JPH0399451A

JPH0399451A - Ｑｆｐｉｃのコンタクト押え装置

Info

Publication number: JPH0399451A
Application number: JP1237904A
Authority: JP
Inventors: Masayuki Kameda; 亀田　昌之
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1989-09-12
Filing date: 1989-09-12
Publication date: 1991-04-24
Anticipated expiration: 2013-11-05
Also published as: JP2821626B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】以下の順序に従って本発明を説明する。

Ａ、産業上の利用分野８０発明の概要Ｃ０従来技術［第３図、第４図］００発明が解決しようとする問題点Ｅ０問題点を解決するための手段Ｆ０作用Ｇ、実施例［第１図、第２図］ａ、構造［第１図、第２図］ｂ、動作Ｈ１発明の効果（Ａ、産業上の利用分野）本発明はＱＦＰ　ＩＣのコンタクト押え装置、特にソケ
ット上のＱＦＰＩＣの各リードをソケットの接触子に押
圧して良好な電気的コンタクトをとるＱＦＰＩＣのコン
タクト押え装置に関する。

（Ｂ、発明の概要）本発明は、上記のＱＦＰＩＣのコンタクト押え装置にお
いて、機構の簡単化を図るため、スライドブロックにコンタクトチップを２個取り付ける
ことによりスライドブロックの数を２個に減らすように
したものである。

（Ｃ，従来技術）［第３図、第４図］ＩＣの高集積化に伴ってビン（リード）の数が増えＱＦ
Ｐ　（ｑｕａｄ　　ｆ　１　ａｔ　　ｐａｃｋａｇｅ）
ＩＣが現われている。ＱＦＰｒＣはパッケージの四側面
すべてからリードが突出したＩＣである。

当然のことながら、かかるＩＣもＤＩＬＰ（ｄｕａｌ　
　ｉｎ　　１ｉｎｅ　　ｐａｃｋａｇｅ）ＩＣと同様に
電気的特性の測定をしなければならない。この電気的特
性の測定は、測定器のソケット上にＩＣを置き、ＩＣの
リードをソケットの接触子に接触させた状態で行なう。

そして、その接触を完全にするため、ＩＣのリードをコ
ンタクト押え装置によってコンタクトチップにてソケッ
トの接触子へ押圧する必要がある。

ところで、ＱＦＰ　ＩＣ用のコンタクト押え装置として
従来は第３図、第４図に示すものが用いられる。第３図
は平面図、第４図は断面図であり、第３図及び第４図の
（Ａ）は非押圧状態を示し、（Ｂ）は押圧状態を示す。

図面において、ａ、ａ、ａ、ａはチップ保持ブロック、
ｂ、ｂ、ｂ、ｂは該チップ保持ブロックａ、ａ、ａ、ａ
の先端部に取り付けられたコンタクトチップで、絶縁物
、例えばセラミックからなる。Ｃは測定されるＱＦＰＩ
Ｃ，ｄ％ｄ、・・・は該ＱＦＰＩＣｃのリード、ｅは測
定用ソケットの接触子、ｇ、ｇ、・・・は該接触子ｆ、
ｆ、・・の下端部であり、該端部ｇ、ｇ、・・・にて接
触子ｆ、ｆ、・・・が図示しない測定器に接続される。

コンタクト押え装置のコンタクトチップでＱＦＰＩＣｃ
のリードｄ、ｄ、・・・を押圧していない状態（非押圧
状態）のときは第３図及び第４図の（Ａ）に示すように
４個のチップ保持ブロックａ％ａ％ａ、ａが測定用ソケ
ットｅよりも適宜高い上側限界点であって互いに離間し
た後退限界点に位置している。

そして、コンタクトチップｂ％ｂ％ｂ、ｂでＩｃｅのリ
ードｄ、ｄ、・・・をソケットｅの接触子ｆ、ｆ、　　
・・・に押圧するときは、チップ保持ブロックａ、ａ、
ａ、ａを前進させることによりコンタクトチップｂ、ｂ
、ｂ、ｂをリードｄ、ｄ、・・・の上方に位置させ、そ
の後チップ保持ブロックａ、ａ％ａ％ａを下降させるこ
とによりコンタクトチップｂ％ｂ、ｂ、ｂによってリー
ドｄ、ｄ・・・をソケットｅの接触子ｆ、ｆ・・・に押
圧する。第３図及び第４図の（Ｂ）は押圧状態を示す。

（Ｄ、発明が解決しようとする問題点）ところで、第３
図及び第４図に示す従来のコンタクト押え装置は、チッ
プ保持ブロックａを４個設け、各チップ保持ブロックａ
をそれぞれ駆動しなければならないので機構が複雑であ
り、また、タクトタイム（マシンサイクル）も長くなり
がちであった。

本発明はこのような問題点を解決すべ（為されたもので
あり、機構の簡単化を図ることを目的とする。

（Ｅ、問題点を解決するための手段）本発明ＱＦＰＩＣのコンタクト押え装置は上記問題点を
解決するため、ベースに上下テーブルを垂直方向に移動
可能に取り付け、上下テーブルに２個のスライドブロッ
クを同一直線上を水平方向にスライド可能に取り付け、
各スライドブロックの互いに対向する端部にコンタクト
チップを２個互いに直角をなすように取り付け、各スラ
イドブロック及び上下テーブルをブロック駆動手段及び
テーブル駆動手段により駆動するようにしたことを特徴
とする。

（Ｆ、作用）本発明ＱＦＰＩＣのコンタクト押え装置によれば、一つ
のスライドブロックにコンタクトチップを２個取付ける
ようにしたので、スライドブロックの数を２個に減らす
ことができる。従って、スライドブロック及びこれを駆
動する機構が２個で済み、装置の機構が簡単になり、タ
クトタイムが長くなる虞れもない。

（Ｇ、実施例）　［第１図、第２図］以下、本発明ＱＦＰＩＣのコンタクト押え装置を図示実
施例に従って詳細に説明する。

（ａ、構造）［第１図、第２図］第１図及び第２図は本発明ＱＦＰＩＣのコンタクト押え
装置の一つの実施例を示すもので、第１図は斜視図、第
２図は平面図である。

１は板状のベースで、中央部に図示しない測定用ソケッ
トが取り付けられる矩形状のソケット取付孔２が形成さ
れている。

３は上記ベース１に垂直方向に移動可能に取り付けられ
た上下テーブルで、上記ソケット取付孔２に対応した位
置に矩形孔を有している。４．４は該上下テーブル３を
垂直方向に案内するガイドボストで、ベース１に立設さ
れている。５．５は該ガイドボスト４．４がスライド自
在に嵌合された被ガイドブロックで、上下テーブル３に
取付けられている。６．６は上下シリンダで、エアーに
より上下テーブル３を上下させる。尚３、図面において
、該シリンダ及び後述するシリンダについてはエアーの
給気及び排気を行なう管及びその取付部材の図示は便宜
上省略した。

７．７は上下シリンダ６．６のピストンと上記被ガイド
ブロック５．５とを連結する伝動片であり、上記上下シ
リンダ６．６は上記被ガイドブロック５．５にて上記ガ
イドボスト４．４により上下方向に案内される上下テー
ブル３を該伝動板７．７を介して上下させる。該上下テ
ーブル３の下側限界点は図示しないストッパーにより規
定されるようになっている。

８．８は上下テーブル３表面に水平方向にスライド自在
に取付られたスライドブロックである。

該スライドブロック８．８は上下テーブル３中央部の上
記矩形孔を横切る一直線上をスライドするように取付ら
れており、先端が上記矩形孔を斜め４５°の方向に挟ん
で対向するように配置されている。９．９は該スライド
ブロック８．８を案内するガイドである。

スライドブロック８．８の互いに対向する先端面は上側
から見てＶ字溝ができるように形成され各々２つずつ互
いに９０度を成すコンタクトチップ取付面１１．１１を
有している。そして、各コンタクトチップ取付は面１１
．１１．１１゜１１にはコンタクトチップ１２．１２．
１２．１２が取付けられている。１３．１３は上下テー
ブル３に取付けられたスライドシリンダで、エアーによ
りスライドブロック８．８をスライドさせる。１４．１
４はスライドブロック８．８の最も前進した位置、即ち
前進側限界点を規定するストッパーで、ねじにより前進
側限界点を調整することができる。

１５はＱＦＰＩＣ位置決め機構であり、ベース１に固定
されたサブベース１６上に設けられており、上から見て
Ｌ字状の受は部１７と、これにＱＦＰＩＣをＬ字状の押
し部・１８によって内蔵スプリングの力で上記スライド
ブロック８．８のスライド方向と平行な方向に押して位
置決めする位置決めシリンダ１９とからなる。２ｏは被
位置決めＱＦＰＩＣが置かれるＩＣ座である。

（ｂ、動作）次に、本装置の動作を説明する。

スランバイ時には上下テーブル３は上下シリンダ６．６
によって上側限界点に上昇せしめられ、スライドロック
８．８はスライドシリンダ１３．１３によって後退側限
界点まで後退せしめられている。第２図の２点鎖線はこ
のときのスライドシリンダ１３．１３の先端部及びコン
タクトチップ１２．１２．１２．１２を示している。

また、位置決めシリンダ１９はエアーにより内蔵スプリ
ングに抗して押し部１８を後退させた状態に保っている
。

次に、真空吸着具によってＱＦＰＩＣが押し部１８と受
部１７との間のＩＣ座２０上に搬送される。そして、そ
の状態で位置決めシリンダ１９は内蔵スプリングの力に
よって押し部１８でＱＦＰＩＣを受部１７に押す。する
と、ＱＦＰＩＣの位置、向きが自ずと調整される。

尚、内蔵スプリングでＱＦＰＩＣを押すときは、内蔵ス
プリングが伸びきる寸前の状態になるように設定されて
いるので、押す力は非常に微弱である。従って、位置決
めの際にＱＦＰＩＣのリードが曲がったり、パッケージ
が破壊されたりする虞れはない。

ＱＦＰＩＣの位置、向きの調整が終わると、位置決めシ
リンダ１９は内蔵スプリングの力に抗して押し部１８を
後退させる。次に、真空吸着具はＱＦＰＩＣをベース１
中央部の上記取付は孔２に取付けられた図示しない測定
用ソケット上に運ぶ。

次に、スライドシリンダ１３．１３がスライドブロック
８．８をストッパ１４．１４によって規定された位置ま
で前進させる。すると、スライドブロック８．８に取付
けられたコンタクトチップ１２．１２．１２．１２がＱ
ＦＰＩＣ（７）四側面のリード（ビン）の上方に正確に
位置した状態になる。

次に、その状態で上下シリンダ６．６によって上下テー
ブル３を降下させると、ＱＦＰＩＣのリード（ビン）が
ソケットの接触子に押圧されて確実に電気的に接続され
る。この状態の時に電気的特性の測定が行なわれる。

特性の測定が終わると、上下シリンダ６．６によって上
下テーブル３が上昇せしめられ、次にスライドシリンダ
１３．１３によってスライドブロック８．８が後退せし
められる。その後、真空吸着具によってＱＦＰＩＣがソ
ケット上から別のところに搬送される。

これで１測定サイクルが終わるのである。

（Ｈ，発明の効果）以上に述べたように、本発明ＱＦＰＩＣのコンタクト押
え装置は、ベースと、該ベースに垂直方向に移動可能に
支持された上下テーブルと、該上下テーブルを上下動さ
せるテーブル駆動手段と、上記上下テーブルに同一直線
上を水平方向にスライド可能に支持された２個のスライ
ブロックと、該各スライドブロックを水平方向に移動さ
せるブロック駆動手段と、上記各スライドブロックの互
いに対向する端部に２個ずつ互いに９０度をなすように
取り付けられたＱＦＰＩＣのリードを抑えるコンタクト
チップと、を少なくとも有し、上記テーブル駆動手段に
よって上記上下テーブルを下降させると同時又はその前
に上記ブロック駆動手段によって上記スライドブロック
を互いに近接する方向に移動させて上記コンタクトチッ
プによってＱＦＰＩＣのリードを下側に押えるようにし
てなることを特徴とするものである。

従って、本発明ＱＦＰＩＣのコンタクト押え装置によれ
ば、一つのスライドブロックにコンタクトチップを２個
取付けるようにしたので、スライドブロックの数を２個
に減らすことができる。

従って、スライドブロック及びこれを駆動する機構が２
個で済み、装置の機構が簡単になり、タクトタイムが長
くなる虞れもない。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第２図は本発明ＱＦＰＩＣのコンタクト押え
装置の一つの実施例を示すもので、第１図は斜視図、第
２図は平面図、第３図（Ａ）、（Ｂ）及び第４図（Ａ）
、（Ｂ）は従来技術な示すもので、第３図は平面図、第
４図は断面図、第３図（Ａ）及び第４図（Ａ）は共に非
押圧状態を示し、第３図（Ｂ）及び第４図（Ｂ）は押圧
状態を示す。符号の説明１・・・ベース、３・・・上下テーブル、６・・・テー
ブル駆動手段、８・・・スライドブロック、１２・・・コンタクトチップ、１３・・・ブロック駆動手段。枳６ｋ」― 第３図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）ベースと、上記ベースに垂直方向に移動可能に支持された上下テー
ブルと、上記上下テーブルを上下動させるテーブル駆動手段と、上記上下テーブルに同一直線上を水平方向にスライド可
能に支持された２個のスライドブロックと、上記各スライドブロックを水平方向に移動させるブロッ
ク駆動手段と、上記各スライドブロックの互いに対向する端部に２個ず
つ互いに９０度をなすように取り付けられたＱＦＰＩＣ
のリードを押えるコンタクトチップと、を少なくとも有し、上記テーブル駆動手段によって上記上下テーブルを降下
させると同時又はその前に上記ブロック駆動手段によっ
て上記スライドブロックを互いに近接する方向に移動さ
せて上記コンタクトチップによってＱＦＰＩＣのリード
を下側に押えるようにしてなることを特徴とするＱＦＰＩＣのコンタクト押え装置