JPH0378647A - 樹脂成形歪の検査方法及び装置 - Google Patents
樹脂成形歪の検査方法及び装置Info
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- JPH0378647A JPH0378647A JP21580789A JP21580789A JPH0378647A JP H0378647 A JPH0378647 A JP H0378647A JP 21580789 A JP21580789 A JP 21580789A JP 21580789 A JP21580789 A JP 21580789A JP H0378647 A JPH0378647 A JP H0378647A
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- 229920005989 resin Polymers 0.000 title claims description 35
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 10
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- 238000000605 extraction Methods 0.000 abstract description 14
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- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、光ディスク、コンパクトディスク等の光透過
性樹脂成形品における樹脂成形歪の検査方法及び装置に
関する。
性樹脂成形品における樹脂成形歪の検査方法及び装置に
関する。
（発明の概要）
本発明は、光ディスク、コンパクトディスク等の光透過
性樹脂成形品の樹脂成形時に生じる歪（７０−マーク、
応力集中）に対し、光弾性の原理を応用して輝度の変化
としてラインカメラにより抽出する。これにより、高分
解能で安定した歪の検出及び処理の単純化が図れる。
性樹脂成形品の樹脂成形時に生じる歪（７０−マーク、
応力集中）に対し、光弾性の原理を応用して輝度の変化
としてラインカメラにより抽出する。これにより、高分
解能で安定した歪の検出及び処理の単純化が図れる。
（従来の技術）
従来の光ディスク、コンパクトディスク等の樹脂成形後
の歪検査方法は、第５図に示すように光ディスク１に対
して方形の２次元視野２を有するＣＣＤマトリックスカ
メラを検査手段として用い、カメラの反対側に位置する
光源で照らされた光ディスク１を断続回転させろことに
より光ディスク１の検査領域を移動させるようにしてい
た。（発明が解決しようとする課題） ところで、ＣＣＤマトリックスカメラを検査手段として
使用した場合、視野が方形２次元視野であるため、光デ
ィスク１の前記視野内における照明が不均一となり、ま
た光源と併用されている偏光板の偏光方向の作用により
、ＣＣＤマトリックスカメラの画面上の歪存在位置によ
って輝度が異なってしまい、安定した歪（７０−マーク
二筋状の歪であり主として径方向に生じる、応力集中二
点状の歪み）の検出が得られない嫌いがあった。
の歪検査方法は、第５図に示すように光ディスク１に対
して方形の２次元視野２を有するＣＣＤマトリックスカ
メラを検査手段として用い、カメラの反対側に位置する
光源で照らされた光ディスク１を断続回転させろことに
より光ディスク１の検査領域を移動させるようにしてい
た。（発明が解決しようとする課題） ところで、ＣＣＤマトリックスカメラを検査手段として
使用した場合、視野が方形２次元視野であるため、光デ
ィスク１の前記視野内における照明が不均一となり、ま
た光源と併用されている偏光板の偏光方向の作用により
、ＣＣＤマトリックスカメラの画面上の歪存在位置によ
って輝度が異なってしまい、安定した歪（７０−マーク
二筋状の歪であり主として径方向に生じる、応力集中二
点状の歪み）の検出が得られない嫌いがあった。
また、歪は光ディスク１の径方向に発生する特徴がある
ため、第６図に示すようにＣＣＤマトリックスカメラ画
面上では成形歪３の方向性が定まらない。すなわち、成
形歪は画面上の位置によって任意の傾きを持ち、画像処
理が複雑化する嫌いがあった。
ため、第６図に示すようにＣＣＤマトリックスカメラ画
面上では成形歪３の方向性が定まらない。すなわち、成
形歪は画面上の位置によって任意の傾きを持ち、画像処
理が複雑化する嫌いがあった。
本発明は、上記の点に鑑み、ラインカメラで歪の画像を
取り込み、さらに径方向の輝度変化を抽出する信号処理
部と組み合わせることにより、高分解能で安定した歪検
出を可能とし、画像処理の単純化を図り得るようにした
樹脂成形歪の検査方法及び装置を提供することを目的と
する。
取り込み、さらに径方向の輝度変化を抽出する信号処理
部と組み合わせることにより、高分解能で安定した歪検
出を可能とし、画像処理の単純化を図り得るようにした
樹脂成形歪の検査方法及び装置を提供することを目的と
する。
（課題を解決するための手段）
上記目的を達成するために、本発明の樹脂成形歪の検査
方法は、回転する光透過性樹脂成形品の径方向に一次元
視野を有するラインカメラで該光透過性樹脂成形品の映
像を取り込み、該ラインカメラの映像信号から光弾性に
より輝度が変動した部分を検出するようにしている。
方法は、回転する光透過性樹脂成形品の径方向に一次元
視野を有するラインカメラで該光透過性樹脂成形品の映
像を取り込み、該ラインカメラの映像信号から光弾性に
より輝度が変動した部分を検出するようにしている。
また、本発明の樹脂成形歪の検査装置は、光透過性樹脂
成形品を回転させる回転駆動機構と、前記光透過性樹脂
成形品の一方の側に配置される光源と、該光源と前記光
透過性樹脂成形品との間に配置された偏光板及び１／４
波長板と、前記光透過性樹脂成形品の他方の側に配置さ
れていて前記光透過性樹脂成形品の径方向に一次元視野
を有するラインカメラと、前記光透過性樹脂成形品と前
記ラインカメラとの間に配置された１７４波長板及び偏
光板と、前記ラインカメラの映像信号から光弾性により
輝度が変動した部分を検出する信号処理部とを備えた構
成となっている。
成形品を回転させる回転駆動機構と、前記光透過性樹脂
成形品の一方の側に配置される光源と、該光源と前記光
透過性樹脂成形品との間に配置された偏光板及び１／４
波長板と、前記光透過性樹脂成形品の他方の側に配置さ
れていて前記光透過性樹脂成形品の径方向に一次元視野
を有するラインカメラと、前記光透過性樹脂成形品と前
記ラインカメラとの間に配置された１７４波長板及び偏
光板と、前記ラインカメラの映像信号から光弾性により
輝度が変動した部分を検出する信号処理部とを備えた構
成となっている。
（作用）
本発明においては、樹脂成形歪が主として光透過性樹脂
成形品の径方向に発生していることに着目し、ラインカ
メラの一次元視野を回転する光透過性樹脂成形品の径方
向に一致させている。このため、ラインカメラの取り込
んだ画像から、浮動２値化、微分又はフィルタリング処
理等の比較的単純な一定のアルゴリズムによる処理によ
って光弾性の原理で輝度が変化している歪欠陥を抽出す
ることができる。この抽出処理は高速処理が可能である
。また、−次元視野であるため、照明むら、偏光方向に
よる影響がなく、安定抽出ができる。
成形品の径方向に発生していることに着目し、ラインカ
メラの一次元視野を回転する光透過性樹脂成形品の径方
向に一致させている。このため、ラインカメラの取り込
んだ画像から、浮動２値化、微分又はフィルタリング処
理等の比較的単純な一定のアルゴリズムによる処理によ
って光弾性の原理で輝度が変化している歪欠陥を抽出す
ることができる。この抽出処理は高速処理が可能である
。また、−次元視野であるため、照明むら、偏光方向に
よる影響がなく、安定抽出ができる。
さらに、高分解能ラインカメラを採用すれば、高精度の
歪欠陥寸法の測定が可能になる。
歪欠陥寸法の測定が可能になる。
（実施例）
以下、本発明に係る樹脂成形歪の検査方法及び装置の実
施例を図面に従って説明する。
施例を図面に従って説明する。
ｆｉＳ１図は本発明の実施例の光学系の構成を示し、Ｐ
ＩＳ２図はラインカメラの映像信号を処理する信号処理
部を示す。これらの図において、１は光透過性樹脂成形
品である光ディスクであり、回転駆動８！構１１によっ
て回転駆動可能に支持されている。
ＩＳ２図はラインカメラの映像信号を処理する信号処理
部を示す。これらの図において、１は光透過性樹脂成形
品である光ディスクであり、回転駆動８！構１１によっ
て回転駆動可能に支持されている。
光ディスク１の下方には水銀灯等の光源１２が配置され
、該光源１２と光ディスク１との間に下から単波長フィ
ルタ１３、拡散板１４、偏光板１５及び１／４波長板１
６の順に配置されている。また、光ディスク１の上方に
はＣＣＤラインカメラ２０が配置され、光ディスク１と
ラインカメラ２０との間に下から１／４波艮板２１及び
偏光板２２の順に配置されている。
、該光源１２と光ディスク１との間に下から単波長フィ
ルタ１３、拡散板１４、偏光板１５及び１／４波長板１
６の順に配置されている。また、光ディスク１の上方に
はＣＣＤラインカメラ２０が配置され、光ディスク１と
ラインカメラ２０との間に下から１／４波艮板２１及び
偏光板２２の順に配置されている。
前記ラインカメラ２０は高分解能の一次元視野を有する
ものであり、ＰｌｔＪ３図のように該−次元視野Ｓは光
ディスク１の半径方向を直線スリット状に撮像するよう
に設定されている。但し、光ディスク１を回転させるこ
とによりディスク全領域をカバーできる。前記偏光板１
５及び１／４波長板１６はディスクへの入射光を円偏波
にするように働き、１／４波長板２１及び偏光板２２は
ディスりを透過した光の位相差を抽出し、それを輝度差
に変換する働きをする。
ものであり、ＰｌｔＪ３図のように該−次元視野Ｓは光
ディスク１の半径方向を直線スリット状に撮像するよう
に設定されている。但し、光ディスク１を回転させるこ
とによりディスク全領域をカバーできる。前記偏光板１
５及び１／４波長板１６はディスクへの入射光を円偏波
にするように働き、１／４波長板２１及び偏光板２２は
ディスりを透過した光の位相差を抽出し、それを輝度差
に変換する働きをする。
前記ラインカメラ２０の映像信号は映像処理部（Ａ／Ｄ
変換部）２５及び抽出処理部（ラインバッファ）２６を
介しメモリー２７に格納されるようになっている。ここ
で、映像処理部２５はアナログ信号である映像信号をゲ
イジタル化する等の処理を行うものであり、抽出処理部
２６は映像処理後の信号に対して浮動２値化、微分又は
フィルタリング処理を実行するものである。
変換部）２５及び抽出処理部（ラインバッファ）２６を
介しメモリー２７に格納されるようになっている。ここ
で、映像処理部２５はアナログ信号である映像信号をゲ
イジタル化する等の処理を行うものであり、抽出処理部
２６は映像処理後の信号に対して浮動２値化、微分又は
フィルタリング処理を実行するものである。
上記実施例の構成において、光源１２より出た光は単波
長フィルタ１３により特定波長のものが選択され、拡散
板１４でラインカメラ２０の視野にわたり一様に拡散さ
れて偏光板１５に達する。
長フィルタ１３により特定波長のものが選択され、拡散
板１４でラインカメラ２０の視野にわたり一様に拡散さ
れて偏光板１５に達する。
そして、偏光板１５及び１／４波長板１６の作用により
光ディスク１の下面には円偏光となった単−波長の光が
入射される。光ディスク１を透過した光は、１／４波長
板２１及び偏光板２２によって特定の偏光方向のものが
選択されてラインカメラ２０に取り込まれる。ラインカ
メラ２０の視野Ｓは第３図のように半径方向の直線スリ
ット状であるが、光ディスク１を回転駆動！ｖｔ１１に
よって回転させることにより、光ディスク１の全面をカ
バーすることができる。
光ディスク１の下面には円偏光となった単−波長の光が
入射される。光ディスク１を透過した光は、１／４波長
板２１及び偏光板２２によって特定の偏光方向のものが
選択されてラインカメラ２０に取り込まれる。ラインカ
メラ２０の視野Ｓは第３図のように半径方向の直線スリ
ット状であるが、光ディスク１を回転駆動！ｖｔ１１に
よって回転させることにより、光ディスク１の全面をカ
バーすることができる。
前記ラインカメラ２０の視野Ｓの輝度を示す映像信号が
ラインカメラ２０より映像処理部２５に出力され、映像
処理部２５は所要のＡ／Ｄ変換等の処理を行った信号を
抽出処理部２６に出力する。
ラインカメラ２０より映像処理部２５に出力され、映像
処理部２５は所要のＡ／Ｄ変換等の処理を行った信号を
抽出処理部２６に出力する。
抽出処理部２６は映像処理後の信号に対して浮動２値化
、微分又はフィルタリング処理を実行して、輝度が急変
した箇所を抽出する。
、微分又はフィルタリング処理を実行して、輝度が急変
した箇所を抽出する。
例えば、浮動２値化処理の場合、状況に応じてスレッシ
ョルドレベルを変化させてスレッショルドレベルよりも
大きいか該スレッショルドレベル以下かで入力信号を２
値化してメモリー２７に格納し、メモリー２７に格納さ
れた記憶信号により周囲に比べて輝度が変化している点
を歪欠陥であると判定する。
ョルドレベルを変化させてスレッショルドレベルよりも
大きいか該スレッショルドレベル以下かで入力信号を２
値化してメモリー２７に格納し、メモリー２７に格納さ
れた記憶信号により周囲に比べて輝度が変化している点
を歪欠陥であると判定する。
また、微分処理の場合、入力信号を微分処理して輝度が
急変している点を含む微分処理後の信号をメモリー２７
に格納し、メモリー２７に格納された微分処理後の記憶
信号により周囲に比べて輝度が急変している点を歪欠陥
であると判定する。
急変している点を含む微分処理後の信号をメモリー２７
に格納し、メモリー２７に格納された微分処理後の記憶
信号により周囲に比べて輝度が急変している点を歪欠陥
であると判定する。
さらに、フィルタリング処理の場合のアルゴリズムの一
例を第４図に示す。この場合、抽出処理部２６は少なく
とも３個のラインバッフ７ＬＢを有し、各ラインバッフ
ァＬＢはラインカメラ２０の１〜２０４８のビクセル（
画素）の情報を一時保持するものである。第４図では、
ラインカメラ視野Ｓに対応した処理ライン［２）とその
前の処理ライン（Ｎ −１）と後の処理ライン＜（１＋
１ ）の映像処理後の信号をラインバッフ７ＬＢにて
保持している状態を示す。抽出処理部２６はさらに演算
機能を持ち、３個のラインバッファＬＢの値を利用して
次式の演算を実行してメモリー２７に出力する。
例を第４図に示す。この場合、抽出処理部２６は少なく
とも３個のラインバッフ７ＬＢを有し、各ラインバッフ
ァＬＢはラインカメラ２０の１〜２０４８のビクセル（
画素）の情報を一時保持するものである。第４図では、
ラインカメラ視野Ｓに対応した処理ライン［２）とその
前の処理ライン（Ｎ −１）と後の処理ライン＜（１＋
１ ）の映像処理後の信号をラインバッフ７ＬＢにて
保持している状態を示す。抽出処理部２６はさらに演算
機能を持ち、３個のラインバッファＬＢの値を利用して
次式の演算を実行してメモリー２７に出力する。
処理ライン（ｇ）のｎ番目の演算処理値＝（処理ライン
＜Ｑ−１’）のｎ＠目の値ＩＸ（−１）＋（処理ライン
ＣＱ、＋ １ ）のｎ番目の値ＩＸ（＋１）・・・（１
） （但し、ｎは１〜２０４８ピクセルまでの処理を行う） 上記の（１）式を用いてフィルタリング処理した信号は
、周囲に比べて輝度が変化したピクセルに対応する演算
処理値が大きな値となり、メモリー２７に格納した記憶
信号より歪欠陥位置を検知できる。
＜Ｑ−１’）のｎ＠目の値ＩＸ（−１）＋（処理ライン
ＣＱ、＋ １ ）のｎ番目の値ＩＸ（＋１）・・・（１
） （但し、ｎは１〜２０４８ピクセルまでの処理を行う） 上記の（１）式を用いてフィルタリング処理した信号は
、周囲に比べて輝度が変化したピクセルに対応する演算
処理値が大きな値となり、メモリー２７に格納した記憶
信号より歪欠陥位置を検知できる。
なお、第２図の点線は、抽出処理部２６がアナログ信号
のままで浮動２値化又は微分処理する機能を゛持つ場合
にはラインカメラ２０の映像信号を直接的に抽出処理部
２６に加え得ること（映像処理部２５を省略できること
）を示している。
のままで浮動２値化又は微分処理する機能を゛持つ場合
にはラインカメラ２０の映像信号を直接的に抽出処理部
２６に加え得ること（映像処理部２５を省略できること
）を示している。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明によれば、光ディスク、コ
ンパクトディスク等の光透過性樹脂成形品の樹脂成形時
に生じる歪（７０−マーク、応力集中）を、該光透過性
樹脂成形品の径方向に一次元視野を持つラインカメラを
使用して高分解能で安定的に抽出できる。また、光透過
性樹脂成形品は連続回転状態で検査が可能であり、ライ
ンカメラの画像処理は単純化できるので、高速検査が可
能である。
ンパクトディスク等の光透過性樹脂成形品の樹脂成形時
に生じる歪（７０−マーク、応力集中）を、該光透過性
樹脂成形品の径方向に一次元視野を持つラインカメラを
使用して高分解能で安定的に抽出できる。また、光透過
性樹脂成形品は連続回転状態で検査が可能であり、ライ
ンカメラの画像処理は単純化できるので、高速検査が可
能である。
第１図は本発明に係る樹脂成形歪の検査方法及び装置の
実施例の光学系を示す構成図、第２図はラインカメラの
映像信号を処理する信号処理部を示す構成図、第３図は
ラインカメラの視野を示す説明図、第４図は抽出処理部
でフィルタリング処理を打う場合の説明図、第５図は従
来の樹脂成形歪の検査方法を示す説明図、＃ＩＪ６図は
マトリックスカメラの画面を示す説明図である。 １・・・光ディスク、１１・・・回転駆動機構、１２・
・・光源、１３・・・単波長フィルタ、１４・・・拡散
板、１５．２２・・・偏光板、１６，２１・・・１／４
波長板、２０・・・ラインカメラ、２５・・・映像処理
部、２６・・・抽出処理部、２７・・・メモリー
実施例の光学系を示す構成図、第２図はラインカメラの
映像信号を処理する信号処理部を示す構成図、第３図は
ラインカメラの視野を示す説明図、第４図は抽出処理部
でフィルタリング処理を打う場合の説明図、第５図は従
来の樹脂成形歪の検査方法を示す説明図、＃ＩＪ６図は
マトリックスカメラの画面を示す説明図である。 １・・・光ディスク、１１・・・回転駆動機構、１２・
・・光源、１３・・・単波長フィルタ、１４・・・拡散
板、１５．２２・・・偏光板、１６，２１・・・１／４
波長板、２０・・・ラインカメラ、２５・・・映像処理
部、２６・・・抽出処理部、２７・・・メモリー
Claims (2)
- （１）回転する光透過性樹脂成形品の径方向に一次元視
野を有するラインカメラで該光透過性樹脂成形品の映像
を取り込み、該ラインカメラの映像信号から光弾性によ
り輝度が変動した部分を検出することを特徴とする樹脂
成形歪の検査方法。 - （２）光透過性樹脂成形品を回転させる回転駆動機構と
、前記光透過性樹脂成形品の一方の側に配置される光源
と、該光源と前記光透過性樹脂成形品との間に配置され
た偏光板及び１／４波長板と、前記光透過性樹脂成形品
の他方の側に配置されていて前記光透過性樹脂成形品の
径方向に一次元視野を有するラインカメラと、前記光透
過性樹脂成形品と前記ラインカメラとの間に配置された
１／４波長板及び偏光板と、前記ラインカメラの映像信
号から光弾性により輝度が変動した部分を検出する信号
処理部とを備えたことを特徴とする樹脂成形歪の検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1215807A JP2769874B2 (ja) | 1989-08-22 | 1989-08-22 | 樹脂成形歪の検査方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1215807A JP2769874B2 (ja) | 1989-08-22 | 1989-08-22 | 樹脂成形歪の検査方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0378647A true JPH0378647A (ja) | 1991-04-03 |
| JP2769874B2 JP2769874B2 (ja) | 1998-06-25 |
Family
ID=16678584
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1215807A Expired - Fee Related JP2769874B2 (ja) | 1989-08-22 | 1989-08-22 | 樹脂成形歪の検査方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2769874B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015148572A (ja) * | 2014-02-07 | 2015-08-20 | 株式会社ルケオ | 歪検査器 |
| WO2018159294A1 (ja) * | 2017-03-03 | 2018-09-07 | 東洋製罐グループホールディングス株式会社 | 強度検査装置、強度検査方法、調整用ガラスびんを作製する内面加傷方法及び内面加傷装置 |
| JP2018146324A (ja) * | 2017-03-03 | 2018-09-20 | 東洋製罐グループホールディングス株式会社 | 強度検査装置及び強度検査方法 |
| JP2019049544A (ja) * | 2017-09-08 | 2019-03-28 | 住友化学株式会社 | 検査装置および検査方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5898912B2 (ja) * | 2011-10-19 | 2016-04-06 | 株式会社ディスコ | ワーク撮像装置及びワークの撮像方法 |
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| JPS57128806A (en) * | 1981-02-03 | 1982-08-10 | Hitachi Maxell Ltd | Method and apparatus for measuring extent of deformation of plastic sheet sample due to temperature and humidity change |
| JPS61288143A (ja) * | 1985-06-17 | 1986-12-18 | Toshiba Corp | 表面検査装置 |
-
1989
- 1989-08-22 JP JP1215807A patent/JP2769874B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JP2018146324A (ja) * | 2017-03-03 | 2018-09-20 | 東洋製罐グループホールディングス株式会社 | 強度検査装置及び強度検査方法 |
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