JPH0385647U - - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims 3
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14671089U JP2509632Y2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | Ic試験用搬送装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14671089U JP2509632Y2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | Ic試験用搬送装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0385647U true JPH0385647U (de) | 1991-08-29 |
JP2509632Y2 JP2509632Y2 (ja) | 1996-09-04 |
Family
ID=31693257
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14671089U Expired - Fee Related JP2509632Y2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | Ic試験用搬送装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2509632Y2 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019239498A1 (ja) * | 2018-06-12 | 2019-12-19 | 大和製衡株式会社 | 物品供給装置 |
-
1989
- 1989-12-20 JP JP14671089U patent/JP2509632Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019239498A1 (ja) * | 2018-06-12 | 2019-12-19 | 大和製衡株式会社 | 物品供給装置 |
JPWO2019239498A1 (ja) * | 2018-06-12 | 2021-06-24 | 大和製衡株式会社 | 物品供給装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2509632Y2 (ja) | 1996-09-04 |
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