JPH04101761A - 単結晶加工装置 - Google Patents
単結晶加工装置Info
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- JPH04101761A JPH04101761A JP21691490A JP21691490A JPH04101761A JP H04101761 A JPH04101761 A JP H04101761A JP 21691490 A JP21691490 A JP 21691490A JP 21691490 A JP21691490 A JP 21691490A JP H04101761 A JPH04101761 A JP H04101761A
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- Japan
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- wire
- single crystal
- monocrystal
- litao3
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- Pending
Links
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B28—WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
- B28D—WORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
- B28D5/00—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
- B28D5/04—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by tools other than rotary type, e.g. reciprocating tools
- B28D5/045—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by tools other than rotary type, e.g. reciprocating tools by cutting with wires or closed-loop blades
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23D—PLANING; SLOTTING; SHEARING; BROACHING; SAWING; FILING; SCRAPING; LIKE OPERATIONS FOR WORKING METAL BY REMOVING MATERIAL, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23D57/00—Sawing machines or sawing devices not covered by one of the preceding groups B23D45/00 - B23D55/00
- B23D57/003—Sawing machines or sawing devices working with saw wires, characterised only by constructional features of particular parts
- B23D57/0046—Sawing machines or sawing devices working with saw wires, characterised only by constructional features of particular parts of devices for feeding, conveying or clamping work
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は単結晶をスライスする単結晶加工装置に関する
ものである。
ものである。
(従来の技術)
従来、L i TaO3単結晶、L i NbO3単結
晶およびSi単結晶等をスライスするものとしてワイヤ
ーソー加工装置がある。この装置においては、円柱状の
単結晶を往復運動をしているワイヤ下方から上昇させ、
遊離砥粒を切断部に流し単結晶をスライスする。
晶およびSi単結晶等をスライスするものとしてワイヤ
ーソー加工装置がある。この装置においては、円柱状の
単結晶を往復運動をしているワイヤ下方から上昇させ、
遊離砥粒を切断部に流し単結晶をスライスする。
このような装置において、ウェハ枚数を多くとるため、
スライスピッチは0.14〜0.18m層が使用されて
いるか、ワイヤ径が細いとスライス時間が長く、断線が
しばしば起こることがあった。
スライスピッチは0.14〜0.18m層が使用されて
いるか、ワイヤ径が細いとスライス時間が長く、断線が
しばしば起こることがあった。
また、砥粒はGC#600〜1200が一般的に使用さ
れているが、砥粒が粗くなるとワイヤの細りで断線する
ことが多い。
れているが、砥粒が粗くなるとワイヤの細りで断線する
ことが多い。
第4図は、ワイヤ径と切断されたウェハのうねりの関係
を示したものである。第4図に示されるように、ワイヤ
径が細いとうねりが出やすく、ワイヤの巻き初めと終わ
りに著しい欠点を生じ、ウェハの反りや厚みのばらつき
の原因となっていた。
を示したものである。第4図に示されるように、ワイヤ
径が細いとうねりが出やすく、ワイヤの巻き初めと終わ
りに著しい欠点を生じ、ウェハの反りや厚みのばらつき
の原因となっていた。
この傾向はウェハの口径が大口径化されるにつれ顕著に
なり、ウェハの大口径化の妨げとなっていた。
なり、ウェハの大口径化の妨げとなっていた。
また、円柱状の単結晶の加工においては、従来のワイヤ
ーソー加工装置では、最初ワイヤの接触面積が少なく、
横振れの発生が起こり易かった。
ーソー加工装置では、最初ワイヤの接触面積が少なく、
横振れの発生が起こり易かった。
(発明が解決しようとする課題)
従来のワイヤソー加工装置は、加工歪みが少な(、へき
開の強い単結晶の切断には有効であり、−度に大量のス
ライスができるという利点があるが、ワイヤの接触面積
が少なく、横振れの発生が起こりやすく、細いワイヤの
移動により伸直塵が悪く、加工速度も遅いという問題が
あった。
開の強い単結晶の切断には有効であり、−度に大量のス
ライスができるという利点があるが、ワイヤの接触面積
が少なく、横振れの発生が起こりやすく、細いワイヤの
移動により伸直塵が悪く、加工速度も遅いという問題が
あった。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、そ
の目的とするところは、ワイヤの横振れが少なく、伸直
塵か良好で加工速度の早い単結晶加工装置を提供するこ
とにある。
の目的とするところは、ワイヤの横振れが少なく、伸直
塵か良好で加工速度の早い単結晶加工装置を提供するこ
とにある。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
前述した目的を達成するために本発明は、往復運動を行
い切断を行う為の複数のワイヤと、円柱状の単結晶をそ
の半径方向に正逆回転させながら前記ワイヤの方向に直
線移動させる手段と、前記ワイヤにより前記単結晶ボー
ルが切断されているときに前記ワイヤをたたく手段と、
前記ワイヤにより前記単結晶が切断されているときに切
断部にスラリーを流す手段と、を具備する単結晶加工装
置である。
い切断を行う為の複数のワイヤと、円柱状の単結晶をそ
の半径方向に正逆回転させながら前記ワイヤの方向に直
線移動させる手段と、前記ワイヤにより前記単結晶ボー
ルが切断されているときに前記ワイヤをたたく手段と、
前記ワイヤにより前記単結晶が切断されているときに切
断部にスラリーを流す手段と、を具備する単結晶加工装
置である。
(作用)
本発明に係る単結晶加工装置では、単結晶をその半径方
向に正逆回転させるので、単結晶に浅いガイド溝が早く
できるため、ワイヤか安定して移動し、ワイヤの横振れ
が少なくなる。
向に正逆回転させるので、単結晶に浅いガイド溝が早く
できるため、ワイヤか安定して移動し、ワイヤの横振れ
が少なくなる。
さらに、ワイヤをたたき、ワイヤに振動を与えることに
より、ワイヤへの砥粒のいきわ、たりがよくなり、加工
速度が数十%早くなる。
より、ワイヤへの砥粒のいきわ、たりがよくなり、加工
速度が数十%早くなる。
また、前述したように単結晶表面にガイド溝かできるの
で、うねりを改善でき、スライスの伸直塵が良好になる
。伸直塵か良好となると、ウェハ加工工程での反りの発
生を防止でき、最近のステッパー化対応の高平坦ウェハ
において4′で10ミクロン以下のスライス加工精度が
可能となる。
で、うねりを改善でき、スライスの伸直塵が良好になる
。伸直塵か良好となると、ウェハ加工工程での反りの発
生を防止でき、最近のステッパー化対応の高平坦ウェハ
において4′で10ミクロン以下のスライス加工精度が
可能となる。
(実施例)
以下、図面に基づいて本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
j@1図は、本発明の一実施例に係る単結晶加工装置の
概略構成を示す斜視図であり、第2頭は第1図の■方向
からみた正面図である。
概略構成を示す斜視図であり、第2頭は第1図の■方向
からみた正面図である。
三角形上に配置されたローラias lbs lcに複
数のワイヤ3が巻付けられる。バイブ5には、はぼ等間
隔で孔が設けられ、この孔からスラリー7が流される。
数のワイヤ3が巻付けられる。バイブ5には、はぼ等間
隔で孔が設けられ、この孔からスラリー7が流される。
また、ローラ1bと1cの間に一対の鍵盤9 a %9
bが鉛直方向A−Bに移動可能に設けられる。
bが鉛直方向A−Bに移動可能に設けられる。
円柱状の単結晶11は、ローラlb、lcの下方に最初
膜けられ、その両端に回転治具13が設けられる。また
、ガラスベース15が、l結晶11下方に接着される。
膜けられ、その両端に回転治具13が設けられる。また
、ガラスベース15が、l結晶11下方に接着される。
単結晶11は、回転治具13により半径方向に回転させ
られながら、鉛直上方向Aに上昇する。
られながら、鉛直上方向Aに上昇する。
この単結晶加工装置では、ローラ1 a % 1 b
%1cが同期して正逆方向に回転することにより、ワイ
ヤ3が水平方向C−Dに往復運動を行う。
%1cが同期して正逆方向に回転することにより、ワイ
ヤ3が水平方向C−Dに往復運動を行う。
単結晶11は、回転治具13により回転させられながら
上昇し、往復運動をしているワイヤ3によりスライスさ
れる。そして、切断部にはスラリー7が流される。
上昇し、往復運動をしているワイヤ3によりスライスさ
れる。そして、切断部にはスラリー7が流される。
また、往復運動をしているワイヤ3が速度0になるとき
に、鍵盤9a、9bによってワイヤ3がたたかれる。
に、鍵盤9a、9bによってワイヤ3がたたかれる。
第3図は、単結晶11の回転角度とスライス時間を示し
たもので、回転角度が30度以上になると、スライス時
間は一定となるか、あまり回転角度を大きくするとウェ
ハの割れの原因となる。
たもので、回転角度が30度以上になると、スライス時
間は一定となるか、あまり回転角度を大きくするとウェ
ハの割れの原因となる。
また、ワイヤの押付は速度とサイクルは、シーソーの速
度で決まる。
度で決まる。
次に単結晶11としてL i T a 03単結晶を用
いた例について述べる。
いた例について述べる。
ボール形状に加工された4’X10C1+mlのLi
T a O3単結晶を有機接着剤でガラスベース15に
接着する。接着が終わった後、さらにLiTa 03単
結晶の前後を押えるため、LiTaO3単結晶を回転治
具13に接着する。次に、LiTa03単結晶を単結晶
加工装置にセットした後、L i T a O3単結晶
を左右に回転させる。異常がなければワイヤ3を稼働さ
せ、GC#1000の砥粒をラップオイルと混合したス
ラリー7を流す。
T a O3単結晶を有機接着剤でガラスベース15に
接着する。接着が終わった後、さらにLiTa 03単
結晶の前後を押えるため、LiTaO3単結晶を回転治
具13に接着する。次に、LiTa03単結晶を単結晶
加工装置にセットした後、L i T a O3単結晶
を左右に回転させる。異常がなければワイヤ3を稼働さ
せ、GC#1000の砥粒をラップオイルと混合したス
ラリー7を流す。
次に、L i T a 03単結晶を最初30度の回転
角度で、平均lQrpmの速度で左右に回転させる。そ
してL i T a O3単結晶を回転させながら鉛直
上方向Aに移動させ、ワイヤ3てスライスする。このと
きワイヤ3の速度が0になったときに、鍵盤9a、9b
でワイヤ3を軽くたたきながらスライスする。鍵盤9a
、9bの間隔は加工が進むにつれて水平方向に広げ、L
iTa0a単結晶11の中央部がスライスされた後は、
一定の間隔とした。
角度で、平均lQrpmの速度で左右に回転させる。そ
してL i T a O3単結晶を回転させながら鉛直
上方向Aに移動させ、ワイヤ3てスライスする。このと
きワイヤ3の速度が0になったときに、鍵盤9a、9b
でワイヤ3を軽くたたきながらスライスする。鍵盤9a
、9bの間隔は加工が進むにつれて水平方向に広げ、L
iTa0a単結晶11の中央部がスライスされた後は、
一定の間隔とした。
L i TaO3単結晶の回転角度は、加工が進むにつ
れて小さくし、切断断面の半分がガラスベース15に達
した時、回転を停止した。
れて小さくし、切断断面の半分がガラスベース15に達
した時、回転を停止した。
結果は従来22時間かかった加工速度か、18時間と短
縮された。スライスされたウェハは、ソマークもなく伸
直度は10μmであった。これを規定のSAW用ウェハ
加工したところ、伸直度は3μmと良好であった。
縮された。スライスされたウェハは、ソマークもなく伸
直度は10μmであった。これを規定のSAW用ウェハ
加工したところ、伸直度は3μmと良好であった。
次ぎに、単結晶11として4’X100mm1のL i
N b O3単結晶を用いた例について述べる。
N b O3単結晶を用いた例について述べる。
スラリーとしては、GC#1000の砥粒をラップオイ
ルと混合したものを用いた。
ルと混合したものを用いた。
LiNbO3単結晶の回転角度は、最初300度で、平
均IQrpmの速度で左右に回転させた。
均IQrpmの速度で左右に回転させた。
この回転角度は加工が進むにつれて小さくし、切削断面
の半分がガラスベース15に達したら回転を中止した。
の半分がガラスベース15に達したら回転を中止した。
ワイヤ3の速度が0になったとき、鍵盤9a。
9bてワイヤ3を軽くたたきながらスライスする。
鍵盤9a、9bの間隔は、加工が進むにつれて水平方向
に広げ、L i N b O3単結晶の中央部かスライ
スされた後は一定とした。
に広げ、L i N b O3単結晶の中央部かスライ
スされた後は一定とした。
結果は、従来18時間かかった加工時間が、15時間と
短縮された。スライスされたウエノ1はソーマークもな
く、伸直度は8μmであった。これを規定のSAW用ウ
エつ\加工したところ、伸直度は5μmと良好であった
。
短縮された。スライスされたウエノ1はソーマークもな
く、伸直度は8μmであった。これを規定のSAW用ウ
エつ\加工したところ、伸直度は5μmと良好であった
。
[発明の効果]
以上詳細に説明したように本発明によれば、Li T
a 03 、L i N b 03等の圧電単結晶やG
aA s 、 Z n W 04 、Cd W O4等
のへき間柱の強い単結晶に有効なワイヤソー加工装置の
欠点である伸直度を大幅に改善でき、周期的にワイヤ停
止時にワイヤをたたくため、砥粒の回りがよくなり、加
工時間を早くできる。このため最近のステ・ソノク一対
応が可能な高精度ウニ11を実現できる。
a 03 、L i N b 03等の圧電単結晶やG
aA s 、 Z n W 04 、Cd W O4等
のへき間柱の強い単結晶に有効なワイヤソー加工装置の
欠点である伸直度を大幅に改善でき、周期的にワイヤ停
止時にワイヤをたたくため、砥粒の回りがよくなり、加
工時間を早くできる。このため最近のステ・ソノク一対
応が可能な高精度ウニ11を実現できる。
第1図は本発明の一実施例に係る単結晶加工装置の斜視
図、 第2図は第1図を■方向から見た図、 第3図は回転角度とスライス時間を示す1第4図は単結
晶ボールの直径と切断されたウェハのうねりの関係を示
す図。 3・・・ワイヤ 7・・・スラリー 9a、9b・・・鍵盤 11・・・単結晶 13・・・回転治具 15・・・ガラスベース
図、 第2図は第1図を■方向から見た図、 第3図は回転角度とスライス時間を示す1第4図は単結
晶ボールの直径と切断されたウェハのうねりの関係を示
す図。 3・・・ワイヤ 7・・・スラリー 9a、9b・・・鍵盤 11・・・単結晶 13・・・回転治具 15・・・ガラスベース
Claims (1)
- (1)往復運動を行い切断を行う為の複数のワイヤと、 円柱状の単結晶をその半径方向に正逆回転させながら前
記ワイヤの方向に直線移動させる手段と、前記ワイヤに
より前記単結晶ボールが切断されているときに前記ワイ
ヤをたたく手段と、 前記ワイヤにより前記単結晶が切断されているときに切
断部にスラリーを流す手段と、 を具備する単結晶加工装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21691490A JPH04101761A (ja) | 1990-08-17 | 1990-08-17 | 単結晶加工装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21691490A JPH04101761A (ja) | 1990-08-17 | 1990-08-17 | 単結晶加工装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04101761A true JPH04101761A (ja) | 1992-04-03 |
Family
ID=16695901
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21691490A Pending JPH04101761A (ja) | 1990-08-17 | 1990-08-17 | 単結晶加工装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04101761A (ja) |
-
1990
- 1990-08-17 JP JP21691490A patent/JPH04101761A/ja active Pending
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