JPH04133306A - 垂直磁化膜の製造方法 - Google Patents
垂直磁化膜の製造方法Info
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- JPH04133306A JPH04133306A JP25407190A JP25407190A JPH04133306A JP H04133306 A JPH04133306 A JP H04133306A JP 25407190 A JP25407190 A JP 25407190A JP 25407190 A JP25407190 A JP 25407190A JP H04133306 A JPH04133306 A JP H04133306A
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- H01F10/325—Exchange coupling of magnetic film pairs via a very thin non-magnetic spacer, e.g. by exchange with conduction electrons of the spacer the spacer being noble metal
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、垂直磁気記録媒体や光磁気記録媒体の記録層
として使用する垂直磁化膜の製造方法に関する。
として使用する垂直磁化膜の製造方法に関する。
〈従来の技術〉
近年、書換え可能な高密度記録方式として、垂直磁気記
録方式や光磁気記録方式か注目されている。
録方式や光磁気記録方式か注目されている。
これらの記録方式において、その記録媒体には、膜面に
垂直な方向に磁気モーメントが向き易い垂直磁化膜が記
録層として用いられる。
垂直な方向に磁気モーメントが向き易い垂直磁化膜が記
録層として用いられる。
従来、このような垂直磁化膜として、垂直磁気記録媒体
の記録層用に、C0−Cr合金等か、また光磁気記録媒
体の記録層用に、Tb−Fe−C0に代表される希土類
遷移金属非晶質合金か盛んに研究されている。
の記録層用に、C0−Cr合金等か、また光磁気記録媒
体の記録層用に、Tb−Fe−C0に代表される希土類
遷移金属非晶質合金か盛んに研究されている。
一方、Co/Pt、Co/Pd等の人工格子膜は、Co
層が薄い場合に、垂直磁化膜となり、希土類遷移金属非
晶質合金と比較して、遥に腐食し難く、また、非常に硬
質なco−Cr合金と比較して、クラックの発生やヘッ
ド摩耗等の問題を起こし難いことから、垂直磁気記録媒
体や光磁気記録媒体の新しい記録層材料として注目され
ている。
層が薄い場合に、垂直磁化膜となり、希土類遷移金属非
晶質合金と比較して、遥に腐食し難く、また、非常に硬
質なco−Cr合金と比較して、クラックの発生やヘッ
ド摩耗等の問題を起こし難いことから、垂直磁気記録媒
体や光磁気記録媒体の新しい記録層材料として注目され
ている。
〈発明か解決しようとする課題〉
しかしながら、Co/Pt、Co/Pd等の人工格子膜
は、その保磁力か数十乃至2Co0eと、比較的小さい
ために、記録再生装置内の漏洩磁場の影響を受ける恐れ
かある。
は、その保磁力か数十乃至2Co0eと、比較的小さい
ために、記録再生装置内の漏洩磁場の影響を受ける恐れ
かある。
そこで、保磁力を増大させるために、金属や酸化物の下
地層を用いたり(特開平2−69907号公報参照)、
スパッタにより前記人工格子膜を形成する際の動作ガス
圧を高くする等の対策か講じられているが、不十分であ
るという問題点かあった。
地層を用いたり(特開平2−69907号公報参照)、
スパッタにより前記人工格子膜を形成する際の動作ガス
圧を高くする等の対策か講じられているが、不十分であ
るという問題点かあった。
また、光磁気記録の記録層に使われる垂直磁化膜は、垂
直方向の角型比かほぼlとなる必要かあるか、Co/P
t、Co/Pd等の人工格子膜は、ある限られた層厚、
全膜厚でのみ、角型比が1となり、しかも、その層厚、
膜厚の範囲が極めて狭いために、極めて正確に、層厚、
膜厚を制御可能な高度な製膜技術が必要であるという問
題点かあった。
直方向の角型比かほぼlとなる必要かあるか、Co/P
t、Co/Pd等の人工格子膜は、ある限られた層厚、
全膜厚でのみ、角型比が1となり、しかも、その層厚、
膜厚の範囲が極めて狭いために、極めて正確に、層厚、
膜厚を制御可能な高度な製膜技術が必要であるという問
題点かあった。
本発明は、このような従来の問題点に鑑み、COとPt
及び/又はPdの人工格子膜を用いて、保磁力か充分て
、容易に角型比を1にすることのできる垂直磁化膜の製
造方法を提供することを目的とする。
及び/又はPdの人工格子膜を用いて、保磁力か充分て
、容易に角型比を1にすることのできる垂直磁化膜の製
造方法を提供することを目的とする。
〈課題を解決するための手段〉
上記の目的を達成するため、本発明は、基板上に、Co
層とPt層及び/又はPd層とを交互に積層してなる人
工格子膜を製膜した後、該人工格子膜をイオン衝撃する
ようにする。
層とPt層及び/又はPd層とを交互に積層してなる人
工格子膜を製膜した後、該人工格子膜をイオン衝撃する
ようにする。
ここで、前記人工格子膜を、対向ターゲットスパッタ法
により製膜するようにするとよい。
により製膜するようにするとよい。
また、前記イオン衝撃を、Arガスを用いて逆スパッタ
により行うようにするとよい。
により行うようにするとよい。
〈作用〉
上記の構成によると、対向ターゲットスパッタ法等によ
り、60層とPt層及び/又はPd層とを交互に積層し
てなる人工格子膜を製膜した後、Arガスを用いた逆ス
パッタ等により、イオン衝撃を行って、保持力及び角型
比を向上させる。
り、60層とPt層及び/又はPd層とを交互に積層し
てなる人工格子膜を製膜した後、Arガスを用いた逆ス
パッタ等により、イオン衝撃を行って、保持力及び角型
比を向上させる。
このような結果は実験的に知ることかできるか、理論的
には、イオン衝撃により人工格子膜の表面か僅かに荒れ
ること、イオン衝撃により膜厚が減少すること、また、
膜中に打ち込まれたArによって磁壁の移動か妨げられ
ること、等か考えられる。
には、イオン衝撃により人工格子膜の表面か僅かに荒れ
ること、イオン衝撃により膜厚が減少すること、また、
膜中に打ち込まれたArによって磁壁の移動か妨げられ
ること、等か考えられる。
〈実施例〉
以下に、本発明に係る実施例を説明する。
第1図〜第3図を参照して、直流二元対向ターゲットス
パッタ法より、Co層とPt層とを交互に積層してなる
人工格子膜を製膜する際の装置を説明する。
パッタ法より、Co層とPt層とを交互に積層してなる
人工格子膜を製膜する際の装置を説明する。
即ち、真空容器1内に、1対のCoターゲット2a、2
bと、1対のPtターゲット3a、3bとをそれぞれ上
下に対向して配置し、それぞれに−電極を取付けである
。尚、容器壁に十電極を取付けるか又はアースする。ま
た、これら向かい合ったターゲット2a、2b、3a、
3bに対して直角にパレット4が配置され、パレット4
上には、図示しない基板ホルダを介して、4枚のディス
ク状のガラス基板5. 6. 7. 8が90層間隔の
位置に配置されており、基板5. 6. 7. 8は、
パレット4と共に、パレット4の中心4aを公転軸とし
て公転し、基板5,6,7.8はその中心5a。
bと、1対のPtターゲット3a、3bとをそれぞれ上
下に対向して配置し、それぞれに−電極を取付けである
。尚、容器壁に十電極を取付けるか又はアースする。ま
た、これら向かい合ったターゲット2a、2b、3a、
3bに対して直角にパレット4が配置され、パレット4
上には、図示しない基板ホルダを介して、4枚のディス
ク状のガラス基板5. 6. 7. 8が90層間隔の
位置に配置されており、基板5. 6. 7. 8は、
パレット4と共に、パレット4の中心4aを公転軸とし
て公転し、基板5,6,7.8はその中心5a。
6a、7a、8aを自転軸として自転する。
また、真空容器l内には、図示しない導入口よりArガ
スか導入され、図示しない排出口より排出される。
スか導入され、図示しない排出口より排出される。
尚、9はCoターゲット2a、2bとPtターゲット3
a、3bとの間に設けられて、CoとPtとのコンタミ
ネーションを防止する仕切り板で、10は、両ターゲッ
ト2a、2b、3a、3bと基板5,6.7.8との間
に設けられ、窓10aに矢印11の如く開閉するシャッ
タ12を有する仕切り板で、図示しないモータによりシ
ャッタ12を開閉することにより層厚を調整可能にして
いる。
a、3bとの間に設けられて、CoとPtとのコンタミ
ネーションを防止する仕切り板で、10は、両ターゲッ
ト2a、2b、3a、3bと基板5,6.7.8との間
に設けられ、窓10aに矢印11の如く開閉するシャッ
タ12を有する仕切り板で、図示しないモータによりシ
ャッタ12を開閉することにより層厚を調整可能にして
いる。
また、60層とPd層とを交互に積層してなる人工格子
膜を製膜する場合は、ptツタ−ット3a、3bをPd
ターゲットに置き換えるとよい。
膜を製膜する場合は、ptツタ−ット3a、3bをPd
ターゲットに置き換えるとよい。
上記の装置を用いて、Co層/Pt層よりなるパターン
の人工格子膜を製膜するに際して、Arガス圧は、0.
3mTorr(Co層/Pd層のとき1mTorr)、
投入電力は主にCo 5CoW、 P t (又はPd
)IKWて、ガラス基板上に作製した。
の人工格子膜を製膜するに際して、Arガス圧は、0.
3mTorr(Co層/Pd層のとき1mTorr)、
投入電力は主にCo 5CoW、 P t (又はPd
)IKWて、ガラス基板上に作製した。
ガラス基板は自公転比151:29.公転数60rpm
で回転させ、層厚はシャッタの開閉時間を制御すること
により調整した。
で回転させ、層厚はシャッタの開閉時間を制御すること
により調整した。
積層構造のチエツクは、全膜厚約1Co0人の試料につ
いて、X線回折により行い、カーヒステリシスループの
測定はカー効果測定装置により波長830nmで膜面側
より行った。
いて、X線回折により行い、カーヒステリシスループの
測定はカー効果測定装置により波長830nmで膜面側
より行った。
ガス圧0.3mTorrで作製したCoS人/Pt17
人積層数6周期の膜のカーヒステリシスループを第4図
に示す。
人積層数6周期の膜のカーヒステリシスループを第4図
に示す。
保磁力は、120G、角型比は0.6であった。
この製膜した基板を再び、真空容器1内のパレット4上
にセットして、逆スパッタによるイオン衝撃を行うか、
逆スパッタを行う場合はCOツタ−ット2a、2b、P
tターゲット3a、3bは使用しないで、基板5. 6
. 7. 8側(具体的には基板ホルダ)を−電極に取
付けて、Arが直接基板にぶつかるようにする。
にセットして、逆スパッタによるイオン衝撃を行うか、
逆スパッタを行う場合はCOツタ−ット2a、2b、P
tターゲット3a、3bは使用しないで、基板5. 6
. 7. 8側(具体的には基板ホルダ)を−電極に取
付けて、Arが直接基板にぶつかるようにする。
Arガス圧3mTorr、投入電力3CoWて5分間、
逆スパッタを行ったところ、カーヒステリシスループは
、第5図に示すようになり、保磁力は、2CoG、角型
比は0.95にそれぞれ増大した。
逆スパッタを行ったところ、カーヒステリシスループは
、第5図に示すようになり、保磁力は、2CoG、角型
比は0.95にそれぞれ増大した。
その他の試料について、逆スパッタ前後の保磁力と角型
比を第6図に示す。
比を第6図に示す。
図示のように、何れの場合も、保磁力、角型比の改善か
認められた。
認められた。
これは、イオン衝撃により人工格子膜の表面か僅かに荒
れること、イオン衝撃により膜厚か減少すること、また
、膜中に打ち込まれたArによって磁壁の移動か妨げら
れること、等か考えられる。
れること、イオン衝撃により膜厚か減少すること、また
、膜中に打ち込まれたArによって磁壁の移動か妨げら
れること、等か考えられる。
尚、本発明において、Co層とPt層又はPd層は、対
向ターゲットスパッタ法を用いたか、この方法で形成し
た人工格子膜は、従来より行われているマグネトロンス
パッタ法や電子ビーム蒸着法で形成した人工格子膜と、
透過型電子顕微鏡(TEM)観察やX線、電子線回折に
おいて、本質的な違いは認められない。
向ターゲットスパッタ法を用いたか、この方法で形成し
た人工格子膜は、従来より行われているマグネトロンス
パッタ法や電子ビーム蒸着法で形成した人工格子膜と、
透過型電子顕微鏡(TEM)観察やX線、電子線回折に
おいて、本質的な違いは認められない。
また、このような従来法による人工格子膜についても、
イオン衝撃により同様の効果を得ることかできる。
イオン衝撃により同様の効果を得ることかできる。
尚、Co/PtやCo/Pdよりなるパターンの人工格
子膜のみならず、Co / P t / Co / P
dよりなるパターンの人工格子膜、更にはPtとPdと
の合金を用いたCo/Pt−Pdよりなるパターンの人
工格子膜についても、同様の効果を得ることかできる。
子膜のみならず、Co / P t / Co / P
dよりなるパターンの人工格子膜、更にはPtとPdと
の合金を用いたCo/Pt−Pdよりなるパターンの人
工格子膜についても、同様の効果を得ることかできる。
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明によると、対向ターゲット
スパッタ法により、Co層とPt層及び/又はPd層と
を交互に積層して製膜した人工格子膜を、逆スパッタ等
によりイオン衝撃することによって、保磁力、角型比共
に、満足のいく垂直磁化膜を、容易に得ることができる
という効果が得られる。
スパッタ法により、Co層とPt層及び/又はPd層と
を交互に積層して製膜した人工格子膜を、逆スパッタ等
によりイオン衝撃することによって、保磁力、角型比共
に、満足のいく垂直磁化膜を、容易に得ることができる
という効果が得られる。
第1図は製膜装置の正面図、第2図は第1図の■−■断
面図、第3図はパレット上の基板を示す正面図、第4図
は形成直後の人工格子膜のカーヒステリシスループを示
す線図、第5図はそれを本発明の方法によりイオン衝撃
を行った後のカーヒステリシスループを示す線図、第6
図は人工格子膜の保磁、力及び角型比を示す図である。
面図、第3図はパレット上の基板を示す正面図、第4図
は形成直後の人工格子膜のカーヒステリシスループを示
す線図、第5図はそれを本発明の方法によりイオン衝撃
を行った後のカーヒステリシスループを示す線図、第6
図は人工格子膜の保磁、力及び角型比を示す図である。
Claims (3)
- (1)基板上に、Co層とPt層及び/又はPd層とを
交互に積層してなる人工格子膜を製膜した後、該人工格
子膜をイオン衝撃することを特徴とする垂直磁化膜の製
造方法。 - (2)前記人工格子膜を、対向ターゲットスパッタ法に
より製膜することを特徴とする請求項1記載の垂直磁化
膜の製造方法。 - (3)前記イオン衝撃を、Arガスを用いて逆スパッタ
により行うことを特徴とする請求項1又は請求項2記載
の垂直磁化膜の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25407190A JPH04133306A (ja) | 1990-09-26 | 1990-09-26 | 垂直磁化膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25407190A JPH04133306A (ja) | 1990-09-26 | 1990-09-26 | 垂直磁化膜の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04133306A true JPH04133306A (ja) | 1992-05-07 |
Family
ID=17259820
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25407190A Pending JPH04133306A (ja) | 1990-09-26 | 1990-09-26 | 垂直磁化膜の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04133306A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009116413A1 (ja) * | 2008-03-17 | 2009-09-24 | Hoya株式会社 | 磁気記録媒体及びその製造方法 |
-
1990
- 1990-09-26 JP JP25407190A patent/JPH04133306A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009116413A1 (ja) * | 2008-03-17 | 2009-09-24 | Hoya株式会社 | 磁気記録媒体及びその製造方法 |
US8414966B2 (en) | 2008-03-17 | 2013-04-09 | Wd Media (Singapore) Pte. Ltd. | Magnetic recording medium and manufacturing method of the same |
US9093100B2 (en) | 2008-03-17 | 2015-07-28 | Wd Media (Singapore) Pte. Ltd. | Magnetic recording medium including tailored exchange coupling layer and manufacturing method of the same |
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