JPH04130514A - 半導体装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は半導体装置の回路に関するものである。

〔従来の技術〕

第２図は半導体装置の標準的な入カバソファの一例であ
り、入カバソファのＶＳＳラインは他の回路のＶＳｔラ
インと共通になっていて、他の回路の動作状態でＶＳＳ
ラインにスパイクノイズが発生し、さらにＥｘｔ−ｉｎ
端子がＴＴＬレベルであると、入力バッファ回路の状態
が不安定になり、バッファ回路の出力信号Ｘも不安定に
なり内部回路誤動作する可能性があり、また、ＴＴＬレ
ベルスタンバイ電流も多く流れていた。

〔発明が解決しようとする［ｉ） 従来の半導体装置は上記のように構成されているので、
内部回路の動作状態とＥ　ｘｔ　−ｉｎの状態でバッフ
ァ出力信号にノイズが発生して、内部回路に誤動作が生
じたり、ＴＴＬレベルスタンバイ電流が多く流れるなど
の問題点があった。

この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、バッファ回路の動作安定とＴＴＬレベルスタ
ンバイ電流を低減することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

この発明に係る半導体装置は、入カバソファ回路に状態
変化検出回路と１ショットパルス発生回路と入力信号レ
ベルをＭＯＳレベルでラッチする回路を構成するもので
ある。

〔作用〕

この発明における半導体装置は、入力バッファ回路の動
作安定化により、ｖｏラインノイズによる誤動作防止と
ＴＴＬスタンバイ電流の低減化ができる。

〔発明の実施例〕

以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図においてｉｌ）は入力信号の状態変化を検出して１シ
ョットパルス信号を発生する回路で、（２）は入力信号
をラッチ回路に導びくゲート回路で（３）は入力信号を
ラッチする回路である。

動作原理は第１図においてＥｘｔ−４ｎから入ってくる
入力信号は、＋１１の状態変化検出回路で信号レベルの
変化点だけを検出してパルス信号出し、（２）のトラン
スファゲート開き（３１のランチ回路へ接続してその時
点のレベルをＭＯＳレベルで保持する。

こうすることによって、半導体装内のＶ□ラインにノイ
ズが発生しかつ、Ｅ　ｘｔ　−ｉｎのレベルがＴＴＬレ
ベルであったとしても、Ｅｘｔ−４ｎのレベルが変化し
ない限りラッチ部分でＭＯＳレベルを保持したままなの
で誤動作をすることがない。また、ＴＴＬレベルによる
貫通電流もなくなる。

〔発明の効果〕

以上のように、この発明によればＴＴＬレベルによる入
力でも誤動作が生じることもな（また、スタンバイ電流
を低減する効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例による半導体装置を示す回
路図、第２図は一般的な入力バンファ回路の一例でＮＯ
Ｒ回路である。 図において、（１）は状態変化検出回路、（２）はトラ
ンスファゲート、（３）はランチ回路である。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人　　　大　　岩　　増　　雄

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 入力バッファ回路に状態変化検出回路と１ショットパル
   ス発生回路を備えて信号レベルをラッチすることを特徴
   とする半導体装置。