JPH04116351U - 誘導プラズマ質量分析装置 - Google Patents
誘導プラズマ質量分析装置Info
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- JPH04116351U JPH04116351U JP1897891U JP1897891U JPH04116351U JP H04116351 U JPH04116351 U JP H04116351U JP 1897891 U JP1897891 U JP 1897891U JP 1897891 U JP1897891 U JP 1897891U JP H04116351 U JPH04116351 U JP H04116351U
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- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 高温加熱され、イオン化されたサンプルをプ
ラズマインターフェースを介して、真空チェンバ内に設
けられた四重極マスフィルタで質量別に検出する誘導プ
ラズマ質量分析装置に関し、装置が小型軽量となり、油
拡散ポンプも小型のものでよい誘導プラズマ質量分析装
置を提供することを目的とする。 【構成】 真空チェンバを対向する二面が開放された本
体11と開方面に取り付けられる第1および第2のプレ
ート12,13より構成し、真空ポンプ19,20を第
1のプレートにダイレクトに取り付けるように構成す
る。
ラズマインターフェースを介して、真空チェンバ内に設
けられた四重極マスフィルタで質量別に検出する誘導プ
ラズマ質量分析装置に関し、装置が小型軽量となり、油
拡散ポンプも小型のものでよい誘導プラズマ質量分析装
置を提供することを目的とする。 【構成】 真空チェンバを対向する二面が開放された本
体11と開方面に取り付けられる第1および第2のプレ
ート12,13より構成し、真空ポンプ19,20を第
1のプレートにダイレクトに取り付けるように構成す
る。
Description
【0001】
本考案は、高温加熱され、イオン化されたサンプルをプラズマインターフェー
スを介して、真空チェンバ内に設けられた四重極マスフィルタで質量別に検出す
る誘導プラズマ質量分析装置に関する。
【0002】
従来、誘導プラズマ質量分析計における真空チェンバは図2および図3に示す
ような構造となっている。
【0003】
図2において、真空チェンバ1はステンレスの管を加工・溶接して形成されて
いる。
【0004】
図3において、真空チェンバ2はアルミニウムの中空鍛造ブロックを切削加工
を行うことにより形成されている。
【0005】
そして、これら真空チェンバ1,2の内部は3室に分割され、第1の室は図示
しないロータリポンプで、第2および第3の室は油拡散ポンプ4,5で各室に真
空状態を施すようにしている。
【0006】
しかし、上記構成の真空チェンバ1,2に対して各油拡散ポンプ4,5の取り
付けは、各油拡散ポンプ4,5に対向して直管部1a,1bおよび2a,2bを
形成し、この直管部1a,1bおよび2a,2bの先端部をフランジを介して取
り付ける構造にしていた。
【0007】
よって、装置全体の構造が大型化し、重量も大きいという問題点がある。
【0008】
又、直管部1a,1bおよび2a,2bがあるので、管排気抵抗により、各油
拡散ポンプ4,5も大型のものが必要となるという問題点がある。
【0009】
本考案は、上記問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、装置が小型軽量
となり、しかも、油拡散ポンプも小型のものでよい誘導プラズマ質量分析装置を
提供することにある。
【0010】
上記課題を解決する本考案は、高温加熱され、イオン化されたサンプルをプラ
ズマインターフェースを介して、真空チェンバ内に設けられた四重極マスフィル
タで質量別に検出する誘導プラズマ質量分析装置において、前記真空チェンバを
、対向する二面が開放され、内壁側は、イオンレンズ,四重極マスフィルタ,検
出器等を支持し、外壁側にはこれらイオンレンズ,四重極マスフィルタ,検出器
等のコネクタ部が配設される本体と、該本体の一方の開放面に取り付けられ、該
開放面を密封し、真空ポンプとの接続フランジ部を有する第1のプレートと、前
記本体の他方の開放面に取り付けられ、該開放面を密封する第2のプレートとを
設けたものである。
【0011】
本考案の誘導プラズマ質量分析装置において、真空ポンプは第1のプレートに
ダイレクトに取り付けられるので、装置が小型軽量となり、しかも、管排気抵抗
も少なくなるので油拡散ポンプも小型のものでよい。
【0012】
次に図面を用いて本考案の一実施例を説明する。図1は本考案の第1の実施例
を説明する構成図である。この図において、真空チェンバは、本体11と第1の
プレート12と第2のプレート13とより構成されている。
【0013】
本体11は、対向する二面が開放され、内壁I側は、イオンレンズホルダ14
,四重極マスフィルタ15,検出器16等を支持し、外壁U側にはこれらイオン
レンズ14,四重極マスフィルタ15,検出器16等のコネクタ14′,15′
,16′が配設され、更に、外壁Uには第1室であるフォアチェンバとの接続用
の穴17が穿設されている。
【0014】
第1のプレート12は、本体11の一方の開放面に取り付けられ、本体11の
開放面との対向面の周縁部近傍には溝12aが全周にわたって穿設され、この溝
12aにはシールゴム18が配設されている。そして、第1および第2の真空ポ
ンプ(油拡散ポンプ)19,20に接続される第1および第2のフランジ部21
,22が形成されている。
【0015】
これら第1および第2のフランジ部21,22は中央部に穴21a,22aが
穿設され、これら穴21a,22aの近傍には、外部に向かって突出するスタッ
ドボルト23,24が取り付けられている。これらスタッドボルト23,24を
用いて、第1および第2の真空ポンプ19,20が取り付けられる。
【0016】
そして、第1のプレート12と本体11の取り付けは、図示しないボルトを用
いて行われる。
【0017】
一方、本体11の第2のプレートとの対向端面には、溝11aが全周にわたっ
て穿設され、この溝11aにシールゴム25が配設されている。そして、第2の
プレート13と本体との取り付けは図示しないねじ等を用いて行われる。
【0018】
上記構成によれば、第1および第2の真空ポンプ19,20を真空チェンバに
ダイレクトに取り付けたことにより、装置が小型軽量となり、しかも、真空チェ
ンバと真空ポンプとの間の管排気抵抗も少なくなるので油拡散ポンプも小型のも
のでよくなる。
【0019】
尚、本考案は、上記実施例に限るものではない。例えば、真空ポンプと真空チ
ェンバとの取り付けは、上記実施例では、スタッドボルトを用いたが、他に、第
1のプレート12に真空ポンプ19,20のフランジ部を挟持する爪状部材を設
けるようにしてもよい。
【0020】
又、本体11のみでイオンレンズホルダ14,四重極マスフィルタ15,検出
器16等を支持するようにしたが、第1又は第2のプレート12,13にもこれ
らを支持する機構を設けてもよい。
【0021】
以上述べたように本考案によれば、装置が小型軽量となり、しかも、管排気抵
抗も少なくなるので油拡散ポンプも小型のものでよい誘導プラズマ質量分析装置
を実現することができる。
【図1】図1は本考案の第1の実施例を説明する構成図
である。
である。
【図2】従来の誘導プラズマ質量分析計における真空チ
ェンバの構成図である。
ェンバの構成図である。
【図3】従来の誘導プラズマ質量分析計における真空チ
ェンバの構成図である。
ェンバの構成図である。
11 本体
12 第1のプレート
13 第2のプレート
19 第1の真空ポンプ
20 第2の真空ポンプ
21 第1のフランジ部
22 第2のフランジ部
Claims (1)
- 【請求項1】 高温加熱され、イオン化されたサンプル
をプラズマインターフェースを介して、真空チェンバ内
に設けられた四重極マスフィルタで質量別に検出する誘
導プラズマ質量分析装置において、前記真空チェンバ
を、対向する二面が開放され、内壁側は、イオンレン
ズ,四重極マスフィルタ,検出器等を支持し、外壁側に
はこれらイオンレンズ,四重極マスフィルタ,検出器等
のコネクタ部をが配設される本体(11)と、該本体
(11)の一方の開放面に取り付けられ、該開放面を密
封し、真空ポンプ(19,20)との接続フランジ部
(21,22)を有する第1のプレート(12)と、前
記本体(11)の他方の開放面に取り付けられ、該開放
面を密封する第2のプレート(13)と、から構成する
ことを特徴とする誘導プラズマ質量分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1897891U JPH04116351U (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | 誘導プラズマ質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1897891U JPH04116351U (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | 誘導プラズマ質量分析装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04116351U true JPH04116351U (ja) | 1992-10-16 |
Family
ID=31905348
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1897891U Withdrawn JPH04116351U (ja) | 1991-03-27 | 1991-03-27 | 誘導プラズマ質量分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04116351U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016017712A1 (ja) * | 2014-07-29 | 2016-02-04 | 俊 保坂 | 超小型質量分析装置および超小型粒子加速装置 |
-
1991
- 1991-03-27 JP JP1897891U patent/JPH04116351U/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016017712A1 (ja) * | 2014-07-29 | 2016-02-04 | 俊 保坂 | 超小型質量分析装置および超小型粒子加速装置 |
US10249483B2 (en) | 2014-07-29 | 2019-04-02 | Takashi Hosaka | Ultra-compact mass analysis device and ultra-compact particle acceleration device |
US10804087B2 (en) | 2014-07-29 | 2020-10-13 | Takashi Hosaka | Ultra-compact mass analysis device and ultra-compact particle acceleration device |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19950615 |