JPH0383288A - Memory initializing system - Google Patents

Memory initializing system

Info

Publication number
JPH0383288A
JPH0383288A JP1219858A JP21985889A JPH0383288A JP H0383288 A JPH0383288 A JP H0383288A JP 1219858 A JP1219858 A JP 1219858A JP 21985889 A JP21985889 A JP 21985889A JP H0383288 A JPH0383288 A JP H0383288A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
level
bit line
memory
control signal
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1219858A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuhiro Furuya
古谷 和弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP1219858A priority Critical patent/JPH0383288A/en
Publication of JPH0383288A publication Critical patent/JPH0383288A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

PURPOSE:To efficiently generate diagnosis data by initializing the whole content of a memory at once by means of a control signal and outputting a defined value even if any address is accessed. CONSTITUTION:When an address signal is inputted to an address decoder 3, a corresponding word line W comes to an 'H' level. When a first word line W comes to the 'H' level, transistors 5 and 6 connected to the first word line W are turned on, and memory cells 4 are connected to a bit line B and the inverse of B. When the state of the bit line B and the inverse of B is read in such a state, the value of the memory cells 4 can be learnt. When a desired value is impressed on the bit line B and the inverse of B, data can be written on the memory cells 4. When the control signal C comes to the 'H' level, all the word lines W come to the 'H' level and TR 5 and 6 connected to all the word lines W are turned on. Consequently, the defined value can be obtained even if any address is accessed.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 メモリ初期化方式に関し、 コントロール信号により一度にメモリの全内容を初期化
できるるようになったメモリ初期化方式を提供すること
を目的とし、 複数のワード・ラインと複数のピント・ライン対とマト
リックス状に配列された複数のメモリ・セルとを有する
メモリ・セル配列と、コントロール信号線に接続された
ビット・ライン駆動手段と、コントロール信号線に接続
されたワード・ライン駆動手段とを具備し、ワード・ラ
イン駆動手段はコントロール線上の信号が所定値の時に
全てのワード・ラインに所定のレベルの信号を印加する
ように構成され、ビット・ライン駆動手段はコントロー
ル信号線上の信号が所定値の時に全てのビット・ライン
対のそれぞれにメモリ・セルの値を所定値にするための
信号を印加するように構成されていることを構成として
いる。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] Regarding a memory initialization method, the present invention aims to provide a memory initialization method that can initialize the entire contents of the memory at once using a control signal. a memory cell array having a plurality of focus line pairs, a plurality of memory cells arranged in a matrix, a bit line driving means connected to the control signal line, and a bit line driving means connected to the control signal line. word line driving means, the word line driving means is configured to apply a signal at a predetermined level to all the word lines when the signal on the control line is a predetermined value, and the bit line driving means is configured to apply a signal at a predetermined level to all the word lines. The configuration is such that when the signal on the control signal line is at a predetermined value, a signal for setting the value of the memory cell to a predetermined value is applied to each of all bit line pairs.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は、コントロール信号により一度に全メモリ・セ
ルの内容が初期化されるように構成されたメモリ初期化
方式に関するものである。
The present invention relates to a memory initialization scheme configured such that the contents of all memory cells are initialized at once by a control signal.

(従来の技術) RAMやレジスタ・ファイル等のメモリでは、電源投入
時における内容が不明であった。メモリを内蔵するLS
I(例えばマイクロプロセッサ)において、メモリ出力
に関係する回路の故障試験を行う場合、メモリの内容が
確定していることが必要であり、メモリにデータを書き
込むことが必要であった。
(Prior Art) The contents of memories such as RAM and register files are unknown when the power is turned on. LS with built-in memory
When performing a failure test on a circuit related to memory output in an I (for example, a microprocessor), it is necessary to determine the contents of the memory, and it is necessary to write data to the memory.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

所が、メモリを内蔵するLSI化されたマイクロプロセ
ッサ等においては、メモリが外部より直接見えないので
、各種の信号パターンを入力ビンに与えてメモリにデー
タを書き込まなければならなかった。このために、診断
データ作成時間およびパターン数の増大の一因となって
いた。
However, in LSI microprocessors and the like that have a built-in memory, the memory cannot be directly seen from the outside, so data must be written into the memory by applying various signal patterns to input bins. This has been a cause of an increase in the time required to create diagnostic data and the number of patterns.

本発明は、この点に鑑みて創作されたものであって、コ
ントロール信号により一度にメモリの全内容を初期化で
きるようになったメモリ初期化方式を提供することを目
的としている。
The present invention was created in view of this point, and it is an object of the present invention to provide a memory initialization method that can initialize all contents of a memory at once using a control signal.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

第1図は本発明の原理説明図である。本発明のメモリ初
期化方式は、メモリ・セル配列20と、コントロール信
号線に接続されたビット・ライン駆動手段30と、コン
トロール信号線に接続されたワード・ライン駆動手段4
0とを具備している。
FIG. 1 is a diagram explaining the principle of the present invention. The memory initialization method of the present invention includes a memory cell array 20, a bit line driving means 30 connected to a control signal line, and a word line driving means 4 connected to the control signal line.
0.

メモリ・セル配列20は、複数のワード・ラインW、、
W、、・・・、Wイ、複数のビット・ライン対BP、、
BP、、・・・、BP、およびマトリックス状に配列さ
れた複数のメモリ・セルを有すると共に、第i番目のワ
ード・ラインの信号が所定レベルである時に第i行に属
する全てのメモリ・セルがそれぞれ対応するビット・ラ
イン対に接続されるように構成されている。
The memory cell array 20 includes a plurality of word lines W, .
W,...,Wi, multiple bit line pairs BP,...
BP, . are configured to be connected to respective bit line pairs.

ワード・ライン駆動手段40は、コントロール線上の信
号が所定値の時に、全てのワード・ラインW、、W2.
・・・、W、4に所定のレベルの信号を印加するように
構成されている。
The word line driving means 40 drives all the word lines W, W2 . . . when the signal on the control line is at a predetermined value.
..., W, 4 are configured to apply a signal of a predetermined level.

ビット・ライン駆動手段30は、コントロール信号線上
の信号が所定値の時に、全てのビット・ライン対BP+
 、BPz 、 ・・・、BPNに、メモリ・セルの値
を所定値にするための信号を印加するように構成されて
いる。
The bit line driving means 30 drives all bit line pairs BP+ when the signal on the control signal line is at a predetermined value.
, BPz, . . . , BPN are configured to apply a signal for setting the value of the memory cell to a predetermined value.

〔作用〕[Effect]

コントロール信号が所定レベル(例えば高レベル)にな
ると、ワード・ライン駆動手段40は、全てのワード・
ラインW、、Wt、・・・、WMを所定レベル(高レベ
ル)にする。ワード・ラインが所定レベルになると、当
該ワード・ラインに属するメモリ・セルは、それぞれ対
応するビット・ライン対に接続される。また、コントロ
ール信号が所定レベル(例えば高レベル)になると、ビ
ット・ライン駆動手段30は、全てのビット・ライン対
BP、、BP、、・・・、BP、のそれぞれに、メモリ
・セルの値を所定値(例えば論理O)にするための信号
を印加する。上記のような動作により、メモリ・セル配
列内の全メモリ・セルに所定値が書き込まれる。
When the control signal reaches a predetermined level (for example, high level), the word line driving means 40 drives all the word lines.
Lines W,, Wt, . . . , WM are set at a predetermined level (high level). When a word line reaches a predetermined level, the memory cells belonging to the word line are connected to their respective bit line pairs. Further, when the control signal reaches a predetermined level (for example, a high level), the bit line driving means 30 outputs the value of the memory cell to each of all bit line pairs BP, BP, . . . , BP. A signal is applied to set the value to a predetermined value (for example, logic O). By the above operation, a predetermined value is written to all memory cells in the memory cell array.

〔実施例〕〔Example〕

第2図は本発明の1実施例のブロック図である。 FIG. 2 is a block diagram of one embodiment of the present invention.

同図において、1はビット・ライン・チャージ用トラン
ジスタ、2はワード・ライン・バッファ、3はアドレス
・デコーダ、4はメモリ・セル、5と6はトランジスタ
、7〜9はインバータ、Wはワード・ライン、BとBは
ビット・ライン、Cはコントロール信号をそれぞれ示し
ている。
In the figure, 1 is a bit line charging transistor, 2 is a word line buffer, 3 is an address decoder, 4 is a memory cell, 5 and 6 are transistors, 7 to 9 are inverters, and W is a word line buffer. Lines B and B indicate bit lines, and C indicates a control signal, respectively.

トランジスタ1はPチャンネルMO3!−ランジスタで
あり、トランジスタ5と6はNチャンネルMOS)ラン
ジスタである。PチャンネルMOSトランジスタはゲー
トがl L nレベルの時にオンし、NチャンネルMO
Sトランジスタはゲートが“°H”レベルの時にオンす
る。ワード・ライン・バッファ2はORゲートであり、
上側入力にはコントロール信号Cが入力され、下側人力
にはアドレス・デコーダ3の出力が入力される。アドレ
ス・デコーダ3は、アドレスをデコードして対応する出
力線上の信号を“l Hl“レベルにするものである。
Transistor 1 is P-channel MO3! - transistors, and transistors 5 and 6 are N-channel MOS) transistors. The P-channel MOS transistor is turned on when the gate is at l L n level, and the N-channel MOS transistor is turned on when the gate is at l L n level.
The S transistor is turned on when its gate is at "°H" level. Word line buffer 2 is an OR gate,
The control signal C is input to the upper input, and the output of the address decoder 3 is input to the lower input. The address decoder 3 decodes the address and sets the signal on the corresponding output line to the "l Hl" level.

メモリ・セル4はラッチであり、このラッチはインバー
タ7と8により構成されている。インバータ9はコント
ロール信号を反転するものであり、インバータ9の出力
はトランジスタ1のゲートに印加される。なお、第2図
はM行1列のメモリを示しているが、実際のメモリはM
行N列のものである。
Memory cell 4 is a latch, which is formed by inverters 7 and 8. Inverter 9 inverts the control signal, and the output of inverter 9 is applied to the gate of transistor 1. Although FIG. 2 shows a memory with M rows and 1 column, the actual memory has M rows and 1 column.
It has rows and N columns.

アドレス信号がアドレス・デコーダ3に入力されると、
対応するワード・ラインWが“H”レベルになる。第1
番目のワード・ラインWが″H″レベルになったと仮定
すると、第1番目のワード・ラインWに接続されたトラ
ンジスタ5と6がオンとなり、メモリ・セル4がビット
・ラインB。
When the address signal is input to address decoder 3,
The corresponding word line W becomes "H" level. 1st
Assuming that the 1st word line W becomes "H" level, transistors 5 and 6 connected to the 1st word line W are turned on, and the memory cell 4 is connected to the bit line B.

Bに接続される。この状態において、ビット・ラインB
、Bの状態を読み取れば、メモリ・セル4の値を知るこ
とが出来、ビット・ラインB、B上に所望の値を印加す
れば、メモ・セル4にデータを書き込むことが出来る。
Connected to B. In this state, bit line B
, B, the value of the memory cell 4 can be known, and by applying a desired value on the bit lines B, B, data can be written to the memory cell 4.

コントロール信号Cが“H“レベルになると、全てのワ
ード・ラインWは“′H”レベルになり、全てのワード
・ラインWに接続されているトランジスタ5,6がオン
する。また、“H”レベルのコントール信号Cはインバ
ータ9により反転され、“L”レベルの信号がトランジ
スタ1のゲートに印加され、トランジスタ1がオンする
。トランジスタ1がオンすると、ビット・ラインBは゛
H″レベルとなり、全てのメモリ・セル4に論理Oが書
き込まれる。コントロール信号Cを“L”レベルにする
と、トランジスタlはオフし、ワード・ライン・バッフ
ァ2はデコーダ3からの入力によるため、通常動作とな
る。
When the control signal C becomes "H" level, all word lines W become "'H" level, and transistors 5 and 6 connected to all word lines W are turned on. Further, the "H" level control signal C is inverted by the inverter 9, and a "L" level signal is applied to the gate of the transistor 1, turning on the transistor 1. When the transistor 1 is turned on, the bit line B goes to the "H" level, and logic O is written to all memory cells 4. When the control signal C goes to the "L" level, the transistor I turns off, and the word line B goes to the "H" level. Since the buffer 2 receives input from the decoder 3, it operates normally.

第3図はパワーオン・リセット回路の構成例を示す図で
ある。同図において、10はインバータ、11は抵抗、
12はコンデンサをそれぞれ示している。
FIG. 3 is a diagram showing an example of the configuration of a power-on reset circuit. In the figure, 10 is an inverter, 11 is a resistor,
12 each indicates a capacitor.

電源投入された時点ではA点の電位は°“L″レベルあ
り、時間の経過と共にA点の電位は徐々に増加する。A
点の電位が“L”レベルのときにはインバータ10の出
力は“H“レベルとなり、A点の電位がH”レベルのと
きにはインバータ10の出力は“′L″レベルとなる。
When the power is turned on, the potential at point A is at the "L" level, and as time passes, the potential at point A gradually increases. A
When the potential at point A is at the "L" level, the output of the inverter 10 is at the "H" level, and when the potential at point A is at the H level, the output from the inverter 10 is at the "'L" level.

インバータtOの出力がコントロール信号Cになる。The output of inverter tO becomes control signal C.

第4図はパワーオン・リセット回路の電位変化を示す図
である。A点の電位は時間とともに徐々に上昇する。A
点の電位が閾値V?H以下のときにはインバータ10の
出力は“H”レベルであり、A点の電位が閾値V?)I
を越えた状態ではインバータ10の出力は“L nレベ
ルである。A点の電位が閾値VtHに達するまでの間で
、メモリの初期化が行われる。
FIG. 4 is a diagram showing potential changes in the power-on reset circuit. The potential at point A gradually increases with time. A
Is the potential at the point the threshold V? When the voltage is below H, the output of the inverter 10 is at the "H" level, and the potential at point A is equal to the threshold V? )I
In the state where the voltage exceeds the threshold value VtH, the output of the inverter 10 is at the "Ln level." The memory is initialized until the potential at the point A reaches the threshold value VtH.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上の説明から明らかなように、本発明によれば、コン
トロール信号により一度に全メモリ内容を初期化できる
ため、如何なるアドレスをアクセスしても確定値が出力
され、診断時に書込み動作を行わなくても不定値が出力
されないので、効率の良い診断データが作成可能となる
。なお、本発明はレジスタ・ファイルのようなメモリに
も適用可能である。
As is clear from the above explanation, according to the present invention, all memory contents can be initialized at once by a control signal, so a fixed value is output no matter what address is accessed, and there is no need to perform a write operation during diagnosis. Since no undefined values are output, efficient diagnostic data can be created. Note that the present invention is also applicable to memories such as register files.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の原理説明図、第2図は本発明の1実施
例のブロック図、第3図はパワニオン・リセット回路の
構成例のブロック図、第4図はパワーオン・リセット回
路の電位変化を示す図である。 1・・・ビット・ライン・チャージ用トランジスタ、2
・・・ワード・ライン・バッファ、3・・・アドレス・
デコーダ、4・・・メモリ・セル、5と6・・・トラン
ジスタ、7〜9・・・インバータ、10・・・インバー
タ、11・・・抵抗、12・・・コンデンサ、W・・・
ワード・うイン、 BとB・・・ピッ ト ・ライン、 C・・・コントロー ル信号。
Fig. 1 is a diagram explaining the principle of the present invention, Fig. 2 is a block diagram of an embodiment of the invention, Fig. 3 is a block diagram of a configuration example of a power-on reset circuit, and Fig. 4 is a block diagram of a power-on reset circuit. FIG. 3 is a diagram showing potential changes. 1... Bit line charging transistor, 2
...word line buffer, 3...address...
Decoder, 4...Memory cell, 5 and 6...Transistor, 7-9...Inverter, 10...Inverter, 11...Resistor, 12...Capacitor, W...
Word uin, B and B... pit line, C... control signal.

Claims (1)

【特許請求の範囲】  複数のワード・ライン(W_1、W_2、…、W_M
)、複数のビット・ライン対(BP_1、BP_2…、
BP_N)およびマトリックス状に配列された複数のメ
モリ・セルを有すると共に、第i番目のワード・ライン
の信号が所定レベルである時に第i行に属する全てのメ
モリ・セルがそれぞれ対応するビット・ライン対に接続
されるように構成されたメモリ・セル配列(20)と、 コントロール信号線に接続されたビット・ライン駆動手
段(30)と、 コントロール信号線に接続されたワード・ライン駆動手
段(40)と を具備し、 ワード・ライン駆動手段(40)は、コントロール線上
の信号が所定値の時に、全てのワード・ライン(W_1
、W_2…、W_M)に所定のレベルの信号を印加する
ように構成され、 ビット・ライン駆動手段(30)は、コントロール信号
線上の信号が所定値の時に、全てのビット・ライン対(
BP_1、BP_2、…、BP_N)のそれぞれに、メ
モリ・セルの値を所定値にするための信号を印加するよ
うに構成されている ことを特徴とするメモリ初期化方式。
[Claims] A plurality of word lines (W_1, W_2,..., W_M
), a plurality of bit line pairs (BP_1, BP_2...,
BP_N) and a plurality of memory cells arranged in a matrix, and when the signal of the i-th word line is at a predetermined level, all the memory cells belonging to the i-th row are connected to the corresponding bit line. A memory cell array (20) configured to be connected in pairs, a bit line driving means (30) connected to a control signal line, and a word line driving means (40) connected to a control signal line. ), and the word line driving means (40) drives all the word lines (W_1) when the signal on the control line is a predetermined value.
, W_2..., W_M), and the bit line driving means (30) is configured to apply a signal of a predetermined level to all the bit line pairs (
BP_1, BP_2, ..., BP_N) is configured to apply a signal for setting a value of a memory cell to a predetermined value.
JP1219858A 1989-08-25 1989-08-25 Memory initializing system Pending JPH0383288A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1219858A JPH0383288A (en) 1989-08-25 1989-08-25 Memory initializing system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1219858A JPH0383288A (en) 1989-08-25 1989-08-25 Memory initializing system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0383288A true JPH0383288A (en) 1991-04-09

Family

ID=16742161

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1219858A Pending JPH0383288A (en) 1989-08-25 1989-08-25 Memory initializing system

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0383288A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006040519A (en) * 2004-07-22 2006-02-09 Samsung Electronics Co Ltd Semiconductor device which can be initialized by unit sram
WO2014126182A1 (en) * 2013-02-18 2014-08-21 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル Reset circuit for memory-cell array that stores access history

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006040519A (en) * 2004-07-22 2006-02-09 Samsung Electronics Co Ltd Semiconductor device which can be initialized by unit sram
WO2014126182A1 (en) * 2013-02-18 2014-08-21 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル Reset circuit for memory-cell array that stores access history

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4731761A (en) Semiconductor memory
US6088292A (en) Semiconductor memory device having a plurality of banks activated by a common timing control circuit
KR920006981A (en) Semiconductor memory
KR950009074B1 (en) Dynamic semiconductor memory device and driving method
JPH01119982A (en) Static type random access memory
JPH05325557A (en) Semiconductor memory
JPH0383288A (en) Memory initializing system
JPH0313680B2 (en)
JP3240897B2 (en) Semiconductor storage device
JPH0766669B2 (en) Decoder buffer circuit
US10811087B2 (en) Memory circuit capable of implementing calculation operations
JPH09120674A (en) Semiconductor memory
JP2530125B2 (en) Semiconductor memory device
JPH081745B2 (en) Serial access memory
JP2738793B2 (en) Semiconductor storage device
JPH0359884A (en) Semiconductor storage device
JPH09213077A (en) Semiconductor memory device
JPS60115088A (en) Semiconductor memory
JPS60197995A (en) Static type random access memory
JP2702265B2 (en) Semiconductor storage device
JPS59208944A (en) Semiconductor integrated circuit device
JPS60197994A (en) Static type random access memory
JPH01112593A (en) Semiconductor storage device
JPS59117799A (en) Semiconductor memory device
JP3868409B2 (en) Semiconductor memory device