JPH0394438A - 半導体チップモジュール - Google Patents

半導体チップモジュール

Info

Publication number
JPH0394438A
JPH0394438A JP1231131A JP23113189A JPH0394438A JP H0394438 A JPH0394438 A JP H0394438A JP 1231131 A JP1231131 A JP 1231131A JP 23113189 A JP23113189 A JP 23113189A JP H0394438 A JPH0394438 A JP H0394438A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor chip
pad
sealing resin
bonding
conductor parts
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP1231131A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2738568B2 (ja
Inventor
Katsuya Fukase
克哉 深瀬
Masato Tanaka
正人 田中
Norio Wada
和田 則雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinko Electric Industries Co Ltd
Original Assignee
Shinko Electric Industries Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shinko Electric Industries Co Ltd filed Critical Shinko Electric Industries Co Ltd
Priority to JP1231131A priority Critical patent/JP2738568B2/ja
Publication of JPH0394438A publication Critical patent/JPH0394438A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2738568B2 publication Critical patent/JP2738568B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/11Manufacturing methods
    • H01L2224/113Manufacturing methods by local deposition of the material of the bump connector
    • H01L2224/1133Manufacturing methods by local deposition of the material of the bump connector in solid form
    • H01L2224/1134Stud bumping, i.e. using a wire-bonding apparatus

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は回路基板に実装して用いる半導体チップモジュ
ールに関する. (従来技術) 半導体チップを回路基板に実装する搭載方法には、パッ
ケージ方式とペアチップ方式があり、半導体チップの接
続方法にはワイヤボンディング方式とバンプ方式がある
前記のパッケージ方式は、半導体チップをパッケージに
収納してパッケージごと回路基板に実装するもので、ペ
アチップ方式は,回路基板にペアチップを搭載し,ワイ
ヤボンディング方式により接続するかあるいはバンプ方
式によって接続搭載するものである。
バンプ方式では、半導体チップにあらかじめ接続用のバ
ンプを形戊しておき、半導体チップを加圧、加熱して回
路基板に接続する(フリップチップ法)。半導体チップ
を搭載した後は、接続部分、露出部分を樹脂によって封
止する. このフリップチップ法の場合は、半導体チップの面積内
で接続できるから、パッケージ方式とくらべてかなり実
装密度を高めることができ、また接続する際ボンディン
グワイヤを用いないから、ボンディングワイヤが交錯し
たりすることがない等の利点を有する。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、上記のフリップチップ法による場合は半
導体チップ上に接続用のバンプをつくる必要があり、半
導体チップの製造コストが高くなること、実装用の基板
に接続する際に半導体チップを加圧、加熱するため熱応
力疲労によって半導体チップのパッド等の接続部が劣化
しやすいこと、ペアチップの状態で接続するため耐環境
性に劣り半導体装置の信頼性が劣ること、熱放散性能が
劣ること等の問題点がある。
そこで,本発明は上記問題点を解消すべくなされたもの
であり、その目的とするところは,回路基板に対して上
記フリップチップ法と同程度の高密度実装ができると共
に、耐環境性に優れ,取り扱いが容易な半導体チップモ
ジュールを提供しようとするものである. (課題を解決するための手段) 本発明は上記目的を達成するため次の構或をそなえる。
すなわち、少なくともワイヤボンディング用のパッドが
形成された半導体チップの面が樹脂封止され、該パッド
に一端がボンディングされたボンディングワイヤの他端
側か、前記パッドが形成された半導体チップの面を封止
する封止樹脂の外面に引き出され,外部接続用の端子部
として形或されたことを特徴とする。また、前記端子部
に外部接続用のバンプが形成されたことを特徴とする。
(作用) 半導体チップモジュールは、封止樹脂の外面に設けられ
る端子部を介して、回路基板等に実装される.端子部は
半導体チップのパッドに接続しているから、これによっ
て半導体チップと回路基板とが電気的に接続される。端
子部にバンプを形成した場合は、バンプを介して回路基
板等に接続する。
(実施例) 以下本発明の好適な実施例を添付図面に基づいて詳細に
説明する. 〔第1実施例〕 第1図は本発明に係る半導体チップモジュールの第1の
実施例を示す断面図である。図で10は半導体チップ、
12は半導体チップを封止する封止樹脂、14は半導体
チップ10に設けたパッドである。
16はワイヤボンデイング法によってバッドl4上に立
ち上がり形状に形成した導体部で,18は導体部16の
上端面に形或したバンプである。
導体部16の上端面は封止樹脂12の外面に露出し、バ
ンプ18は導体部16の端面から盛り上がる。
第2図(a)〜(d)は上記実施例の半導体チップモジ
ュールの製造方法例を示す。
第2図(a)は半導体チップ10上に導体部16を形成
する状態を示す。図で20はボンディングワイヤ,22
はワイヤボンデイングで用いるキャピラリである.導体
部l6はポールボンデイング法によって形戒するもので
,半導体チップl2のパッドl4にボンディングワイヤ
20を溶着してボール付けした後,わずか上方に引き上
げて切断する.この切断の際は、ボンディングワイヤを
そのまま切断してもよいし,ボンディングワイヤ20を
ボール状にして溶断してもよい.第2図(b)はボール
状にして導体部16を形成した実施例である6次いで、
第2図(C)に示すように、半導体チップ10および導
体部16全体を樹脂封止する。導体部l6は封止樹脂l
2によってその上端まで被覆する. 次に、封止樹脂12の外面で導体部16が設けられた側
の表面を研磨して、導体部16の上部を封止樹脂12内
から露出させる.第3図(a)は研磨によって導体部1
6の球状部分を露出させた状態を示す.導体部16は上
部の球状部分をいくぶん研削し、ある程度の露出面積を
とるようにする。
第3図(′b)は研磨後の導体部16の平面図である.
導体部16は円形状に封止樹脂12上に露出する。
次に、導体部l6の露出面にバンプ18を形或する.パ
ンプ1Bははんだめっきによる方法、導電ペーストを印
刷、塗布する方法、導電性接着剤を塗布する方法等によ
って形成することができる.こうして,第1図に示す半
導体チップモジュールが得られる。
なお、ポールボンディングによってパッドのボール付け
部分がある程度大きく形或できる場合はこのボール付け
部分のみを形成するだけでもよい.第4図は、上記と同
様にパッド14に立ち上がり形状に導体部16を形成し
た他の例を示す。この例では、上記例よりもボンディン
グワイヤ20を長く引き出して切断し、封止樹脂12か
らボンディングワイヤ20の先端を突出させるようにす
る。外部接続用の端子部はこのように封止樹脂12から
突出させて設けてもよい.ボンディングワイヤ20を突
出させた場合は、突出したボンデイングワイヤ端を回路
基板に接続して実装する。
なお、ワイヤボンディング法はポールボンデイング法に
限るものでなく、アルミニウムワイヤ等をボンデイング
する際の超音波ボンデイング法等も利用できる。以下の
実施例においても同様である。
上述した実施例では半導体チップ10全体を樹脂封止し
たが、第5図および第6図に示すように、基材24に半
導体チップ10の下面を接合して樹脂封止してもよい。
基材24としては放熱性の高い金属板を用いたり、セラ
ミックを用いることができ,さらに放熱フィンを取り付
けることにより熱放散性を高めることができる。
〔第2実施例〕 第7図は半導体チップモジュールの他の実施例の製造方
法を示す説明図である. この実施例においてもワイヤボンディング法によって製
造するが、第7図(a)はワイヤボンディングする前の
半導体チップ10を示す平面図である.l4は半導体チ
ップ10上に設けたパッド、14aはダミーパッドであ
る。ここでパッド14は信号線路としての接続部である
が、ダミーパッド14aはバッド14との間でワイヤボ
ンディングするためのボンディング支持部として用いる
ものである。図のように、パッド14とダミーパッド1
4aとは所定間隔をおいて向かい合わせに配置する。
次いで、第7図(b)に示すように,向かい合ったパッ
ド14とダミーパッド14aとの間をボンディングワイ
ヤ20で接続する。バッドl4とパッド14aとを接続
する際は通常のワイヤボンデイング法によればよい。た
だし,この場合ボンディングワイヤ20の円弧状の高さ
を均等に揃えるようにワイヤボンデイングする。
次に、半導体チップ10およびボンデイングワイヤ20
全体を樹脂封止する(第7図(C〉)。
次いで、封止摺脂12を研磨して、封止樹脂I2の外面
にボンディングワイヤ20を一部分露出させる。第8図
(a)に示すようにこの研磨工程は、封止樹脂12とと
もにボンディングワイヤ20を部分的に研削することに
よってボンディングワイヤ20の円弧状部の一部を外部
に露出させるものである。第8図(b)は研削によって
ボンディングワイヤ20が露出した状態を示す平面図で
ある。
次に,ボンディングワイヤ20の露出部分に前述した第
1実施例と同様な方法によってバンプl8を形成する(
第7図(d))。
こうして、半導体チップ10のパッド14と導通をとっ
た外部接続用の端子部が封止樹脂外面に形成された半導
体チップモジュールが得られる。
なお,上記製造工程においてはボンディングワイヤ20
を研削するから、研削しやすいようにやや大径のボンデ
ィングワイヤを用いるのがよい。
また、パンプ18を形成する際には、封止樹脂12の表
面にレジストパターンを形成してバンプ↓8の位置を正
確に位置決めするようにしてもよい。
〔第3実施例〕 第9図は半導体チップモジュールのさらに他の実施例の
製造方法を示す説明図である。
この実施例においても、上記例と同様にワイヤボンディ
ング法を利用して製造する. 第9図で、30は半導体チップ10を接合するダイボン
ディング部であり、30aはダイボンディング部30の
周囲に配置されダイボンディング部30と一体に形成さ
れたダミーの支持体である。
このダミーの支持休30aのボンディング部には,ボン
ディングワイヤのボンディング性を確実にするため、あ
らかじめ平滑処理や金めつき等の表面処理を施しておく
とよい。
第9図(a>は半導体チップ10を支持体30上に接合
した後、半導体チップ10のパッド14とダミーの支持
体30a間をワイヤボンディングし、樹脂封止した状態
を示す。
第9図(b)は上記のようにして樹脂封止したものに対
して、半導体チップ10の搭載部分を残してC−C線、
D−D線から外側部分を除去した後、封止摺脂12を研
磨して上記例と同様にボンディングワイヤ20を露出さ
せバンプl8を設けたものである。
この実施例ではダミーの支持体30aを利用することに
よって上記第2実施例とは異なり、半導体チップ10上
にダミーのバッド14aを設けることなく製造すること
ができる.また、この実施例の方法では従来と同様のワ
イヤボンデイング法が適用できるという利点がある。な
お、支持体30、ダミーの支持体30aとしては金属板
、金属箔を接合したフィルム等が利用できる。
以上各実施例について説明したが、上記各実施例の半導
体チップモジュールは以下のような顕著な特徴を有する
。すなわち ■ 上記半導体チップモジュールのサイズは半導体チッ
プよりも若干大きいのみであり、また外部接続用の端子
部を外面に有しているからフリップチチップ法によって
容易に実装でき、高密度実装が可能である。
■ 半導体チップが樹脂封止されることによってプラス
チックパッケージと同等の耐環境性が得られ、装置とし
ての信頼性を向上させることができる. ■ 端子部と半導体チップとの間に封止樹脂が介在し、
またバンプとパッド間に導体部が介在することによって
、これらが緩衝材として作用し実装した際にパッド部へ
応力が集中することを緩和することができる。これによ
って、長寿命化が図れる. ■ 半導体チップ上の全範囲がパッド等の信号接続部と
して使用できるから、リードフレーム等を用いた場合と
くらべて多ピン化が可能となる。
■ 高い技術的完成度にあるワイヤボンディング法が有
効に利用でき,確実に製造できるとともに製造コストを
抑えることができる. ■ 半導体チップに放熱体を付設することが容易にでき
,半導体チップの熱放散性を容易に向上させることがで
きる。
なお,外部接続用の端子部はかならずしも封止樹脂12
の外面から突出させる必要はなく,第10図に示すよう
にソケッ1一等を介して実装することもできる。図で、
32は実装用の回路基板、34はコネクタ,36はコネ
クタの接点部である。
以上、本発明について好適な実施例を挙げて種々説明し
たが,本発明はこの実施例に限定されるものではなく、
神々のタイプの半導体チップモジュールに同様に適用で
きるものであって、発明の精神を逸脱しない範囲内で多
くの改変を施し得るのはもちろんのことである。
(発明の効果) 上述したように、本発明に係る半導体チップモジュール
は,、半導体チップが樹脂封止されて提供されるから耐
環境性に優れると井に、取り扱いがきわめて容易となり
、かつ外部接続用の端子部がモジュール本体に形成され
て提供されるから,回路基板等にそのまま接続して実装
でき、高密度実装を可能とすることができる。また、封
止樹脂やバンブとパッド間の導体部が緩衝材となって実
装した際の応力集中を緩和することができ、接続部を長
寿命化させることができる等の著効を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る半導体チップモジュールの第1の
実施例を示す断面図、第2図、第3図はその製造方法を
示す説明図、第4図〜第6図は第1実施例の変形例を示
す断面図,第7図及び第8図は第2実施例の製造方法を
示す説明図、第9図は第3実施例の製造方法を示す説明
図、第10図は実装例を示す説明図である。 10・・・半導体チップ、 12・・・封止樹脂,  
14・・・パッド,  14a・・・ダミーパッド、 
 16・・・導体部, 18・・・バンプ、 20・・
・ボンディングワイヤ、  22・・・キャビラリ、 
24・・・基材、 30・・・ダイボンディング部、 
 30a・・・ダミーの支持体、 32・・・回路基板
、 34・・・コネクタ、36・・・接点部。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、少なくともワイヤボンディング用のパッドが形成さ
    れた半導体チップの面が樹脂封止され、 該パッドに一端がボンディングされたボン ディングワイヤの他端側が、前記パッドが形成された半
    導体チップの面を封止する封止樹脂の外面に引き出され
    、外部接続用の端子部として形成されたことを特徴とす
    る半導体チップモジュール。 2、端子部に外部接続用のバンプが形成された請求項1
    記載の半導体チップモジュール。
JP1231131A 1989-09-06 1989-09-06 半導体チップモジュール Expired - Lifetime JP2738568B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1231131A JP2738568B2 (ja) 1989-09-06 1989-09-06 半導体チップモジュール

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1231131A JP2738568B2 (ja) 1989-09-06 1989-09-06 半導体チップモジュール

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0394438A true JPH0394438A (ja) 1991-04-19
JP2738568B2 JP2738568B2 (ja) 1998-04-08

Family

ID=16918773

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1231131A Expired - Lifetime JP2738568B2 (ja) 1989-09-06 1989-09-06 半導体チップモジュール

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2738568B2 (ja)

Cited By (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5519251A (en) * 1992-10-20 1996-05-21 Fujitsu Limited Semiconductor device and method of producing the same
US5554887A (en) * 1993-06-01 1996-09-10 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Plastic molded semiconductor package
EP0771029A3 (en) * 1995-10-24 1997-07-30 Oki Electric Ind Co Ltd Semiconductor device with improved structure to avoid cracks and manufacturing process
EP0901165A1 (fr) * 1997-09-05 1999-03-10 Matra Marconi Space France Boítier à microcircuit intégré et procédé de montage de microcircuit intégré
US5925934A (en) * 1995-10-28 1999-07-20 Institute Of Microelectronics Low cost and highly reliable chip-sized package
EP0773584A3 (en) * 1995-11-08 2000-02-02 Fujitsu Limited Device having resin package and method of producing the same
US6084309A (en) * 1992-10-20 2000-07-04 Fujitsu Limited Semiconductor device and semiconductor device mounting structure
JP2000236044A (ja) * 1998-12-14 2000-08-29 Ela Medical Sa Cmsコ―トされた超小型電子部品ならびにその製造方法
US6159770A (en) * 1995-11-08 2000-12-12 Fujitsu Limited Method and apparatus for fabricating semiconductor device
US6165819A (en) * 1992-10-20 2000-12-26 Fujitsu Limited Semiconductor device, method of producing semiconductor device and semiconductor device mounting structure
US6218728B1 (en) 1997-10-28 2001-04-17 Nec Corporation Mold-BGA-type semiconductor device and method for making the same
JP2001118876A (ja) * 1999-08-12 2001-04-27 Fujitsu Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP2001144204A (ja) * 1999-11-16 2001-05-25 Nec Corp 半導体装置及びその製造方法
US6329711B1 (en) * 1995-11-08 2001-12-11 Fujitsu Limited Semiconductor device and mounting structure
WO2003032387A1 (en) 2001-10-09 2003-04-17 Koninklijke Philips Electronics N.V. Electrical or electronic component and method of producing same
US6573121B2 (en) 1995-11-08 2003-06-03 Fujitsu Limited Semiconductor device, method for fabricating the semiconductor device, lead frame and method for producing the lead frame
US6586845B1 (en) 1998-10-28 2003-07-01 Shinko Electric Industries Co., Ltd. Semiconductor device module and a part thereof
JP2007281528A (ja) * 2007-07-27 2007-10-25 Shinko Electric Ind Co Ltd 半導体装置の製造方法
EP2073262A1 (de) 2007-12-18 2009-06-24 Micronas GmbH Halbleiterbauelement
JP2010192928A (ja) * 1999-08-12 2010-09-02 Fujitsu Semiconductor Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP2015504608A (ja) * 2011-11-22 2015-02-12 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 マイクロ表面実装デバイスパッケージング
JP2015515119A (ja) * 2012-02-17 2015-05-21 インヴェンサス・コーポレイション 相互接続埋込み熱拡散基板
JP2016086047A (ja) * 2014-10-24 2016-05-19 日亜化学工業株式会社 発光装置の製造方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6437038A (en) * 1987-07-31 1989-02-07 Tanaka Electronics Ind Junction of semiconductor materials
JPH01130530U (ja) * 1988-03-02 1989-09-05

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6437038A (en) * 1987-07-31 1989-02-07 Tanaka Electronics Ind Junction of semiconductor materials
JPH01130530U (ja) * 1988-03-02 1989-09-05

Cited By (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6084309A (en) * 1992-10-20 2000-07-04 Fujitsu Limited Semiconductor device and semiconductor device mounting structure
US6462424B1 (en) 1992-10-20 2002-10-08 Fujitsu Limited Semiconductor device, method of producing semiconductor device and semiconductor device mounting structure
US6165819A (en) * 1992-10-20 2000-12-26 Fujitsu Limited Semiconductor device, method of producing semiconductor device and semiconductor device mounting structure
US5519251A (en) * 1992-10-20 1996-05-21 Fujitsu Limited Semiconductor device and method of producing the same
US5773313A (en) * 1992-10-20 1998-06-30 Fujitsu Limited Semiconductor device and method of producing the same
US5834340A (en) * 1993-06-01 1998-11-10 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Plastic molded semiconductor package and method of manufacturing the same
US5554887A (en) * 1993-06-01 1996-09-10 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Plastic molded semiconductor package
US5710062A (en) * 1993-06-01 1998-01-20 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Plastic molded semiconductor package and method of manufacturing the same
US6046071A (en) * 1993-06-01 2000-04-04 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Plastic molded semiconductor package and method of manufacturing the same
US5864174A (en) * 1995-10-24 1999-01-26 Oki Electric Industry Co., Ltd. Semiconductor device having a die pad structure for preventing cracks in a molding resin
EP0771029A3 (en) * 1995-10-24 1997-07-30 Oki Electric Ind Co Ltd Semiconductor device with improved structure to avoid cracks and manufacturing process
US6177725B1 (en) 1995-10-24 2001-01-23 Oki Electric Industry Co., Ltd. Semiconductor device having an improved structure for preventing cracks, improved small-sized semiconductor and method of manufacturing the same
US6459145B1 (en) 1995-10-24 2002-10-01 Oki Electric Industry Co., Ltd. Semiconductor device having an improved structure for preventing cracks, and improved small-sized semiconductor
EP1039541A1 (en) * 1995-10-24 2000-09-27 Oki Electric Industry Co., Ltd. Semiconductor device having an improved structure for preventing cracks, improved small-sized semiconductor and method of manufacturing the same
EP1168440A1 (en) * 1995-10-24 2002-01-02 Oki Electric Industry Co., Ltd. Semiconductor device having an improved structure for preventing cracks, improved small-sized semiconductor and method of manufacturing the same
US6569755B2 (en) 1995-10-24 2003-05-27 Oki Electric Industry Co., Ltd. Semiconductor device having an improved structure for preventing cracks, improved small sized semiconductor and method of manufacturing the same
US5925934A (en) * 1995-10-28 1999-07-20 Institute Of Microelectronics Low cost and highly reliable chip-sized package
US6856017B2 (en) 1995-11-08 2005-02-15 Fujitsu Limited Device having resin package and method of producing the same
US6573121B2 (en) 1995-11-08 2003-06-03 Fujitsu Limited Semiconductor device, method for fabricating the semiconductor device, lead frame and method for producing the lead frame
US7144754B2 (en) 1995-11-08 2006-12-05 Fujitsu Limited Device having resin package and method of producing the same
US6329711B1 (en) * 1995-11-08 2001-12-11 Fujitsu Limited Semiconductor device and mounting structure
US6159770A (en) * 1995-11-08 2000-12-12 Fujitsu Limited Method and apparatus for fabricating semiconductor device
EP0773584A3 (en) * 1995-11-08 2000-02-02 Fujitsu Limited Device having resin package and method of producing the same
EP1284501A1 (en) * 1995-11-08 2003-02-19 Fujitsu Limited Device having resin package and method of producing the same
EP0901165A1 (fr) * 1997-09-05 1999-03-10 Matra Marconi Space France Boítier à microcircuit intégré et procédé de montage de microcircuit intégré
FR2768262A1 (fr) * 1997-09-05 1999-03-12 Matra Marconi Space France Boitier a microcircuit integre et procede de montage de microcircuit integre
US6218728B1 (en) 1997-10-28 2001-04-17 Nec Corporation Mold-BGA-type semiconductor device and method for making the same
US6586845B1 (en) 1998-10-28 2003-07-01 Shinko Electric Industries Co., Ltd. Semiconductor device module and a part thereof
JP2000236044A (ja) * 1998-12-14 2000-08-29 Ela Medical Sa Cmsコ―トされた超小型電子部品ならびにその製造方法
JP2001118876A (ja) * 1999-08-12 2001-04-27 Fujitsu Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP4526651B2 (ja) * 1999-08-12 2010-08-18 富士通セミコンダクター株式会社 半導体装置
JP2010192928A (ja) * 1999-08-12 2010-09-02 Fujitsu Semiconductor Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP2001144204A (ja) * 1999-11-16 2001-05-25 Nec Corp 半導体装置及びその製造方法
WO2003032387A1 (en) 2001-10-09 2003-04-17 Koninklijke Philips Electronics N.V. Electrical or electronic component and method of producing same
JP2007281528A (ja) * 2007-07-27 2007-10-25 Shinko Electric Ind Co Ltd 半導体装置の製造方法
JP4523022B2 (ja) * 2007-07-27 2010-08-11 新光電気工業株式会社 半導体装置の製造方法
EP2073262A1 (de) 2007-12-18 2009-06-24 Micronas GmbH Halbleiterbauelement
US8125070B2 (en) 2007-12-18 2012-02-28 Micronas Gmbh Semiconductor component
JP2015504608A (ja) * 2011-11-22 2015-02-12 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 マイクロ表面実装デバイスパッケージング
JP2015515119A (ja) * 2012-02-17 2015-05-21 インヴェンサス・コーポレイション 相互接続埋込み熱拡散基板
JP2016086047A (ja) * 2014-10-24 2016-05-19 日亜化学工業株式会社 発光装置の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2738568B2 (ja) 1998-04-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0394438A (ja) 半導体チップモジュール
US6124546A (en) Integrated circuit chip package and method of making the same
US5976964A (en) Method of improving interconnect of semiconductor device by utilizing a flattened ball bond
US7595551B2 (en) Semiconductor package for a large die
JP2840316B2 (ja) 半導体装置およびその製造方法
US7132738B2 (en) Semiconductor device having multiple semiconductor chips stacked in layers and method for manufacturing the same, circuit substrate and electronic apparatus
US20020008315A1 (en) Semiconductor package and method of fabricating the same
JPH08306853A (ja) 半導体装置及びその製造方法及びリードフレームの製造方法
US6320254B1 (en) Plug structure
US6242798B1 (en) Stacked bottom lead package in semiconductor devices
TWI515855B (zh) 具有提升接地接合穩定性之引線架封裝
US6054772A (en) Chip sized package
US6075281A (en) Modified lead finger for wire bonding
US6331738B1 (en) Semiconductor device having a BGA structure
JP3842241B2 (ja) 半導体装置
US20210098358A1 (en) Semiconductor package
JP2681145B2 (ja) 樹脂封止半導体装置
US20080038872A1 (en) Method of manufacturing semiconductor device
JP3847432B2 (ja) 樹脂封止半導体装置及びその製造方法
JP2665061B2 (ja) ワイヤーボンディング方法
JP2001007238A (ja) ウエハーレベルの集積回路装置のパッケージ方法
KR100218335B1 (ko) 칩 사이즈 패키지
JP2004087673A (ja) 樹脂封止型半導体装置
JP2817425B2 (ja) 半導体装置の実装方法
KR100258607B1 (ko) 리드 온 칩 타입의 칩 스케일 반도체 패키지 구조 및 제조방법