JPH04142033A - 半導体装置の製造装置 - Google Patents

半導体装置の製造装置

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Publication number
JPH04142033A
JPH04142033A JP26443290A JP26443290A JPH04142033A JP H04142033 A JPH04142033 A JP H04142033A JP 26443290 A JP26443290 A JP 26443290A JP 26443290 A JP26443290 A JP 26443290A JP H04142033 A JPH04142033 A JP H04142033A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coating liquid
silica coating
reduce
humidity
spin
Prior art date
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Pending
Application number
JP26443290A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Nishiwaki
西脇 雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Yamagata Ltd
Original Assignee
NEC Yamagata Ltd
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Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置の製造装置に関し、特に温湿度監視
機能を備えたSOG (スピンオングラス)装置に関す
る。
〔従来の技術〕
従来のSOG (スピンオングラス)装置は、第3図の
構成図に示すように、半導体基板1を真空チャック2に
て固定し、電磁弁6により調整された適量のシリカ塗布
液を、滴下口5より半導体基板1上に滴下後スピンモー
ター3によってスピンさせ、酸化膜である5i02膜を
堆積させる機能を有している。
また、シリカ塗布液槽7内のシリカ塗布液は、圧送エア
ー配管8内を圧送されるエアーによって加圧され、電磁
弁6を経てシリカ塗布液圧送配管4に送られる。電磁弁
6はコントローラー9により開閉し、滴下量をコントロ
ールし・ている。
〔発明が解決しようとする課題〕
この従来のSOG (スピンオングラス)装置では、環
境(温度・湿度)の変化に関係なくシリカ塗布液を半導
体基板上に滴下する構造になっている為、温度・湿度が
上昇した際、酸化膜の膜厚ばらつきを発生させるという
問題点がある。
また、温度・湿度の上昇により、シリカ塗布液が結晶化
してしまう為、シリカ塗布液の圧送配管づまりや、半導
体基板上に結晶が堆積するという問題点もある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の半導体装置の製造装置である5OG(スピンオ
ングラス〉装置は、シリカ塗布液滴下時の環境をモニタ
ーする温度センサー及び湿度センサーと、前記センサー
から受けた信号によりシリカ塗布液滴下作業を制御する
コントローラーとを備えている。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の実施例1の半導体装置の製造装置であ
るSOG (スピンオングラス)装置の構成図である。
圧送エアー配管8を通って圧送エアーが送られているこ
とによって、シリカ塗布液槽7中のシリカ塗布液は加圧
されている。このシリカ塗布液の放出を制御する電磁弁
6が開くことで、シリカ塗布液は圧送配管4を通り、シ
リカ塗布液滴下口5から、スピンモーター3の作動によ
り回転する真空チャック2に固定された半導体基板1に
滴下される。
温度センサー10と湿度センサー11は常に温度及び湿
度をモニターしてコントローラー9にデータを送ってお
り、シリカ塗布液滴下前にどちらか一方でも指定範囲か
らはずれた場合、コントローラー9からの信号により電
磁弁6が開かず、シリカ塗布液滴下作業は実施されない
第2図は本発明の実施例2の構成図である。本実施例に
よれば、温度センサー10及び湿度センサー11より送
られてくる信号を元に、温湿度制御空調機12が常に指
定範囲内に塗布雰囲気の温度及び湿度をコントロールす
る。
実施例1との違いは、温度・湿度異常発生時に装置を停
止させるか、あるいは常に指定範囲内にコントロールし
稼働させるか、という点である。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、SOG (スピンオング
ラス)装置に温度センサー・湿度センサーを設置し、常
時環境をモニターしてシリカ塗布液の滴下作業を制御す
ることにより、温度・湿度の上昇から発生するシリカ塗
布液から成る酸化膜の農厚ばらつきを低減させ、また温
度・湿度の上昇から発生するシリカ塗布液結晶化による
シリカ塗布液圧送配管づまりや、半導体基板上への結晶
堆積の低減ができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図はそれぞれ本発明の実施例1及び実施
例2の構成図、第3図は従来の5OG(スピンオングラ
ス)装置の構成図である。 1・・・半導体基板、2・・・真空チャック、3・・・
スピンモーター、4・・・シリカ塗布液圧送配管、5・
・・シリカ塗布液滴下口、6・・・電磁弁、7・・・シ
リカ塗布液槽、8・・・圧送エアー配管、9・・・コン
トローラー 10・・・温度センサー 11・・・湿度
センサー12・・・温湿度制御空調機。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  半導体基板上にシリカ塗布液を滴下して回転塗布し酸
    化膜を堆積させる半導体装置の製造装置において、シリ
    カ塗布液滴下時の環境をモニターする温度センサー及び
    湿度センサーと、前記センサーからの信号によりシリカ
    塗布液滴下作業を制御するコントローラーとを備えるこ
    とを特徴とする半導体装置の製造装置。
JP26443290A 1990-10-01 1990-10-01 半導体装置の製造装置 Pending JPH04142033A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6007629A (en) * 1995-12-28 1999-12-28 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate processing apparatus
KR100689920B1 (ko) * 2004-01-15 2007-03-09 가부시끼가이샤 도시바 막 형성 방법 및 기판 처리 장치
CN112563146A (zh) * 2019-09-25 2021-03-26 美光科技公司 污染物检测工具及相关方法

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US6007629A (en) * 1995-12-28 1999-12-28 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate processing apparatus
KR100689920B1 (ko) * 2004-01-15 2007-03-09 가부시끼가이샤 도시바 막 형성 방법 및 기판 처리 장치
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