JPH0390589A - 電気メッキ方法 - Google Patents

電気メッキ方法

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JPH0390589A
JPH0390589A JP2224573A JP22457390A JPH0390589A JP H0390589 A JPH0390589 A JP H0390589A JP 2224573 A JP2224573 A JP 2224573A JP 22457390 A JP22457390 A JP 22457390A JP H0390589 A JPH0390589 A JP H0390589A
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JP
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palladium
electroplating
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arsenic
electroplating method
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JP2224573A
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Joseph Anthony Abys
ジョセフ アンソニー アビス
Heinrich K Straschil
ハインリッヒ カール ストラスチル
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AT&T Corp
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American Telephone and Telegraph Co Inc
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Publication date
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D3/00Electroplating: Baths therefor
    • C25D3/02Electroplating: Baths therefor from solutions
    • C25D3/50Electroplating: Baths therefor from solutions of platinum group metals
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D3/00Electroplating: Baths therefor
    • C25D3/02Electroplating: Baths therefor from solutions
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はパラジウム−砒素合金の電気メ、キ方法に関す
る。
[従来の技術] 電気メッキされたパラジウムおよびパラジウム合金は、
化学的に腐食性の液体および気体に暴露された様々な客
語および造作にお、ける宝石、時計などのような装飾品
の保護被膜メッキおよび各種の電気および電子装置にお
ける保護被膜ならびに電気接点被膜として、広範な用途
に使用されている。このよ゛うな用途にパラジウムおよ
びパラジウム合金が使用される殆どの動機は金および白
金などのような従来から使用されている金属に比べて安
価なためである。
[発明が解決しようとする課M] 従来のパラジウムおよびパラジウム合金の電気メッキは
非常に困難な問題に直面していた。電気メッキされたパ
ラジウム金属は大抵、付着力が弱く、多孔質になりやす
<、fn裂が発生しやすく、しかも、−膜内に極めて脆
かった。このため、このようなパラジウムメッキ被膜は
電気接点としても、また、装飾被膜としても不満足なも
のであった。
電気メッキされたパラジウム被膜がこのように劣悪な品
質をボす原因を追及したところ、これは電気メッキパラ
ジウム被膜中に水素が取り込まれているためであること
がたちどころに判明した。
水の電気分解電位がパラジウムの電気メッキ電位と挿め
て近いために、パラジウムの電気メッキには、大抵、水
素の発生を伴う。電気メ、キバラジウム被膜中への水素
の取込みは、電気メッキパラジウムの特性劣化の原因で
あることが判明した。
実際、多くのパラジウム電気メッキ方法は、メッキ電位
を入念にコントロールすることができ、これにより水素
発生電位を避けることができるような実験室条件下では
ト分に上手く行オ)れるものと思われる。このような条
件下におけるメッキ速度は低い。しかし、商業的なメッ
キ条件下では、使用されるメッキ電位は正確にコントロ
ールされないか、または、電気メッキ中に水素の発生を
引き起こすメッキ電位を必要とする高いメッキ速度のた
めに、これらのメッキ方法は信頼性のないことが判明し
た。
パラジウム重置メッキ技術における大きな進歩は、特定
のパラジウム錯体イオンが水素発生電位と著しくかけ離
れた電気メッキ電位を示すという発見により為された。
錯生成剤は特定の脂肪族ポリアミン類であり、l、3−
ジアミノプロパンにより最良の結果が得られた。これら
の一連の研究成果は米国特許第4488274号明細δ
に記載されている。
この発見はパラジウム電気メッキにおいて多大な商業的
な成果を導いた。この方法は、電気的コネクタのような
各押の装置の電気接点表面に一般的にパラジウムをメッ
キするのに米[i4の他、11(界中で広く使用されて
いる。これは、従来の金接点表面を必要とする用途で−
・膜内に使用され、しかも、金に比べて安価であり、か
つパラジウムの低密度のために、かなりのコスト削減を
果たしている。別の発展的研究の成果は、米円特苧1第
4468296号明細、J(パラジウム電気メッキ方法
川の補充化合物)および米国特許第4493754号明
細書(パラジウム電気メッキ方法で使用するための狛特
な電極構造物)などの文献に開示されている。大抵の場
合、接点表血のパラジウム被膜は・耐摩耗性および接触
特性を改善するために、極めて薄い金の被膜で被膜され
ている。
脂肪族アミン類を用いるパラジウム電気メッキ方法の成
功により、電気メッキ方法および電気メッキされたパラ
ジウムの特性の一層の改善が望まれるようになった。特
に、パラジウム電気メッキ種の選択に関する広範な融通
性はそのままにして、パラジウム電気メッキ方法のコス
ト削減が望まれる。また、特に比較的厚い被膜について
は、電気メッキパラジウムの高い延性と付着力が望まれ
る。
パラジウムおよびパラジウム合金のこのような厚い被膜
は、高耐岸耗性が必要とされる装置について特に有用で
あろう。様々な用途について、25μm以上の厚さが望
ましい。
更に、水素の発生により悪影響を受けない不活性なパラ
ジウム合金物質が特に望ましい。このような物質によれ
ば、高電気メッキ速度であっても電気メッキは容易であ
り、十分な延性と厚さを有りる?tf気メツメッキ被膜
成する。従って、このような物fl(は電鋳方法により
製品を製造するのに有用である。
米田特許第4487685号明細と1米円特許第449
1507号明細書、米国特許第4545869号明細書
などの各種文献にパラジウム電気メッキ方法が開示され
ている。米国特許第4622110号明細と、米国特許
第4552628号明細啄および米国特許第48281
65号明細書に開示されているような多数のパラジウム
電気メッキ方法では、パラジウム源としてパラジウム−
テトラアミン錯体が使用されている。
[課題を解決するための手段] 本発明はバラジーラム源と砒素源を含む電気メッキ浴中
でパラジウム−砒素合金を電気メッキする方法を提供す
る。本発明を実施するのに、様々な挿類のパラジウム源
と砒素源を使用することができる。28類の好都合なパ
ラジウム源はパラジウムと1.3−ジアミノプロパンま
たはアンモニアとの錯体である。好都合な砒素源はAs
2O,3およびAs2O5である。パラジウム錯体イオ
ンは、内方のパラジウム源とも、約o、ooootモル
〜飽和濃度までの広い範囲にわたって変化することがで
き、また、砒素錯体イオンは0.01〜0゜1モルの範
囲内で変化することができる。必要に応じて、界面活性
剤、光沢剤およびメッキ溶液のpHを維持するための緩
衝剤のような各種の添加剤などのその他の成分を電気メ
ッキ浴に含有させることもできる。本発明の方法によれ
ば、被膜が非常に厚くても、付着力が高く、m裂が蝿<
、かつ、高延性の優れた電気メッキ被膜が得られる。
また、本発明の方法によれば、電鋳方法により無支柱物
品(例えば、ベロー)を製造すると優れた結果が得られ
る。
[実施例] 本発明は、パラジウム源と砒素源を含有する水性浴から
金属物質を電気メッキすると、4延性でm裂がなく、シ
かも、高付着力を有し、かなりの厚さ(例えば、10μ
m以上)にまで電気メッキされたとしてもこれらの特性
を失わない、パラジウムと砒素からなる金属被膜が得ら
れるという知見に)^づく。史に、電気メッキされた金
属物質は400以上のヌープ硬さ(KHN)を有する極
めて硬質なものである。この金属被膜はパラジウムと砒
素の合金であると思われる。この金属被膜は電鋳方法に
よりベローのような無支柱物品を製造するのにイf用な
十分に高い延性と強度を示す。電気メッキされた金属被
膜の特性に悪影響を及ぼすことなく、極めて高いメッキ
速度(例えば、カソードで300,500または100
OASF以上)を使用できる。電気メッキされたパラジ
ウム−砒素合金の桁外れに優れた特性の原因は完全に解
明されていないが、これらの電気メッキされた物質の特
性に水素が悪影響を及ぼさないことが一因と思われる。
メッキ浴に相溶性であれば、各種のパラジウム化合物を
本発明の電気メッキ方法におけるパラジウム源として使
用することができる。特に<f川なパラジウム化合物は
、錯生成剤としてアンモニアを有するパラジウム錯体イ
オン化合物、例えば、Pd CNHa )2 C70お
よびこれらの対応する臭化物およびヨウ化物などである
。また、Pd(NHa )/11 C70およびこれら
の対応する臭化物およびヨウ化物などのようなパラジウ
ムテトラアミン塩類も有用である。硫酸塩などのような
その他の安定なアニオン類も使用できる。錯生成剤がア
ミンのような有機化合物(米国特許第4486274号
明細書参照)であるパラジウム錯体も有用である。l、
3−ジアミノプロパンにより優れた結果が得られる。有
機アミンおよびポリアミンなどのような各種の有機化合
物で錯化したパラジウム水酸化物およびアンモニアで錯
化したパラジウム水酸化物(例えば、ジ−μmヒドロキ
ソ−ビス−[シス−ジアミンパラジウム(II) ]ジ
ヒドロキサイド)のようなパラジウム錯体水酸化物もパ
ラジウム源として有用である。PdCJzおよび対応す
る臭化物ならびにヨウ化物、Pd5OQ。
Pd CN0a )2などのような各種の単純なパラジ
ウム化合物も使用できる。
広い76度範囲のパラジウム源および砒素源を使用する
ことにより優れた結果を得ることができる。
他室4−1数種類の浸出な浴導電率を使用すべきである
。この導電率は一般的に、0 、001 who−cm
よりも高い。パラジウム錯体イオンはo、ooo。
5モルから飽和濃度までの範囲内で変化させることがで
きる。優れた結果は0.005モル〜1゜0モルの範囲
内の濃度で得られる。0.05〜0゜3モルの濃度範囲
が最も好ましい。濃度が低すぎると頻繁に補充しなけれ
ばならない。一方、濃度が高すぎるとすくい出しにより
パラジウムの損失が増大する。パラジウム源が錯体パラ
ジウムイオンである場合、過剰量の錯生成剤がしばしば
使用される。過剰量の錯生成剤の濃度は一般的に、パラ
ジウムのモル濃度の約0.5〜30倍の範囲内である。
パラジウムが1,3−ジアミノプロパンで錯化されてい
る場合、パラジウム錯体0.08モルと0.7モルの過
剰錯生成剤により優れた結果が得られる。
本発明の電気メッキ方法と親和性があり、かつ、メッキ
浴に易溶解性であれば、全ての砒素源を使用できる。代
表的な砒素源はAs2Qs、As20ss KH2AS
O/11% K2 HASO/11、Ka As0Qs
 NaH2ASO4sNa2 HAs04v Na3 
ASOJ K3 ASOJ、KASO2、Naa AS
OJ 、NaAs0zおよびNa4 As207などで
ある。その他の砒素化合物も有用である。As2Qsお
よびAs2Qsが好ましい。メッキ洛中に砒素を混和さ
せる好都合な方法は濃水酸化カリウムまたは水酸化ナト
リウム溶液にAs2Qsを溶解することにより砒酸のア
ルカリ金属塩を生成し、この溶液を電気メッキ浴に添加
することからなる。
メッキ浴中の砒素の濃度は、例えば、1,3−ジアミノ
プロパンでの極めて広い範囲にわたって変化することが
できる。0.0005〜0.5モルの範囲内の濃度で優
れた結果が得られる。0.01〜0.1モルの範囲内の
濃度で最良の結果が得られる。大抵の場合、パラジウム
対砒素のモル比をメッキ溶液からメッキされる物質のモ
ル比とほぼ同等に維持することが挿めて好ましい。これ
らの条件下では、電気メッキ塔中のパラジウム対砒素の
モル比は電気メッキ処理の全体を通して−・定に維持す
る。例えば、メッキされた物質のモル組成が砒素20%
でパラジウムが80%の場合、洛中のパラジウム対砒素
のモル比は2〜6、好ましくは4であることが奸ましい
。この合金は極めて硬質であり、400以上のヌープ硬
さ(KHN)を有する。
溶解外の観点から、7超のpH,−膜内に、8〜13.
5、好ましくは、10−12.5の範囲内のpHを有す
ることが好ましい。水酸化カリウムまたは水酸化ナトリ
ウムのようなアルカリ金属水酸化物を添加することによ
りpHは容易に調節できる。
所望により、追加物質を電気メッキ浴に添加し、電気メ
ッキ物質の品質を改善したり、pHをコントロールした
り、メッキ浴の導電率を高めたりすることができる。例
えば、界面活性剤およ光沢剤の両方を電気メッキ浴に添
加することができる。
本発明で有用な代表的な界面活性剤は、4〜35個の炭
素原子を有する脂肪族4級アンモニウム塩類である。炭
素原子8〜18個の鎖長を有する脂肪族直鎖トリメチル
アンモニウムクロリドが好ましい。−層好ましい界面活
性剤は、炭素原子11〜13個の鎖長の4級塩(例えば
、ウンデシルトリメチルアンモニeンムクロリド、ドデ
シルトリメチルアンモニウムクロリドおよびトリデシル
トリメチルアンモニウムクロリド)である。ドデシルト
リメチルアンモニウムクロリドが最も好ましい。
界面活性剤の濃度は極めて広い範囲にわたって変化させ
ることができる。−膜内な濃度範囲は0゜0002モル
〜0.4モルであり、0.004モル〜0.02モルの
範囲内が好ましい。界面活性剤の濃度が低すぎると、所
期の効果(例えば、湿潤剤としてカソードから気泡を除
去する;−層均一なメッキを行わせる;および、光沢剤
を分配する)が制限される。−h1濃度が高すぎると、
時により、メッキ浴の発泡、界面活性剤の相分離または
光沢剤の効果低減などを起こすことがある。
本発明を実施する際、各種の光沢剤を使用することもで
きる。本発明を実施するのに有用な光沢剤は大抵、硫苦
含有有機酸およびその塩知である。
代表例は、0−ベンズアルデヒドスルホン酸、l−ナフ
タレンスルホン酸、2−す7タレンスルホン酸、ベンゼ
ンスルフィン酸、オキシ−4,4−ビス(ベンゼン)ス
ルフィン酸、p−トルエンスルフィン スルフィン ニ4T 用すその他の光沢剤は、アリルフェニルスルホ
・ン、〇−安息香酸スルファミド、ベンジルスルホニル
プロピオンアミド、フェニルスルホニルアセトアミド、
3−(フェニルスルホニル)プロピオンアミド、ベンゼ
ンスルホンアミド、ビス(フェニルスルホニル)メタン
、グアニジンカーボネート、スルファグアニジンおよび
ニコチン酸などテアル。奸ましい光沢剤は、ベンゼンス
ルフィン酸、3−トリフルオロメチルベンゼンスルフィ
ン酸およびアリルフェニルスルホンである。アリルフェ
ニルスルホンが最も好ましい。光沢剤の濃度が低すぎる
と時として、メッキ被膜の光沢が不良になり、一方、濃
度が高すぎると、メッキ被膜に縞が発生することがある
。光沢剤の濃度は掬めて広い範囲にわたって変化するこ
とができる。例えば、1,3−ジアミノプロパンでの範
囲内で変化することができる。0.005〜0. 2モ
ルが好ましい。0.01〜0.05モルが最も好ましい
最も好ましい態様は、界面活性剤としてドデシルトリメ
チルアンモニウムクロリドと光沢剤としてアリルフェニ
ルスルホンを、界面活性剤は0。
01モルの濃度で、光沢剤は0.03モルの濃度で併用
することである。
緩衝剤を使用し、メッキ浴のpHをコントロールし、同
時に、メッキ浴の導電率を高めることもできる。所望の
pHおよび本発明のメッキ方法と矛盾しない緩衝剤なら
ば全て使用できる。本発明で好ましいpH値川用代表的
な緩衝剤はホスフェート系緩衝剤(例えば、HPOq2
−イオン)である。−膜内な濃度は0.01〜2.0モ
ルであり、0.5±0.2モルが好ましい。pHは通常
、酸(例えば、塩酸または燐酸)または塩基(例えば、
アンモニア水または水酸化カリウム)を添加することに
より調整される。導電外環(塩化アンモニウム)を添加
し、電気メッキ浴の導電率を高めることもできる。
本発明の電気メッキ方法を実施する温度は極めて広い範
囲にわたって変化することができる。例えば、電気メッ
キ浴の凍結点から浴の沸点までの範囲にわたって変化す
ることができる。成る場合には、室温付近の温度が都合
よく使用されるが、通常は、室温よりも高い温度(例え
ば、35〜60℃)が使用され、浴成分の溶解度を高め
、これにより−H高いメッキ速度と一層均質なメッキを
1−IJ能にする。好ましい電気メッキ温度は約55℃
である。
以ド、具体例により本発明を例証する。
L血鮭上 Pd (NHJ )q CJ22 0.08モル、AS
20a 0.05モルおよびに2 HPO40−01モ
ルを使用し、水I#L電気メ、フキ浴を調製した。
このメッキ溶液は界面活性剤(ドデシルトリメチルアン
モニウムクロリド)0.01モルと光沢剤(アリルフェ
ニルスルホン>0.03モルfa: 含4’I’してい
た。このメッキ浴の導電率はl O−3mhacmであ
った。導電外表面(例えば、銅、ニッケル、パラジウム
などのような金属表面)に電気メ・ンキすることにより
優れた結果が得られた。
L息旌4 Pd (NH,? )tt CN12の代わりに、Pd
 (NH3)qBr2、pct (NH3)qI2、P
d CNHa ) tt SO/J 、 Pd (NH
J ) tt (N03)2、Pd (NHJ)2 C
N2および対応する臭化物、ヨウ化物、硫酸塩、硝酸塩
、ならびに、1、3−ジアミノプロパン、l、2−ジア
ミノプロパン、ジエチレントリアミン、1,4−ジアミ
ノブタン、1,6−ジアミツヘキサン、N、N’−’)
fisル−1,3−プロパンジアミン、N、N。
N’、N’−テトラメチル−エチレンジアミン、および
エチレンジアミンのようなイ「機アミン類で錯化された
パラジウムをパラジウム源として使用し、父施例1と同
じメッキ浴を用いて優れた結果が得られた。
L直肚よ パラジウム源を、0.00005モル、0.0005モ
ル、0.005モル、0.3モル、1゜0モルおよび飽
和濃度で用いたこと以外は実施例1と同様に実施した。
丈撫立」1 砒素源として、As205.KH2As04 。
K2 HASO4,Ka As1as NaHz ASO4s Na2HASO// 。
Naa As13KJ As03、KAsO2、Na3
 As03、−NaAs02およびNa4 AS207
を使用したこと以外は実施例1と同様なメッキ浴により
優れた結果が得られた。
実JIU残1− 砒素源を、0.00005モル、0.0005モル、0
.01モル、0.1モル、0.5モルおよび飽和濃度で
使用したこと以外は実地例1と同様に実施した。
L胤旌止 炭素原子8〜18個の鎖長の脂肪族直釦トリメチルアン
モニウムクロリド類からなる群から選択される界面活性
剤により優れた結果が得られた。
夫丑律1L 界面活性剤を、0.0002モル、0.004モル、0
.01モル、0.02モル、0.4モルおよび飽和濃度
で使用し、優れた結果が得られた。
L息銖走 0−ベンズアルデヒドスルホン レンスルホン酸、2−ナフタレンスルホン酸、ベンゼン
スルフィン酸、オキシ−4.4−ビス(ベンゼン)スル
フィン酸、p−トルエンスルフィン酸および3−トリフ
ルオロメチルベンゼンスルフィン酸、アリルフェニルス
ルホン、o −安息香fmスルファミド、ベンジルスル
ホニルプロピオンアミドフェニルスルホニル ンスルホンアミド、ビス(フェニルスルホニルメタン、
グアニジンカーボネート、スルファグアニジンおよびニ
コチン酸などの各種の光沢剤化合物を使用し、優れた結
果が得られた。
実1処j− 光沢剤を、0.00005モル、0.005モル、0.
01モル、0.03モル、0.05モル0、2モルおよ
び飽和濃度で使用し、優れた結果を得た。
111mカー pHを6.0、?.0,7.5、8.0.8。
5、9.01 10.0,11.0,11.5、12、
0,13.0および13.5に調節したこと以外は実施
例1と同様に実施した。
本発明の電気メッキ方法はエツジカードコネクタを製造
するのに特に奸適である。厚さが2.5〜5μmおよび
これ以−1−であっても、光沢に優れ、r0裂がなく、
優れた延t’lと付青力を斥す電気メッキ被膜が得られ
る。特に比較的厚いメッキ被膜が必要な場合(リレー用
接点、電気プラグなど)、その他の電気接点表面も本発
明により好適に製造できる。大抵、パラジウム−砒素被
膜の最表面に薄い金の被膜が積層され、耐岸耗性を改ぷ
すると共に、電気的性能も改善する。
電着被膜は17<形成することができ、しかも、電着波
膜は好都合な物虹と化学的性質ををするので、本発明の
電気メッキ方法は様々な電鋳方法においても都合よく使
用される。電鋳において、パラジウム−砒素合金はモー
ルドおよびマンドレルに被着され、その後、この合金は
モールドおよびマンドレルから分離される。1978年
にマグロ−ヒル出版から発行された、エフ・ニー・レー
ベンハイム(F、A、Lowenhei■)の“電気メ
ッキにおける電鋳”の第20αなど様々な文献に電鋳方
法は記載されている。
レコードマスター、スタンパ−、エンボスプレート、薄
肉製品(例えば、フォイル)、シート、細目スクリーン
、シームレス管、ハイドロホン装置用ベロー、ゴムおよ
びプラスチック用のモールドとダイなどのような各種の
製品も電鋳方法により都合よく製造される。特に好都合
なことは、高度な化7′的安定姓と耐蘂品姓と共に、硬
さ、延性、柔軟性などのような優れた冶金特性を併せ持
つことである。
[発明の効果] 以−[−説明したように、本発明の電気メンキ方法によ
れば、パラジウム源と砒素源を含有する水471名から
金属物質を電気メッキすると、高延性でm裂がなく、シ
かも、高付着力を有し、かなりの厚さ(例えば、10μ
m以上)にまで電気メッキされたとしてもこれらの特外
を失わない、パラジウムと砒素からなる金属被膜が得ら
れる。
出頭人:アメリカン テレフAン アンドテレグラフ 
カムパニ−

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)表面上に金属物質を電気メッキする方法であり、
    該金属物質はパラジウムと砒素からなり、前記方法はカ
    ソードからメッキ浴およびアノードに電流を流すことか
    らなり、該アノードは金属物質を電気メッキするのに十
    分な大きさのカソード電位を有し、前記電気メッキ浴は
    パラジウム源と砒素源からなり、10^−^3mho−
    cm超の導電率と7超のpHを有し、そして、パラジウ
    ム源は、アンモニアおよび有機アミンからなる群から選
    択される少なくとも1種類の錯生成剤を有するパラジウ
    ム錯体イオンからなる電気メッキ方法であって、砒素源
    は電気メッキ浴中の砒素の濃度が0.01モル〜0.1
    モルの範囲内になるように供給されることを特徴とする
    電気メッキ方法。
  2. (2)砒素源はAs_2O_3、As_2O_5、Na
    H_2AsO_4、Na_2HAsO_4、Na_3A
    sO_3、K_3AsO_3、KAsO_2、Na_3
    AsO_3、NaAsO_2およびNa_4As_2O
    _7からなる群から選択される請求項1記載の電気メッ
    キ方法。
  3. (3)砒素源はAs_2O_3およびAs_2O_5か
    らなる群から選択される請求項1記載の電気メッキ方法
  4. (4)前記有機アミンは脂肪族ポリアミンである請求項
    1記載の電気メッキ方法。
  5. (5)脂肪族ポリアミンはジアミノプロパン(1,3−
    ジアミノプロパンを含む)、1,4−ジアミノブタン、
    1,6−ジアミノヘキサン、N,N,N’,N’−テト
    ラメチル−エチレンジアミン、および2−ヒドロキシ−
    1,3−ジアミノプロパンから選択される少なくとも1
    種類のポリアミンである請求項4記載の電気メッキ方法
  6. (6)パラジウム錯体イオンは1,3−ジアミノプロパ
    ンで錯化されたパラジウムである請求項4または5記載
    の電気メッキ方法。
  7. (7)パラジウム源の濃度は0.00005モルから飽
    和濃度までの範囲にわたる請求項1記載の電気メッキ方
    法。
  8. (8)パラジウム源の濃度は0.05モルから0.3モ
    ルまでの範囲にわたる請求項7記載の電気メッキ方法。
  9. (9)メッキ浴中におけるパラジウム対砒素の比率は2
    〜6の範囲にわたる請求項1記載の電気メッキ方法。
  10. (10)電気メッキ浴は、パラジウム源と砒素源の他に
    、界面活性剤と光沢剤を含む請求項1記載の電気メッキ
    方法。
  11. (11)電気メッキ浴は、パラジウム源と砒素源の他に
    、緩衝剤を含む請求項1記載の電気メッキ方法。
  12. (12)緩衝剤はホスフェートからなる請求項11記載
    の電気メッキ方法。
  13. (13)製品は電鋳法により製造される請求項1記載の
    電気メッキ方法。
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