JPH04127341A - バッファメモリのエラー処理方式 - Google Patents

バッファメモリのエラー処理方式

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JPH04127341A
JPH04127341A JP2249375A JP24937590A JPH04127341A JP H04127341 A JPH04127341 A JP H04127341A JP 2249375 A JP2249375 A JP 2249375A JP 24937590 A JP24937590 A JP 24937590A JP H04127341 A JPH04127341 A JP H04127341A
Authority
JP
Japan
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way
access
error
buffer memory
data
Prior art date
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Pending
Application number
JP2249375A
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English (en)
Inventor
Motoyoshi Hirose
元義 廣瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要] キャッシュなどのバッファメモリにおいてエラー発生時
にリトライを可能にするためのエラー処理方式に関し バッファメモリの特定のウェイに固定故障が存在した場
合でも、リトライを可能にすることを目的とし 最近行われたアクセスの順序がLRU情報で管理される
複数のウェイをもつバッファメモリにおいて、アクセス
要求がヒントしたバッファメモリの1つのウェイでエラ
ーが発生した場合、バッファメモリの全てのウェイを一
旦無効とし1次に行う上記アクセス要求のリトライは、
LRU情報に基づいて決定される置換ウェイで実行され
るように構成した。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、キャッシュなどのバッファメモリにおいてエ
ラー発生時にリトライを可能にするためのエラー処理方
式に関する。
本発明は、特に複数のウェイからなるバッファメモリに
おいて、あるウェイにエラーが発生した場合、他のウェ
イを用いてリトライを行うことができるようにして、特
定ウェイの固定故障に基づくエラーをリトライ時に回避
可能にする。
〔従来の技術〕
第3図は、バッファメモリをもつシステムの従来例の構
成図である。
第3図において。
1は命令解読部(IPU)であり、プログラムの命令読
み出しを行って読み出した命令データを解読し、その実
行制御を行う。
2は演算部(EPU)であり、命令解読部(IPU)1
からの制御信号により指示された演算について、必要な
オペランドデータを読み出し、演算処理を行う。
3は主記憶装置(MSU)であり、命令データやオペラ
ンドデータが格納されており、また処理結果のデータが
格納される。
4は記憶制御部(SCU)であり、命令解読部(IPU
)lおよび演算部(EPU)2からの命令読み出しおよ
びオペランド読み出しの要求を受は付けて主記憶装置(
MSU)3のアクセス制御を行う。
5は高速のバッファメモリ(LBS)であり。
複数のウェイをもち、それぞれ主記憶装置(MSU)3
のデータとアドレスをブロック単位に保持しく保持され
ているアドレスはTAGと呼ばれる)、主記憶装置(M
SU)3に対するアクセス要求をバッファメモリ(LB
S)上で実行させることにより、アクセス時間を短縮す
る。
6はムーブイン制御回路であり、アクセス要求されたア
ドレスのデータがバッファメモリ(LBS)5のいずれ
のウェイにも存在せず、ミスヒツトとなったとき、デー
タの入れ換えを行うため無効(空き)のウェイを選択し
、無効のウェイがない場合には、各ウェイ間の最新のア
クセス順序を管理するLRU情報に基づいて最近のアク
セスがもっとも旧いウェイを選択し、そのウェイに主記
憶装置(MSU)3から必要なデータブロックを読み出
してアドレスとともにバッファメモリに格納する。この
選択されたウェイは、置換ウェイと呼ばれる。
命令解読部(IPU)1または演算部(EPU)2から
のデータのアクセス要求が発信されると、記憶制御部(
SCU)4は、アクセス要求されたアドレスとバッファ
メモリ(LBS)5の各ウェイのTAGのアドレスを照
合し、いずれかのウェイで一致(ヒツト)すればそのデ
ータを読み出してアクセス要求元装置へ送出する。しか
しいずれのウェイでもアドレスが不一致(ミスヒツト)
であった場合には、ムーブイン制御回路6にムーブイン
を指示して、アクセス要求されたアドレスを含むデータ
のブロックを主記憶装置(MSU)3から読み出し、バ
ッファメモリ(LBS)501つのウェイに格納させる
ムーブイン制御回路6は、バッファメモリ(LBS)5
の各ウェイについての最近のアクセス順序を示すLRU
情報を管理しており、データブロックのムーブインを指
示されると、無効ウェイがあればそれを使用してムーブ
インを行うが、無効ウェイがない場合にはLRU情報を
参照して、各ウェイの中で最後にアクセスが行われた時
点が最も旧い1つのウェイを選択し、そして主記憶装置
(MSU)3からアクセス要求のあったアドレスのデー
タブロックを読み出してそのウェイに書き込む(ムーブ
イン)。
この後、先にアクセスがミスヒツトとなっていたアクセ
ス要求がリトライされ、今度は、ムーブインが行われた
ウェイでヒツトして、目的のデータが読み出される。
ところで、バッファメモリ(LBS)50ウエイにα線
などのソフトエラーによる間欠故障や素子などの物理的
破壊による固定故障が生じると。
読み出されたTAGのアドレスやデータにパリティエラ
ーが検出され、それに基づきそのウェイは無効にされる
。そのためアクセス要求がリトライされると、今度はミ
スヒツトとなり、ムーブインが指示され、先の無効とな
るウェイが選択されてそこに目的のアドレスを含むデー
タブロックがムーブインされる。そのウェイのエラーが
間欠故障であった場合には、ウェイにムーブインされた
データブロックのデータは正しいものとなり、アクセス
要求のリトライは成功するが、固定故障のエラーであっ
た場合には再びデータエラーが生しリトライに失敗する
従来のエラー処理方式では、アクセス要求のリトライが
連続して一定回数繰り返されるとリトライは中止され、
そのエラーを生じたウェイの切り離し制御が行われる。
〔発明が解決しようとする課題] 従来のバッファメモリのエラー処理方式では。
バッファメモリの特定のウェイに固定故障が発生した場
合、アクセス要求のリトライが不可能になるという問題
があった。
本発明は、バッファメモリの特定のウェイに固定故障が
存在した場合でも、リトライを可能にすることを目的と
している。
〔課題を解決するだめの手段〕
本発明は、上記の課題を解決するため、ノ\ツファメモ
リの特定ウェイにエラーが検出されるとそのウェイのみ
でなく全てのウェイを一旦無効化し、続いて行われるリ
トライでミスヒントとなったときの置換ウェイは、最近
のアクセス順序を示すLRU情報で決定されるようにし
て、LRU情報が直前にアクセスされたエラー発生ウェ
イを置換ウェイとしては決して指示しないことからエラ
ー発生ウェイとは異なるウェイでムーブインとアクセス
のリトライが行われるようにする。これにより固定故障
をもつウェイでリトライが繰り返される事態を回避する
第1図は2本発明の原理構成図である。
第1図において。
1ば命令解読部(IPU)であり、命令実行制御を行う
2は演算部(EPU)であり、命令で指示された演算を
実行する。
3は主記憶袋′t(MSU)であり5プログラムやデー
タが格納される。
4は記憶制御部(SCU)であり、TPUIやEPU2
からのアクセス要求を受は付け、そのアクセス処理を行
う。
5は複数のウェイからなるバッファメモリ (LBS)
であり、ウェイにMStJ3からデータブロックを読み
出しておいて、ここでアクセスを行わせる。LBS5の
各ウェイに格納されているデータブロックのアドレスは
TAGに登録され、  LBS5にアクセス対象アドレ
スのデータがあるかどうかはTAGを参照して行われる
6はムーブイン制御回路であり、LBS5の各ウェイに
要求されたアドレスのデータが存在しない場合(ミスヒ
ツト)、1つのウェイを選択して必要なデータブロック
をMSU3から読み出し格納する。このときデータブロ
ックアドレスをTAGに登録する。図示されているウェ
イを選択する論理は、無効のウェイが1つあればそれを
当て。
無効のウェイがOまたは2つ以上のときはLRU情報に
したがって1つのウェイを決定するものであるが、少な
くとも全ウェイが無効の場合にLRU論理が適用される
ものであればよく、またエラー発生時と正常時とで論理
を変えてもよい。
7は、LRUメモリであり、LBS5の各ウェイ間での
最近のアクセス順序を示すLRU情報を管理する。LR
LJ情報は、LBS5の各ウェイがアクセスされるごと
にこの順序情報は更新される。
8は、アクセス制御回路であり、アクセス要求されたア
ドレスのデータがLBS5に格納されているかどうかを
TAGで調べ、格納されていればデータを読み出してア
クセス元に送り、格納されていなければそのアドレスを
ムーブイン制御回路6に送ってムーブインを行わせる。
9は、エラー検出回路であり、LBS5から読み出され
たデータにエラーが検出された場合、LBS5の全ウェ
イを無効化し、アクセスをリトライさせる。
〔作 用] 第1図に示された本発明の構成によればLBS5でのア
クセスがヒツトして データが読み出されたときエラー
が検出されたならば、アクセスのリトライが行われる。
しかしそのときLBS5の全ウェイは無効化されている
ためそのリトライはミスヒツトとなり、ムーブインが指
示される。
ここで無効化ウェイの数が、1以外の数である全ウェイ
数(=4とする)に等しいため、LRUメモリ7に基づ
く置換ウェイの選択が行われる。
このLRUメモリ7のLRU情報が示す最近のウェイの
アクセス順序から最新のアクセス時点がもっとも旧いウ
ェイが置換ウェイとして選択される。
ここで置換ウェイとして選択されたウェイは、前述した
ように直前のアクセスでエラーを検出されたウェイとは
必ず異なるものとなる。
ここで選択された置換ウェイに、アクセスが必要とされ
るデータブロックのムーブインが実行され、その後でア
クセスのリトライが行われ、今度はヒツトする。もしも
先に発生したエラーがウェイの固定故障によるものであ
った場合には、今度はウェイが変わっているのでデータ
エラーは発生せずリトライを成功させることができる。
〔実施例〕
第2図は本発明の実施例の構成図であり、記憶制御部(
SCU)のバッファメモリ機構を示す。
第2図において、5ばバッファメモリ(LBS)、6は
ムーブインffl1御回路、7はLRUメモリ  10
−1〜10−4ばウェイ別のTAGメモリ、11−1〜
11−4はうエイ別のデータメモIJ、12はタグアド
レスレジスタ(TAR)。
13はムーブインアドレスレジスタ(MiAR)。
14はMSUインターフェース制扉回路であった。
TAGメモリ 1O−1〜1O−4の各ウェイには、そ
れぞれデータメモリの各うエイ11−1〜11−4に格
納されているデータブロックごとにそのブロックアドレ
スである上位アトルスと、そのデータブロックが有効か
無効かを示すバリッドビットVと、そのデータブロック
が更新されたかどうかを示す変更ピッ)Cとを含むTA
Gが登録されている。
ここで、■−〇は無効、V=1は有効、C−0は変更な
し、C=1は変更あり、を表すものとされる。
第1図のIPUIやEPU2からのLBS5への読み出
し/書き込み要求のアドレスは、要求内容とともに第2
図のTAR12にセットされる。
TAR12からTA(、メモリ 10−1〜1O−4の
TAGを読み出して一致するウェイが存在するか否かを
判定する。一致したウェイが存在した場合には該ウェイ
のデータメモリ(11−1〜11−4の1つ)からの読
み出しデータを選択して。
要求元にデータを転送すると同時に、LRUメモリ7を
更新して、LRU情報すなわちウェイ間のアクセス順序
情報を変更する。
一致したウェイが存在しなければ、ムーブイン制御回路
6はMSUインターフェース制御回路14を通してMS
Uの読み出しを行うと同時にLRUメモリ7の内容を読
み出して、置換/登録するウェイを選択する。この時、
有効でない■=0のブロックを持つウェイが存在すれば
それらの中から登録するウェイを選択する。
LBS5のTAGメモリあるいはデータメモリからTA
Gあるいはデータの読み出しを行った時にエラー(パリ
ティチエツクなどによる)が検出される場合がある0本
発明ではエラーの検出された場合にはアクセスしたアド
レスに対応する全ウェイのブロックのTAGを無効化し
ている0図示の各ブロックのバリッドピットを■=0と
してTAGの書き込みを行うが、別に各ウェイごとに統
括的なバリンドフラグを設けて制御することができる。
その後、リトライのためハードウェアあるいはソフトウ
ェアにより再度同一のアクセスが行われた場合、対応す
るアドレスのブロックのTAGが全ウェイで無効のため
、LRUメモリ7を参照してムーブイン対象の置換ウェ
イを決定するが、工ラーを生じたアクセスが最後のアク
セスとなっているので、LRUメモリ7を参照した場合
、エラーを生したウェイが再度ムーブイン対象となるこ
とがない。したがって、TAGメモリやデータメモリに
固定故障が存在しても必ずリトライが成功することを保
証できる。一般に本実施例のようなハ・7フアメモリで
は各ウェイの切り離し機構が装備されているから、エラ
ー以降のアクセスで再度エラーを検出すれば該ウェイを
切り離す等の手段により装置の可用性をそこねることな
く処理が続行できるようになる。
(発明の効果〕 本発明によれば、ハードウェア量をあまり増加させるこ
となくバッファメモリに固定故障が生じても、リトライ
の成功を保証でき、情報処理装置の信転性と利用性を向
上させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理構成図2第2図は本発明実施例の
構成図、第3図はバッファメモリをもつシステムの従来
例の構成図である。 第1図中。 1:命令解読部(IPU)。 2:演算部(EPU) 3:主記憶装置(MSU)。 4:記憶制御部(SCU) 5:バッファメモリ(LBS) 6:ムーブイン制御回路 1:LRUメモリ 8:アクセス制御回路。 9:エラー検出回路。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)最近行われたアクセスの順序がLRU情報で管理
    される複数のウェイをもつバッファメモリにおいて、 アクセス要求がヒットしたバッファメモリの1つのウェ
    イでエラーが発生した場合、バッファメモリの全てのウ
    ェイを一旦無効とし、 次に行う上記アクセス要求のリトライは、LRU情報に
    基づいて決定される置換ウェイで実行されるようにする
    ことを特徴とするバッファメモリのエラー処理方式。
  2. (2)請求項第(1)項において、LRU情報に基づく
    置換ウェイの決定は、無効のウェイの数が0か2以上の
    場合に行うことを特徴とするバッファメモリのエラー処
    理方式。
JP2249375A 1990-09-19 1990-09-19 バッファメモリのエラー処理方式 Pending JPH04127341A (ja)

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