JPH04129121U - 顕微鏡観察装置 - Google Patents
顕微鏡観察装置Info
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- JPH04129121U JPH04129121U JP3414491U JP3414491U JPH04129121U JP H04129121 U JPH04129121 U JP H04129121U JP 3414491 U JP3414491 U JP 3414491U JP 3414491 U JP3414491 U JP 3414491U JP H04129121 U JPH04129121 U JP H04129121U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 顕微鏡観察装置による透明被観察物体の観察
を容易にする。 【構成】 光のすべての波長に対して高い反射率を有す
る基板の反射表面を拡散反射面に形成した反射板を透明
被観察物体下方にその拡散反射面が透明被観察物体の背
景となるようにこの面を上にして設けたことにより、顕
微鏡観察装置による透明被観察物体の観察を容易にし
た。
を容易にする。 【構成】 光のすべての波長に対して高い反射率を有す
る基板の反射表面を拡散反射面に形成した反射板を透明
被観察物体下方にその拡散反射面が透明被観察物体の背
景となるようにこの面を上にして設けたことにより、顕
微鏡観察装置による透明被観察物体の観察を容易にし
た。
Description
【0001】
この考案は、例えば光部品と光ファイバとを接続する際のように透明被観察物
体を観察するのに使用される顕微鏡観察装置に関し、特に光通信或は光情報処理
に使用される光ICと光ファイバとの間の接続、或はレーザダイオード或はホト
ダイオードと光ファイバとの間の接続をする場合の光軸合わせをする光部品調芯
装置に使用される顕微鏡観察装置に関する。
【0002】
光通信或は光情報処理に使用される光ICと光ファイバとの間の接続、或はレ
ーザダイオード或はホトダイオードと光ファイバとの間の接続をする場合の光軸
合わせをする光部品調芯装置においては、従来、顕微鏡観察装置が採用されてい
る。しかし、光ファイバ、光IC、レーザダイオード、ホトダイオードは透明で
あって顕微鏡観察装置の観察の対象としては不適切なものであるところから観察
に際して種々の工夫がなされている。例えば照明装置が採用され、その設置位置
、照度を色々調整して最適な観察条件を求めて観察したり、また、反射板を採用
して観察することも行なわれていた。
【0003】
上述した通りの従来例においては、光ファイバ、光IC、レーザダイオード、
ホトダイオードは透明なものであって顕微鏡観察装置の観察の対象としては不適
切であるところから、その観察には照明装置を採用せざるをえず、照明装置の設
置位置、照度を色々調整して最適な観察条件を求めて観察しなければならないの
が大変に煩わしく、また、反射鏡を採用して観察する場合も背景の色として適切
なものを見いだすことが出来なかったたがためにその使用効果は充分なものでは
なかった。
【0004】
この考案は、このような欠点、問題を解消、除去した透明被観察物体用の顕微
鏡観察装置を提供しようとするものである。
【0005】
光ファイバ、光ICのごとき透明被観察物体を照明し、顕微鏡、CCDおよび
モニタ装置を介してモニタ画像を観察する顕微鏡観察装置において、光のすべて
の波長に対して高い反射率を有する基板の反射表面を拡散反射面に形成した反射
板を具備して、この反射板を透明被観察物体下方にその拡散反射面が透明被観察
物体の背景となるようにこの面を上にして設けたことにより、透明被観察物体の
観察は容易になった。
【0006】
この考案の一実施例を図1を参照して説明する。
図1においては、入光側ステージ14の上にはキャリヤ2′が接合せしめられ
た光ファイバ1′が載置され、そして光IC固定用ベース4の上には導波路5が
形成された光IC6が載置され、また受光側ステージ3の上にはステージ14と
同様にキャリヤ2が接合せしめられた光ファイバ1が載置されたところが示され
ている。ここで、上記光ファイバ1′と導波路5との間の光路位置合わせ、およ
び上記光ファイバ1と導波路5との間の光路位置合わせが行なわれるのであるが
、これに際してこの考案の顕微鏡観察装置が使用される。顕微鏡観察装置は顕微
鏡16、CCD15、モタニ19、照明装置17および以下において詳述される
反射板18より成る。
【0007】
ここで、光路位置合わせについて簡単に説明しておく。上述した通り、光ファ
イバ、光IC、レーザダイオード、ホトダイオードは透明なものであるので顕微
鏡からは見にくく、光路位置合わせは大変に困難な作業である。そのために、入
光側ステージ14および受光側ステージ3におけるX,Y,Zステージ7,8,
9を各ステージの調整ダイヤル10,11,12を調整して光パワーによる精密
調芯をするに先だって、この光パワーが辛うじて検出できる程度の粗調芯が行な
われる。これらの調整において顕微鏡観察装置が使用されるのである。
【0008】
この考案は、上述の調芯に使用される顕微鏡観察装置に図2A、Bに示される
反射板18を使用する。基板としては例えばアルミニウムの様な光のすべての波
長に対して高い反射率を有するものを使用し、そして、その反射表面を拡散反射
面状態にする。図2Aに示されるものは、ガラス基板30の底面にアルミニウム
蒸着膜31を蒸着せしめたものが基板であり、その上面即ち反射表面に砂地処理
32を施してそこを拡散反射面としたものである。図2Bに示されるものは、ア
ルミニウム基板33の上面に直接梨地処理を施してそこを拡散反射面としたもの
である。
【0009】
次に、この考案の顕微鏡観察装置全体について説明する。先ず、上記反射板1
8の設置の仕方について説明すると、その拡散反射面32或は33が透明被観察
物体である光IC6、光ファイバ1,1′の下方であって顕微鏡16から見て焦
点をずらした位置にくるように、上記反射板18を設置する。即ち、図1におい
て、反射板18は光IC用固定ベース4の透明被観察物体下方である側面に拡散
反射面32或は33が被観察物体の背景となるようにこの面を上にして取り付け
られる。17は照明装置であるが、これから放射される光は顕微鏡16、CCD
15、モニタ19を介してモニタ面に生ぜしめられる背景となるべき拡散反射面
32或は33を一様な白色とするものである。
【0010】
この考案の顕微鏡観察装置は上述のごとくに構成されたものであり、その反射
板18は光の全波長にわたって高い反射率を有する材料よりなるものであるので
、光の吸収は少なく、光源の光度を大なるものとする必要はないし、また光学装
置に対して色ずけをすることもない。なお、高い反射率を実現する手段としては
鏡も考えられるが、これは反射面が正反対面であるので光は一定方向のみに反射
して光源を写し、白色の画像を得ることはできない。そして、このような高い反
射率の反射板の表面を梨地状或は砂地状とすることにより、光は全面一様に反射
してムラのない白色光を得ることができる。また、反射面自体に焦点を合わせる
ことはせずにこれをずらすことによって、反射面を白色とすることができる。こ
の考案の顕微鏡観察装置は、この様な反射板18を上記実施例の項において説明
したごとくに設置して透明な被観察物体である光ファイバ、光IC、レーザダイ
オード、ホトダイオードを観察すると、これらを反射板18の拡散反射面による
白色の背景上に図3Aに示されるがごとく明確な明暗のある像としてモニタ面に
見ることができる。これにより、観察、粗調芯、精密調芯、結局位置合わせは容
易であり、これらの精度を向上することができる。
【図1】この考案の一実施例を説明するための図。
【図2】Aはこの考案において使用される反射板を示す
図、Bはこの考案において使用される反射板の他の例を
示す図。
図、Bはこの考案において使用される反射板の他の例を
示す図。
【図3】Aはこの考案の顕微鏡観察装置により透明被観
察物体を観察したところを示す図、Bは従来の反射板を
使用して顕微鏡観察装置により透明被観察物体を観察し
たところを示す図、Cは反射板を使用せずに顕微鏡観察
装置により透明被観察物体を観察したところを示す図。
察物体を観察したところを示す図、Bは従来の反射板を
使用して顕微鏡観察装置により透明被観察物体を観察し
たところを示す図、Cは反射板を使用せずに顕微鏡観察
装置により透明被観察物体を観察したところを示す図。
1 光ファイバ
2 キャリヤ
3 受光側ステージ
4 光IC用固定ベース
5 導波路
6 光IC
7 Xステージ
8 Yステージ
9 Zステージ
10 Xステージ調整ダイヤル
11 Yステージ調整ダイヤル
12 Zステージ調整ダイヤル
13 光路
14 入光側ステージ
15 CCD
16 顕微鏡
17 照明装置
18 反射板
19 モニタ
20 光源
21 受光検出器
30 ガラス基板
31 アルミニウム蒸着膜
32 砂地処理した拡散反射面
33 梨地処理した拡散反射面
34 アルミニウム板
Claims (1)
- 【請求項1】 光ファイバ、光ICのごとき透明被観察
物体を照明し、顕微鏡、CCDおよびモニタ装置を介し
てモニタ画像を観察する顕微鏡観察装置において、光の
すべての波長に対して高い反射率を有する基板の反射表
面を拡散反射面に形成した反射板を具備し、上記反射板
は透明被観察物体下方にその拡散反射面が透明被観察物
体の背景となるようにこの面を上にして設けられたもの
であることを特徴とする顕微鏡観察装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3414491U JP2504378Y2 (ja) | 1991-05-15 | 1991-05-15 | 顕微鏡観察装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3414491U JP2504378Y2 (ja) | 1991-05-15 | 1991-05-15 | 顕微鏡観察装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04129121U true JPH04129121U (ja) | 1992-11-25 |
JP2504378Y2 JP2504378Y2 (ja) | 1996-07-10 |
Family
ID=31916628
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3414491U Expired - Lifetime JP2504378Y2 (ja) | 1991-05-15 | 1991-05-15 | 顕微鏡観察装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2504378Y2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003014428A (ja) * | 2001-07-02 | 2003-01-15 | Bridgestone Corp | タイヤ接地形状表示方法およびタイヤ接地形状表示装置 |
-
1991
- 1991-05-15 JP JP3414491U patent/JP2504378Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003014428A (ja) * | 2001-07-02 | 2003-01-15 | Bridgestone Corp | タイヤ接地形状表示方法およびタイヤ接地形状表示装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2504378Y2 (ja) | 1996-07-10 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19960130 |