑となり、例えば生産ライン等にての実用化
に対しては自動化等が面倒、且つ困難であるという課題
があった。
器（６）を使用してそれぞれの差を測定し、その差を実
測データから差し引いて測定するというものであり、演
算処理が複雑となり、例えば生産ライン等にての実用化
に対しては自動化等が面倒、且つ困難であるという課題
があった。
この発明は係る課題を解決するためになされたもので、
測定および演算方法が簡単で、生産ライン等にての実用
化を可能とする騒音自動測定装置を得ることを目的とす
るものである。
測定および演算方法が簡単で、生産ライン等にての実用
化を可能とする騒音自動測定装置を得ることを目的とす
るものである。
この発明に係る騒音自動測定装置は、防音室と、この防
音室内に配置された測定物と、この測定物の騒音を主に
測定するよう上記防音室内に配置された第１のマイクロ
ホンと、この第１のマイクロホンと所定間隔をおいて配
置され、上記測定物の騒音および測定物以外の雑音を測
定する第２のマイクロホンと、この第２のマイクロホン
および上記第１のマイクロホンよりの出力を差動入力し
、Ａ／Ｄ変換する測定回路部と、この測定回路部よりの
出力を判定する判定器とからなるものである。
音室内に配置された測定物と、この測定物の騒音を主に
測定するよう上記防音室内に配置された第１のマイクロ
ホンと、この第１のマイクロホンと所定間隔をおいて配
置され、上記測定物の騒音および測定物以外の雑音を測
定する第２のマイクロホンと、この第２のマイクロホン
および上記第１のマイクロホンよりの出力を差動入力し
、Ａ／Ｄ変換する測定回路部と、この測定回路部よりの
出力を判定する判定器とからなるものである。
この発明においては、防音室と、この防音室内に配置さ
れた測定物と、この測定物の騒音を主に測定するよう上
記防音室内に配置された第１のマイクロホンと、この第
１のマイクロホンと所定間隔とおいて配置され、上記測
定物の騒音および測定物以外の雑音を測定する第２のマ
イクロホンと、この第２のマイクロホンおよび上記第１
のマイクロホンよりの出力を差動入力し、Ａ／Ｄ変換す
る測定回路部と、この測定回路部よりの出力を判定する
判定器とからなることより５第１のマイクロホンには測
定物の騒音と測定物以外の外部雑音が重複した状態で入
力され、第２のマイクロホンには外部雑音のみが入力さ
れ、次にこれらのそれぞれのマイクロホンよりの出力は
測定回路部に入力され、双方のマイクロホンに入った外
部雑音はキャンセルされ、上記測定回路部より自動的に
測定物の真の騒音データのみが出力されＡ／Ｄ変換後、
この騒音データは判定器により判定される。
れた測定物と、この測定物の騒音を主に測定するよう上
記防音室内に配置された第１のマイクロホンと、この第
１のマイクロホンと所定間隔とおいて配置され、上記測
定物の騒音および測定物以外の雑音を測定する第２のマ
イクロホンと、この第２のマイクロホンおよび上記第１
のマイクロホンよりの出力を差動入力し、Ａ／Ｄ変換す
る測定回路部と、この測定回路部よりの出力を判定する
判定器とからなることより５第１のマイクロホンには測
定物の騒音と測定物以外の外部雑音が重複した状態で入
力され、第２のマイクロホンには外部雑音のみが入力さ
れ、次にこれらのそれぞれのマイクロホンよりの出力は
測定回路部に入力され、双方のマイクロホンに入った外
部雑音はキャンセルされ、上記測定回路部より自動的に
測定物の真の騒音データのみが出力されＡ／Ｄ変換後、
この騒音データは判定器により判定される。
第１図〜第３図はこの発明の一実施例を示す図であり、
図において（７）は無響室からなる第１の防音室、（８
）はこの第１の防音室内に設けられた第２の防音室、（
９）、頭は上記第１の防音室（７）および第２の防音室
（８１の扉、（１１）は測定物で、例えはプロペラ羽根
（１２）を有する送風機よりなる。（１３）はこの測定
物の正面に設置された第１のマイクロホンで、主に測定
物（１１）の騒音を測定する。（１４）はこの第１のマ
イクロホンの上方に配置された第２のマイクロホンで、
上記測定物（１１１および測定物（ｌｌ）以外の外部雑
音発生部分である扉（９）、頭部分あるいは扉（９＋
、 ＱＯＩと各防音室（７）、ｔａ＋との隙間から入る
騒音等を測定する。 （１５）は測定回路部で、上記第
１のマイクロホン（１３）および第２のマイクロホン（
１４）よりの２個の出力を差動入力し、１個の電気信号
にＡ／Ｄ変換して、後述される判定器に送信する。（１
６）、（１７）はこの測定回路部に設けられた第１のマ
イクロホン（１３）側の増幅回路Ａと第２のマイクロホ
ン（１４）＠の増幅回路Ｂで、各マイクロホン（１３）
、（１４）よりの出力を増幅する。 （＋８１はこれら
の増幅回路Ａ、Ｂに接続された差動増幅回路で、上記各
マイクロホン（１３）、（１４）よりの入力の内、外部
雑音を相殺させて取り除き、測定物（１１）の騒音だけ
を出力する。（１９）はこの差動増幅回路に接続された
バンドパスフィルタ、（２０）はこのバンドパスフィル
タに接続された増幅回路Ｃ１（２１）はこの増幅回路Ｃ
に接続された整流回路で、上記増幅回路Ｃよりの出力信
号を両波整流する。 （２２）はこの整流回路に接続さ
れたピークホールド回路で、上記整流回路（２１）より
の最大値をピークホールドする。 （２３１はＡ／Ｄ回
路で、上記ピークホールド回路（２１）よりの出力をＡ
／Ｄ変換して、後述される判定器に送信する。（２４）
は判定器で、例えばパソコンよりなり基準騒音値が設定
されており上記Ａ／Ｄ回路（２３）よりの入力を比較し
自動的に判定するものである。
図において（７）は無響室からなる第１の防音室、（８
）はこの第１の防音室内に設けられた第２の防音室、（
９）、頭は上記第１の防音室（７）および第２の防音室
（８１の扉、（１１）は測定物で、例えはプロペラ羽根
（１２）を有する送風機よりなる。（１３）はこの測定
物の正面に設置された第１のマイクロホンで、主に測定
物（１１）の騒音を測定する。（１４）はこの第１のマ
イクロホンの上方に配置された第２のマイクロホンで、
上記測定物（１１１および測定物（ｌｌ）以外の外部雑
音発生部分である扉（９）、頭部分あるいは扉（９＋
、 ＱＯＩと各防音室（７）、ｔａ＋との隙間から入る
騒音等を測定する。 （１５）は測定回路部で、上記第
１のマイクロホン（１３）および第２のマイクロホン（
１４）よりの２個の出力を差動入力し、１個の電気信号
にＡ／Ｄ変換して、後述される判定器に送信する。（１
６）、（１７）はこの測定回路部に設けられた第１のマ
イクロホン（１３）側の増幅回路Ａと第２のマイクロホ
ン（１４）＠の増幅回路Ｂで、各マイクロホン（１３）
、（１４）よりの出力を増幅する。 （＋８１はこれら
の増幅回路Ａ、Ｂに接続された差動増幅回路で、上記各
マイクロホン（１３）、（１４）よりの入力の内、外部
雑音を相殺させて取り除き、測定物（１１）の騒音だけ
を出力する。（１９）はこの差動増幅回路に接続された
バンドパスフィルタ、（２０）はこのバンドパスフィル
タに接続された増幅回路Ｃ１（２１）はこの増幅回路Ｃ
に接続された整流回路で、上記増幅回路Ｃよりの出力信
号を両波整流する。 （２２）はこの整流回路に接続さ
れたピークホールド回路で、上記整流回路（２１）より
の最大値をピークホールドする。 （２３１はＡ／Ｄ回
路で、上記ピークホールド回路（２１）よりの出力をＡ
／Ｄ変換して、後述される判定器に送信する。（２４）
は判定器で、例えばパソコンよりなり基準騒音値が設定
されており上記Ａ／Ｄ回路（２３）よりの入力を比較し
自動的に判定するものである。
上記のように構成された騒音自動測定装置においては、
図示されない産業用ロボットにて自動に第２の防音室（
８１に測定物（１１）を配置し、測定！１ｊｌＩＪ＜１
１）に電源を投入し運転させ、騒音測定可能な状態とし
、第１のマイクロホン（１３）および第２のマイクロホ
ン（１４）にて騒音値を測定する。この場合、第１のマ
イクロホン〈１３）には測定物（１１）の騒音値に外部
雑音（異常音）がプラスされて入力される。
図示されない産業用ロボットにて自動に第２の防音室（
８１に測定物（１１）を配置し、測定！１ｊｌＩＪ＜１
１）に電源を投入し運転させ、騒音測定可能な状態とし
、第１のマイクロホン（１３）および第２のマイクロホ
ン（１４）にて騒音値を測定する。この場合、第１のマ
イクロホン〈１３）には測定物（１１）の騒音値に外部
雑音（異常音）がプラスされて入力される。
一方、第２のマイクロホン（１４）には測定物（１１）
から離れた位置にあるため、はとんど外部雑音（異常音
）だけが入力される。この２個の入力をそれそれ増幅回
路Ａ （１５Ｌ Ｂ （１６）にて増幅し、それを差動
増幅回路（１８）を通すことにより、外部雑音を相殺さ
せて取り除き、測定物（１１）の騒音値だけを出力とし
て得る。得られた出力信号を例えば１．２ＫＨ２〜１６
ＫＨ２からなるバンドパスフィルタ（１９）を通し、更
に増幅回路Ｃ（２０）を通して出力信号を大きくする。
から離れた位置にあるため、はとんど外部雑音（異常音
）だけが入力される。この２個の入力をそれそれ増幅回
路Ａ （１５Ｌ Ｂ （１６）にて増幅し、それを差動
増幅回路（１８）を通すことにより、外部雑音を相殺さ
せて取り除き、測定物（１１）の騒音値だけを出力とし
て得る。得られた出力信号を例えば１．２ＫＨ２〜１６
ＫＨ２からなるバンドパスフィルタ（１９）を通し、更
に増幅回路Ｃ（２０）を通して出力信号を大きくする。
この出力信号を整流回路（２Ｉ）で両波整流する。騒音
測定した一定時間に両波整流された出力信号の最大値を
ピークホールド回路（２２）にてピークホールドし、こ
の値をＡ／Ｄ回路（２３）にて変換して判定器（２４）
に送り、判定器（２４）内で規格値と比較判定し、判定
結果を出力する。
測定した一定時間に両波整流された出力信号の最大値を
ピークホールド回路（２２）にてピークホールドし、こ
の値をＡ／Ｄ回路（２３）にて変換して判定器（２４）
に送り、判定器（２４）内で規格値と比較判定し、判定
結果を出力する。
なお、上記実施例では騒音測定について述べたが、振動
測定であってもよい。
測定であってもよい。
この発明は以上説明したとおり、防音室と、この防音室
内に配置された測定物と、この測定物の騒音を主に測定
するよう上記防音室内に配置された第１のマイクロホン
と、この第１のマイクロホンと所定間隔をおいて配置さ
れ、上記測定物の騒音および測定物以外の雑音を測定す
る第２のマイクロホンと、この第２のマイクロホンおよ
び上記第１のマイクロホンよりの出力を差動入力し、Ａ
／Ｄ変換する測定回路部と、この測定回路部よりの出力
を判定する判定器とからなることより、外部雑音が測定
回路部にて取り除かれ、より精度の高い騒音測定が得ら
れるとともに、判定器にて測定値の自動判定できるので
より使い勝手か向上される。
内に配置された測定物と、この測定物の騒音を主に測定
するよう上記防音室内に配置された第１のマイクロホン
と、この第１のマイクロホンと所定間隔をおいて配置さ
れ、上記測定物の騒音および測定物以外の雑音を測定す
る第２のマイクロホンと、この第２のマイクロホンおよ
び上記第１のマイクロホンよりの出力を差動入力し、Ａ
／Ｄ変換する測定回路部と、この測定回路部よりの出力
を判定する判定器とからなることより、外部雑音が測定
回路部にて取り除かれ、より精度の高い騒音測定が得ら
れるとともに、判定器にて測定値の自動判定できるので
より使い勝手か向上される。
第１図はこの発明の一実施例を示す構成図、第２図は同
じく測定回路部のブロック図、第３図は同じく測定順序
を示すフローチャート、第４図は従来の騒音自動測定装
置を示す構成図および要部回路図である。 なお、ｍは第］−の防音室、（８）は第２の防音室、（
１１）は測定物、（１３）は第１のマイクロホン、（１
４）は第２のマイクロホン、（１５）は測定回路部、（
２４）は判定器である。
じく測定回路部のブロック図、第３図は同じく測定順序
を示すフローチャート、第４図は従来の騒音自動測定装
置を示す構成図および要部回路図である。 なお、ｍは第］−の防音室、（８）は第２の防音室、（
１１）は測定物、（１３）は第１のマイクロホン、（１
４）は第２のマイクロホン、（１５）は測定回路部、（
２４）は判定器である。
Claims (1)
- 防音室と、この防音室内に配置された測定物と、この測
定物の騒音を主に測定するよう上記防音室内に配置され
た第１のマイクロホンと、この第１のマイクロホンと所
定間隔をおいて配置され、上記測定物の騒音および測定
物以外の雑音を測定する第２のマイクロホンと、この第
２のマイクロホンおよび上記第１のマイクロホンよりの
出力を差動入力し、Ａ／Ｄ変換する測定回路部と、この
測定回路部よりの出力を判定する判定器とからなること
を特徴とする騒音自動測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27560090A JPH04151526A (ja) | 1990-10-15 | 1990-10-15 | 騒音自動測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27560090A JPH04151526A (ja) | 1990-10-15 | 1990-10-15 | 騒音自動測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04151526A true JPH04151526A (ja) | 1992-05-25 |
Family
ID=17557703
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27560090A Pending JPH04151526A (ja) | 1990-10-15 | 1990-10-15 | 騒音自動測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04151526A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ES2147535A1 (es) * | 1998-04-11 | 2000-09-01 | Samsung Electronics Co Ltd | Comprobador de ruido para una unidad interior de un aparato acondicionador de aire. |
| JP2007199017A (ja) * | 2006-01-30 | 2007-08-09 | Omron Corp | 異音明瞭化方法、異音明瞭化装置および異音検査装置 |
| JP2009008443A (ja) * | 2007-06-26 | 2009-01-15 | Honda Motor Co Ltd | ギヤノイズ及び振動検査装置 |
| JP2010169430A (ja) * | 2009-01-20 | 2010-08-05 | Nec System Technologies Ltd | 電子機器、および電子機器における機構部品の診断方法、ならびに診断プログラム |
| CN103323099A (zh) * | 2012-03-20 | 2013-09-25 | 三星电机株式会社 | 纯音测试装置以及用于控制纯音测试装置的方法 |
| ITNA20130021A1 (it) * | 2013-04-03 | 2014-10-04 | Individuale Di Immacolata Cas Tellano | Metodologia per l'acquisizione del rumore di un componente industriale tramite un box che isola la misura sia passivamente che attivamente da eventuali sorgenti esterne |
-
1990
- 1990-10-15 JP JP27560090A patent/JPH04151526A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ES2147535A1 (es) * | 1998-04-11 | 2000-09-01 | Samsung Electronics Co Ltd | Comprobador de ruido para una unidad interior de un aparato acondicionador de aire. |
| JP2007199017A (ja) * | 2006-01-30 | 2007-08-09 | Omron Corp | 異音明瞭化方法、異音明瞭化装置および異音検査装置 |
| JP2009008443A (ja) * | 2007-06-26 | 2009-01-15 | Honda Motor Co Ltd | ギヤノイズ及び振動検査装置 |
| JP4594964B2 (ja) * | 2007-06-26 | 2010-12-08 | 本田技研工業株式会社 | ギヤノイズ及び振動検査装置 |
| JP2010169430A (ja) * | 2009-01-20 | 2010-08-05 | Nec System Technologies Ltd | 電子機器、および電子機器における機構部品の診断方法、ならびに診断プログラム |
| CN103323099A (zh) * | 2012-03-20 | 2013-09-25 | 三星电机株式会社 | 纯音测试装置以及用于控制纯音测试装置的方法 |
| JP2013195418A (ja) * | 2012-03-20 | 2013-09-30 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | 純音検査装置及びその制御方法 |
| ITNA20130021A1 (it) * | 2013-04-03 | 2014-10-04 | Individuale Di Immacolata Cas Tellano | Metodologia per l'acquisizione del rumore di un componente industriale tramite un box che isola la misura sia passivamente che attivamente da eventuali sorgenti esterne |
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