JPH04112769U - 基板の粗面化装置 - Google Patents
基板の粗面化装置Info
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- JPH04112769U JPH04112769U JP1548291U JP1548291U JPH04112769U JP H04112769 U JPH04112769 U JP H04112769U JP 1548291 U JP1548291 U JP 1548291U JP 1548291 U JP1548291 U JP 1548291U JP H04112769 U JPH04112769 U JP H04112769U
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Landscapes
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】基板の粗面化装置において、粗面化の不均一性
を無くすこと。 【構成】基板1の表面に砥粒及び/又は砥液2を複数の
方向に同時に射出して粗面化するノズル3と、ノズル3
による射出中に基板1を回転させる回転台4と、ノズル
3による射出中にノズル3の基板1に対する射出角度を
変化させる手段とを有する。 【効果】基板1の表面には、粗面化のための砥粒及び/
又は砥液2が均一に射出されることになり、基板1の表
面は一様な面粗度を有する表面とすることができる。ま
た、ノズル3は複数の方向に同時に砥粒及び/又は砥液
2を射出するので、固定式としても良く、構成が簡単と
なる。
を無くすこと。 【構成】基板1の表面に砥粒及び/又は砥液2を複数の
方向に同時に射出して粗面化するノズル3と、ノズル3
による射出中に基板1を回転させる回転台4と、ノズル
3による射出中にノズル3の基板1に対する射出角度を
変化させる手段とを有する。 【効果】基板1の表面には、粗面化のための砥粒及び/
又は砥液2が均一に射出されることになり、基板1の表
面は一様な面粗度を有する表面とすることができる。ま
た、ノズル3は複数の方向に同時に砥粒及び/又は砥液
2を射出するので、固定式としても良く、構成が簡単と
なる。
Description
【0001】
本考案は、基板の粗面化装置に関するものであり、例えば、銅張り積層板の銅
めっき前の基板表面の粗面化に利用されるものである。
【0002】
従来、コンピュータ等の電子機器の心臓部となる電子回路基板には、LSI、
IC等が高密度に実装されている。このうち、プラスチックPGAは、中心部に
LSIやICを載せたインテリジェントな回路基板である。この回路基板は、現
在、TV、コンピュータからカメラに至るまで広範囲に利用されている。
【0003】
図3は従来のプラスチックPGAを製造する工程を示している。ステップで
は材料を断裁し、ステップではスルーホール穴明けを行い、ステップではI
Cを実装するキャビティ部を加工し、ステップでは粗面化処理を行い、ステッ
プではパネル銅めっきを行い、ステップでは回路パターンを形成し、ステッ
プではニッケルめっきを行い、ステップでは金めっきを行い、ステップで
は切断を行うものである。ここで、粗面化処理は、次工程である銅めっきの
前処理として行われる。この粗面化処理の目的は、銅めっきの密着性を上げるた
めに、めっきされる表面の粗面化を行うものである。通常、表面の粗面化が行わ
れると、ミクロ的に表面積が増加し、また、アンカー効果が向上するため、密着
力が上がると考えられている。
【0004】
プリント配線板による回路形成、とりわけ、プラスチックPGAにおいては、
銅めっきの高信頼性が商品性能に大きく関与してきた。この信頼性の中で熱に対
する信頼性が耐熱性であり、このうち、はんだ耐熱性とボンディングに対するめ
っき膨れが問題となる。この考案が解決しようとする課題は、キャビティ部の熱
による膨れ不良の軽減である。
【0005】
従来のプラスチックPGAは図3に示すような工程で製造されていたが、この
工程では膨れ不良が発生することが多かった。ここで、膨れ不良とは、プラスチ
ックPGAにICをセットする後加工(通常、ICのボンディング等が後加工の
対象となる。)での耐熱性のテストによって、キャビティ内部に生じる基板とめ
っきとの剥離現象である。ここで言う耐熱性テストはJIS等の規格とは別のも
のであり、温風乾燥炉を用いて一定の高温に保持し、剥離を目視で検査する。こ
のようなキャビティ部の膨れ不良を軽減するためには、銅めっき密着力を高める
ことが考えられる。そのためには、粗面化処理のステップにおいて、表面をミ
クロ的に粗面化する必要がある。
【0006】
従来、一般的に使用されている基板の粗面化装置を図4に示す。粗面化される
基板1は搬送ローラ6の上を矢印aに示すように、一定の速度で流れてくる。こ
のとき、基板1の上方には複数本のノズル3が配置されており、各ノズル3から
は砥粒及び/又は砥液2が射出され、これが基板1の表面にあたり、粗面化がな
される。このとき、ノズル3は基板1の進行方向とは垂直な方向に矢印fに示す
ように振られている。ただし、このとき、基板1の左端、右端と中央部では、粗
面化の度合いは違ってくる。
【0007】
本考案はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは
、基板の粗面化装置において、粗面化の不均一性を無くすことにある。
【0008】
本考案に係る基板の粗面化装置にあっては、上記の課題を解決するために、図
1又は図2に示すように、基板1の表面に砥粒及び/又は砥液2を複数の方向に
同時に射出して粗面化するノズル3と、ノズル3による射出中に基板1を回転さ
せる回転台4と、ノズル3による射出中にノズル3の基板1に対する射出角度を
変化させる手段とを有することを特徴とするものである。
【0009】
本考案の粗面化装置では、図1又は図2に示すように、基板1に砥粒及び/又
は砥液2をノズル3で射出する際に、基板1を回転台4により回転させると共に
、ノズル3の基板1に対する角度を変化させるようにしたので、基板1の位置に
よる粗面化の不均一性が生じることは無い。また、本考案では、ノズル3から複
数の方向に同時に砥粒及び/又は砥液2を射出するようにしたので、ノズル3は
固定されていても良く、構成が簡単になるという作用もある。さらに、ノズル3
を可動式とすれば、射出方向を様々に変えることができ、基板1の位置による粗
面化の不均一性を十分に低減することができるものである。
【0010】
図1は本考案の一実施例の斜視図である。図中、1は基板であり、プラスチッ
クPGAのウェハーである。この基板1の表面には、ノズル3から砥粒及び/又
は砥液2が射出される。ノズル3は、粗面化の不均一性を無くすために、複数の
方向(図示実施例では4方向)に同時に砥粒及び/又は砥液2を射出しており、
ノズル3と基板1の相対的な角度を空間的に変えている。また、基板1は回転台
4の上で矢印cに示すように回転しながら、搬送ローラ6により矢印aに示すよ
うに一定速度で搬送されて行く。したがって、複数の方向のうち、どの方向の射
出をノズル3から受けるかは回転台4の回転位置によって異なり、ノズル3と基
板1の相対的な角度は様々に変化する。
【0011】
図2は本考案の他の実施例の斜視図である。本実施例では、回転台5そのもの
が傾斜しており、この傾斜回転台5が矢印dに示すように回転することにより、
ノズル3と基板1の相対的な位置や角度の関係は複雑に変化し、これによって、
基板1の粗面化の不均一性が解消される。ノズル3は、粗面化の不均一性を無く
すために、複数の方向(図示実施例では4方向)に同時に砥粒及び/又は砥液2
を射出しており、これにより、基板1の粗面化の不均一性は顕著に低減される。
【0012】
図5はプラスチックPGAのウェハー(上述の基板1)を示す平面図である。
図中のウェハーは、255mm×255mmの大きさに断裁されており、図6に
示すようなプラスチックPGAを複数チップ(例えば、5×5=25個)含んで
いる。上述の粗面化処理の段階では、複数のチップに対して同時に粗面化処理を
行うものである。図7はプラスチックPGAの完成品を示す斜視図であり、図中
、1はプラスチック基板、11はキャビティ部、12はレジンダム、13は個々
のピングリッドである。
【0013】
実施例で用いた基板1の種類は、ガラス変性ポリイミド(板厚t=1.0又は
t=1.6mm)並びにガラス耐熱ポリイミド(板厚t=1.6mm)である。
ただし、これ以外の厚さにも適用可能である。キャビティ部11の形状は、穴の
大きさが11.5×11.5mm、深さが0.47mmから0.63mmに適用
可能である。ただし、これ以外の形状でも適用可能である。
【0014】
本考案の粗面化装置を用いれば、基板の表面には一様な面粗度を持っためっき
面が形成される。このため、次工程で行われる銅めっきは均一に形成され、密着
力の弱い部分が無くなり、結果的に銅めっきの熱による膨れ不良が無くなる。
【0015】
本考案の粗面化装置によれば、基板の表面に砥粒及び/又は砥液を複数の方向
に同時に射出して粗面化するノズルと、ノズルによる射出中に基板を回転させる
回転台と、ノズルによる射出中にノズルの基板に対する射出角度を変化させる手
段とを有するものであるから、基板の表面には粗面化のための砥粒及び/又は砥
液が均一に射出されることになり、基板の表面は一様な面粗度を有する表面とす
ることができるという効果がある。また、特に、本考案では、ノズルから複数の
方向に同時に砥粒及び/又は砥液を射出するようにしたので、ノズルは固定され
ていても良く、構成が簡単になり、安価に構成できるという効果もある。
【図1】本考案の粗面化装置の一実施例を示す斜視図で
ある。
ある。
【図2】本考案の粗面化装置の他の実施例を示す斜視図
である。
である。
【図3】従来のプラスチックPGAの製造方法を示す工
程図である。
程図である。
【図4】従来の一般的な粗面化装置を示す斜視図であ
る。
る。
【図5】プラスチックPGAのウェハーを示す平面図で
ある。
ある。
【図6】プラスチックPGAの1チップを示す斜視図で
ある。
ある。
【図7】プラスチックPGAの完成品を示す斜視図であ
る。
る。
1 基板
2 砥粒及び/又は砥液
3 ノズル
4 回転台
5 傾斜回転台
6 搬送ローラ
Claims (1)
- 【請求項1】 基板の表面に砥粒及び/又は砥液を複数
の方向に同時に射出して粗面化するノズルと、ノズルに
よる射出中に基板を回転させる回転台と、ノズルによる
射出中にノズルの基板に対する射出角度を変化させる手
段とを有することを特徴とする基板の粗面化装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1548291U JPH04112769U (ja) | 1991-03-15 | 1991-03-15 | 基板の粗面化装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1548291U JPH04112769U (ja) | 1991-03-15 | 1991-03-15 | 基板の粗面化装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04112769U true JPH04112769U (ja) | 1992-09-30 |
Family
ID=31902683
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1548291U Pending JPH04112769U (ja) | 1991-03-15 | 1991-03-15 | 基板の粗面化装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04112769U (ja) |
-
1991
- 1991-03-15 JP JP1548291U patent/JPH04112769U/ja active Pending
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