JPH04139752A - 冷却装置 - Google Patents
冷却装置Info
- Publication number
- JPH04139752A JPH04139752A JP25885090A JP25885090A JPH04139752A JP H04139752 A JPH04139752 A JP H04139752A JP 25885090 A JP25885090 A JP 25885090A JP 25885090 A JP25885090 A JP 25885090A JP H04139752 A JPH04139752 A JP H04139752A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heat
- semiconductor chip
- heat transfer
- chip
- transfer block
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 31
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 14
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 57
- 230000001788 irregular Effects 0.000 abstract 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 30
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 30
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 14
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 9
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 9
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000004519 grease Substances 0.000 description 6
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 229910001111 Fine metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 229910052775 Thulium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73253—Bump and layer connectors
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は、外囲器内に配設される半導体チップ等の発熱
体の冷却に用いられる冷却装置に関する。
体の冷却に用いられる冷却装置に関する。
(従来の技術)
外囲器内に配設される半導体チップなどの発熱体は動作
時に発熱するので、性能を維持するために冷却装置によ
って冷却が行われる。
時に発熱するので、性能を維持するために冷却装置によ
って冷却が行われる。
第10図は、半導体チップの冷却装置の一例を示す断面
図である。この図に示すように、半導体チップ101は
基板102と伝熱ブロック103とで形成される空間内
に配設されており、バンブ104を介してリードピン1
05が配設されている基板102に接続されている。伝
熱ブロック103には、フィン106が取付けられてお
り、基板102と伝熱ブロック103間で形成される空
間にはヘリウムガスが充填されている。
図である。この図に示すように、半導体チップ101は
基板102と伝熱ブロック103とで形成される空間内
に配設されており、バンブ104を介してリードピン1
05が配設されている基板102に接続されている。伝
熱ブロック103には、フィン106が取付けられてお
り、基板102と伝熱ブロック103間で形成される空
間にはヘリウムガスが充填されている。
従来の冷却装置は上記のように構成されており、半導体
チップ101で発熱が生じると、この熱はヘリウムガス
を通して伝熱ブロック103に伝熱される。そして伝熱
ブロック103に伝熱された熱は、伝熱ブロック103
に取付けたフィン106によって外部へ発散される。
チップ101で発熱が生じると、この熱はヘリウムガス
を通して伝熱ブロック103に伝熱される。そして伝熱
ブロック103に伝熱された熱は、伝熱ブロック103
に取付けたフィン106によって外部へ発散される。
(発明が解決しようとする課題)
ところで、上記した従来の冷却装置は、半導体チップ1
01の発熱量が大きくなると、半導体チップ]01から
の周囲に充填されているHeガスを通しての伝熱ブロッ
ク103への伝熱では、熱的な抵抗が液体や固体による
熱伝導に比べてかなり大きいので十分な冷却ができず、
半導体チップ101の性能を維持することができなくな
る問題点があった。
01の発熱量が大きくなると、半導体チップ]01から
の周囲に充填されているHeガスを通しての伝熱ブロッ
ク103への伝熱では、熱的な抵抗が液体や固体による
熱伝導に比べてかなり大きいので十分な冷却ができず、
半導体チップ101の性能を維持することができなくな
る問題点があった。
本発明は上記した課題を解決する目的でなされ、発熱体
から発せられる熱を効率よく冷却することができる冷却
装置を提供しようとするものである。
から発せられる熱を効率よく冷却することができる冷却
装置を提供しようとするものである。
(課題を解決するための手段)
前記した課題を解決するために本発明は、外囲器内に配
設された発熱体の冷却を行う冷却装置において、前記発
熱体と外囲器の内面間に良熱伝導性の細線を配設し、前
記細線を介して前記発熱体と外囲器とを接触させたこと
を特徴としている。
設された発熱体の冷却を行う冷却装置において、前記発
熱体と外囲器の内面間に良熱伝導性の細線を配設し、前
記細線を介して前記発熱体と外囲器とを接触させたこと
を特徴としている。
(作用)
本発明によれば、発熱体と外囲器の内面間に接するよう
に配設した良熱伝導性の細線により、発熱体から発せら
れる熱は、この細線を通して外囲器に効率よく伝えるこ
とができる。
に配設した良熱伝導性の細線により、発熱体から発せら
れる熱は、この細線を通して外囲器に効率よく伝えるこ
とができる。
(実施例)
以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する
。
。
〈実施例1〉
第1図は、本発明の第1実施例に係る冷却装置を示す断
面図、第2図は、その拡大断面図である。
面図、第2図は、その拡大断面図である。
この図に示すように、発熱体である半導体チップ1は、
外囲器を構成する基板2と伝熱ブロック3で形成される
空間内に配設されており、1慕薯号善バンプ4を介して
リードピン5が配設されている基板2に接続されている
。半導体チップ1と伝熱ブロック3の内面間には、銅等
から成る複数本の良熱伝導性の弾性を有する金属細線6
が配設されており、この金属細線6を介して半導体チッ
プ1と伝熱ブロック3が接触している。各金属細線6の
一端側は伝熱ブロック3の内面全体に固着され、他端側
は半導体チップ1に接触するように配設されている。
外囲器を構成する基板2と伝熱ブロック3で形成される
空間内に配設されており、1慕薯号善バンプ4を介して
リードピン5が配設されている基板2に接続されている
。半導体チップ1と伝熱ブロック3の内面間には、銅等
から成る複数本の良熱伝導性の弾性を有する金属細線6
が配設されており、この金属細線6を介して半導体チッ
プ1と伝熱ブロック3が接触している。各金属細線6の
一端側は伝熱ブロック3の内面全体に固着され、他端側
は半導体チップ1に接触するように配設されている。
また、基板2と伝熱ブロック3て形成される空間内には
ヘリウムガスが充填されており、伝熱ブロック3上面に
はフィン7が取付けられている。
ヘリウムガスが充填されており、伝熱ブロック3上面に
はフィン7が取付けられている。
次に、本発明に係る冷却装置の作用について説明する。
半導体チップ1て発熱が生しると、この熱は金属細線6
を通して伝熱ブロック3に伝わる。そして、伝熱ブロッ
ク3に伝熱された半導体チップ1の熱は、伝熱ブロック
3に接続されているフィン7によって外部へ発散される
。尚、半導体チップ1から発せられる熱の一部は、バン
プ2を介して基板2にも伝えられる。
を通して伝熱ブロック3に伝わる。そして、伝熱ブロッ
ク3に伝熱された半導体チップ1の熱は、伝熱ブロック
3に接続されているフィン7によって外部へ発散される
。尚、半導体チップ1から発せられる熱の一部は、バン
プ2を介して基板2にも伝えられる。
このように本実施例では、半導体チップ1に接触する金
属細線6が弾性を有しているので、半導体チップ1の高
さのばらつきや傾きがあってもそれらを吸収して半導体
チップ1に確実に接触することにより、半導体チップ1
の熱を伝熱ブロック3に良好に伝えることができる。ま
た、この金属細線6は伝熱ブロック3の内面全体に固着
されているので、金属細線6の先端側は、半導体チップ
1の配列に関係なく半導体チップ1に接触して熱を伝熱
ブロック3に伝えることができる。
属細線6が弾性を有しているので、半導体チップ1の高
さのばらつきや傾きがあってもそれらを吸収して半導体
チップ1に確実に接触することにより、半導体チップ1
の熱を伝熱ブロック3に良好に伝えることができる。ま
た、この金属細線6は伝熱ブロック3の内面全体に固着
されているので、金属細線6の先端側は、半導体チップ
1の配列に関係なく半導体チップ1に接触して熱を伝熱
ブロック3に伝えることができる。
また、第3図に示すように、金属細線6全体(あるいは
半導体チップ1上に位置する部分だけ)を、油やヘリウ
ム等の熱伝導性の良い流体、またはグリースを柔軟性の
あるシート8で覆うことによって、より効果的に半導体
チップ1から発せられる熱を伝熱ブロック3に伝えるこ
とができる。
半導体チップ1上に位置する部分だけ)を、油やヘリウ
ム等の熱伝導性の良い流体、またはグリースを柔軟性の
あるシート8で覆うことによって、より効果的に半導体
チップ1から発せられる熱を伝熱ブロック3に伝えるこ
とができる。
また、半導体チップ1が電位を持つ場合には、前記した
シート8に絶縁性を持たせるか、あるいはシート8を絶
縁性の被覆膜で覆うことにより、電気的接合を無くすこ
とができる。
シート8に絶縁性を持たせるか、あるいはシート8を絶
縁性の被覆膜で覆うことにより、電気的接合を無くすこ
とができる。
〈実施例2〉
第4図は、本発明の第2実施例に係る冷却装置を示す断
面図である。
面図である。
この図に示すように、発熱体である半導体チップ1は、
外囲器を構成する基板2と伝熱ブロック3で形成される
空間内に配設されており、バンブ4を介してリードピン
5が配設されている基板2に接続されている。半導体チ
ップ1と伝熱ブロック3の内面間には、フェルト状に形
成された銅等から成る良熱伝導性の弾性を有する金属細
線9の集合体が配設されており、この金属細線9を介し
て半導体チップ1と伝熱ブロック3が熱的に接触してい
る。フェルト状に形成されている金属細線9の集合体の
上面側は伝熱ブロック3の内面全体に固着され、下面側
は柔軟性のあるシート8を介して半導体チップ1に接触
するように配設されている。また、フェルト状に形成さ
れている金属細線9の集合体内には、油やヘリウム等の
熱伝導性の良い流体、またはグリースが注入されている
。
外囲器を構成する基板2と伝熱ブロック3で形成される
空間内に配設されており、バンブ4を介してリードピン
5が配設されている基板2に接続されている。半導体チ
ップ1と伝熱ブロック3の内面間には、フェルト状に形
成された銅等から成る良熱伝導性の弾性を有する金属細
線9の集合体が配設されており、この金属細線9を介し
て半導体チップ1と伝熱ブロック3が熱的に接触してい
る。フェルト状に形成されている金属細線9の集合体の
上面側は伝熱ブロック3の内面全体に固着され、下面側
は柔軟性のあるシート8を介して半導体チップ1に接触
するように配設されている。また、フェルト状に形成さ
れている金属細線9の集合体内には、油やヘリウム等の
熱伝導性の良い流体、またはグリースが注入されている
。
また、基板2と伝熱ブロック3で形成される空間内には
Heガスが充填されており、伝熱ブロック3の上面には
フィン7が取付けられている。
Heガスが充填されており、伝熱ブロック3の上面には
フィン7が取付けられている。
本実施例においても半導体チップ1て発熱が生じると、
この熱はシート8、金属細線9、金属細線9内に注入し
た流体を通して伝熱ブロック3に伝わり、伝熱ブロック
3に伝熱された半導体チップ1の熱は、伝熱ブロック3
に接続されているフィン7によって外部へ発散される。
この熱はシート8、金属細線9、金属細線9内に注入し
た流体を通して伝熱ブロック3に伝わり、伝熱ブロック
3に伝熱された半導体チップ1の熱は、伝熱ブロック3
に接続されているフィン7によって外部へ発散される。
尚、半導体チップ1から発せられる熱の一部は、バンブ
4を介して基板2にも伝えられる。
4を介して基板2にも伝えられる。
このように本実施例では、フェルト状に形成された金属
細線9が弾性を有しているので、半導体チップ1の高さ
のばらつきや傾きがあってもそれらを吸収して半導体チ
ップ1と確実に接触し、更に、この金属細線9の集合体
内に油やヘリウム等の熱電導性の良い流体、またはグリ
ースが注入されているので、半導体チップ1の熱を伝熱
ブロック3に良好に伝えることができる。また、フェル
ト状に形成された金属細線9の集合体の上面側は伝熱ブ
ロック3の内面全体に固着されているので、金属細線9
の下面側は、半導体チップ1の配列に関係なく半導体チ
ップ1に接触して熱をブロック3に伝えることができる
。
細線9が弾性を有しているので、半導体チップ1の高さ
のばらつきや傾きがあってもそれらを吸収して半導体チ
ップ1と確実に接触し、更に、この金属細線9の集合体
内に油やヘリウム等の熱電導性の良い流体、またはグリ
ースが注入されているので、半導体チップ1の熱を伝熱
ブロック3に良好に伝えることができる。また、フェル
ト状に形成された金属細線9の集合体の上面側は伝熱ブ
ロック3の内面全体に固着されているので、金属細線9
の下面側は、半導体チップ1の配列に関係なく半導体チ
ップ1に接触して熱をブロック3に伝えることができる
。
また、フェルト状に形成された金属細線9の集合体を覆
うシート8に絶縁性を持たせるか、あるいはシート8を
絶縁性の被覆膜10で覆ったことにより、半導体チップ
1が電位を持つ場合でも電気的接合を無くすることがで
きる。
うシート8に絶縁性を持たせるか、あるいはシート8を
絶縁性の被覆膜10で覆ったことにより、半導体チップ
1が電位を持つ場合でも電気的接合を無くすることがで
きる。
第5図、第6図は、それぞれ本実施例の変形例に係る冷
却装置を示す拡大断面図である。
却装置を示す拡大断面図である。
第5図に示した冷却装置では、弾性を有する良熱伝導性
の金属細線10をコイル状に形成してそれらの集合体を
、半導体チップ1と伝熱ブロック3の内面間に配設した
構成である。コイル状に形成された金属細線10の集合
体の一端側は伝熱ブロック3の内面全体に固着され、他
端側は柔軟性のあるシート8を介して半導体チップ1に
接触しており、このコイル状に形成された金属細線1゜
の集合体内には、油やヘリウム等の熱伝導性の良い流体
、またはグリースが注入されている。
の金属細線10をコイル状に形成してそれらの集合体を
、半導体チップ1と伝熱ブロック3の内面間に配設した
構成である。コイル状に形成された金属細線10の集合
体の一端側は伝熱ブロック3の内面全体に固着され、他
端側は柔軟性のあるシート8を介して半導体チップ1に
接触しており、このコイル状に形成された金属細線1゜
の集合体内には、油やヘリウム等の熱伝導性の良い流体
、またはグリースが注入されている。
他の構成および作用は、第4図に示した実施例と同様で
ある。
ある。
第6図に示した冷却装置では、弾性を有する良熱伝導性
の金属細線11を網状に形成してそれらを積層した集合
体を、半導体チップ1と伝熱ブロック3の内面間に配設
した構成である。網状に形成された金属細線11の集合
体の上面側は伝熱ブロック3の内面全体に固着され、下
面側は柔軟性のあるシート8を介して半導体チップ1に
接触しており、この網状に形成された金属細線11の集
合体内には、油やヘリウム等の熱伝導性の良い流体、ま
たはグリースが注入されている。
の金属細線11を網状に形成してそれらを積層した集合
体を、半導体チップ1と伝熱ブロック3の内面間に配設
した構成である。網状に形成された金属細線11の集合
体の上面側は伝熱ブロック3の内面全体に固着され、下
面側は柔軟性のあるシート8を介して半導体チップ1に
接触しており、この網状に形成された金属細線11の集
合体内には、油やヘリウム等の熱伝導性の良い流体、ま
たはグリースが注入されている。
他の構成及び作用は、第4図に示した実施例と同様であ
る。
る。
〈実施例3〉
第7図は、本発明の第3実施例に係る冷却装置を示す断
面図、第8図は、その拡大断面図である。
面図、第8図は、その拡大断面図である。
この図に示すように、発熱体である半導体チップ1は、
外囲器を構成する基板2と伝熱ブロック3で形成される
空間内に配設されており、バンブ4を介してリードピン
5が配設されている基板2に接続されている。半導体チ
ップ1と伝熱ブロック3の内面間には、コイル状に形成
された銅等から成る良熱伝導性の弾性を有する金属細線
12が配設されており、この金属細線12を介して半導
体チップ1と伝熱ブロック3が接触している。コイル状
に形成されている複数個の金属細線12は、その外周面
が半導体チップ1と伝熱ブロック3の内面に接触するよ
うに配設されており、各コイル状の金属細線12の両端
は、伝熱ブロック3の両側面に固着されている。
外囲器を構成する基板2と伝熱ブロック3で形成される
空間内に配設されており、バンブ4を介してリードピン
5が配設されている基板2に接続されている。半導体チ
ップ1と伝熱ブロック3の内面間には、コイル状に形成
された銅等から成る良熱伝導性の弾性を有する金属細線
12が配設されており、この金属細線12を介して半導
体チップ1と伝熱ブロック3が接触している。コイル状
に形成されている複数個の金属細線12は、その外周面
が半導体チップ1と伝熱ブロック3の内面に接触するよ
うに配設されており、各コイル状の金属細線12の両端
は、伝熱ブロック3の両側面に固着されている。
また、基板2と伝熱ブロック3て形成される空間内には
/\ツリウムスか充填されており、伝熱ブロックの上面
にはフィン7が取付けられている。
/\ツリウムスか充填されており、伝熱ブロックの上面
にはフィン7が取付けられている。
本実施例においても半導体チップ1て発熱が生じると、
この熱はコイル状の金属細線12を通して伝熱ブロック
3に伝わり、伝熱ブロック3に伝熱された半導体チップ
1の熱は、伝熱ブロック3に接続されているフィン7に
よって、外部へ発散される。尚、半導体チップ1から発
せられる熱の一部は、バンプ4を介して基板2にも伝え
られる。
この熱はコイル状の金属細線12を通して伝熱ブロック
3に伝わり、伝熱ブロック3に伝熱された半導体チップ
1の熱は、伝熱ブロック3に接続されているフィン7に
よって、外部へ発散される。尚、半導体チップ1から発
せられる熱の一部は、バンプ4を介して基板2にも伝え
られる。
このように本実施例では、コイル状に形成された金属細
線12が弾性を有しているので、半導体チップ1の高さ
のばらつきや傾きかあってもそれらを吸収して半導体チ
ップ1に確実に接触することにより、半導体チップ1の
熱を伝熱ブロック3に良好に伝えることができる。また
、この金属細線13は伝熱ブロック3の内面全体に配置
されているので、金属細線12の外周面は、半導体チッ
プ1の配列に関係なく半導体チップ1に接触して熱を伝
熱ブロック3に伝えることができる。
線12が弾性を有しているので、半導体チップ1の高さ
のばらつきや傾きかあってもそれらを吸収して半導体チ
ップ1に確実に接触することにより、半導体チップ1の
熱を伝熱ブロック3に良好に伝えることができる。また
、この金属細線13は伝熱ブロック3の内面全体に配置
されているので、金属細線12の外周面は、半導体チッ
プ1の配列に関係なく半導体チップ1に接触して熱を伝
熱ブロック3に伝えることができる。
また、第9図に示すように、コイル状の各金属細線12
全体を、油やヘリウム等の熱伝導性の良い流体、または
グリースを柔軟性のあるシート8で包むことによって、
より効果的に半導体チップ1から発せられる熱を伝熱ブ
ロック3に伝えることかできる。
全体を、油やヘリウム等の熱伝導性の良い流体、または
グリースを柔軟性のあるシート8で包むことによって、
より効果的に半導体チップ1から発せられる熱を伝熱ブ
ロック3に伝えることかできる。
また、半導体チップ1か電位を持つ場合には、前記した
シート8を絶縁性の被覆膜で覆うことにより、電気的接
合を無くすことかできる。
シート8を絶縁性の被覆膜で覆うことにより、電気的接
合を無くすことかできる。
以上、実施例に基づいて具体的に説明したように本発明
によれば、発熱体から発せられる熱を効率よく外囲器に
伝えることかできるので、冷却効果の向上を図ることが
できる。
によれば、発熱体から発せられる熱を効率よく外囲器に
伝えることかできるので、冷却効果の向上を図ることが
できる。
第1図は、本発明の第1実施例に係る冷却装置を示す断
面図、第2は、その拡大断面図、第3図は、第1実施例
の変形例に係る冷却装置を示す拡大断面図、第4図は、
本発明の第2実施例に係る冷却装置を示す断面図、第5
図、第6図は、それぞれ第2実施例の変形例に係る冷却
装置を示す拡大断面図、第7図は、本発明の第3実施例
に係る冷却装置を示す断面図、第8図は、その拡大断面
図、第9図は、第3実施例の変形例に係る冷却装置を示
す拡大断面図、第10図は、従来の冷却装置を示す断面
図である。
面図、第2は、その拡大断面図、第3図は、第1実施例
の変形例に係る冷却装置を示す拡大断面図、第4図は、
本発明の第2実施例に係る冷却装置を示す断面図、第5
図、第6図は、それぞれ第2実施例の変形例に係る冷却
装置を示す拡大断面図、第7図は、本発明の第3実施例
に係る冷却装置を示す断面図、第8図は、その拡大断面
図、第9図は、第3実施例の変形例に係る冷却装置を示
す拡大断面図、第10図は、従来の冷却装置を示す断面
図である。
Claims (3)
- (1)外囲器内に配設された発熱体の冷却を行う冷却装
置において、前記発熱体と外囲器の内面間に良熱伝導性
の細線を配設し、前記細線を介して前記発熱体と外囲器
とを接触させたことを特徴とする冷却装置。 - (2)前記細線の少なくとも一部分を柔軟性のあるシー
トで覆うことを特徴とする請求項1記載の冷却装置。 - (3)前記シート内に導電性の流体を注入したことを特
徴とする請求項2記載の冷却装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25885090A JPH04139752A (ja) | 1990-09-29 | 1990-09-29 | 冷却装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25885090A JPH04139752A (ja) | 1990-09-29 | 1990-09-29 | 冷却装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04139752A true JPH04139752A (ja) | 1992-05-13 |
Family
ID=17325906
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25885090A Pending JPH04139752A (ja) | 1990-09-29 | 1990-09-29 | 冷却装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04139752A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2370687A (en) * | 2000-07-28 | 2002-07-03 | Agere Syst Guardian Corp | An integrated circuit package |
JP2007129183A (ja) * | 2005-10-03 | 2007-05-24 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 冷却部材 |
JP2008034474A (ja) * | 2006-07-26 | 2008-02-14 | Sharp Corp | 伝熱シート及び基板装置 |
JP2009076600A (ja) * | 2007-09-19 | 2009-04-09 | Denso Corp | 半導体冷却構造 |
-
1990
- 1990-09-29 JP JP25885090A patent/JPH04139752A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2370687A (en) * | 2000-07-28 | 2002-07-03 | Agere Syst Guardian Corp | An integrated circuit package |
US6509642B1 (en) | 2000-07-28 | 2003-01-21 | Agere Systems Inc. | Integrated circuit package |
GB2370687B (en) * | 2000-07-28 | 2005-03-23 | Agere Syst Guardian Corp | An integrated circuit package |
JP2007129183A (ja) * | 2005-10-03 | 2007-05-24 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 冷却部材 |
JP2008034474A (ja) * | 2006-07-26 | 2008-02-14 | Sharp Corp | 伝熱シート及び基板装置 |
JP2009076600A (ja) * | 2007-09-19 | 2009-04-09 | Denso Corp | 半導体冷却構造 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5710459A (en) | Integrated circuit package provided with multiple heat-conducting paths for enhancing heat dissipation and wrapping around cap for improving integrity and reliability | |
US8072057B2 (en) | Semiconductor device and method of fabrication | |
US7772692B2 (en) | Semiconductor device with cooling member | |
US20060097381A1 (en) | Chip package with grease heat sink | |
JPH0548000A (ja) | 半導体装置 | |
JPH0846070A (ja) | ダイヤモンド放熱子を備えた集積回路パッケージ | |
JPH0492462A (ja) | 半導体装置 | |
US20070108599A1 (en) | Semiconductor chip package with a metal substrate and semiconductor module having the same | |
JP2004006603A (ja) | 半導体パワーデバイス | |
JPH0777258B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPS6132819B2 (ja) | ||
JP2002110869A (ja) | 半導体装置 | |
JPH04139752A (ja) | 冷却装置 | |
US20050157469A1 (en) | Cooling arrangement for a printed circuit board with a heat-dissipating electronic element | |
JPH07109867B2 (ja) | 半導体チツプの冷却構造 | |
JP3193142B2 (ja) | 基 板 | |
JP2000188359A (ja) | 半導体パッケージ | |
JPS62293745A (ja) | 伝熱素子 | |
JPH06104355A (ja) | 冷却液封入型半導体装置 | |
JPH0714029B2 (ja) | 電力用半導体素子 | |
TW201735289A (zh) | 用於半導體裝置之接合線式散熱結構 | |
JP2765242B2 (ja) | 集積回路装置 | |
CN113363224A (zh) | 一种具有增强散热设计的to封装结构 | |
JPH07335789A (ja) | パッケージ | |
JPH04139753A (ja) | 伝熱キャップ |