JPH0371500U - - Google Patents

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JPH0371500U
JPH0371500U JP13027489U JP13027489U JPH0371500U JP H0371500 U JPH0371500 U JP H0371500U JP 13027489 U JP13027489 U JP 13027489U JP 13027489 U JP13027489 U JP 13027489U JP H0371500 U JPH0371500 U JP H0371500U
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  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Detection And Correction Of Errors (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の実施例を示すブロツク図、
第2図は従来の半導体メモリ試験用データ発生器
を示すブロツク図である。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 データ演算部で演算によりデータを発生させ、
    そのデータを被試験メモリに対する書き込みデー
    タとし、またはその被試験メモリの読み出し時の
    期待値データとする半導体メモリ試験用データ発
    生器において、 上記データ演算部より発生したデータのパリデ
    イビツトを発生するパリテイ発生部が設けられ、 パリテイ発生機能を有する被試験メモリに対す
    る期待値データとして、上記データ演算部の出力
    データと、その出力データに対する上記パリテイ
    発生部の出力パリテイビツトとが使用されること
    を特徴とする半導体メモリ試験用データ発生器。
JP13027489U 1989-11-08 1989-11-08 Pending JPH0371500U (ja)

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JP13027489U JPH0371500U (ja) 1989-11-08 1989-11-08

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JP13027489U JPH0371500U (ja) 1989-11-08 1989-11-08

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JPH0371500U true JPH0371500U (ja) 1991-07-19

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JP13027489U Pending JPH0371500U (ja) 1989-11-08 1989-11-08

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JP (1) JPH0371500U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4737929B2 (ja) * 2003-12-12 2011-08-03 株式会社東芝 半導体記憶装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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